SU922599A1 - Дуговой способ возбуждени спектра исследуемого образца - Google Patents

Дуговой способ возбуждени спектра исследуемого образца Download PDF

Info

Publication number
SU922599A1
SU922599A1 SU802964444A SU2964444A SU922599A1 SU 922599 A1 SU922599 A1 SU 922599A1 SU 802964444 A SU802964444 A SU 802964444A SU 2964444 A SU2964444 A SU 2964444A SU 922599 A1 SU922599 A1 SU 922599A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
arc
capacitor
pulse
additional
excitation
Prior art date
Application number
SU802964444A
Other languages
English (en)
Inventor
Антон Антонович Янковский
Леонид Маркович Каган
Original Assignee
Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Ан Бсср
Институт Геохимии И Геофизики Ан Бсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Ан Бсср, Институт Геохимии И Геофизики Ан Бсср filed Critical Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Ан Бсср
Priority to SU802964444A priority Critical patent/SU922599A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU922599A1 publication Critical patent/SU922599A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

I
Изобретение относитс  к спектроскопии и может быть использовано при спектральном анализе состава различных веществ.
Изагёстен дуговой способ возбуждени  спектра исследуемого образца, заключающийс  в наложении на дугу импульса разр да конденсатора f1.
Недостаток его состоит в увеличении интенсивиостей спектральных линий лишь ионов при неизменных интенсионост х линий атомов.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  ЙУ говой способ возбуждени  спектра ис- следуемого образца, включающий наложение на дугу импульса разр да конденсатора . В этом способе повышение интенсивностей линий атомов и ионов достигаетс  либо увеличением емкости конденсатора, либо увеличением тока дуги 2.
Недостатком способа  вл етс  ка  интенсивность спектральных линий ,
атомов и ионов. Объ сн етс  это тем, что при увеличении емкости конденсатора возрастает амплитуда тока импульса из-за чего коммутирующий элемент (тиристор) работает в т желом режиме , что приводит к уменьшению.надеиности работы .всей схемы, с помощью которой реализуетс  способ, увеличение же тока дуги приводит к дополнительному выделению энергии на
10 балластном резисторе, что снижает КПД схемы.
Цель изобретени  - повышение интенсивности спектральных линий атомов и ионов при неизменных электри- «
15 ческих параметрах разр дной цепи конденсатора и неизменном токе генератора дуги.
Эта цель достигаетс  тем, что согласно дуговому способу возбуждени  спектра исследуемого образца, включающему наложение на дугу импульса разр да конденсатора, перед наложени ; ем импульса разр да конденсатора на
дугу предварительно накладывают импулЬс разр да дополнительного конденсатора , причем интервал времени между моментами наложени  импульсов t удовлетвор ет соотношению 2, где t - длительность импульса дополнительного конденсатора.
Импульсы могут быть полностью либо частично совмещены, а также накладыватьс  поочередно с временным интервалом , не превышающим длительности дополнительного первого импульса.
Расширение круга одновременно определ емых элементов позвол ет значительно упростить процесс анализа и снизитЬч-затраты на его проведение.
На чертеже показана схема установки дл  осуществлени  предлагаемого способа.
Установка содержит дуговой генератор 1, электроды 2, основной конденсатор 3| дополнительный конденсатор 4, коммутирующие элементы (тиристоры ) 5 и 6, диоды 7-13, резисторы It21 , диоды 22 и 23, индуктивность 2k.
Дуговой генератор 1 обеспечивает зажигание и горение дуги на электродах 2. На дугу накладывают импульсы разр да основного конденсатора 3 и дополнительного конденсатора k. Дл  управлени  работой коммутирующих элементов (тиристоров) 5 и 6 служат диоды 7-13 и резисторы H-ZI. Конденсаторы 3 и i зар жают от источника переменного тбка через диоды 22 и 23. В цепи разр да дополнительного конденсатора 4 включена индуктивность 2Л.
