SU939959A1 - Спектрометр дл измерени коэффициентов отражени - Google Patents
Спектрометр дл измерени коэффициентов отражени Download PDFInfo
- Publication number
- SU939959A1 SU939959A1 SU803009607A SU3009607A SU939959A1 SU 939959 A1 SU939959 A1 SU 939959A1 SU 803009607 A SU803009607 A SU 803009607A SU 3009607 A SU3009607 A SU 3009607A SU 939959 A1 SU939959 A1 SU 939959A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- lens
- carriage
- radiation
- illuminator
- spectrometer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к технической (5 13ике и может быть использовано при создании приборов дл иссле довани физических свойств и химичес кого состава тонких сильно поглощающих слоев по спектрам отражени . Известны различные варианты спект рометров дл измерени коэффициентов отражени , например, при внешнем отражении (т.е. отражении на границе исследуема среда - воздух)Г13. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности вл етс спектрометр, выполненный на основе спектрофотометра ИКС-1 и приставки НПВО, содержащий осветитель, проекционный объектив, держатель образца, коллимирующий объектив, изготовленны из материала с высоким показателем преломлени и установленный перед держателем образца монохроматор, рас положенный за проекционным объективом , и приемник излучени , установленный за монохроматором. В спект рометре коллимирующий объектив в форме полуцилиндра, выполн ющий функцию элемента НПВО, закреплен неподвижно относительно плоскости.образованной пересечением оптических осей осветител и проекционного объектива 2. Существенным недостатком данного прибора вл етс ограниченность аналитических возможностей при исследовании веществ в виде тонких сильнопоглощающих слоев. Актуальной проблемой при изучении подобных объектов вл етс получение на основе количественных измерений спектров отражени точных и сопоставимых данных о свойствах и составе как поверхностных слоев толщиной 6,1-1 мкм, так и более глубоких подповерхностных слоев толщиной до нескольких мкм. Однако при использовании спектрометров НПВО глубина d проникновени излучени в вещество очень мала. Это не позвол ет получать с помощью известных типовых
спектрометров НПВО информацию о свойствах глубинных слоев, что ограничивает их аналитические возможности.
Цель изобретени - расширение аналитических возможностей спектрометров при изучении свойств и состава тонких слоев по спектральным коэффициентам отражени .
Поставленна цель достигаетс . благодар тому, что спектрометр дл измерени коэффициентов отражени , содержащий осветитель, проекционный объектив, держатель образца, коллимирующий объектив, изготовленный из материала с высоким показателем преломлени и установленный перед держателем образца монохроматор, расположенный за проекционным объективом, И приемник излучени , снабжен каретНой , установленной с возможностью перемещени вдоль оптической оси севе тител , столиком, подвижным в направлении оптической оси проекщ нного объектива и приводом, входные, звень которого св заны с кареткой и столиком , при этом осветитель занбреплен на каретке, причем каретка и держатель образца расположены на столике, а коллимирующий объектив выполнен подвижным в направлении, перпендикул рном плоскости,образованной оптическими ос ми осветител и коллимирующего объектива.
На фиг. 1 схематично показан спектрометр дл измерени коэффициентов отражени , разрез; на фиг. 2 то же, вид сверху; на фиг. 3 вид А на фиг. 1.
Основными оптическими системами вл ютс осветитель, изображенный в виде источника 1 излучени и линзы 2 проекционный объектив 3, коллимирующий объектив 4 (элемент НПВО), изготовленныйиз материала с высоким показателем преломлени и установленный вблизи точки О пересечени оптических осей 00/ осветител и 00(2 (фиг. 2) проекционного объектива, монохроматор 5, расположенный за проекционным объективом 3s и приемник 6 излучени , установленный на выходе монохроматора 5. Держатель 7 исследуемого образца (ИО) расположен позади коллимирующего объектива k,
Осветители 1 и 2 закреплены на каретке 8, установленной на платформе 9, котора вл етс частью столика 10, и, как и ось 11 столика может поворачиватьс вокруг вертикальной
оси., С осью 11 столика 10 жестко св зан держатель 7 образца. Столик 10 выполнен подвижным относительно корпуса 12 спектрометра в направлении
оси OQi проекционного объектива 3, тогда как каретка 8 имеет возможность перемещени относительно платформы 9 в направлении оптической оси 00 осветителей 1 и 2,
В спектрометре имеетс привод, содержащий вал 13, Подшипники Ik смонтированы на кронштейне 15, который укреплен на цилиндрических направл ющих 16, выполненных как одно целое с столиком 10.
