SU980560A1 - Electron-beam evaporating device - Google Patents

Electron-beam evaporating device Download PDF

Info

Publication number
SU980560A1
SU980560A1 SU803002663A SU3002663A SU980560A1 SU 980560 A1 SU980560 A1 SU 980560A1 SU 803002663 A SU803002663 A SU 803002663A SU 3002663 A SU3002663 A SU 3002663A SU 980560 A1 SU980560 A1 SU 980560A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
vacuum chamber
deflecting
crucible
electron
focusing
Prior art date
Application number
SU803002663A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Н.С. Зинченко
В.А. Соколова
Original Assignee
Харьковский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Радиофизики И Электроники Ан Усср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Харьковский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Радиофизики И Электроники Ан Усср filed Critical Харьковский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Радиофизики И Электроники Ан Усср
Priority to SU803002663A priority Critical patent/SU980560A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU980560A1 publication Critical patent/SU980560A1/en

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

1. ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОЕ .ИСПАРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО, содержащее вакуумную камеру, электронную пушку, тигель, электромагнитные фокусирующую и отклон ющую системы , электромагниты которых защищены экраном, а полюсные наконечники отклон ющей системы размещены в вакуумной камере, отличающеес  тем, что, с целью повышени  качества покрытий, фокусирующа  система выполнена в виде линзы с арочной геометрией-магнитного гтол  и размещена под тиглем, соосно последнему. (Л Фог. /1. ELECTRONIC BEAM. CONTROL DEVICE containing a vacuum chamber, an electron gun, a crucible, electromagnetic focusing and deflecting systems, whose electromagnets are protected by a screen, and the pole tips of a deflecting system are placed in a vacuum chamber, characterized in that, in order to improve the quality of coatings, The focusing system is made in the form of a lens with an arched magnetic-gtol geometry and is placed under the crucible coaxially to the latter. (L Fog. /

Description

2. Устройство по П.1, отличающеес  тем, что электромагниты отклон ющей системы и фокусирующей линзы размещены вне вакуумной камеры, а полюсные наконечники отклон ющей системы соединены с электромагнитом посредством магнитопровода .2. A device according to claim 1, characterized in that the electromagnets of the deflecting system and the focusing lens are placed outside the vacuum chamber, and the pole tips of the deflecting system are connected to the electromagnet by means of a magnetic core.

