SU938220A1 - Device for measuring transistor current differential transmission coefficient - Google Patents

Device for measuring transistor current differential transmission coefficient Download PDF

Info

Publication number
SU938220A1
SU938220A1 SU803221484A SU3221484A SU938220A1 SU 938220 A1 SU938220 A1 SU 938220A1 SU 803221484 A SU803221484 A SU 803221484A SU 3221484 A SU3221484 A SU 3221484A SU 938220 A1 SU938220 A1 SU 938220A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
collector
input
voltage
integrator
Prior art date
Application number
SU803221484A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Альгирдас Юльевич Бингелис
Казимир Брониславович Пукянец
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8574
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8574 filed Critical Предприятие П/Я В-8574
Priority to SU803221484A priority Critical patent/SU938220A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU938220A1 publication Critical patent/SU938220A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к технической физике и может быть использовано в автоматизированных измерител х малосигнальных параметров маломощных транзисторов.This invention relates to technical physics and can be used in automated measurements of low signal parameters of low power transistors.

Известно устройство дл  измерени  дифференциального коэффициента передачи тока транзисторов в схеме с общим эмиттером , содержащее ге нератор НЧ, источники напр жени ,токозадающие резисторы и два операционных усилител  1.A device for measuring the differential current transfer ratio of transistors in a common emitter circuit is known, comprising a low-frequency generator, voltage sources, current generating resistors and two operational amplifiers 1.

Недостатком известного устройства  еРл етс  обратна  нелинейна  шкала измерител , что уменьшает точность измерени .The disadvantage of the known device is the inverse nonlinear scale of the meter, which reduces the measurement accuracy.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому,  вл етс  устройство дл  измерени  Дифференциального коэффициента передачи тока транзисторов, содержащее источник посто нного тока базы, разделительный конденсатор и токозадающий резистор базовой цепи, испытуемыйThe closest in technical essence to the present invention is a device for measuring the Differential current transfer ratio of transistors, which contains a DC base source, a coupling capacitor and a current-supplying resistor of the base circuit, the subject

транзистор, блок контрол  посто нно-. го тока коллектора,источник коллекторного напр жени , токосъемный резистор цепи коллектора, разделительный конденсатор цепи коллектора.генератор НЧ, и индикатор 2,transistor, the control unit is constant the collector current, the collector voltage source, the collector circuit collector current, the collector circuit of the low frequency collector and the indicator 2,

Недостатком известного устройства  вл етс  изменение амплитуды низкочастотной составл ющей тока коллектора в пределах A disadvantage of the known device is the change in the amplitude of the low-frequency component of the collector current within

10 диапазона измерени , что вызывает дополнительные погрешности из-за нелинейности усилительных и детектирующих устройств, вход щих в состав индикатора.10 measurement range, which causes additional errors due to the nonlinearity of amplifying and detecting devices included in the indicator.

1515

Цель изобретени  - повышение точности измерени  и расширение динамического диапазона.The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy and the expansion of the dynamic range.

Указанна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  измерени  диффе This goal is achieved by the fact that the device for measuring differential