П р и м е р 1, Примен ют медные электроды. Один из них,  вл ющийс  анодом в вертикальной дуге посто нного тока, имеет форму цилиндра диаметром 6 мм, другой, служащий катодом (верхний электрод в штативе FS-11 заточен в виде цилиндра диаметром 2 мм и располагаетс  коаксиально нижнему электроду. Спектры регистрируют при помощи спектрографа PGS-2, работающего в режиме двойного лучепрохожйени , при этом обратна  линейна  дис Перси  составл ет 0,37 нм/мм. Щель ,: спектрографа шириной 20 мкм освещаетс  т{жхЛинзовоЙ системой, промежуточна  диб;|; агма - круглое окошко диаметром 17 мм, рассто ние между электродами устанавливаетс  по узкой диафрагме ,2 мм. Свеиезатоменные электроды обжигаютс  25 с в дуге посто нного тока при токе генератора 5 А. После съемки каждого спектра электроды охлаждаютс  60 с потоком воздуха. Врем  экспозиции составл ет 10 с. Сила тока дуги, на которую накладываютс  импульсы разр дов конденсаторов , во всех случа х составл ет 5 А, а длительность основного импульса - б5 МКС. Частота следовани  импульсов - 50 Гц,
Основной импульс начинаетс  в момент прохождени  амплитуды тока дополнительного импульса (длительностью 810 мкс).
Дл  регистрации спектров используютс  фотопластики спектрографические типа П чувствительностью 10 ед. ГОСТа. Обработка фотопластинок - стандартна . Дл  измерени  почернений спектральных линий примен етс  микрофотометр МФ-2.
I,
Результаты сведены в табл.1,
где Bf)3 - логарифмы интенсивности
спектральной линии с учетом фона (среднее из 5 параллельных определений)}
(А - среднее арифметическое отклонение единичного определени ;
Э - интенсивность спектральной линии,  вл юща с  антилогарифмом соответствующего значени  Вс}3 ;
233|,ч. - сумма интенсивностей линий, . возбуждаемых в известном
способе возбуждени  спектра при разных параметрах разр дной цепи накладываемого на дугу импульса; D-plIj u - коэффициент, показывающий
отношение интенсивности линии , возбуждаемой в предлагаемом способе ( )к S 3
С - емкостьКонденсатора, разр жающегос  через дугу, мкФ
L - индуктивность в цепи разр да конденсатора, мкГ;
и - напр жение на конденсаторе, В. с
Таблица 1
П р и м е р 2. Электроду и оборудование аналогичны примеру 1. Эксперименты провод тс  при других пара- 25 метрах дополнительного импульса, ток генератора дуги по-прежнему составл ет 5 А. Длительность дополнительного импульса составл ет 1800 мкс.
П р и м е р 3- Катодом служит мед ный электрод, анодом - угольный. Врем  экспозиции - 20 с. Основной импульс накладываетс  через интервал времени, равный половине длительности дополнительного (составл вшей1800 MKcJ, т.е. через 900 мкс. 0стёльное оборудование аналогично примеру 1. Ток генератора дуги, на которую накладываютс  импульсы no-npew нему I.равен 5А.
Результаты сведены в табл.З- Условные обозначени  прежние, (см.пример 1). Основной импульс накладываетс  в момент прохождени  амплитуды тока дополнительного импульса, , Данные сведены а табл.2, условные обозначени  в которой прежние (см. пример 1). Таблица 2
380 550 110)1,,05 38,0
Известный 90 О ПО l.ifSt 0,05 30,2 Пред-, 380 550 110 90 О лагаТаким образом, из примеров 1-3, следует, что из-за наложени  на дугу перед основным импульсом (импульсом 1разр да основного конденсатора дополнительного импульса (импульса разр да дополнительного конденсатора значительно возрастает интенсивность линий ионов и атомов при неизменном токе генератора дуги и неизменных электрических параметрах разр дной цепи основного конденсатора. Причем интенсивность линий в предлаглемпмспособе больше суммы интенсивностей в известном при идентичных электрических параметрах разр дов. Другими словами, если в известном один раз наложить на дугу импульс, параметры которого Ьоответствуют параметрам ос новного импульса в предлагаемом способе , а другой раз наложить импульс, параметры которого соответствуют параметрам дополнительного импульса в предлагаемом способе, а затем сложит полученные величины интенсивностей линий, то суммарный результат ( оказываетс  меньше, чем интенсивност линий в предлагаемом способе, т.е. коэффициент Зу,4 1. Следовательно, увеличение интенсивностей линий в предлагаемом способе по сравнению с известным нельз  объ снить простым суммированием интенсивностей линий из-за наличи  дву импульсов вместо одного. Наблюдаемое увеличение происходит потому, что в предлагаемом способе основной импуль накладываетс  не просто на дугу, а на дугу с предварительно наложенным
Т а б л и
ц а