Изобретение относитс  к электротермии , а именно к электроннолучевым установкам дл  плавки, испарени  и обработки материалов. Известно .электроннолучевое испарительное устройство, содержащее вакуумную камеру с расположенным в ней тиглем, электронной пушкой и электрогтагнитным отклон ющим устройством С Зг Недостатки данного устройства обу ловлены расположением отклон ющего устройства вместе с катушкой электромагнита в вакуумной камере, где под воздействием высоких рабочих температур, отраженных электронов и брызг от тигл  катушка нагреваетс , в результате испарений от элемен тов нагретой катушки загр зн етс  камера и поэтому ухудшаетс  качество наносимых покрытий |Кроме того, в упом нутых устройствах отсутствует фокусирующа  система, что также отражаетс  на качестве покрыти , так как пучок электронов в них може.т попадать на кра  тигл . Известно также электроннолучевое испарительное устройство, содержащее вакуумную камеру, электронную пушку тигель, электромагнитные фокусирующу и отклон ющую системы, электромагнит которых защищены экраном, а полюсные наконечники отклон ющей системы размещены в вакуумной камере. Низкое качество наносимых покрыти данного устройства обусловлено размещением отклон ющей и фокусирующей системы вместе с катушками возбуждени  в вакуумной камере, где под возд ствием высоких температур, отраженны электронов и брызг от тигл  катушки нагреваютс , и вследствие испарений от нагретых катущек камера загр зн е с , что ухудшает качество наносимых покрытий. Целью изобретени   вл етс  повьш1е ние качества покрытий. Указанна  цель достигаетс  тем, что в электроннолучевом испарительном устройстве, содержащем вакуумную камеру , электронную пушку, тигель, электромагнитные фокусирующую и отклон ющую системы, электромагниты которых защищены экраном, а полюсные наконечники отклон ющей системы размещены в вакуумной камере, фокусирующа  система выполнена в виде линзы с арочной гео-. метрией магнитного пол  и размещена под тиглем соосно последнему. Кроме того, электромагниты отклон ющей системы и фокусирующей линзы размещены вне вакуумной камеры, а полюсные наконечники отклон ющей системы соединены с электромагнитом посредством магнитопровода. Благодар  использованию фокусирующей линзы и такому конструктивному расположению элементов в предлагаемом устройстве из вакуумной камеры удал ютс  такие элементы, которые при эксплуатации устройства под воздействием высокой температуры, брызг от тигл  и отраженных электронов загр зн ют камеру своими испарени ми, ухудшают вакуум,, а следовательно ,и качество покрыти . На фиг.1. представлено испарительное устройство, общий вид;.на фиг.2 то же, вид слева; а на фиг.З - то же, вид сверху. Электроннолучевое испарительное устройство представл ет собой вакуумную камеру (на чертеже не показана) и включает смонтированные на фланце 1, закрывающем вход в вакуумную камеру, тигель 2, расположенную.соосно с тиглем 2 и размещенную под ним вне вакуумной камеры фокусирующую линзу 3, отклон ющее устройство 4, смонтированное таким образом, что два магнитопровода 5 введены в вакуумную камеру через два отверсти  во фланце 1 и по периметру вакуум-плотно приварены к нему, а катушка 6 отклон кнцего устройства 4, надета  на сердечник магнитопровода 5, находитс  вне вакуумной камеры. К внутренним концам магнитопровода 5 прикреплены полюсные наконечники 7, к которым прикреплена электронна  пушка 8. Работает предлагаемое устройство следующим образом. Электронный пучок, выход 11р1Й из пушки 8, попадает между полюсными наконечниками 7 отклон ющего устрой ва 4, отклон етс  там поперечным магнитным полем, возбуждаемым катуш кой 6 и передаваемым к полюсным наконечникам 7магнитопроводом 5,. и направл етс  на тигель 2, размещенный на фланце 1 испарительного устройства . У тигл  2 электронный пучок фокусируетс  магнитным полем,создаваемым фокусирующей линзой 3 над поверхностью испар емого вещества, плавит и испар ет вещество, наход щеес  в тигле 2 дл  испарени . Качество покрытий, наносимых при использовании данного устройства, повьшаетс  не менее чем на 10% при увеличении скорости нанесени  покрытий .FIELD OF THE INVENTION The invention relates to electrothermia, namely to electron-beam installations for melting, evaporating and processing materials. An electron-beam evaporative device is known that contains a vacuum chamber with a crucible located in it, an electron gun, and an electromagnetically-diverting deviation device С Зг. and the spray from the crucible coil heats up, as a result of the evaporation from the elements of the heated coil the chamber becomes dirty and therefore the quality of s coatings | Furthermore, said devices offline focusing system, which is also reflected on the quality of the coating, since the electron beam mozhe.t they fall at the edges of the crucible. It is also known to have an electron-beam evaporative device containing a vacuum chamber, a crucible electron gun, electromagnetic focusing and deflecting systems, whose electromagnet is protected by a screen, and pole tips of a deflecting system are placed in a vacuum chamber. The poor quality of the applied coatings of this device is due to the placement of the deflecting and focusing system together with the excitation coils in the vacuum chamber, where electrons and spatter from the crucibles are heated by high temperatures, and due to evaporation from the heated coils, the contamination chamber impairs the quality of applied coatings. The aim of the invention is to improve the quality of coatings. This goal is achieved by the fact that in an electron-beam evaporating device containing a vacuum chamber, an electron gun, a crucible, electromagnetic focusing and deflecting systems, whose electromagnets are protected by a screen, and the pole tips of a deflecting system are located in a vacuum chamber, the focusing system is designed as a lens with arched geo-. the magnetic field and is placed under the crucible coaxial to the latter. In addition, the electromagnets of the deflection system and the focusing lens are placed outside the vacuum chamber, and the pole pieces of the deflection system are connected to the electromagnet by means of a magnetic circuit. Due to the use of a focusing lens and such a constructive arrangement of the elements in the proposed device, such elements are removed from the vacuum chamber, which, when operating the device under high temperature, splashes from crucibles and reflected electrons, contaminate the chamber with their evaporation, worsen the vacuum, and therefore and quality of coverage. 1. the evaporating device is presented, general view; the same left view; and on fig.Z - the same, top view. The electron-beam evaporating device is a vacuum chamber (not shown in the drawing) and includes a crucible 2 mounted on the flange 1 closing the entrance to the vacuum chamber, aligned with the crucible 2 and placed below it outside the vacuum chamber a focusing lens 3, a deflecting device 4, mounted in such a way that two magnetic cores 5 are inserted into the vacuum chamber through two openings in the flange 1 and are tightly welded to it along the perimeter, and the coil 6 is deflected by the device 4; oestrus 5 is outside the vacuum chamber. Pole tips 7 are attached to the inner ends of the magnetic circuit 5, to which an electron gun 8 is attached. The proposed device works as follows. The electron beam, the output of 11p1y from the gun 8, falls between the pole tips 7 of the deflecting device 4, is deflected there by a transverse magnetic field excited by the coil 6 and transmitted to the pole tips 7 by the magnetic conductor 5 ,. and is directed to the crucible 2 placed on the flange 1 of the evaporator. In crucible 2, the electron beam is focused by a magnetic field created by the focusing lens 3 above the surface of the vaporized substance, melts and evaporates the substance contained in the crucible 2 for evaporation. The quality of the coatings applied when using this device increases by at least 10% with an increase in the speed of coating.

