SU987483A1 - Способ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле - Google Patents
Способ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле Download PDFInfo
- Publication number
- SU987483A1 SU987483A1 SU802929627A SU2929627A SU987483A1 SU 987483 A1 SU987483 A1 SU 987483A1 SU 802929627 A SU802929627 A SU 802929627A SU 2929627 A SU2929627 A SU 2929627A SU 987483 A1 SU987483 A1 SU 987483A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plasma
- maximum
- parameters
- magnetic field
- concentration
- Prior art date
Links
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
Description
Изобретение относитс к технике измерений на сверхвысоких частотах.
Известен способ определени параметров неоднородной плазмы по отсечке зондирующей волны, в котором измер ют частоту сигнгиха, при которой происходит увеличение амплитуды отраженной от плазмы электромагнитной ; волны или соответствующее уменьшение амплитуды проход щей волны и определ ют максимальную концентрацию электронов Пу на пути зондировани l,
Однако этот способ не позвол ет определить концентрацию плазмы, размеры которой сравнимы или меньше длины волны зондирующего излучени .
Известен также способ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле, основанный на зондирог вании плазменного объема амплитудно модулированной электромагнитной волной с частотой, меньшей максимальной плазменной и циклотронной частот С2 .
Однако известный способ не обеспечивает определение максимальных значений локальной концентрации электронов в плазменном объеме.
Цель изобретени - определение максимальных значений локальной концентрации электронов в плазменном объеме.
Цель достигаетс тем, что согласно способу определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле измер ют распределение интенсивности излучени в видимой области спектра вдоль исследуемого плазменного объема, определ ют положени макси10 мов указанного распределени , которые соответствуют участкам с максимальной концентрацией электронов, равной критической концентрации дл зондирующей электромагнитной волны.
15
,На фиг.1 приведена структурна схема устройства, реализующего способ; на фиг.2 - распределение переменной составл ющей интенсивности дI излучени плазма по длине е.
20
Устройство содержит баллон 1, магнит 2, волновод 3, генератор 4 и систему регистрации ин енсивности излучени плазмы в .оптическом диапазоне , включающую световод 5/ фото25 приемник 6, усилитель 7, синхродетектор 8, самописец 9, баллон 1 с плазмой вводитс в волновод 3 через отверсти в середине его широких ствт нок, к нему.подводитс амплитудно
30 .модулированна волна типа от
генератора 4 на частоте, дл которой выполн етс условие 4tosuj , где u) углова частота зондирующего сигнала , W( - циклотронна частота.
Поглощение электромагнитной волны приводит к локальному нагреву электронов и дополнительной ионизации в области, где максимальна в сечении концентраци п равна критической п. . Поглощение зондирующей волны измен ет положение области плазмы, в которой Пд . Однако при малой амплитуде и длительности зондирующего сигнала, возм щение плазмы незначительно и максимум выделенной энергии находитс в точке Пд- Пр дл исходной плазмы. В слабо ионизированной плазме нагрев электронов и дополнительную ионизацию моно регистрировать по увеличению интенсивности светового излучени с помощью фотоприемника 6 . Сканировани вдоль и поперек плазменного объема осуществл етс подвижной системой внутри магнита. По положению максимума пространственного распределени интенсивности светового излучени можно определить локально концентрацию, котора равна критической дл зондирующей волны и максимальна в данном поперечном сечении .
Claims (2)
- Формула изобретениСпособ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле, основанный на зондировании плаз5 менного объема амплитудно модулированной электромагнитной волной с частотой, меньшей максимальной плазменной и циклотронной частот, отличающийс тем, что, сQ целью определени максимгшьных значений локальной концентрации электронов в плазменном объеме, измер ют распределение интенсивности излучени в видимой области спектраj вдоль исследуемого плазменного объема , оп1$едел ют положени максимумов указанного распределени , которые соответствуют участкам с максимальной концентрацией электронов, рав„ ной критической концентрации дл зондирующей электромагнитной волны.Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе25 1. Русанов В.Д. Современные методы исследовани плазмы. М., Госатиздат , 1962, с. 41.
- 2. Голант В.Е. Сверхвысокочастотные методы исследовани плазмы. М.,30 Наука, 1968, с. 174 (прототип).(fe/ /мfpiff. f
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU802929627A SU987483A1 (ru) | 1980-05-22 | 1980-05-22 | Способ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU802929627A SU987483A1 (ru) | 1980-05-22 | 1980-05-22 | Способ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU987483A1 true SU987483A1 (ru) | 1983-01-07 |
Family
ID=20897723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU802929627A SU987483A1 (ru) | 1980-05-22 | 1980-05-22 | Способ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU987483A1 (ru) |
-
1980
- 1980-05-22 SU SU802929627A patent/SU987483A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4341470A (en) | Atomic absorption spectroscopy | |
| AU579143B2 (en) | Method and apparatus for enhanced detection of electromagnetic signals | |
| JPH08178870A (ja) | 材料サンプルの微小吸収量あるいは反射量を測定する分光学的方法および装置 | |
| KR900014877A (ko) | 압력-변조된 적외선 가스 분석기 및 방법 | |
| SU987483A1 (ru) | Способ определени параметров неоднородной плазмы в магнитном поле | |
| US5180985A (en) | Multipactor effect measurement device using phase noise | |
| Belyaev et al. | Generation of electromagnetic signals at combination frequencies in the ionosphere | |
| US2537737A (en) | Detection of leaks in pipe lines | |
| JPH0627048A (ja) | 半導体ウエハの少数キャリアのライフタイム測定装置 | |
| US6392421B1 (en) | Spectral EM frequency metallic thickness measurement using metallic transparencies | |
| Tell | Instrumentation for Measurement of Electromagnetic Fields: Equipment, Calibrations and Selected Applications Part I—Radiofrequency Fields | |
| US5929644A (en) | Non-destructive method and apparatus for monitoring a selected semiconductor characteristic of a semiconductor sample during fabrication | |
| JPS62502566A (ja) | 地下ケ−ブル探知装置及びこのようなケ−ブルの探知方法 | |
| JPH0378945B2 (ru) | ||
| RU2785082C1 (ru) | Способ оценки качества электромагнитного экрана | |
| JPS5919874A (ja) | 放射干渉感度試験装置 | |
| SU1109693A1 (ru) | Способ измерени энергетического спектра электронного пучка и устройство дл его осуществлени | |
| US11921142B2 (en) | Measurement system and method for analyzing RF signals | |
| Kramer | Direct observation of beam impedance above cutoff | |
| RU95109208A (ru) | Авиационный лазерный газоанализатор для обнаружения утечек из трубопроводов | |
| Ichtchenko et al. | Detection of lower hybrid waves by coherent scattering of microwaves: Preliminary results in Wega | |
| RU2085910C1 (ru) | Способ измерения концентрации компонент среды | |
| Brown et al. | Laser interferometer for measuring microwave‐induced motion in eye lenses in vitro | |
| Lihn et al. | Measurement of 50‐fs (rms) electron pulses | |
| Mikhaylova et al. | Methods for measuring parameters of ultra-wideband microwave radiation |