SU913224A1 - Method and device for magnetic flaw detection - Google Patents
Method and device for magnetic flaw detection Download PDFInfo
- Publication number
- SU913224A1 SU913224A1 SU802961439A SU2961439A SU913224A1 SU 913224 A1 SU913224 A1 SU 913224A1 SU 802961439 A SU802961439 A SU 802961439A SU 2961439 A SU2961439 A SU 2961439A SU 913224 A1 SU913224 A1 SU 913224A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- product
- flaw detection
- current
- magnetic
- anodes
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
Изобретение относится к методам ’ неразрушающего контроля и может быть использовано для обнаружения дефектов в ферромагнитных изделиях и материалах.The invention relates to methods of non-destructive testing and can be used to detect defects in ferromagnetic products and materials.
Известен способ магнитной дефектоскопии, заключающийся в намагничивании контролируемого изделия, обработке изделия суспензией магнитных частиц и выявлении дефектных участков по объемному распределению частиц осадка суспензии [1].There is a method of magnetic flaw detection, which consists in magnetizing a controlled product, treating the product with a suspension of magnetic particles and identifying defective areas in the volume distribution of sediment particles of the suspension [1].
Данный способ имеет низкую чувствительность и малоэффективен при выявлении локальных зон структурной неоднородности и дефектов с малым раскрытием и глубиной.This method has low sensitivity and is ineffective in identifying local areas of structural heterogeneity and defects with a small opening and depth.
Наиболее близким по технической сути к изобретению является способ магнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что изделие намагничивают и регистрируют магнитные потоки рассеяния, обусловленные дефектами намагниченного изделия (2).The closest in technical essence to the invention is a method of magnetic flaw detection, which consists in the fact that the product is magnetized and magnetic scattering fluxes due to defects of the magnetized product (2) are recorded.
22
Недостатком известного способа является низкая чувствительность к дефектам.The disadvantage of this method is low sensitivity to defects.
Известно устройство для осуществления способа магнитной дефектоскопии, содержащее корпус, катод и два анода (31·A device for implementing the method of magnetic flaw detection, comprising a housing, a cathode and two anodes (31 ·
Недостатком известного устройства является асимметрия конструкции, что приводит к понижению чувствительности при измерениях.A disadvantage of the known device is the asymmetry of the structure, which leads to a decrease in sensitivity during measurements.
Целью изобретения является повышение разрешающей способности способа.The aim of the invention is to increase the resolution of the method.
Поставленная цель достигается тем, что в известном способе над поверхностью намагниченного изделия посредством газового разряда создают токонесущий слой плазмы, определяют-распределение тока в плазме и по нему определяют магнитные потоки рассеяния, а так же тем, что газовый разряд над поверхностью изделия создают-с помощью плоской газоразрядной ячейкиThis goal is achieved by the fact that in a known method, a current-carrying plasma layer is created over a surface of a magnetized product by means of a gas discharge, the current distribution in the plasma is determined and the magnetic scattering fluxes are determined by it, and the gas discharge above the product surface is created flat discharge cell
3 9132243 913224
давление в которой меньше 100 ммрт;ст, а ток разряда не превышает 1 мА, пе' ремещаемой по поверхности контролируемого изделия.pressure in which is less than 100 mm hp; st, and the discharge current does not exceed 1 mA, which is not displaced on the surface of the test item.
В устройстве для осуществления 5 способа катод выполнен штыревым, а аноды протяженными и соединены по дифференциальной схеме.In the device for implementing 5 of the method, the cathode is made pin, and the anodes are extended and connected in a differential circuit.
На. чертеже приведена схема устройства для реализации способа магнит- 10 ной дефектоскопии.On. The drawing shows a diagram of the device for implementing the method of magnetic flaw detection.
Способ осуществляется следующим образом.The method is as follows.
На намагниченном изделии 1, содержащем структурные неоднородности 2, 15On a magnetized product 1 containing structural inhomogeneities 2, 15
размещается плоская газоразрядная ячейка 3, содержащая штыревой катод,a flat discharge cell 3 is placed, containing a pin cathode,
4 и два линейно протяженных анода 5· Между катодом 4 и анодами 5 с помощью газового разряда создается токо- 20 несущий слой 6 плазмы. Для создания газового разряда в ячейке 3 между катодом 4 и анодами 5 подключены соединенные последовательно блок 7 питания и резистор 8, ограничивающий разрядный ток. К анодам 5 подключены резисторы 9 и 10, которые являются плечами измерительного моста, и индикатор 11, регистрирующий ток разбаланса мостовой схемы. 304 and two linearly extended anodes 5 · A current-carrying plasma layer 6 is created between the cathode 4 and the anodes 5 using a gas discharge. To create a gas discharge in cell 3 between the cathode 4 and the anodes 5 are connected in series power supply unit 7 and a resistor 8, which limits the discharge current. The anodes 5 are connected to the resistors 9 and 10, which are the arms of the measuring bridge, and the indicator 11, which records the current unbalance of the bridge circuit. thirty
Устройство, работает следующим образом.The device works as follows.
