SU913239A1

SU913239A1 - Способ определения координат дефекта 1

Info

Publication number: SU913239A1
Application number: SU792726768A
Authority: SU
Inventors: Anatolij N Korneev
Original assignee: Anatolij N Korneev
Priority date: 1979-02-16
Filing date: 1979-02-16
Publication date: 1982-03-15

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при ультразвуковом контроле различных изделий.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ определения координат дефекта, заключающийся в том, что излучают в контролируемое изделие ультразвуков вые импульсы, регистрируют амплитуду отраженных от дефекта импульсов и отрезки времени от момента излучения до момента приема отраженных импульсов, измеряют координаты точек приема и учитывают их при вычислении ,$

координат дефекта Ϊ1].

Недостатками этого способа являются низкие достоверность контроля и точность определения координат де- _мфекта в изделиях с неровной поверхностью.

Целью изобретения является повышение точности и достоверности коор2

динат дефекта в изделии с неровной поверхностью.

Цель достигается тем, что изменяют граничные условия на поверхности изделия сканирующим по поверхности изделия демпфирующим элементом, для двух и более раз отраженного ультразвукового импульса, находят поочередно по минимуму амплитуды импульса от дефекта две последние точки падения на поверхность изделия, а для однократно отраженного импульса одну точку падения, измеряют координаты найденных точек и углы наклона к касательной плоскости в последней найденной точке и учитывают их при вычислении координат дефекта.

В случае иммерсионного контроля используют демпфирующий элемент с плотностью и скоростью распространения звука в нем в 1,5 раза меньшими, чем у иммерсионной жидкости.

С целью повышения разрешающей способности способа, в случае контроля

3 913239

изделий с крупнозернистой структурой, в последней найденной точке уменьшают ширину диаграммы направленности демпфируемого импульса и изменяют границу зон излучения до появле- ₅ния или выделения из помех отраженного сигнала от дефекта из зоны плоской волны или зоны Фраунгофера путем изменения контактной поверхности демпфирующего элемента.

В случае, когда радиус кривизны в последней точке падения сравним с произведением длительности импульса на скорость распространения, в , последней точке падения периодически изменяют граничные условия и изменяют в ней времена прихода импульсов, принимают отраженные от дефекта амплитудно-модулированные по той же временной зависимости импульсы не менее, чем в двух точках, не лежащих на одной прямой с упомянутой, и учитывают их при расчете координат дефекта.

На чертеже показана схема реализации способа определения координат дефекта.

Схема содержит совмещенный искатель 1, изделие 2, демпфирующий элег! мент 3- Позицией 4 обозначен дефект в изделии.

Способ осуществляют следующим образом.

С помощью искателя 1, установленного на поверхности изделия 2, излучают в последний ультразвуковые импульсы, регистрируют отрезки от момента излучения до момента приема отраженных импульсов, изменяют граничные условия на поверхности изделия сканирующим по поверхности изделия демпфирующим элементом 3, находят поочередно по минимуму амплитуды, регистрируемой на экране дефектоскопа (на чертеже не показан), две последние точки падения импульса на поверхность изделия 2, угол наклона к касательной плоскости (на чертеже: не показана) в последней найденной точке, принимают отражение от дефекта 4 амплитудно-модулированные импульсы в трех точках (А, В, С) на поверхности изделия 2, не лежащих на одной прямой с последней точкой А, в которой периодически во времени изменяют граничные условия, и измеряют времена прихода этих импульсов в эти точки, и по найденным параметрам рассчитываются коЪрдинаты дефекта 4.

10

20

25

При контроле изделий 2 с крупнозернистой структурой уменьшают ширину диаграммы направленности зондирующего импульса, изменяя площадь контакта демпфирующего элемента 3 с изделием 2, до появления отраженного сигнала от дефекта 4 на экране 'дефектоскопа (на чертеже не показан). *

При недостаточной чувствительности контроля в случае иммерсионного определения координат дефекта 4 в изделии 2 используют демпфирующий элемент 3 с плотностью И скоростью распространения звука в нем в 1,5 раза меньшим, 15 чем у иммерсионной жидкости.

В случае, когда радиус кривизны в последней точке падения сравним с произведением длительности импульса на скорость распространения, находят последнюю точку падения, в которой периодически изменяют во времени граничные условия, и измеряют в ней времена прихода импульсов, принимают отраженные от дефекта амплитудно-модулированные по той же временной зависимости импульсы не менее, чем в двух точках, не лежащих на одной прямой с вышеупомянутой, и учитывают их при расчете координат дефекта.

30

Claims

Формула изобретения

35

40

1. Способ определения координат дефекта, заключающийся в том, что излучают в контролируемое изделие ультразвуковые импульсы, регистрируют амплитуду отраженных от дефекта импульсов и отрезки времени от момента излучения до момента приема отраженных импульсов, измеряют координаты точек приема и учитывают их при вычислении координат дефекта, отличающий с я тем, что, с целью повышения точности и достовернос⁴⁵ ти определения координат дефекта в изделии с неровной поверхностью, изменяют граничные условия на поверхности изделия сканирующим по поверхности изделия демпфирующим элементом, ⁵⁰ для двух и более раз отраженного

ультразвукового импульса,находят поочередно по минимуму амплитуды импульса от дефекта две последние точки падения на поверхность изделия, а для одно55 кратно отраженного импульса - одну точку падения, измеряют координаты найденных точек и углы наклона к касательной плоскости в последней най5

913239

6

денной точке и учитывают их при вычислении координат дефекта.
2. Способ поп. ^отличающийся тем, что в случае иммерсио’нного контроля используют демпфирующий элемент с плотностью и скоростью распространения звука в нем в Г,5 раза меньшими, чем у иммерсионной жидкости.
3. Способ попп. 1 и 2, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности способа в случае контроля изделий

с крупнозернистой структурой, в последней найденной точке уменьшают ширину диаграммы направленности демпфируемого импульса и изменяют границу зон излучения до появления или выделения из помех отраженного сигнала. от дефекта из зоны плоской волны или зоны Фраунгофера путем изменения

контактной поверхности демпфирующего элемента.
4. Способ по. пп. 1-3, о т лича ю щ и й с я тем, что, в случае,
5 когда радиус кривизны в последней точке падения сравним с произведе-нием длительности импульса на скорость распространения, в последней точке падения периодически изменяют

Ю граничные условия и измеряют в ней времена прихода импульсов, принимают отражение от дефекта амплитудно-модулированные по той же временной зависимости импульсы не менее, чем в

,5 двух точках, не лежащих на одной' прямой с упомянутой, и учитывают их при расчете координат дефекта.