SU847237A1 - Способ измерени посто ннойэКРАНиРОВАННОй МЕРы МАгНиТНОйиНдуКции - Google Patents

Способ измерени посто ннойэКРАНиРОВАННОй МЕРы МАгНиТНОйиНдуКции Download PDF

Info

Publication number
SU847237A1
SU847237A1 SU782651984A SU2651984A SU847237A1 SU 847237 A1 SU847237 A1 SU 847237A1 SU 782651984 A SU782651984 A SU 782651984A SU 2651984 A SU2651984 A SU 2651984A SU 847237 A1 SU847237 A1 SU 847237A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
resonance
magnetic induction
measure
order
magnetic
Prior art date
Application number
SU782651984A
Other languages
English (en)
Inventor
Борис Андреевич Андрианов
Петр Семенович Овчаренко
Николай Валерианович Студенцов
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8708
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8708 filed Critical Предприятие П/Я В-8708
Priority to SU782651984A priority Critical patent/SU847237A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU847237A1 publication Critical patent/SU847237A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Description

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННОЙ ЭКРАНИРОВАННОЙ МЕРЫ МАГНИТНОЙ ИНДУКЦИИ
Изобретение относитс  к метрологии и может быть использовано при калибровке мер магнитной индукции, наход щихс  внутри магнитных экрано ферромагнитных или сверхпровод щих, в области сверхслабой магнитной индукции . Известен способ проверки мер магнитной индукцииг использующий дл  сравнени  с эталоном метод ЯМР протонов l . Однако этот способ предйазначен дл  значений магнитной индукции, создаваемой мерами не ниже и кроме того, не применим дл  экранированных мер. Известен также способ определени посто нной меры магнитной индукции сiпомощью измерительного прибора, предварительно отградуированного по образцовой мере, заключающийс  в измерении посто нного электрического тока, проход щего через меру, и магнитной индукции, создаваемой этим током внутри меры, причем дл  измерени  магнитной индукции испол зуют магнитные свойства оптически накачиваемых атомов, заключенных в поглощающую  чейку, помещенную вну мецхл 12.. При измерении посто нной экранированных мер магнитной индукции, предназначенных дл  создани  магнитных полей, погрешность этого метода измерений возрастает ввиду ограниченной чувствительности магнитометрической аппаратуры, а также из-за вли ни  остат.очных полей экранов,которые станов тс  сравнимыми с пол ми , создаваемоми мерой. Экстрапол ци  значени  посто нной, измеренного при больших значени х магнитной индукции , на область сверхслабых магнитных полей приводит к существенной погрешности, так как ввиду нелинейности магнитных свойств материала экрана значение посто нной будет нелинейно згшисеть от значени  магнитной индукции, создаваемого мерой. Применить в требуемом диапазоне высокочувствительные квантовые магнитометры с оптической накачкой, основанные на использовании расщепленной зеемайовской структуры aTONroa,невозможно , так как рабочий диапазон этих приборов теоретически ограничен снизу значением ширины резонансной линии , составл ющей величину пор дка т, а практически еще выше из- . за того, что метрологические характеркстики прибора при малых значени х магнитной индукции существенно ухудшаютс . Цель изобретени  - повышение 4-04ности измерений в диапазоне сверх- . слабой магнитной индукции. Указанна  цель достигаетс  тем, что оптическа  накачка производитс  в направлении, перпендикул рном оси меры, вдоль оси меры дополнительно прикладывают переменное магнитное пола модул ции с частотой Ш , на указанной частоте в квадратуре с полем модул ции синхронно детектируют составл ющую интенсивности прошедше го через  чейку света накачки, регу лированием посто