На валу 13 закреплены кулачок 1 фокусировки и кулачок 18 подъема образца (фиг. 3). Кулачок 18 подъема образца через контактный элемент 19 взаимодействует с осью 11 столика 10, а кулачок 17 фокусировки через шток 20 - с подпружиненной втулкой 21 установленной на цилиндрических направл ющих 16. С боковой поверхностью подпружиненной втулки 21 взаимодействуют контактные элементы 22 и 23 св занные с корпусом 12 и кареткой 8 соответственно. В приводе имеютс также элементы дл поворота плат формы 9 и оси 11 столики 10 и упругие элементы дл обеспечени силового замыкани между соответствующими детал ми спектрометра. Выходными звень ми привода вл ютс подпружиненна втулка 21, св занна с столиком 10, и контактный элемент 23, св занный с кареткой 8.
Спектро)етр работает следующим образом .
Поворотом вала 13 спектрсэметр устанавливаетс в исходное положение, в котором фокальные точки F и F« осветител и проектного объектива (фиг. 2) наход тс на равном рассто нии от точки О, совпада с фокальными точками коллимирующего объектива /4. Исследуемый образец устанавливаетс на оптический контакт с коллимирую щим объективом l и закрепл етс в держателе 7 образца таким образом, чтобы точка О совместилась с исследуемой поверхностью. Излучение от осветителей 1 и 2 направл етс коллимирующим
Claims (2)
- объективом А на образец. Излучение, отраженное от ИО за счет эффекта НПВО, направл етс коллимирующим объективом k на вход монохроматора 5. которыи выдел ет в спектре отраженног излучени узкий спектральный интервал . Интенсивность излучени в этом интервале измер етс приемником 6. с -43e ,.n4n -sin 94 4J/A) угол падени излучени на И волновое число; X - коэффициент поглощени ИО; f, соответственно показатели преломлени ИО и вещества, наход ще гос с ним в оптическом контакте (в данном случае - материала коллимирукмцего объектива). Из формулы видно, что значение d можно в определенных пределах варьировать изменением величины угла 9. Дл этого достаточно осуществить поворот держател 7 образца на заданный угол с одновременным поворотом платформы 9 с кареткой 8 и осветител ми 1 и 2 на удвоенный угол вокруг вертикальной оси. После окончани измерений коэффициента НПВО приводитс во вращение вал 13 с кулачком 17 фокусировки и кулачком подъема образца 18. При повороте кулачка 17 фокусиров ки подпружиненна втулка 21 под воздействием упругого элемента 26 начинает опускатьс . В результате взаимо действи конической поверхности втул ки 21 с закрепленным контактным элементом 22 столик 10 с всеми закрепленными на нем детал ми, т.е, с держателем 7 образца, платформой 9 с кареткой 8 и осветителем 12, начинает перемещатьс вдоль оптической оси ООо проекционного объектива 3, Одновременно поступательное движение подпружиненной втулки 21 через контактный элемент 23 преобразовываетс в поступательное перемещение каретки 8 с осветител ми 1 и 2 вдоль его оптической оси 00. При подходе контактных элементов 22 и 23 к концу конического участка на подпружиненной втулке 21 фокальные точки F и F осветителей 1 и 2 и проекционного объектива совмест тс с точкой 0. При дальнейшем опускании подпружиненной втулки 21 столик 10 и каретка 9 сохран ют свое положение. На этом участ ке поворота вала 13 в результате взаимодействи с кулачком 18 подъема образца происходит опускание оси 11 959 Коэффициент НПВО характеризует свойство поверхностных слоев. Глубина проникновени излучени в ИО определ етс выражением. .sinie) столика 10 вместе с держателем 7 образца коллимирующим объективом , который за счет этого выводитс из хода лучей. В результате на вход монохроматоРэ 5 поступает излучение, испытавшее внешнее отражение на границе воздух - ИО, Как следует из формулы, в этом случае за счет уменьшени значени п до 1 происходит скачкообразное возрастание величины Д , т.