20 ренциального коэффициента передачи тока транзисторов, содержащее источник посто нного тока, выход которого соединен с клеммой дл  подклюмени  базы испытуемого транзистора и с первым выводом токозадающего резисто ра, второй вывод которого соединен с первой обкладкой первого разделительного конденсатора,клемму дл  подключени  эмиттера соединенную с общей шиной, клемму дл  подключени  коллектора соединенную с входом блока контрол  посто нного тока коллек-« тора, одной обкладкой второго разделительного конденсатора и первым выводом токосъемного резистора, второй вывод которого подключен к источнику коллекторного напр жени  вве|С1ены триггер, интегратор, модул тор, пре образователь напр жени  в частоту, формирователь импульсов, компаратор и измеритель временного интервала, причем выход триггера через последовательно соединенные интегратор и модул тор соединен с второй обкладкой первого разделительного конденсатора, другой выход интегратора через преобразователь напр жени  в частоту w формирователь импульсов соединен с управл ющим входом модул тора и первым входом измерител  временного интерва ла, второй вход которого соединен с входом триггера и выходом компаратоп ра, вход которого подключен к другой обкладке второго разделительного кон денсатора . На чертеже приведена структурна  схема устройства дл  измерени  дифференциального коэффициента передачи тока транзисторов. Устройство содержит источник 1 посто нного тока (базы), разделительный конденсатор. 2 и токозадающий резистор 3 базовой цепи, испытуемый транзистор k, блок 5 конгрол  посто нного тока коллектора, источник 6 коллекторного напр жени , токосъемный резистор 7 цепи коллектора, разделительный конденсатор 8 цепи коллектора , клеммы 9 10, триггер П, интегратор 12, преобразователь 13 напр жени  в частоту, формирователь импульсов, модул тор i15, измеритель 16 временного интервала, компаратор 17, клемму l8. Устройство работает следующим образом. После установки режима по посто н ному току, с приходом кратковременного сигнала Пуск устанавлизае«ср нулевой уровень напр жени  на вькоде интегратора 12, а триггер 11 устанавливаетс  в полржение, при котором на его выходе Iимеетс  напр жение +U. Это напр жение поступает на интегратор 12, на выходе которого получаетс  линейно-измен ющеес  напр жение бых (t) где с - посто нна ; Ugjji (t) поступает на модул тор 15. Напр жение с интегратора 12 поступает также на преобразователь 13 напр жени  в частоту, на выходе которого получаетс  переменное напр жение с линейно-нарастающей частотой. Из данного напр жени  при помощи формировател  14 импульсов формируютс  импульсы, управл ющие модул тором 15. Частота повторени  импульсов определ етс  выражением V BblXW Дл  импульсного тока базы можно записать V(t) S 6btxU) дл  импульсного тока коллектора )c( (ьг ( в момент времени t малосигнальна  составл юща  тока коллектора достигает требуемого значени  i , срабатывает компаратор 17 опрокидыва  триггер 11 в положение, при котором на выходе имеетс  напр жение - и. Одновременно импульс компаратора 17 поступает на измеритель 16 временного интервала, который по данному сигналу измер ет длительность периода низкочастотных колебаний Т.. На основании выражений (2) и () можно записать Таким образом, измер емый параметр  вл етс  пр мо пропорциональным периоду следовани  импульсов в момент Достижени  малосигнальной составл ющей тока коллектора требуемого зиачсни  и при соответствующей калибро ке определ етс  путем, измерени  дан ного периода. Дл  обеспечени  высокой точности измерени  необходимо, чтобы изменен периода следовани  импульсов низкочастотной составл ющей от периода к периоду была незначительной. Предлагаемое устройство позвол ет повысить точность измерени  ( погрешность измерени  составл ет ±1 ,S% и расширить динамический диа пазон измерени  , так как обеспечивает пр мую шкалу измерени  при постотнной амплитуде низкочастотной составл ющей тока коллектора, а также повысить производительность труда за счет возможности автомати зации процесса измерени . формула изобретени  Устройство дл  измерени  дифференциального коэффициента передачи тока транзисторов, содержащее источ ник посто нного тока, выход которог соединен с клеммой дл  подключени  базы испытуемого транзистора и с первым выходом токозадающего резистора , второй выход которого соединё с первой обкладкой первого разделительного конденсатора, клемму дл  подключени  эмиттера, соединенного с общей шиной, клемму дл  подключе ни  коллектора, соединенную с входом блока контрол  посто нного тока коллектора, одной обкладкой второго разделительного конденсатора и первым выводом токосъемного резистора, второй вывод которого подключен к источнику коллекторного напр жени , отличающеес  тем,, что , с целью повышени  точности измерени  и расширени  динамического диапазона , в него введены триггер, интегратор , модул тор, преобразователь напр жени  в частоту, формирователь импульсов, компаратор и измеритель временного интервала, причем выход триггера через последовательно соединенные интегратор и модул тор соединен с второй обкладкой первого разделительного конденсатора, другой выход интегратора через преобразователь напр жени  - в частоту и форч мирователь импульсов соединен с, управл ющим входом модул тора и Первым входом измерител  временного интервала , второй вход которого соединен с входом триггера и выходом компаратора , вход которого подключен к другой обкладке второго разделительного конденсатора. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе Т.Грэм.. Измерение параметров транзисторов с помощью схем на операционных усилител х.- Электроника, 1972, If 5, т. it5. 2. Аронов В.Л., Федотов Я.А. Испытание и исследование полупроводниковых приборов. М. Высша  шк.ола, 1975.20 of the potential current transfer coefficient of the transistors, containing a DC source, the output of which is connected to the terminal for connecting the base of the tested transistor and the first output of the current-generating resistor, the second terminal of which is connected to the first face of the first coupling capacitor, the terminal for connecting the emitter connected to the common bus , a terminal for connecting a collector connected to the input of the DC control unit of the collector, one plate of the second coupling capacitor and the first terminal ohm current collector resistor, the second output of which is connected to the source of the collector voltage injected | Sieny trigger, integrator, modulator, voltage to frequency converter, pulse shaper, comparator and time meter, the trigger output through serially connected integrator and modulator connected With the second plate of the first coupling capacitor, the other output of the integrator is connected via a voltage to frequency converter w and the pulse shaper is connected to the control input of the modulator and ne vym input meter la temporal intervals, a second input coupled to an input trigger and the output pa komparatop whose input is connected to the other plate of the second separation condenser. The drawing shows a block diagram of a device for measuring the differential current transfer coefficient of transistors. The device contains a source of direct current (base), a coupling capacitor. 2 and the current-setting resistor 3 of the base circuit, the transistor k under test, the 5 unit of the constant current collector collector, the collector voltage source 6, the collector current collector 7 of the collector circuit, the separator capacitor 8 of the collector circuit, terminals 9 10, trigger P, integrator 12, converter 13 voltage to frequency, pulse driver, i15 modulator, time interval meter 16, comparator 17, terminal l8. The device works as follows. After the setting of the direct current mode, with the arrival of a short-time signal, the Start-up sets the voltage level at the integrator 12 code and the trigger 11 is set to the state at which the output voltage I + is at its output. This voltage is applied to the integrator 12, at the output of which a linearly varying voltage is obtained, (c) where c is constant; Ugjji (t) is supplied to the modulator 15. The voltage from the integrator 12 is also fed to the voltage-to-frequency converter 13, the output of which is a variable voltage with a linearly increasing frequency. From this voltage, using a pulse shaper 14, pulses are generated that control the modulator 15. The pulse repetition rate is determined by the expression V BblXW For a pulsed base current, you can write V (t) S 6btxU for a pulsed collector current) c ((ьr (v time t the small signal component of the collector current reaches the required value i, the comparator 17 trips the trigger 11 to the position where the output voltage is - and. At the same time, the pulse of the comparator 17 is fed to the meter 16 a, which by this signal measures the duration of the low-frequency oscillation period T .. Based on the expressions (2) and () can be written. Thus, the measured parameter is directly proportional to the pulse duration at the time of the achievement of the small signal component of the collector current required and, with appropriate calibration, it is determined by measuring the period. To ensure high measurement accuracy, it is necessary that the period of the pulse of the low-frequency component be changed from period to period. period was insignificant. The proposed device allows to increase the measurement accuracy (measurement error is ± 1, S% and expand the dynamic measurement range, as it provides a direct measurement scale at a post-day amplitude of the low-frequency component of the collector current, as well as increase productivity measurement process. Claims Device for measuring the differential current transfer coefficient of transistors, containing a DC source, the output of which is connected to the terminals to connect the base of the test transistor and the first output of the current-conducting resistor, the second output of which is connected to the first plate of the first coupling capacitor, the terminal for connecting the emitter connected to the common bus, the terminal for connecting the collector connected to the input of the DC control unit of the collector, one plate of the second coupling capacitor and the first output of the collector resistor, the second output of which is connected to a source of collector voltage, characterized in that To increase the accuracy of measurement and expansion of the dynamic range, a trigger, an integrator, a modulator, a voltage-to-frequency converter, a pulse shaper, a comparator, and a time interval meter are entered, the trigger output being connected through the serially connected integrator and modulator to the second plate of the first separator the capacitor, the other output of the integrator through a voltage converter - into the frequency and the forch worldizer of pulses is connected to the control input of the modulator and the First input of the measurement body time interval, the second input of which is connected to the trigger input and the output of the comparator, the input of which is connected to another plate of the second separation capacitor. Sources of information taken into account in the examination of T. Graham .. Measurement of parameters of transistors using circuits on an operational amplifier x.- Electronics, 1972, If 5, t. It5. 2. Aronov V.L., Fedotov Ya.A. Test and study of semiconductor devices. M. Higher School of Commerce, 1975.

