SU958994A1 - Способ определени полей магнитной анизотропии поликристаллических ферритов - Google Patents

Description

Изобретение, относитс  к радио-, электронной промышленности, в частности к методам измерени  параметров материалов дл  радиоэлектронной промышленности , и предназначено дл  измерени  эффективных полей магнитНой анизотропии прликристаллических ферритов, в том числе феррогранатов.

Известен споссэб определени  полей магнитной анизотропии в поликристаллических ферритах, включающий анализ спектров магнитной проницаемости II.

Однако этот способ  вл етс  косвенным и, в основном, пригоден дл  измерени  относительно больших полей, т.е. имеет ограниченный диапазон применени . .

Известен другой способ определени  полей магнитной анизотропии поликристаллических ферритов, включающий определение ширины линии ферромагнитного резонанса (ФМР) образца и в.ыделение со.ставл ющей, пропорциональной полю анизотропии 2.

: Способ имеет невысокую точность вследствие того, что ширина линии ФМР в общем  вл етс  суммой п тишесТи составл ющих, и .выделение составл ющей , пропорциональной полю анизотропии, возможно лишь, когда

большинство остальных составл ющих пренебрежимо мало.

Кроме того, способ обладает невысокой чувствительностью, котора  зависит от намагниченности образца.

Цель изобре.т.ени  - повышение точности способа.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу определе10 ни  полей магнитной анизотропии поликристаллических ферритов, включающем определение ширины линии ферромагнитного резонанса образца, определ ют зависимость ширины линии .ферро15 магнитного резонанса образца отчастоты , регистрируют максимальное и минимальное З1 ачение ширины линии ферромагнитного резонанса образца, а о величине пол  анизотропии суд т

20 по разности максимального и минимального значений ширинй линии ферромагпитного резонанса образца., при этом зависимо.сть ширины линии ферромагнитного резонанса образца от часто- .

25 ты определ ют в диапазоне частот

:Т/эа-41Мд-у4ЛМз

-гиромагнитное отношениеf

где т .4ЛМ5

-намагниченность насыщени 

30 образца.

Claims (1)

1. Формула изобретения

   Способ определения полей магнитной анизотропии поликристаллических ферритов, включающий определение ширины линии ферромагнитного резонанса образца, отличаю щи й с я тем, что, с целью повышения точности, оп-·. ределяют зависимость ширины линии ферромагнитного резонанса образца от частоты, регистрируют максимальное и минимальное значения ширины линии ферромагнитного резонанса образца, а о. величине поля анизотропии судят по разности' максимального и минимального значений ширины линии ферромагнитного резонанса образца, при этом зависимость ширины линии ферромагнитного резонанса образца от частоты определяют в диапазоне частот

   1/Зу4ЛМ₅-^4ЯМ₃ где ф

   4ЯМ₅

   - гиромагнитное отношение;

   - намагниченность насыщения образца.