е. спектрометр дает информацию о сло х, лежащих на глубине большей 1 мкм. При дальнейшем повороте вала 13 спектрометр возвращаетс в исходное положение, соответствующее измерению коэффициента НПВО, Следовательно в спектрометре обеспечиваетс простой и удобный переход от измерений внешнего отражени к измерению HfiBO и наоборот , т,е, имеетс возможность получени информации о различных сло х вещества. Поскольку этот переход осуществл етс без изменени углов падени и отражени , без сн ти образца использованием тех же самых оптических систем осветител и проекционного объектива, предлагаемый спектрометр обеспечивает при прочих равных услови х более высокую томность измерений, чем отдельно вз тые спектрометры НПВО и внешнего отражени . Возможность измерени внешнего отражени и НПВО при одной установке образца способствует также повышению производительности измерений,особенно , если измерени провод тс в услови х вакуума. Кроме того, в устройстве можно предусмотреть подключение вала 13 к-приводу сканировани спектра (не изображен), В этом случае при соответствующем выборе угла наклона образующей конической поверхности втулки подпружиненной 21 и профил куачка 17 фокусировки сканирование спектра НПВО сопровождаетс синхроным перемещением осветителей 1 и 2 проекционного объектива 3 по зако- у, обеспечивающему компенсацию хроматизма положени . Этим достигаетс повышение точности измерений/ Формула изобретени Спектрометр дл измерени коэффициентов отражени , содержащий оптически св занные осветитель, проекцио ный объектив, держатель образца, кол лимирующий объектив,изготовленный и материала с высоким показателем преломлени и установленный перед держателем образца, монохроматор, расположенный за проекционным объективо ц приемник излучени , установленный на выходе монохроматора, отлича ющийс тем, что, с целью расширени аналитических возможностей, он снабжен кареткой, установленной с возможностью перемещени вдоль оптической оси осветител , столиком, подвижным в направлении оптической оси проекционного объектива, и приводом , входные звень которого св заны с кареткой и столиком, при этом осветитель закреплен на каретке, а каретка и держатель образца расположены на столике, коллимирующий объектив выполнен подвижным в направлении, перпендикул рном к плоскости, образованной оптическими ос ми осветител и коллимирующего объектива. Источники информации. прин тые во внимание при экспертизе 1.Патент США № 3687519, кл. G 01 J , опублик. 1972.
- 2.Харрик Н. Спектроскопи внутреннего отражени . М., Мир, 1970, с. 30i, 307.10 sфиг2/.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU803009607A SU939959A1 (ru) | 1980-12-03 | 1980-12-03 | Спектрометр дл измерени коэффициентов отражени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU803009607A SU939959A1 (ru) | 1980-12-03 | 1980-12-03 | Спектрометр дл измерени коэффициентов отражени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU939959A1 true SU939959A1 (ru) | 1982-06-30 |
Family
ID=20928069
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU803009607A SU939959A1 (ru) | 1980-12-03 | 1980-12-03 | Спектрометр дл измерени коэффициентов отражени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU939959A1 (ru) |
-
1980
- 1980-12-03 SU SU803009607A patent/SU939959A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7864317B2 (en) | Compact catadioptric spectrometer | |
US3985441A (en) | Multi-channel spectral analyzer for liquid chromatographic separations | |
US5048970A (en) | Optical attachment for variable angle reflection spectroscopy | |
JP4455730B2 (ja) | 多走査ビーム反射率を用いる粒子評価のための方法および装置 | |
CN107462405B (zh) | 宽波段差动共焦红外透镜元件折射率测量方法与装置 | |
Ramer et al. | Attenuated Total Reflection F ourier Transform Infrared Spectroscopy | |
US8730466B2 (en) | Optical spectrometer with underfilled fiber optic sample interface | |
EP0222831A1 (en) | Automated refractometer | |
KR20080075182A (ko) | 분광 광도계 분석 장치 및 방법 | |
CN106290228A (zh) | 一种配件组合式太赫兹时域光谱系统 | |
US20040027659A1 (en) | Sample holder | |
CN108844908B (zh) | 一种多维光谱检测装置与分析方法 | |
CN106017673A (zh) | 基于mems扫描微镜的双通过光栅单色仪光路结构 | |
US8547555B1 (en) | Spectrometer with built-in ATR and accessory compartment | |
US4972092A (en) | Apparatus for determining the effective surface roughness of polished optical samples by measuring the integral scattered radiation | |
US3733130A (en) | Slotted probe for spectroscopic measurements | |
RU2500993C1 (ru) | Спектрометр на основе поверхностного плазмонного резонанса | |
EP0205050A2 (en) | Simultaneous multiple wavelength photometer | |
SU939959A1 (ru) | Спектрометр дл измерени коэффициентов отражени | |
Archibald et al. | Remote near-IR reflectance measurements with the use of a pair of optical fibers and a Fourier transform spectrometer | |
US3420138A (en) | Variable angle attenuated total reflection attachment | |
CN217332162U (zh) | 一种利用线阵ccd测量液体折射率的装置 | |
RU2334957C2 (ru) | Устройство для измерения спектров а.х.купцова | |
Chalmers | Mid-infrared spectroscopy: the basics | |
EP0204090B1 (en) | Spectrophotometer |