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Устройство для измерения дифференциального коэффициента передачи 25 тока транзисторов, содержащее источник постоянного тока, выход которого соединен с клеммой для подключения базы испытуемого транзистора и с первым выходом токозадающего резис- зо тора, второй выход которого соединён с первой обкладкой первого разделительного конденсатора, клемму для подключения эмиттера, соединенного с общей шиной, клемму для подключе- 33 ния коллектора, соединенную с входом блока контроля постоянного тока коллектора, одной обкладкой второго разделительного конденсатора и первым выводом токосъемного резистора, второй вывод которого подключен к источнику коллекторного напряжения, отличающееся тем,, что , с целью повышения точности измерения и расширения динамического диапазона, в него введены триггер, интегратор, модулятор, преобразователь напряжения в частоту, формирователь импульсов, компаратор и измеритель временного интервала, причем выход триггера через последовательно соединенные интегратор и модулятор соединен с второй обкладкой первого разделительного конденсатора, другой выход интегратора через преобразователь напряжения - в частоту и форт мирователь импульсов соединен с. управляющим входом модулятора и первым входом измерителя временного интервала, второй вход которого соединен с входом триггера и выходом компаратора, вход которого подключен к другой обкладке второго разделительного конденсатора.A device for measuring the differential transmission coefficient 25 of the transistor current, containing a DC source whose output is connected to a terminal for connecting the base of the tested transistor and to the first output of a current-setting resistor, the second output of which is connected to the first plate of the first isolation capacitor, a terminal for connecting the emitter connected to the common bus, terminal for connecting the collector 33 , connected to the input of the collector DC control unit, separate one lining of the second a capacitor and the first output of a collector resistor, the second output of which is connected to a collector voltage source, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy and expand the dynamic range, a trigger, an integrator, a modulator, a voltage to frequency converter, a pulse shaper are introduced into it, a comparator and a time interval meter, the trigger output through a series-connected integrator and modulator connected to the second lining of the first isolation capacitor, another The integrator через s output through a voltage converter - to the frequency and the pulse fortifier is connected to. the control input of the modulator and the first input of the time interval meter, the second input of which is connected to the trigger input and the output of the comparator, the input of which is connected to another plate of the second isolation capacitor.
SU803221484A 1980-12-17 1980-12-17 Device for measuring transistor current differential transmission coefficient SU938220A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803221484A SU938220A1 (en) 1980-12-17 1980-12-17 Device for measuring transistor current differential transmission coefficient

