SU883708A1 - Устройство дл анализа микрочастиц - Google Patents

Устройство дл анализа микрочастиц Download PDF

Info

Publication number
SU883708A1
SU883708A1 SU792844245A SU2844245A SU883708A1 SU 883708 A1 SU883708 A1 SU 883708A1 SU 792844245 A SU792844245 A SU 792844245A SU 2844245 A SU2844245 A SU 2844245A SU 883708 A1 SU883708 A1 SU 883708A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
particles
particle
signals
matrix
spherical
Prior art date
Application number
SU792844245A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Тихонович Калинин
Владимир Данилович Лысов
Анатолий Иванович Мачульский
Александр Николаевич Мезенцев
Виктор Степанович Тюрин
Original Assignee
Всесоюзный научно-исследовательский институт биологического приборостроения
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный научно-исследовательский институт биологического приборостроения filed Critical Всесоюзный научно-исследовательский институт биологического приборостроения
Priority to SU792844245A priority Critical patent/SU883708A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU883708A1 publication Critical patent/SU883708A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА МИКРОЧАСТИЦ
1
Изобретение относитс  к технической физике и может быть использовано дл  выделени  заданных типов частиц непосредственно в струе отбираемой пробы на фоне примесей.
Известны устройства - фотоэлектрические счетчики аэрозольных частиц , содержащие камеру, блок отбора пробы, блок формировани  пучка све- , та, регистрирующее устройство. В этих счетчиках регистрируетс  свет, рассе нный частицей под неко-. торым фиксированным углом и по амплитуде полученного сигнала определ етс  размер частиц 1 .
Однако из-за сложной зависимости величины рассе нного света от параметров (размера, форглл, показател  преломлени ) частицы и угла рассе ни  эти устройства имеют низкую точность и не позвол ют однозначно св зать зарегистрированный сигнал с какой-либо частицей.
Наиболее близким к предлагаемому устройству  вл етс  устройство дл  анализа микрочастиц, содержащее камеру , соединенную с блоком генерации и формировани  пучка света, фотодетекторы , установленные в корпусе
камеры, усилители, соединенные с фотодетекторами Г23.
Недостатком известного устройства  вл етс  то, что регистраци  и
5 обработка сигналов с целью классификации частиц разделены во времени, и дл  обработки сигналов необходимо хранить в пам ти ЭВМ наборы интенсивностей от эталонных частиц.
О Кроме того, устройство предназначено дл  классификации частиц в пробах, содержсшщх заданные типы частиц, без посторонних мешающих примесей .
15 Цель изобретени  - экспрессное определение относительного содержани  заданных типов частиц в аэрозол х на фоне мешающих примесей.
Поставленной цель достигаетс  тем,
20 что в устройство, содержащее камеру, соединенную с блоком генерации и формировани  пучка света и блоком отбора пробы и формировани  струи аэро .зол , фотодетекторы, установленные
25 вкорпусе камеры, усилители, соединенные с фотодетекторами, введены счетчик импульсов рассе нного света , аналоговый вычислитель, блок амплитудного анализа, блок двоичной
30 матрицы, блок регистрации заданных
типов частиц, схема сброса матрицы в исходное состо ние, при этом счетчик импульсов рассе нного света чере соответствующий усилитель соединен с одним из фотодетекторрв, входы аналогового вычислител  соединены с выходагли усилителей, а выходы соединены со входами блока амплитудного анализа , выходы которого соединены с входами блока двоичной матрицы, выходы которой соединены со входами блока регистрации частиц заданных типов, а вход схемл сброса матрицы соединен с указанным фотодетектором, а выход со входом сброса блока двоичной матрицы .
