SU868549A1 - Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов - Google Patents

Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов Download PDF

Info

Publication number
SU868549A1
SU868549A1 SU802864804A SU2864804A SU868549A1 SU 868549 A1 SU868549 A1 SU 868549A1 SU 802864804 A SU802864804 A SU 802864804A SU 2864804 A SU2864804 A SU 2864804A SU 868549 A1 SU868549 A1 SU 868549A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
input
amplitude
phase detector
direct
Prior art date
Application number
SU802864804A
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Федорович Булгаков
Владимир Константинович Жуков
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институт Электронной Интроскопии При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им. С.М.Кирова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институт Электронной Интроскопии При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им. С.М.Кирова filed Critical Научно-Исследовательский Институт Электронной Интроскопии При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им. С.М.Кирова
Priority to SU802864804A priority Critical patent/SU868549A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU868549A1 publication Critical patent/SU868549A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

(54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ Изобретение относитс  к неразрушапщему контролю и может быть исполь дл  дефектоскопии электропровод щих прот женных объектов. Известен электромагнитный дефекто скоп дл  контрол  прот женных объектов с устройством дл  отстройки от краев контролируемого объекта, содер жсшщй измерительный преобразователь соединенный G его выходом ; измерительный блок, установленный вблизи измерительного преобразовател  сигнализатор положени  кра  объекта, соединенный с его выходом логический блок и оконечный блок l. Недостаток известного дефектоскопа заключаетс  в низкой надежности контрол  зоны краев контролируемого объе|кта. Наиболее близок к Предлагаемому по технической сущности электромагнитный дефектоскоп дл  контрол  про т женных объектов, содержащий после довательно соединенные генератор, проходной дифференциальный вихреток вый,преобразователь, амплитудно-фаЭ .ОВЫЙ детектор, подключенный своим опорным входом к генератору и форми рователь строб-импульса,подключенный ПРОТЯЖЕННЫХ ОБЪЕКТОВ своим пр мым выходом к первому входу логической схемы И 2. Однако и этот дефектоскоп не обеспечивает необходимой нсщежности контрол , так как сигналы от дефектов на кра х объекта суммируютс  с сигнгшами от концов, что приводит к недобраковке . Цель изобретени  - повышение надежности контрол . Поставленна  цель достигаетс  тем, что дефектоскоп снабжен последовательно соединенными повторителем,подключенным своим входом к выходу амплитудно-фазового детектора, первым и вторым ключами, соединенными своими управл ющими входами с инверсным и пр мым выходами формировател  стробимпульса , соответственно, а своими выходами - соответственно через конденсатор и резистор с нулевой шиной, дифференциальным усилителем, соединенным своим пр мым входом с выходом амплитудно-фазового детектора, а инверсным входом - с выходом второго ключа, и амплитудным селектором, соединенным своим входом с выходом дифференцисшьного усилител , а своим выходом - со вторым входом логической схемы И. На фиг. 1 изображена функциональ на  схема дефектоскопа; на фиг. 2 временные диаграммы, по сн ющие его работу. Дефектоскоп содержит последовате но соединенные генератор 1, проходн дифференциальный вихретоковый преоб зователь 2, амплитудно-фазовый дете тор 3, подключенный своим опорным входом к генератору 1, формировател $ строб-импульса, логическую схему И, формирователь 4 строб-импульсов подключен своим пр мым выходом к первому входу логической схемы 5 И, соединенной своим вторым входом с амплитудным селектором 6, последовательно соединенные повторитель 7, подключенный своим входом к выходу амплитудно- фазового детектора 3, первый ключ 8 и второй ключ 9, соединенные своими управл ющими входами с пр мым и инверсным выходами формировател  4 стробимпульса , соответственно, дифференциальный усилитель 10, соединенный своим пр мым и инверсным входами соответственно с выходом амплитудно фазового детектора 3 и второго ключа 9, а своим выходом - со входом амплитудного селектора 6. Выходы первого и второго ключей 8 и 9 соединены, соответственно, через конденсатор 11 и резистор 12 с нуле вой шиной. Диаграммы 13-16 по сн ют работу устройства при контроле бездефектного издели , а диаграммы 17-20 при контроле издели  с точечным дефектом у начала. Диаграммы 13 и 17 изображают сигнал от начала издели  на выходе амплитудно-фазового детек тора 3, диаграммы 14 и 18 - стробимпульс контроль на пр мом выходе формировател  4, диаграммы 15 .и 19 импульс на инвертирующем входе дифференциального усилител  10, диагра мы 16 и 20 - выходной сигнал дифференциального усилител  10, Дефектоскоп работает следующим образом. При введении контролируемого издели  в дифференциальный преобразователь 2, база которого меньше радиуса измерительной , на выход амплитудно-фазового детектора 3 формируетс  сигнал 13 от начал издел 1 , длительность которого t, ; определ ема  по уровню Удорсрабатыва ни  амплитудного селектора 6, в несколько раз превышает длительность сигналов от точечных дефектов. Уровень срабатывани  амплитудного селектора 6 выбираетс  из услови  не обходимой чувствительности к дефектам . Задний фронт t2 сигнала 13, определ емый от точки перегиба (точ ки экстремума первой производной сигнала 13), по форме близок к экспоненте . Сигналом 13 от начала издели  через повторитель 7 и открытый первый ключ 8, управл емый формирователем 4, зар жаетс  конденсатор 11. Посто нна  времени цепи зар да конденсатора 11 много меньше длительности t импульса 13, поэтому напр жение на конденсаторе 11 повтор ет выходной сигнал амплитудно-фазового детектора 3. Начало строб-импульса формируетс  формирователем 4 в момент дости .жени  Bjoporo экстремума первой производной сигнала 13 от начала издели  (диаграмма 14). Строб-импульс контроль закрывает первый ключ 8 и открывает второй ключ 9, при этом начинаетс  разр д конденсатора 11 через резистор 12. Посто нна  времени цепи разр да конденсатора 11 выбираетс  из услови  равенства моментов окончани  разр да конденсатора 11 и сигнала 13 от начала издели . Напр жение разр да конденсатора 11, представл ющее собой экспоненту (диаграмма 15), поступает на инвертирующий вход дифференциального усилител  10 и вычитаетс  от сигналь 13, поступающего на второй вход дифференциального усилител  10. Сигнал 13 от начала издели  проходит на выход дифференциального усилител  10 с укороченным задним фронтом (диаграмма 16) и вызывает с рабатывание амплитудного селектора 6, выходной импульс которого не проходит на выход логической схемы 5. И совпадени , так как стробимпульс контроль поступает на ее второй вход в момент окончани  сигнала 16. Если на начале издели  расположен точечный дефект, то задний фронт сигнала от начала издели  будет искажен (диаграмма 17) и сигнал от дефекта отчетливо про витс  на выходе дифференциального усилител  10 (диаграмма 20), будет зарегистрирован амплитудным селектором 6 и пройдет на выход логической схели 5 И, на втсчрой вход которой поступает строб-импульс контроль 18. Таким образом в предлагаемом дефектоскопе увеличиваетс  вы вл емость точечных дефектов в зоне начала издели , этим повышаетс  надежность контрол , формула изобретени  Электромагнитный дефектоскоп дл  контрол  прот женных объектов, содержащий последовательно соединенные генератор, проходной дифференциальный вихретоковый преобразователь, амплитудно-фазовый детектор, подключенный своим опорным входом- к генератору и формирователь строб-импульса , подключенный своим пр мым выходом к