Claims (2)

1. Левинтов И. И. Импульсый источник света и его применение дл  спектрального анализа металлоидов в твердых телах. Извести  АН СССР, сер физическа , М 6, т.9 с. 699.
2. Рудневский Н. Н и др. ИмпуЛьсно-дуговой генератор как источник света дл  спектрального анализа. 1972, т, 17, в. 4., с. 738 (прототип )..
SU802964444A 1980-07-22 1980-07-22 Дуговой способ возбуждени спектра исследуемого образца SU922599A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802964444A SU922599A1 (ru) 1980-07-22 1980-07-22 Дуговой способ возбуждени спектра исследуемого образца

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802964444A SU922599A1 (ru) 1980-07-22 1980-07-22 Дуговой способ возбуждени спектра исследуемого образца

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU922599A1 true SU922599A1 (ru) 1982-04-23

Family

ID=20911270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802964444A SU922599A1 (ru) 1980-07-22 1980-07-22 Дуговой способ возбуждени спектра исследуемого образца

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU922599A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0009766B1 (en) Apparatus for emission spectrochemical analysis
US5216482A (en) Apparatus for emission spectrochemical analysis
Walters et al. Emission Characteristics and Sensitivity in a High-Voltage Spark Discharge.
SU922599A1 (ru) Дуговой способ возбуждени спектра исследуемого образца
Rui et al. The regulation of memory effect and its influence on discharge properties of a dielectric barrier discharge driven by bipolar pulse at atmospheric-pressure nitrogen
EP2377246B1 (en) Apparatus and methods for optical emission spectroscopy
US4393327A (en) Electric spark type light source for producing light for spectroscopic analysis
DE2252266B2 (de) Vorrichtung zum Erzeugen modulierter Atom-Resonanzstrahlung
Axner et al. Determination of trace elements in water solution by laser enhanced ionization using Coumarin 47
US3308339A (en) Method and apparatus for producing radiation for spectrometric analysis
Mohamed et al. Direct sample introduction of solid material into a pulse-operated MIP
Moll et al. Time‐resolved two‐color photoacoustic and multiphoton ionization spectroscopy of aniline
SU421887A1 (ru)
Cousins et al. High-voltage spark spectra: utility as a function of temporal and spatial resolution
Braudo et al. On the excitation temperature in a spectroscopic spark source
Majkowski et al. Investigation of oscillatory discharges in various atmospheres using time-resolved spectroscopy
GB1066431A (en) Improvements in or relating to methods of and means for spectrochemical analysis
Ling et al. Atomic emission determination of selected trace metals in micro samples using exploding-foil excitation
Williams et al. The Excitation and Transport of Metal Vapour in Short Sparks in Air
Strasheim The Dependence of Background Associated With High Voltage AC Arc Spectra on Certain Parameters
Bardócz Theory of operation and constructional principles of a high-precision spectroscopic spark source
SU1453189A1 (ru) Способ атомно-абсорбционных измерений
SU1046980A1 (ru) Устройство дл питани разр дной камеры спектрального анализатора
SU1562798A1 (ru) Устройство дл локального лазерного спектрального анализа
Joseph et al. The Use of Time-Resolved Spectroscopy in the Investigation of Electrode Phenomena in Sparks