SU879258A1 - Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона - Google Patents

Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона Download PDF

Info

Publication number
SU879258A1
SU879258A1 SU762410025A SU2410025A SU879258A1 SU 879258 A1 SU879258 A1 SU 879258A1 SU 762410025 A SU762410025 A SU 762410025A SU 2410025 A SU2410025 A SU 2410025A SU 879258 A1 SU879258 A1 SU 879258A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
standard
sleeve
length
change
mismatch
Prior art date
Application number
SU762410025A
Other languages
English (en)
Inventor
Борис Леонидович Арлов
Борис Евгеньевич Новаковский
Наталья Сергеевна Степаненко
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3697
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3697 filed Critical Предприятие П/Я А-3697
Priority to SU762410025A priority Critical patent/SU879258A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU879258A1 publication Critical patent/SU879258A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ИЗЬЖНЕНИЯ ДЛИНЫ ДЕТАЛИ С ПОМОЩЬЮ ЭТАЛОНА
1
. Изобретение относитс  к контроЯьно-измерительной технике, а точнее к относительному методу измерени  длин.
В приборостроении при изготовлении точных деталей, а также в процессе их испытаний и эксплуатации контроль изменени  длины способом сравнени  с плоскопараллельными концевыми мерами производитс  с помощью контактных оптических приборов,например оптиметров и ультраоптиметров l 3
Точность этого способа пор дка дес тых долей микрометра, что  вл етс  недостаточным дл  прецизионных измерений.
Известен также способ контрол  измерени  длины детали с помощью эталона, заключающийс  в том,что совмещают один торец детали с торцом эталона, измер ют несовпадение других торцов детали и эталона и по
результатам измерений суд т об изменении длины детали 2.
Недостатком данного способа  вл етс  то, что деталь и эталон не имеют контакта по всей поверхности, что затрудн ет выравнивание температур в момент измере ш  и  вл етс  причиной погрешнрати из-за изгибных док и разного теплового расширени .
Целью изобретени   вл етс  повы-
10 шение точности.
Цель достигаетс  тем, что эталон выполн ют с цилиндрической поверхностью , деталь и эталон сопр гают концентрично по этой цилиндрической
IS поверхности с возможностью их осевого взаимного перемещени  друг относительно друга и обрабатывают несовпап дающие торцы эталона и детали до их совпадени .
20

Claims (2)

  1. Благодар  такому выполнению эталона обеспечиваетс  минимальный зазор при сопр жении, что создает хороший тепловой контакт эталона и детали,. 3 одновременно сохран етс  вд можность снимать эталон с детали на период эксплуатации последней и устран етс  вли ние сил трени  в сопр женииi на длину детали. Способ контрол  изменени  длины детали с помощью эталона по сн етс  чертежом, где изображен обпщй вид детали-втулки 1,сопр женной с этаг лоном 2. Спосрб осуществл ют следующим образом. Перед измерени ми эталон 2 сопр гают с деталью-втулкой 1. так, чтобы совместить один торец детали-втулки с торцом эталона, производ т выдержку в течение 2 ч, затем измер ют несовпадение других торцов деталивтулки и эталона 2 и по результата измерений суд т о разнице размеров втулки и эталона. Контроль Совмещени одного торца детали и эталона и из мерени  несовпаде ш  других торцов производ т с помощью интерферрметра Данный способ позвол ет контролировать изменение длин деталей | главным образом, деталей точных приборов с погрешностью, не превышающей 0,015 мкм. 8 Формула изобретени  Способ контрол  изменени  длины детали с помощью эталона,заключающийг; с  в том, что совмещают один торец детали с торцом эталона, измер ют несовпадение других торцов дергали и эталона и по результатам измерений суд т об изменении длины детали,о тличающийс  тем, что,с целью повышени .точности, эталон выполн ют с цилиндрической поверхностью, деталь и эталон сопр гают концентрично по этой цилиндрической поверхности с возможностью их осевого взаимного перемещени  друг относительно друга и обрабатывают несовпадающие торцы эталона и детали до их совпадени . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Апарин Г.А. и Городецкий И.Е. Допуски и технические измерени . М., Машгиз, 1956, с.155, 160, 162.
  2. 2.Левенсон Е.М. Основы метрологии и технические измерени . М., Машгиз, 1958, с. 51-52 (прототип).
    ,/ -/
SU762410025A 1976-10-06 1976-10-06 Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона SU879258A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762410025A SU879258A1 (ru) 1976-10-06 1976-10-06 Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762410025A SU879258A1 (ru) 1976-10-06 1976-10-06 Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU879258A1 true SU879258A1 (ru) 1981-11-07

Family

ID=20679097

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762410025A SU879258A1 (ru) 1976-10-06 1976-10-06 Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU879258A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Downs et al. Bi-directional fringe counting interference refractometer
US3738754A (en) Optical contacting systems for positioning and metrology systems
GB2117918A (en) Standing wave interferometer for measuring optical path differences
SU879258A1 (ru) Способ контрол изменени длины детали с помощью эталона
CN113494890B (zh) 基于fpi干涉仪的光纤光栅应变传感器精度测量装置及方法
CN113251897B (zh) 一种基于白光干涉的量块测量装置及方法
CN86107252B (zh) 空气折射率测量装置
CN112556595B (zh) 一种光纤fpi传感器、测量装置及测量方法
Razet Analytical resolution of least-squares applications for the circle in interferometry and radiometry
Wilhelm et al. A novel low coherence fibre optic interferometer for position and thickness measurements with unattained accuracy
JPS57108732A (en) Testing machine for gear engagement
Pelayo et al. Chromatic dispersion characterization in short single-mode fibers by spectral scanning of phase difference in a Michelson interferometer
Č Lipuš et al. Influence of intracavity power on frequency characteristics of iodine-stabilized he-ne laser
Weichert et al. A straightness measuring interferometer characterised with different wedge prisms
Sienknecht et al. Determination of the SI volt at the PTB
US2882787A (en) Micro-measurement apparatus
SU1421970A1 (ru) Способ определени погрешности центрировани нутромера с центрирующим мостиком
Buchta et al. System for contactless gauge blocks measurement
DE3621876A1 (de) Druckmesswandler
Kainer The advantages of measuring lengths with interference comparators
SU875210A1 (ru) Способ измерени несоосности двух отверстий и устройство дл его осуществлени
Chen Fiber optic displacement measuring device by microcomputer
Flavin et al. Absolute measurement of wavelengths from a multiplexed in-fiber Bragg grating array by shortscan interferometry
Ziegert et al. Design and testing of a one dimensional measuring machine for determining the length of ball bars
JPS62272101A (ja) 測長装置