Введение счетчика импульсов рассе нного света, соединенного с одним из фотодетекторов, позвол ет определить счетную концентрацию всех частиц , содержащихс  в пробе.
Аналоговый вычислитель, блок амплитудного ансшиза, блок двоичной матрицы позвол ют определить каждую частицу, относ щуюс  к заданным типам , а блок регистрации частиц заданных типой позвол ет провести их подсчет. Схема сброса матрицы обеспечивает непрерывный.режим регистрации частиц заданных типов.
На.чертвже показана блок-схема устройства дл  анализа микрочастиц.
Устройство содержит камеру 1 с фотодетекторами 2 блок 3 отбора пробы и формировани  струи аэрозол , блок 4 генерации и формировани  пучка света,усилители 5 сигналов фотодетекторов, аналоговый вычислитель б, блок 7 амплитудного анализа , блок 8 двоичной матрицы, блок 9 регистрации частиц заданных типов, счетчик 10 импульсов рассе нного света, схему 11 сброса матрицы.
Устройство работает следук цим образом .
Стру  аэрозол , подаваема  в камеру 1 из блока 3, пересекает пучок света, сформированный в блоке 4. При попадании частицы в рабочий объем, образованный пучком света и струей аэрозол , возникает импульс рассе нного света, регистрируемый фотодетекторами 2. Сигналы с фотодетекторов усиливаютс  усилител ми 5, причем сигнал от одного из фотодетекторов запускает счетчик 10 импульсов расе нного света, который измер ет счетную концентрацию частиц. Сигнал Uvji, Uv . . . , Uvj с выходов усилителей поступает в аналоговьтй вычислитель 6, где осуществл етс  их преоб разование видаОд Ыиу,,...и,)| где и 06 - выходное напр жение на -выход аналогового вычислител ; Uv -сигнал на выходе усилител .
Например, аналоговый вычислитель может выполн т операции
«а JN ( +...и, аЪл У ) п
ov4V-.
3
и„. и
и т.д.
в частности, аналоговый усилитель может осуществл ть операцию Uafci , где а - посто нное число.
Аналоговые сигналы с выхода вычислител  поступают в 6jrioK 7 амплитудного анализа, причем каждый выход вычислител  соединен с соответствующей ему схемой квантовани  по уровню.На одном из выходов каждой схемы квантовани  формируетс  логический сигнал, причем номер выхода, на котором формируетс  этот сигнал, однозначно св зан с уровнем напр жени , приложенного ко входу схемы. Таким образом, каждый номер выхода квантовани , на котором по вл етс  логический сигнал, соответствует определенному значению функциональной св зи между характеристиками индикатрисы рассе ни , т.е. определенному признаку частицы.
Выходы кеиждой схемы квантовани , блока амплитудного анализа св заны с элементагчот одного столбца матрицы, что обеспечивает запись некоторого признака частицы, пролетающей через рабочий объем камеры, в одном из элементов каждого столбца. Выбором некоторой совокупности функциональных св зей между характеристиками индикатрисы рассе ни  и соответствующих им уровней квантовани  обеспечивают такую работу устройства, что дл  каждого типа заданных частиц совокупность их признаков записываетс  в виде заполнени  логическими сигналами определенной строки матрицы .
Элементы каждой строки матрицы соединены со входом соответствующего им счетчика блока регистрации частиц заданных типов. В случае заполнени  всех элементов некоторой строки матрицы логическими сигналами, в счетчик, св занный с этой строкой будет записана логическа  единица, т.е. зафиксирован факт пролета частицы заданного типа.
При попадании в рабочий объем частицы другого типа, логическими сигналами заполнитс  друга  строка матрицы , и факт ее пролета будет зафиксирован в другом счетчике, св занном с этой строкой.