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803221484A SU938220A1 (en) 1980-12-17 1980-12-17 Device for measuring transistor current differential transmission coefficient

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU938220A1 true SU938220A1 (en) 1982-06-23

Family

ID=20933261

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU803221484A SU938220A1 (en) 1980-12-17 1980-12-17 Device for measuring transistor current differential transmission coefficient

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU938220A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106768866A (en) * 2017-02-07 2017-05-31 武汉灿光光电有限公司 The automatic focal length deflection angle testing devices of TO

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106768866A (en) * 2017-02-07 2017-05-31 武汉灿光光电有限公司 The automatic focal length deflection angle testing devices of TO
CN106768866B (en) * 2017-02-07 2023-08-29 武汉灿光光电有限公司 TO automatic focal length deflection angle testing device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2619552A (en) Automatic drift corrector
SU938220A1 (en) Device for measuring transistor current differential transmission coefficient
US2967996A (en) Magnetron tester
SU1239612A1 (en) Device for measuring amplitude of recurrent pulses
SU779940A1 (en) Defice for measuring transistor current transfer static coefficient
US3609536A (en) Testing apparatus for count rate circuits using pulses
SU1170376A1 (en) Device for measuring instability of electric contast resistance
US3652931A (en) Innate oscillator noise determination
SU783715A1 (en) Apparatus for measuring amplitude-frequency characteristic of amplifier
SU558231A1 (en) Measuring module for current transfer coefficient of transistors in pulsed mode
SU1359686A1 (en) Vibrocalibrating device
SU859940A1 (en) Uhf pulse power meter
US3465248A (en) Pulsing current peak level measuring means
SU441535A1 (en) Device for calibration and calibration of voltmeters of pulse-modulated oscillations
SU708267A1 (en) Arrangement for measuring varicap parameters
SU954902A1 (en) Device for measuring gain of transistors at saturation boundary
SU1314282A1 (en) Meter of extraneous amplitude modulation in magnetic tape recording equipment
SU1529052A1 (en) Apparatus for measuring temperature
SU949555A1 (en) Device for measuring non-uniformity of transistor current transfer coefficient
SU580513A1 (en) Device for measuring pulse amplitude
SU949622A1 (en) Device for measuring transient process time
SU447619A1 (en) Method for measuring low DC voltages
SU720502A1 (en) Pulse train former
SU679888A1 (en) Dc voltage measuring device
SU693279A1 (en) Pulsed meter of current transfer coefficient of transistors in low signal mode