SU90903A1

SU90903A1 - Method of testing high-voltage apparatus

Info

Publication number: SU90903A1
Application number: SU415302A
Authority: SU
Inventors: Б.И. Иванов
Original assignee: Б.И. Иванов
Priority date: 1950-03-31
Filing date: 1950-03-31
Publication date: 1950-11-30

Description

Предметом изобретени вл етс способ испытани высоковольтных приборов и аппаратов, согласно которому испытуемый аппарат подключают к источнику напр жени , а через блокировочный конденсатор - К колебательному контуру или входу лампового усилител . Известные ъ насто щее врем способы испытани позвол ют обнаружить лишь наиболее значительные дефекты изол ции, которые «пробиваютс повышенным напр жением. Слабые участки изол ции, которые не разрушаютс под вли нием кратковременного воздействи повышенного напр жени , остаютс необнаруженными.The subject of the invention is a method for testing high-voltage devices and apparatus, according to which the apparatus under test is connected to a voltage source and, via a blocking capacitor, to an oscillating circuit or an input of a lamp amplifier. The known methods of testing allow us to detect only the most significant insulation defects that are punctured by increased voltage. Weak areas of insulation that are not destroyed by the influence of short-term overvoltage remain undetected.

Отличительна особенность предлагаемого способа -.остоит в том, что, с целью вы влени дефектных аппаратов цо наличию невидимой глазом короны, измер ют при помощи вольтметра или нгоновой лампы напр жение на колебательном контуре или на выходе усилител .A distinctive feature of the proposed method is that, in order to detect defective apparatuses with the presence of an invisible eye of the corona, the voltage on the oscillating circuit or on the amplifier output is measured using a voltmeter or a foreign lamp.

На фиг. 1 и 2 приведены электрические схемы включени испытываемых аппаратов.FIG. Figures 1 and 2 show electrical circuits for switching on the apparatus under test.

Испытуемый аппарат / подключаетс к источнику 2 высокого напр жени посто нного тока через последовательно включенный блокировочный дроссель 3. Параллельно испытуемому аппарату включены колебательный контур 4 и вольтметр 5. Кроме того, между ними и источником тока 2 последовательно включен блокировочный конденсатор 6.The device under test / is connected to a source of high DC voltage 2 through a series-connected choke 3. Parallel to the device under test, an oscillating circuit 4 and a voltmeter 5. In addition, between them and the current source 2, the blocking capacitor 6 is connected in series.

Способ основан на использовании колебательного контура 4, возбуждающегос от незаметного «а глаз коронировани , которое имеет место в испытуемом аппарате 1 при воздействии на него повышенным напр жением, если этот аппарат имеет слабые участки изол ции. О наличии коронировани в аппарат;е / суд т по напр жению на колебательном контуре 4, которое измер ют с помощью вольтметра 5.The method is based on the use of an oscillatory circuit 4, which excites the corona from an imperceptible eye, which takes place in the apparatus under test 1 when subjected to an increased voltage, if this apparatus has weak areas of insulation. The presence of corona in the apparatus; e / judged by the voltage on the oscillatory circuit 4, which is measured with a voltmeter 5.

Применение этой схемы св зано с необходимостью правильного подбора параметров колебательного контура и дроссел , которые, в свою очередь, завис т от параметров испытуемого прибора, вследствие чего ее применение не всегда удобно.The use of this scheme is associated with the need for proper selection of the parameters of the oscillating circuit and throttles, which, in turn, depend on the parameters of the device under test, as a result of which its use is not always convenient.

Так как спектр генерируемых короной затухающих колебаний довольно широк, то энерги , приход ща с на область низких частот.Since the spectrum of damped oscillations generated by the corona is quite wide, the energy attributable to the low frequency region.