Claims (3)

  1. Таким образом, будет сосчитано общее количество-содержащихс  в пробе частиц и количество данных К типов частиц. Пример . В таблице представлены параметры сферических частиц и их сигналы в относительных единицах под углами, близкими к О и 180° 5 и под углом 90°. Выделение указанных в таблице частиц можно осуществить и использование в блоке арифметики только тождественных преобразований Ц и и с помощью матрицы размерности 7x Например, при попадании в рабочий объем частицы 1 матрица будет им вид 1 11 001 11 О 110 110 100 1,0 О Единицами заполнитс  перва  стр ка, соответствующа  первой частице поэтому сработает соответствующий счетчик. Наличие единиц в других строках свидетельствует о том, что сигналы от разных частиц под одним углом совпадают, но сочетание трех углов дает однозначное определение каждой частицы. В данном примере рассмотрен про стейший случай, при котором в блоке арифь етики выполн лись только тожд венные преобразовани  сигналов. Однако дл  решени  конкретных задач может потребоватьс  существенное у личение количества аналоговых прео разований и, следовательно, увеличе ние количества столбцов в матрице. Примеры обосновани  возможных пр образований. 1.Сумма сигналов под всеми угла ми регистрации позвол ет более точно определ ть размер частицы.
  2. 2.Отношение сигналов чувствительно к показателю преломле ни  частицы.
  3. 3.Отношение сигналов Здо чувствительно к показателю поглощ частицы. Дл  решени  конкретных задач тип аналоговых преобразователей и ранг ющен примен емь1х матриц может быть весьма разнообразен. Одним из самых простых, успешно осуществленных на практике,  вл етс  разделение частиц на два класса: сферические и несферические по одному признаку - величине отношени  компонент рассе нного света, пол ризованных в двух взаимноперпендикул рных плоскост х, причем падающий пучок линейно пол ризован, в этом случае матрица имеет один столбец и две строки j,/a 1о несферическое сферическое Предлагаемое устройство может найти применение дл  определени  относительно , содержани  заданных типов частиц на фоне мешающих примесей при исследовании аэрозолей, контроле различных технологических процессов. Формула изобретени  Устройство дл  анализа микрочастиц , содержащее камеру, соединенную с блоком генерации и формировани  пучка света и блоком отбора пробы и формировани  струи аэрозол , фотодетекторы , установленные в корпусе камеры, усилители, соединенные с фотодетекторамиf отличающеес  тем, что,с целью экспрессного определени  относительного содержани  заданных типов частиц в аэрозол х на фоне мешающих примесей, в него введены счетчик импульсов рассе нного света, аналоговый вычислитель , блок амплитудного анализа, блок двоичной матрицы, блок регистрации заданных типов частиц, схема сброса матрицы в исходное состо ние , при этом счетчик импульсов ассе нного света через соответствую
SU792844245A 1979-11-26 1979-11-26 Устройство дл анализа микрочастиц SU883708A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792844245A SU883708A1 (ru) 1979-11-26 1979-11-26 Устройство дл анализа микрочастиц

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792844245A SU883708A1 (ru) 1979-11-26 1979-11-26 Устройство дл анализа микрочастиц

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU883708A1 true SU883708A1 (ru) 1981-11-23

Family

ID=20861224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792844245A SU883708A1 (ru) 1979-11-26 1979-11-26 Устройство дл анализа микрочастиц

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU883708A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4172227A (en) Flow microfluorometer
US5457526A (en) Apparatus for analyzing particles in fluid samples
US4075462A (en) Particle analyzer apparatus employing light-sensitive electronic detector array
EP0627073A1 (en) Analysis of particle characteristics
JPH01502533A (ja) 散乱光による粒子分析装置
JPH03194444A (ja) 粒子解析装置及び血球カウンタ
US3851169A (en) Apparatus for measuring aerosol particles
US3662176A (en) Photo-optical particle analysis method and apparatus
DE69124600T2 (de) Geteilter fluss für gleichmässigen multidetektornachweis
US4360270A (en) Calibration and testing device for optical, single particle, size spectrometers
Cambier et al. A multidimensional slit-scan flow system.
US3345502A (en) Pulse analyzer computer
US5012118A (en) Apparatus and method for particle analysis
GB1452497A (en) Method and apparatus for analysis of leukocyts
US3982101A (en) Laser velocimeter real time digital data analyzer
US4264206A (en) Dust particle analyzer
SU883708A1 (ru) Устройство дл анализа микрочастиц
Nagy et al. Numerical and experimental study of the performance of the dual wavelength optical particle spectrometer (DWOPS)
JPH08271509A (ja) 粒子分類装置
EP0118919B1 (en) Method and apparatus for converting spectral and light intensity values directly to digital data
EP0416148A1 (de) Einrichtung zum gleichzeitigen Messen von Mehrfachproben-Partikel-oder Quanten-Strahlungen
CN1036093C (zh) 粒子测量方法及其粒子探测传感器
US5126581A (en) Particle measurement method and apparatus for determining corrected particle diameter
DE4130526C2 (de) Laser-Flugzeit-Anemometer
SU739376A1 (ru) Устройство дл измерени размеров и счетных концентраций аэрозольных частиц