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов, содержащий последовательно соединенные генератор, проходной дифференциальный вихретоковый преобразователь, амплитудыо-фазовый детектор, подключенный своим опорным входом к генератору и формирователь строб-импульса , подключенный своим прямым выходом к первому входу логической схемы И, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, он снабжен последовательно соединенными повторителем, подключенным своим входом к выходу амплитуднофазового детектора, первым и вторым ключами, соединенными своими управляющими входами с инверсным и прямым выходами формирователя строб-импульса, соответственно, а своими выходами - соответственно, через конденсатор и резистор с нулевой шиной, дифференциальным усилителем, соединенным своим прямым входом с выходом амплитудно-фазового детектора, а инверсным входом - с выходом второг ключа, и амплитудным селектором, соединенным своим входом с выходом дифференциального усилителя, а свои, е выходом - со вторым входом логической схем И.
SU802864804A 1980-01-04 1980-01-04 Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов SU868549A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802864804A SU868549A1 (ru) 1980-01-04 1980-01-04 Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802864804A SU868549A1 (ru) 1980-01-04 1980-01-04 Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU868549A1 true SU868549A1 (ru) 1981-09-30

Family

ID=20870146

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802864804A SU868549A1 (ru) 1980-01-04 1980-01-04 Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU868549A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS57151804A (en) Detecting device for cracked grain of rice
US2511564A (en) Distortion analysis
JPS6239379B2 (ru)
SU868549A1 (ru) Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов
US3779649A (en) Method of and an electro-optical system for inspecting material
US4193028A (en) Eddy current instrumentation circuitry for distinguishing flaw signals from spurious noise signals
US3435239A (en) Radiation absorption tester using rc network to simulate absorption function
US3603874A (en) Eddy current inspection device for elongated material with means to eliminate the end effect
SU1027594A2 (ru) Электромагнитный дефектоскоп дл контрол прот женных объектов
SU748319A1 (ru) Импульсный вихретоковый металлоискатель
US3564410A (en) Dynamically calibrated velocity instrumentation technique
SU1035494A1 (ru) Электроконтактный дефектоскоп
SU966587A1 (ru) Устройство дл контрол качества изделий
SU828040A1 (ru) Радиометрический дефектоскоп дл КОНТРОл издЕлий C пЕРЕМЕННОйТОлщиНОй
US3599087A (en) Eddy current test system with means for eliminating signals due to the end of the test piece
SU1105802A1 (ru) Вихретоковый дефектоскоп
SU1698736A1 (ru) Устройство дл электромагнитного контрол качества изделий
SU883722A1 (ru) Способ обнаружени дефектов и устройство дл его осуществлени
SU1065765A1 (ru) Электромагнитный дефектоскоп
SU386331A1 (ru) Электромагнитный дефектоскоп
SU1132216A1 (ru) Электромагнитный дефектоскоп дл контрол коротких изделий
SU1179399A1 (ru) Устройство дл контрол исправной работы приборов
SU1268992A1 (ru) Устройство дл вибрационной диагностики циклических механизмов
SU1486907A1 (ru) Вихретоковый дефектоскоп
RU1812529C (ru) Устройство дл неразрушающего контрол электрической прочности конденсаторов