SU879258A1 - Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона - Google Patents
Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона Download PDFInfo
- Publication number
- SU879258A1 SU879258A1 SU762410025A SU2410025A SU879258A1 SU 879258 A1 SU879258 A1 SU 879258A1 SU 762410025 A SU762410025 A SU 762410025A SU 2410025 A SU2410025 A SU 2410025A SU 879258 A1 SU879258 A1 SU 879258A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- standard
- sleeve
- length
- change
- mismatch
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ИЗЬЖНЕНИЯ ДЛИНЫ ДЕТАЛИ С ПОМОЩЬЮ ЭТАЛОНА
1
. Изобретение относитс к контроЯьно-измерительной технике, а точнее к относительному методу измерени длин.
В приборостроении при изготовлении точных деталей, а также в процессе их испытаний и эксплуатации контроль изменени длины способом сравнени с плоскопараллельными концевыми мерами производитс с помощью контактных оптических приборов,например оптиметров и ультраоптиметров l 3
Точность этого способа пор дка дес тых долей микрометра, что вл етс недостаточным дл прецизионных измерений.
Известен также способ контрол измерени длины детали с помощью эталона, заключающийс в том,что совмещают один торец детали с торцом эталона, измер ют несовпадение других торцов детали и эталона и по
результатам измерений суд т об изменении длины детали 2.
Недостатком данного способа вл етс то, что деталь и эталон не имеют контакта по всей поверхности, что затрудн ет выравнивание температур в момент измере ш и вл етс причиной погрешнрати из-за изгибных док и разного теплового расширени .
Целью изобретени вл етс повы-
10 шение точности.
Цель достигаетс тем, что эталон выполн ют с цилиндрической поверхностью , деталь и эталон сопр гают концентрично по этой цилиндрической
IS поверхности с возможностью их осевого взаимного перемещени друг относительно друга и обрабатывают несовпап дающие торцы эталона и детали до их совпадени .
20
Claims (2)
- Благодар такому выполнению эталона обеспечиваетс минимальный зазор при сопр жении, что создает хороший тепловой контакт эталона и детали,. 3 одновременно сохран етс вд можность снимать эталон с детали на период эксплуатации последней и устран етс вли ние сил трени в сопр женииi на длину детали. Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона по сн етс чертежом, где изображен обпщй вид детали-втулки 1,сопр женной с этаг лоном 2. Спосрб осуществл ют следующим образом. Перед измерени ми эталон 2 сопр гают с деталью-втулкой 1. так, чтобы совместить один торец детали-втулки с торцом эталона, производ т выдержку в течение 2 ч, затем измер ют несовпадение других торцов деталивтулки и эталона 2 и по результата измерений суд т о разнице размеров втулки и эталона. Контроль Совмещени одного торца детали и эталона и из мерени несовпаде ш других торцов производ т с помощью интерферрметра Данный способ позвол ет контролировать изменение длин деталей | главным образом, деталей точных приборов с погрешностью, не превышающей 0,015 мкм. 8 Формула изобретени Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона,заключающийг; с в том, что совмещают один торец детали с торцом эталона, измер ют несовпадение других торцов дергали и эталона и по результатам измерений суд т об изменении длины детали,о тличающийс тем, что,с целью повышени .точности, эталон выполн ют с цилиндрической поверхностью, деталь и эталон сопр гают концентрично по этой цилиндрической поверхности с возможностью их осевого взаимного перемещени друг относительно друга и обрабатывают несовпадающие торцы эталона и детали до их совпадени . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Апарин Г.А. и Городецкий И.Е. Допуски и технические измерени . М., Машгиз, 1956, с.155, 160, 162.
- 2.Левенсон Е.М. Основы метрологии и технические измерени . М., Машгиз, 1958, с. 51-52 (прототип).,/ -/
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762410025A SU879258A1 (ru) | 1976-10-06 | 1976-10-06 | Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762410025A SU879258A1 (ru) | 1976-10-06 | 1976-10-06 | Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU879258A1 true SU879258A1 (ru) | 1981-11-07 |
Family
ID=20679097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762410025A SU879258A1 (ru) | 1976-10-06 | 1976-10-06 | Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU879258A1 (ru) |
-
1976
- 1976-10-06 SU SU762410025A patent/SU879258A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Downs et al. | Bi-directional fringe counting interference refractometer | |
US3738754A (en) | Optical contacting systems for positioning and metrology systems | |
GB2117918A (en) | Standing wave interferometer for measuring optical path differences | |
SU879258A1 (ru) | Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона | |
CN113494890B (zh) | 基于fpi干涉仪的光纤光栅应变传感器精度测量装置及方法 | |
CN113251897B (zh) | 一种基于白光干涉的量块测量装置及方法 | |
CN86107252B (zh) | 空气折射率测量装置 | |
CN112556595B (zh) | 一种光纤fpi传感器、测量装置及测量方法 | |
Razet | Analytical resolution of least-squares applications for the circle in interferometry and radiometry | |
Wilhelm et al. | A novel low coherence fibre optic interferometer for position and thickness measurements with unattained accuracy | |
JPS57108732A (en) | Testing machine for gear engagement | |
Pelayo et al. | Chromatic dispersion characterization in short single-mode fibers by spectral scanning of phase difference in a Michelson interferometer | |
Č Lipuš et al. | Influence of intracavity power on frequency characteristics of iodine-stabilized he-ne laser | |
Weichert et al. | A straightness measuring interferometer characterised with different wedge prisms | |
Sienknecht et al. | Determination of the SI volt at the PTB | |
US2882787A (en) | Micro-measurement apparatus | |
SU1421970A1 (ru) | Способ определени погрешности центрировани нутромера с центрирующим мостиком | |
Buchta et al. | System for contactless gauge blocks measurement | |
DE3621876A1 (de) | Druckmesswandler | |
Kainer | The advantages of measuring lengths with interference comparators | |
SU875210A1 (ru) | Способ измерени несоосности двух отверстий и устройство дл его осуществлени | |
Chen | Fiber optic displacement measuring device by microcomputer | |
Flavin et al. | Absolute measurement of wavelengths from a multiplexed in-fiber Bragg grating array by shortscan interferometry | |
Ziegert et al. | Design and testing of a one dimensional measuring machine for determining the length of ball bars | |
JPS62272101A (ja) | 測長装置 |