SU992429A1 - Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало - Google Patents

Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало Download PDF

Info

Publication number
SU992429A1
SU992429A1 SU813331227A SU3331227A SU992429A1 SU 992429 A1 SU992429 A1 SU 992429A1 SU 813331227 A SU813331227 A SU 813331227A SU 3331227 A SU3331227 A SU 3331227A SU 992429 A1 SU992429 A1 SU 992429A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
wavelength
mirror
layers
layer
polarizations
Prior art date
Application number
SU813331227A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Сергеевич Никитин
Евгений Андреевич Несмелов
Александр Григорьевич Гусев
Ильдус Саляхович Гайнутдинов
Владислав Николаевич Глебов
Сергей Васильевич Кобелев
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4671
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4671 filed Critical Предприятие П/Я Г-4671
Priority to SU813331227A priority Critical patent/SU992429A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU992429A1 publication Critical patent/SU992429A1/ru

Links

Landscapes

  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Description

(54) ОПТИЧЕСКОЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЕ АМПЛИТУДНОИЗОТРОПНОЕ ЗЕРКАЛО
12
Изобретение относитс  к оптичес- кому приборостроению, в частности к оптическим интерференционным амплитудно-изотропным зеркалам, и может быть использовано в качестве частично пропускающих зеркал в лазерных резонаторах.
Известно оптическое интерференци-. онное зеркало 1, имеющее конструкцию вида
. 0(Н1ГН5.
где О -подложка с показателем
преломлени 
fr Hi- чередующиес  диэлектрические слои с относительно большим пц и относительно меньшим пц показател ми преломлени  соответственно , причем оптическа  толщина этих слоев в направлении прохождени  излучени  через них равна четверти рабочей длины волны Л ,
m - параметр кратности, определ ющий общее число N слоев в системе (); S - среда с показателем преломлени  .
Недостатком такой конструкции  вл етс  наличие анизотропии коэффициентов отражени  R и Rp дл  S- и Ркомпонент пол ризации при наклонном падении света, т.е. различие этих коэффициентов.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  оптическое интерференционное амплитудноизотропное зеркало, содержащее подложку и нанесенную на нее отражающую систему из чередуюьдахс  диэлектрических слоев с относительно большим и меньшим показател ми преломлени , причем оптическа  тол1шна этих слоев в направлении прохождени  излучени  через них равна четверти рабочей длины волны 2 . Конструкци  этого зеркала имеет вид
DCQLQHj -s.
где Q - диэлектрический слой с показателем преломлени  Пц, который больше п и меньше п,, причем оптическа  толщина этого сло  в направлении прохождени  излучени  через него равна четверти рабочей длины волны Л ,
К - параметр кратности, определ ющий общее число М слоев в системе ().
При некотором значении hg, из указанного интервала известное зеркало обеспечивает точное равенство R и Rp дл  заданных значений угла падени  излучени  на зеркало, рабочей длины волны Л и коэффициента отражени  R. Однако дл  получени  высоких коэффициентов отражени  1R 0,99) зеркало должно содержать очень большое число слоев. Например, при ,999 и необходимое число опоев равно 140. Кроме того, отражающую систему в этом случае необходимо формировать из трех пленкообразующих материалов. Эти факторы существенно снижают механическую устойчивость зеркала, а также усложн ют его конструкцию и процесс изготовлени .
Цель изобретени  - повышение ме-. ханической устойчивости зеркала и упрощение его конструкции путем уменшени  необходимого числа и состава слоев.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в оптическом интерференционном амплитудно-изотропном зеркале, содержащем подложку и нанесенную на нее отражающую систему из чередующихс  диэлектричес1а1к слоев с относительно большим и меньшим показател ми предломлени , причем оптическа  толщина этих слоев в направлении прохождени  излучени  через них равна четверти рабочей длины волны, на отражающую систему нанесен разделительный слой из материала с меньшим показателем преломлени , а на этот слой нанесена система из чередующихс  равнотолщинных диэлектрических слоев с относительно большим и меньшим показател ми преломлени , представл юща  собой интерференционный пол ризатор дл  рабочей длины волшл, причем оптическа  толщина разделительного сло  определ етс  из соотношени 
PntoT/P Ti M Vc,,ct 1J- -Л
i2-n2
4JIl|l-3i(
l
де d - оптическа  толщина разделительного сло ; Л - рабоча  волны;
P Bcos ot- ftcosd,) n 6s not-8smd-i q|r А-ЛЧс-С,
9 - угол падени  излучени  на
зеркалоf
п. - показатель преломлени  матё . риала разделительного сло ,
А,А,В,В,С,С.- (коэффициенты, опречдел  екиё-Ги 3 COOT н оше ний
л-тР.тР 4 2
.т,
Б 2Л . R
с«а2/4л ,