нного тока произво д т поиск двух сигналов параметрического резонанса различных пор дко п и измер ют значени  токовi и 12 соответствующие нулевому значению амплитуды каждого из указанных сигналов внутри резонансной области, и искомую посто нную К опр дел ют по формуле I J lil-l-Ml / т-СМ - ia где гиромагнитное отношение ато мов в  чейке. Кроме того, в качестве указанных резонансов используют резонанс нуле вого пор дка и резонанс либо первого , либо минус первого пор дка, при чем в качестве указанных резонансов используют резонанс первого пор дка и резонанс минус первого пор дка. В способе используетс  известное  вление параметрического резонанса при поперечной оптической накачке атомарного пара или газа, наход щегос  в переменном модулирующем магнитном поле Bjcosut и параллельном ему посто ннсж магнитном поле с ин ,дукцией BO , Интенсивность света накачки, про шедшего через поглощающую  чейку с рабочим веществом,будет при указанных . услови х модулирована на различ ных 1армониках частоты Ш ; Составл  ща  интенсивности S на первой гармонике частоты модул ции Ш синхрон но детектируема  в квадратуре с по .лем .модул ции B costli-fc, описываетс  следующим выражением ..ШКм()(тВ.Иш) . ) где Г - релаксационна  полуширина f резонансной линии, HQ- стационарна  намагниченност атомов рабочего вещества, s hVtir/ Бессел  1-го рода пор дка п от аргумента . Ш . 2ГЗ гидромагнитное отношение дтомов рабочего вещества. Параметрический резонанс наблюаетс  при значени х посто нной магитной индукции В, удовлетвор ющих оотношению пШ Т BO(2) . при ,+1, i.2... Резонанс п-го пор дка описываетс  n-m-членом суммы (Ji), причем график зависимости амплитуды сигнгша резонанса -г.о пор дка от значени  магнитной индукции Bfj имеет вид лоренцевой кривой дисперсии с шириной ДВф 2Г/у, пересекающей ось абсцисс при значени х магнитной индукции, удовлетвор кедих условию (2). Поэтому равенство амплитуды резонансного сигнала нулю  вл етс  индикатором выполнени  услови  (2) и позвол ет при существенных значени х величин ои, п , -у определить значение магнитной индукции В. В частности, при п О наблюдаемый резонанс  вл етс  индикатором нулевого значени  магнитной индукции В, а резонансы при п +1 (которые  вл ютс  наиболее интенсивными по сравнению с резонансами при больших значени х п) могут служить индикаторами значений магнитной индукции В э - ±. / Значение магнитной индукции BQ  вл етс  суммой значений магнитной индукции Бд, создаваемой мерой, и магнитной индукции В, св занной с остаточным полем экрана BO + Eg. Значение В/ при изменении тока в мере мен етс , а значение В остаетс  посто нным, так что разность значений магнитной индукции, соответству- ющих резонансам различных пор дков, не зависит от остаточного магнитного пол  .. Следовательно, измерив разность токов, соответствующих нулевым значени м амплитуды сигнала в области резонанса, дл  двух резонансов различных пор дков, умножив частоту модул ции на разность этих пор дков и разделив результат на измеренную разность токов и гиромагнитное отношение атомов, получают значение посто нной меры магнитной индукции. В частности можно использовать резонанс нулевого пор дка и один из резонансов первого или минус первого пор дка, или же оба резонанса пор дка ±1, На чертеже показана зависимость амплитуды резонансных сигналов нулевого , первого и минус первого пор дков .от значени  посто нной магнитной индукции В(,. Пор док каждого резонанса и.значение магнитной индукции, при котором его амплитуда равна нулю, указаны возле соответствук дей резонансной линии. Поскольку ширина линии параметрического резонанса ДВ в зависимости от интенсивности, света накачки и времени тепловой релаксации

Claims (2)