Claims (2)

1. ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОЕ ИСПАРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО, содержащее вакуумную камеру, электронную пушку, тигель, электромагнитные фокусирующую и отклоняющую системы, электромагниты которых защищены экраном, а полюсные наконечники отклоняющей системы размещены в вакуумной камере, отличающееся тем, что, с целью повышения качества покрытий, фокусирующая система выполнена в виде линзы с арочной геометрией'магнитного1. ELECTRON BEAM VAPORIZING DEVICE containing a vacuum chamber, an electron gun, a crucible, electromagnetic focusing and deflecting systems, the electromagnets are protected by a screen, and the pole tips of the deflecting system are placed in a vacuum chamber, characterized in that, in order to improve the quality of coatings, the focusing system is made in the form of a lens with arched geometry'magnetic Фг/г. 7Fg / g 7 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что электромагниты отклоняющей системы и фокусирующей линзы размещены вне ваку умной камеры, а полюсные наконечники отклоняющей системы соединены с электромагнитом посредством магни топровода.2. The device according to claim 1, characterized in that the electromagnets of the deflecting system and the focusing lens are placed outside the vacuum chamber, and the pole tips of the deflecting system are connected to the electromagnet by means of a magnesium wire guide.
SU803002663A 1980-10-05 1980-10-05 Electron-beam evaporating device SU980560A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803002663A SU980560A1 (en) 1980-10-05 1980-10-05 Electron-beam evaporating device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803002663A SU980560A1 (en) 1980-10-05 1980-10-05 Electron-beam evaporating device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU980560A1 true SU980560A1 (en) 1984-07-23

Family

ID=20925494

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU803002663A SU980560A1 (en) 1980-10-05 1980-10-05 Electron-beam evaporating device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU980560A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. -Патент GB №1154237, кл. Н 12, 1972. 2. Патент GB N4361771, кл. Н ID, 1971 . 8 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3710072A (en) Vapor source assembly
EP0156913A1 (en) Ion microbeam implanting apparatus
US3896258A (en) Electron beam gun system
US3303320A (en) Vapor-coating apparatus
US3068309A (en) Electron beam furnace with multiple field guidance of electrons
US3450824A (en) Method and apparatus for producing and directing an electron beam
JP2899310B2 (en) Evaporation source assembly with crucible
US5418348A (en) Electron beam source assembly
SU980560A1 (en) Electron-beam evaporating device
JPH03108240A (en) Charged particle beam device
SU656558A3 (en) Device for electron radiation heating
US4064352A (en) Electron beam evaporator having beam spot control
US4131753A (en) Multiple electron-beam vapor source assembly
US3221133A (en) Electron microscope with means for treating and observing specimens
DE4020158A1 (en) Appts. for thin film coating of metallic substrates - comprises vacuum chamber, rotating substrate carrier, plasma generator and electron beam vaporiser
US4524717A (en) Electron beam strip-coating apparatus
JPS6142845A (en) Method and device for controlling focused state of deflectedelectron beam
JP2015007269A (en) Electron gun device for electron beam vapor deposition
US3483417A (en) Electron beam deflecting means
US3883679A (en) Vapor source assembly
US3472999A (en) Electron beam generating device
US2267137A (en) Electron microscope
JPH04365855A (en) Ion plating device
KR960005808B1 (en) Electron gun arrangement for use in the electron beam evaporation process
JPS60100421A (en) Ion beam device