С В-«/4Л, причем - коэффициенты пропуска ни  интерференционного пол ризатора при длине волны А дл  Р- и S -пол ризацией соответственно, равные 1-, / - коэффициенты пропускани  отражающей системы придлине волны Л дл  Р- и S -пол ризаций соответственно, равные 1- Rg коэффициенты отражени  интерференционного пол ризатора при длине волны Л дл  5 - и Р-пол ризаций соответственно, коэффициенты отражени  отражгиощей системы при длине волны А дл  S - и Р-пол ризаций соответственно, d,d - углы, определ емые из соотношений: , dL-u -ta причем сдвиги фаз на длине волны Л при отражении от интерференционного пол ризатора со стороны разделительного сло  дл  S - и Рпол ризаций соответственно, л - . .
.сдвиги фаз на длине волны Л при отра --- -т
женин от отражающей систеийл со стоРОНЫ разделительного сло  дл  5 - и Р-пол ризаций соответственно.
На чертеже схематически представлено устройство, общий вид.
Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало состоит из подложки 1, отражающей системы 2, разделительного сло  3 и интерференционного пол ризатора 4. При этом конструкци  зеркала может быть представлена в виде
50П(Н1,Гн(1.){р()5,
де (ни) - отражгиоща  система 2, коэффициент отражени  которой взаимосв зан с параметром кратности m ofL - разделительный слой 3 с. оптической толщиной d , определ емой из указанного выше соотношени ; р|(Н1. интерференционный пол ризатор 4, степень р пол ризации которого взаимосв зана с параметром кратности т и коэффициенте толщины р .
Показатели преломлени  подложки Ij чередующихс  слоев и среды, коэф .фициенты отражени  и, соответственно, сдвиги фдз згщаютс  в зависимости от поставленной задачи - заданного коэффициента отражени  и рабочего спектрального диапазон-а оптического интерференционного амплитудно-изотропного зеркала.
Параметр m определ етс  заданным О значением коэффициента отражени  (пропускани  ) к| (Т ) отражающей системы 2 дл  Р-пол ризации света. Параметры /5 и т определ ютс  заданной степеньюпол ризации р интерферен-15 ционного пол ризатора 4.
Устройство работает следующим образом .
Отражак ца  система 2 характеризуетс  тем,, что R| Rg fa интерфе- 0 ренционный пол ризатор 4 - тем, что pcfl R г;0(.
Таким образом, при наклонном падении света на конструкцию Р-компонента пол ризации практически без изменени  25 проходит через интерференционный пол ризатор 4 и разделительный слой 3, отражаетс  отражающей системой 2, после чего проходит через разделительный слой 3 и интерференционный пол ризатодд 4 в обратномнаправлении и, следовательно , коэффициент отражени  конструкции RP дл  Р-пол ризованного света при длине волны А фактически определ етс  заданным коэффициентом с отражени  2 системы 2, T.e. . Дл  3-пол ризованного света конструкци  представл ет собой систему, состо щую из двух отражающих стоп 2 и 4с коэффициентами отражени  й , разделенных раздели- тельным слоем 3. Така  система работает как,фильтр, в результате чего коэффициент отражени  5 -пол ризован- . ного света Rg уменьшаетс  так, что Точное равенство 5 достигаетс  при оптической толвЗИне разделительного сло  3, определ емой фиведеншм ранее соотношением.
Пример. Изготавливают партию JQ -высокоотрс1жающих интерференционных амплитудно-изотропных зеркгш на длину волны Л 632,8 нм дл  угла падени  излучени  , имеющих-конструкцию покрыти  вида D(HL)O H(2,5L)0,83 55 .C(HL)H, в которой , ,5, р 0,83, m-6.
Таким Образом, общее число слоев в истеме равно 35. Покрытие.нанос т а подложки из стекла К-8 методом лектронно-лучевого испарени  в вакуме на установке А 700 Q фирмы Leybod Не га«us из материалов двуокиси итана {слой Н) и двуокиси кремни (слой L).
Приведенные значени  числа и толщин слоев теоретически обеспечивают получение амплитудно-изотропных зеркал с гарантированным пропусканием ,05% дл  S - и Р-компонент, что с учетом рассе ни  излучени  в системе соответствует R ,9%. Практически получают следуюаде результаты: ,04 - 0,06% и () 0-0,01%. Зерксша испытывают на устойчивость к повышенной температуре 300°С с целью оценки их механической устойчивости. Испытани  показывают , что целостность покрыти  и оптические параметры не измен ютс .
Таким образом, изобретение позвол ет получать амплитудно-изотропные зеркала при использовании только дву пленкообразующих веществ со значительно меньшим по сравнению с известными устройствами числом слоев при обеспечении высокой механической устойчивости покрыти .
изобретени 
Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало, содержа щее по ложку и нанесенную на нее отражающую систему из чередующихс  диэлектрических слоев с относительно большим и меньишм показател ми преломлени , причем оптическа  толщина этих слоев в направлении прохождени  излучени  через них равна четверти рабочей длины волны, отличающеес  тем, что, с целью повышени  механической устойчивости зеркала и упрощени  его конструкции путем уменьшени  необходимого числа и состава слоев, на отражающую систему нанесен разделительный слой из материала с м еньшим пока зателем преломлени  la на этот слой нанесена система из чередующихс  равнотолщиниых диэлектрических слоев с относительно большим и меньшим показател ми преломлени , представл юща  собой интерференционный пол ризатор дл  рабочей длины волны, причем оптическа  толщина разделительного сло  определ етс  из сортнс цени 
J - оптическа  толщина разделительного сло , А - рабоча  длина волны;
(P Bc05ot-8COSo6;
п Bsinot-BSinoc; 1, А-Л+СгСi

