SU957318A1 - Quadruple mass spectrometer - Google Patents
Quadruple mass spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU957318A1 SU957318A1 SU802875355A SU2875355A SU957318A1 SU 957318 A1 SU957318 A1 SU 957318A1 SU 802875355 A SU802875355 A SU 802875355A SU 2875355 A SU2875355 A SU 2875355A SU 957318 A1 SU957318 A1 SU 957318A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- analyzer
- molecular beam
- ionizer
- axis
- field
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
(54) КВАДРУПОЛЬНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР(54) QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER
1one
Изобретение относитс к масс-спектрометрии , а именно к квадрупольным массспектрометрам дл анализа молекул рных пучков.The invention relates to mass spectrometry, namely quadrupole mass spectrometers for analyzing molecular beams.
Известны квадрупольный масс-спектрометры , содержащие источник молекул рного 5 пучка, ионизатор, анализатор с полеобразующими электродами, приемник ионов и устройство дл улавливани молекул рного пучка 1.Quadrupole mass spectrometers are known, which contain a source of molecular 5 beam, an ionizer, an analyzer with field-forming electrodes, an ion receiver and a device for capturing molecular beam 1.
В этих масс-спектрометрах молекул рный пучок направл ют перпендикул рно оси анализатора, ввод т в ионизатор, ионизируют пучком зар женных частиц, формируют полученные ионы в узкий направленный пучок, вывод т ионный пучок из ионизато- 15 ра и ввод т в раздел ющее поле анализатора .In these mass spectrometers, the molecular beam is directed perpendicular to the axis of the analyzer, introduced into the ionizer, ionized with a beam of charged particles, the resulting ions are formed into a narrow directional beam, the ion beam is removed from the ionizer 15 and inserted into the separation field analyzer.
От момента выхода из ионизатора до момента входа в анализатор (а точнее в ту область анализатора, где его раздел ю- ° щее поле вл етс строго гиперболичным) ионный пучок проходит так называемое краевое поле анализатора. Как известно, краевое поле на входе квадрупольного анализатора ведет к потере чувствительности и дискриминации по массам.From the moment of exit from the ionizer to the moment of entry into the analyzer (or more precisely in that area of the analyzer, where its division of the field is strictly hyperbolic), the ion beam passes through the so-called edge field of the analyzer. As is known, the marginal field at the input of a quadrupole analyzer leads to a loss of sensitivity and discrimination by masses.
В этом поле тер етс основна дол ионов, выход щих из ионизатора, особенно при высокой разрешающей способности анализатора , причем дол потер нных ионов различна дл ионов различных масс. .In this field, the main fraction of the ions leaving the ionizer is lost, especially at high resolution of the analyzer, and the proportion of lost ions is different for ions of different masses. .
Известн также квадрупольный массспектрометр , содержащий источник молекул рного пучка, ионизатор, анализатор с полеобразующими электродами и расположенный за ним приемник ионов 2.A quadrupole mass spectrometer is also known, which contains a source of molecular beam, an ionizer, an analyzer with field-forming electrodes and an ion receiver 2 located behind it.
В известном масс-спектройетре на входе ионного пучка в анализатор предусмотрены средства дл уменьщени вли ни краевого пол на ионный пучок. Однако полностью устранить вли ние краевого пол принципиально невозможно.Means are provided in the known mass spectrometer at the entrance of the ion beam to the analyzer to reduce the influence of the edge field on the ion beam. However, it is fundamentally impossible to completely eliminate the influence of the marginal field.
Цель изобретени - увеличение чувствительности и точности анализа.The purpose of the invention is to increase the sensitivity and accuracy of the analysis.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802875355A SU957318A1 (en) | 1980-01-28 | 1980-01-28 | Quadruple mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802875355A SU957318A1 (en) | 1980-01-28 | 1980-01-28 | Quadruple mass spectrometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU957318A1 true SU957318A1 (en) | 1982-09-07 |
Family
ID=20874647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802875355A SU957318A1 (en) | 1980-01-28 | 1980-01-28 | Quadruple mass spectrometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU957318A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4242766A1 (en) * | 1992-12-17 | 1994-06-23 | Leybold Ag | Quadrupole mass filter |
-
1980
- 1980-01-28 SU SU802875355A patent/SU957318A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4242766A1 (en) * | 1992-12-17 | 1994-06-23 | Leybold Ag | Quadrupole mass filter |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1249381A (en) | Low noise tandem quadrupole mass spectrometers and method | |
EP0587707B1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer with an aperture enabling tradeoff of transmission efficiency and resolution | |
JP2567736B2 (en) | Ion scattering analyzer | |
US5661298A (en) | Mass spectrometer | |
US10930487B2 (en) | Double bend ion guides and devices using them | |
JPH0346747A (en) | Ion mirror device for flying timetype mass analyser | |
US4672204A (en) | Mass spectrometers | |
US5898173A (en) | High resolution ion detection for linear time-of-flight mass spectrometers | |
US11101123B2 (en) | Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device | |
US4943718A (en) | Mass spectrometer | |
US4754135A (en) | Quadruple focusing time of flight mass spectrometer | |
SU957318A1 (en) | Quadruple mass spectrometer | |
EP0501257B1 (en) | Ion scattering spectrometer | |
IL33204A (en) | An improved ion-optical system | |
SU801137A1 (en) | Mass spectrometer | |
JP2000067807A (en) | Method and device for separating ion from ion beam | |
JPS60121663A (en) | Laser excitation ion source | |
JPH06131999A (en) | Emittance measuring device for ion beam | |
US5107110A (en) | Simultaneous detection type mass spectrometer | |
US4134013A (en) | Mass spectrometers | |
US10770278B2 (en) | Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device | |
US3783278A (en) | Single magnet tandem mass spectrometer | |
JPH034433A (en) | Flight time type mass spectrometry device | |
JPH02158048A (en) | Mass spectrometry device | |
SU721869A1 (en) | Prizm-type mass-spectrometer with energywise focussing |