В газоразрядной ячейке 3 с помощью блока 7 питания создается токонесущий слой 6 плазмы, который рас- 35 пределяется в плоскости электродов 4 и 5. Для измерения магнитных потоков рассеяния плоская газоразрядная ячейка 3 с токонесущим слоем 6 плазмы устанавливается так, чтобы ее элек-40 троды 4 и 5 и слой 6 плазмы были параллельны поверхности намагниченного изделия 1. При этом магнитные потоки рассеяния воздействуют на слой 6 плазмы в ячейке 3 по нормали к нему. <5 Под их воздействием заряженные частицы в плазме смещаются относительно дифференциально расположенных анодовIn the discharge cell 3 via the power supply unit 7 creates the plasma current-carrying layer 6, which is distributed in a plane 35 predelyaetsya electrodes 4 and 5. For measuring the magnetic flux leakage flat discharge cell 3 with the current-carrying layer 6 of the plasma is set so that its elec-trodes 40 4 and 5 and the plasma layer 6 were parallel to the surface of the magnetized product 1. In this case, the magnetic fluxes of scattering affect the plasma layer 6 in the cell 3 along the normal to it. <5 Under their influence, charged particles in the plasma are displaced relative to differentially located anodes.
5. При этом происходит перераспределение разрядного тока в цепи резисторов 9 и 10. В результате в диагона ли листовой схемы возникает ток раз45. When this occurs, the discharge current is redistributed in the circuit of resistors 9 and 10. As a result, a current 4 times occurs in the diagonal of the sheet circuit.
баланса, который регистрируется индикатором 11, по величине которого судят о величине магнитных потоков рассеяния, а следовательно, и о характере и местоположении дефектов в материале изделия. Предлагаемый способ позволяет дешево и просто улучшить технику магнитной дефектоскопии.balance, which is recorded by the indicator 11, the magnitude of which is judged on the magnitude of the magnetic scattering fluxes, and consequently, on the nature and location of defects in the material of the product. The proposed method allows cheap and easy to improve the technique of magnetic flaw detection.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802961439A SU913224A1 (en) | 1980-07-16 | 1980-07-16 | Method and device for magnetic flaw detection |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802961439A SU913224A1 (en) | 1980-07-16 | 1980-07-16 | Method and device for magnetic flaw detection |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU913224A1 true SU913224A1 (en) | 1982-03-15 |
Family
ID=20910177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802961439A SU913224A1 (en) | 1980-07-16 | 1980-07-16 | Method and device for magnetic flaw detection |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU913224A1 (en) |
-
1980
- 1980-07-16 SU SU802961439A patent/SU913224A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0238209A2 (en) | Magnetic discontinuity detection | |
JPH0778489B2 (en) | Non-contact method and measuring device for measuring the magnitude of parameters relating to conductive materials | |
US4207519A (en) | Method and apparatus for detecting defects in workpieces using a core-type magnet with magneto-sensitive detectors | |
US4290016A (en) | Method and apparatus for establishing magnetization levels for magnetic particle testing or the like | |
SU913224A1 (en) | Method and device for magnetic flaw detection | |
JPH0556474B2 (en) | ||
CN2157517Y (en) | Wire rope flaw detector | |
CN1131429C (en) | Method for inspecting surface defects of ferromagnetic material by geomagnetic field | |
SU1010534A2 (en) | Method and device for magnetic flaw detector | |
JP2004354282A (en) | Magnetic flux leakage flaw detection apparatus | |
GB2186372A (en) | Eddy current testing | |
JPS5753604A (en) | Thickness gauge | |
JPS5730943A (en) | Detecting method for defect in ferromagnetic material | |
JPH04296648A (en) | Method and device for magnetic crack detection | |
SU1032372A1 (en) | Method of determination of material porosity by laser beam | |
JP4349012B2 (en) | Magnetic flaw detection method for ferromagnetic materials | |
RU2092831C1 (en) | Test-specimen for magnetic-particle flaw detection | |
SU845074A1 (en) | Method of detection of objects in electric high-frequency field | |
Teller et al. | Small defect characterization by the electric current perturbation method(fatigue crack detection) | |
SU122930A1 (en) | The method of checking the correctness of the readings of magnetic flaw detectors | |
SU954868A1 (en) | Method of magnetographic checking of ferromagnetic material articles | |
SU1744620A1 (en) | Method of calibration of electropotential flaw detector | |
JPS5624351A (en) | Gravure resist inspecting method | |
SU896526A1 (en) | Method of detection of thin dielectric materials | |
SU1177778A1 (en) | Method of determining coordinates of flaws in electric insulation materials |