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало, содержа• щее подложку и нанесенную на нее отражающую систему из чередующихся диэлектрических слоев с относительно большим и меньшим показателями преломления, причем оптическая толщина этих слоев в направлении прохождения излучения через них равна четверти рабочей длины волны, отличающееся тем, что, с целью повышения механической устойчивости зеркала и упрощения его конструкции путем уменьшения необходимого числа и состаζ· ва слоев, на отражающую систему нанесен разделительный слой из материала с меньшим пока[зателем преломления, I а на этот слой нанесена система из 1 чередующихся равнотолщинных диэлект45 рических слоев с относительно большим и меньшим показателями преломления, представляющая собой интёрференционный поляризатор для рабочей длины волны, причем оптическая толщина разделительного слоя определяется из соотношения
    I
    4Л yi-s;n2a/n'2 где
    - оптическая толщина разделительного слоя}
    - рабочая длина волны;
    λ <Р= B'cosoC1 -Bcosoi ; > η = В'Sinct'- Bsinci; ср A-A' +Сг C' ·,
    О - угол падения излучения на зеркало; .
    Пц - показатель преломления материала разделительного слоя;
    At А'>Ь, В',С,С* - коэффициенты, опреде# ляемле из соотношений
    А = Т β= 2Α
    I
    В'= ЧА' ’ Ra '
    С= В2/44, тора при длине волны А для 5 - и Р-поляризаций соответственно, R^,p- коэффициенты отражения отражающей системы при длине волны Λ для S - и Р-поляризаций соответственно,d , с(/- углы, оп5 ределяемяе из соотношений: <
    причем - сдвиги фаз на длине волны А при отражении от интерференционного поляризатора со стороны разделительного слоя для S, поляризаций соответственно, ги фаз на длине волны от отражающей системы делительного слоя для S и Р-поляриза ций соответственно.
    iSp- И Р>2 - сдвиΛ при отражении со стороны раз-
SU813331227A 1981-08-17 1981-08-17 Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало SU992429A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813331227A SU992429A1 (ru) 1981-08-17 1981-08-17 Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813331227A SU992429A1 (ru) 1981-08-17 1981-08-17 Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU992429A1 true SU992429A1 (ru) 1983-01-30

Family

ID=20974305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813331227A SU992429A1 (ru) 1981-08-17 1981-08-17 Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU992429A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1862829B1 (en) Thin-film design for positive and/or negative c-plate
Turner Some current developments in multilayer optical films
US5400174A (en) Optical notch or minus filter
US5179468A (en) Interleaving of similar thin-film stacks for producing optical interference coatings
CA2220291C (en) Multilayer thin film dielectric bandpass filter
US5912762A (en) Thin film polarizing device
JP3792510B2 (ja) 二色偏光子
US4536063A (en) Transmissive phase retarder
US5061050A (en) Polarizer
US20060001969A1 (en) Gratings, related optical devices and systems, and methods of making such gratings
US6590707B1 (en) Birefringent reflectors using isotropic materials and form birefringence
US4733926A (en) Infrared polarizing beamsplitter
US20130188254A1 (en) Thin film optical filters with an integral air layer
KR20020024563A (ko) 콜리메이터 및 백 라이트 시스템
JPH01152401A (ja) 光像回転装置
US6317264B1 (en) Thin film polarizing device having metal-dielectric films
US4501470A (en) Christiansen-Bragg optical filter
CN117452544A (zh) 基于超表面光学结构的线性偏振片
GB2384059A (en) Pancake window optical device with thin film helicoidal bianisotropic medium
SU992429A1 (ru) Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало
USH1182H (en) Dielectric optical switch
CN110456519A (zh) 偏振分束器及其制备方法、偏振分束方法
US9354370B1 (en) Optical thin-film notch filter with very wide pass band regions
Netterfield Practical thin-film polarizing beam-splitters
EP0845111B1 (en) Thin film polarizing device