  1. Формула изобретения
    1. Способ измерения постоянной . экранированной меры магнитной индукции, заключающийся в измерении постоянного электрического тока, проходящего через меру, и магнитной индукции, создаваемой этим током внутри меры, включающую в себя поглощающую ячейку с оптически накачиваемыми атомами, отличающийся тем,'что, с целью повышения точности измерений в диапазоне сверхслабой магнитной индукции, оптическую накачку производят в направлении, перпендикулярном оси меры, вдоль оси меры Г дополнительно прикладывают перемен-. ное магнитное поле модуляции с частотой Ш , на указанной частоте в квадратуре с полем модуляции синхронно детектируют составляющую интенсивное-, ти прошедаего через ячейку света на-
    5 качки, регулированием постоянного тока производят поиск двух сигналов, параметрического резонанса различных порядков of и п4 , изменяют значения токов и ia , соответствующие .»0 нулевому значению амплитуды каждого из указанных сигналов внутри резонан- • сной области, и искомую постоянную К определяют по формуле где γ- гиромагнитное отношение атомов’в ячейке.
  2. 2·. Способ поп.1,отличаю20 щ и й с я тем, что в качестве указанных резонансов используют резонанс нулевого порядка и резонанс либо первого, либо минус первого поряд. ка. β
    -3. Способ по п.1, отличающ и й с я тем, что в качестве указанных· резонансов используют резонанс первого порядка и резонанс минус первого порядка.
    „ Источники информации, принятые во внимание при экспертизе.
    1. Авторское свидетельство СССР № 280642, кл. G01 R 33/08, 1968.
    2. Чернышев Ё.Т. и др. В сб.Магнитные измерения, М., Изд-во комите-
    35 та стандартов, мер и измерительных приборов при Совете Министров СССР, 1969, с.84-87 (прототип).
    ВНИИПИ Заказ 5481/72 Тираж 732 Подписное
    Филиал ППП иПатентп, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
SU782651984A 1978-07-28 1978-07-28 Способ измерени посто ннойэКРАНиРОВАННОй МЕРы МАгНиТНОйиНдуКции SU847237A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782651984A SU847237A1 (ru) 1978-07-28 1978-07-28 Способ измерени посто ннойэКРАНиРОВАННОй МЕРы МАгНиТНОйиНдуКции

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782651984A SU847237A1 (ru) 1978-07-28 1978-07-28 Способ измерени посто ннойэКРАНиРОВАННОй МЕРы МАгНиТНОйиНдуКции

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU847237A1 true SU847237A1 (ru) 1981-07-15

Family

ID=20780215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782651984A SU847237A1 (ru) 1978-07-28 1978-07-28 Способ измерени посто ннойэКРАНиРОВАННОй МЕРы МАгНиТНОйиНдуКции

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU847237A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105929458A (zh) 航空磁场矢量检测装置及监测方法
CN108717168A (zh) 一种基于光场幅度调制的标量磁场梯度测量装置及方法
Mihailovic et al. Development of a portable fiber-optic current sensor for power systems monitoring
RU199631U1 (ru) Квантовый Mz-магнитометр
Turvey Determination of Verdet constant from combined ac and dc measurements
Zhou et al. A non-contact micro-ampere DC current digital sensor based on the open-loop structure
US2861242A (en) Magnetometer
US3255405A (en) Apparatus for measuring the electrical conductivity of a sample
SU847237A1 (ru) Способ измерени посто ннойэКРАНиРОВАННОй МЕРы МАгНиТНОйиНдуКции
US2841760A (en) Method and apparatus for measuring angular motion
Henrichsen Classification of magnetic measurement methods
Zhao et al. Development of new beam current transformer based on TMR
Krüger et al. Precision measurement of hmn
SU883819A1 (ru) Устройство дл измерени индукции магнитного пол
RU2737726C1 (ru) Способ измерения компонент магнитного поля
US2248586A (en) Frequency meter
RU2767166C1 (ru) Измеритель тока оптический интерференционный
Utter et al. Confirmation of anomalous pressure dependence of linewidths of the electron paramagnetic resonance spectrum of molecular oxygen
SU785812A1 (ru) Устройство дл измерени магнитной индукции
SU540228A1 (ru) Способ измерени относительной магнитной проницаемости
Bäckström A device for the precision measurement of an inhomogenous magnetic field
Li et al. Research on small signal detection of optical voltage/current transformer
SU432377A1 (ru) Устройство для определения концентрации парамагнитных частиц
RU1793202C (ru) Устройство дл определени координат металлических прот женных изделий
US3482158A (en) Method and nuclear resonance magnetometer apparatus for measuring small differences of magnetic field