SU90970A1 - Способ фотометрического анализа силикатов и тому подобных пород - Google Patents

Description

Iio.4ii4CCTiieHHbiii ана.:шз минералов посрсдстиом окул рной сетки п окул рной лпне11кп  вл етс  трудоемким п не дает н еоо ходи мой точности.

11редлаг;и ось иронзводить анализ м ыералоБ путем фотографировани  шлифов и сравнени  иолученных снимков со снимками стандартных шлифов. Однако и этот сносоо  вл етс  сложным н не дает требуемой точности.

Предлагаемый снособ устран ет эти недостатки и имеет то отличие, что фотоснимки И1ЛИФОВ нросвечивают и о наличии тех или иных компонентов в нглнфс суд т по интенснвности иро1нед 1 его через снимок светового нотока, измер емой, нанример, фотоэле5 ентом.

В зависимости от величины нлошадец, зан тых на снимке светлой и темной частью, через снимок нройдет соответCTByioHuiii световой поток, надаюший isa фотоэлемент, соеднненный с тальванометром . Так как сами снимки шлифов и их отдельные части имеют различные плотности тонов, а следовательно, различную пронускаемость света, то определение производ т с примененнем компенсаторов -  ластннок, прозрачность которых измен етс .

Если имеетс  снимок микроструктуры силиката, на котором минералы соответствуют прозрачной части па снимке, а стекловидна  фаза - темной, то определенне производ т в следующем пор дке: нодбнрают компенсатор дл  прозрачной части снимка, подбирают компенсатор дл  те.мн-ой части снл1мка, устанавливают стрелку гальванометра на 100

изменени  светового потока ламны с подоораннглм компснсаторЗм дл  скетло части, определ ют процент нронускаемости (а) света через под|)б1)анны11 компепсатор дл  темной части снимка относичсльпо компенсатора прозрачного, пропускаемость света кото1)ого прпп та за 100, фиксируют ноказание стрелки гальванометра со вставленным в ирибор исследуемым снимком.

Подсчет результатов ироизводпт по формуле

100 (Х

100 -и

где:

X - истинна  площадь, следовательно , и объем прозрачной части (минералов ), %;

хг - показание ирпбора с псследуемым снимком;

а - ироцеит прохо;1;ден;1  светового noTOiva через компенсатор дл  части снимка.

П р е д мет изобретени 

Способ фотометрического анализа силикатов и т. и. пород путем Н1)едварительного фотографировани  иьтифов, о тл и ч а 10 щ и и с   тем, что фотоснимки Н1ЛИФОВ нрос ечивают и о количестве тех или И1НЫХ ксмгюнентов суд т но инте.нсивписти прошеди его через снимок светового потока, замер емой, например, фотоэлементом .