SU84202A1

SU84202A1 - Образец дл дилатометрического испытани материалов

Info

Publication number: SU84202A1
Application number: SU371964A
Authority: SU
Inventors: Е.С. Беркович
Original assignee: Е.С. Беркович
Priority date: 1947-12-16
Filing date: 1947-12-16
Publication date: 1949-11-30

Description

Известны дифференциальные дилатометры, служащие дл определени коэффициента линейного расширени твердых тел, в которых эталон и цоследующий образец выполнены в виде сравнительно длинных стержней, нагреваемых до определенной температуры. Относительное изменение длины эталона и образца определ ют по перемещению зеркальной поверхности, прижимаемой пружинами к эталону и образцу через переходные кварцевые стерж.ни.

Недостатком такого выполнени эталона и исследуемого образца и такого способа соединени их с зеральной поверхностью вл етс искажение результатов измерени из-за возможного вм ти кварцевых переходных стержней в материал эталона и исследуемого образца, а также прогиба как кварцевых стержней, так и эталона и исследуемого образца .

В описываемом ниже изобретении этот недостаток устранен тем, что эталон и исследуемый образец выполнены значительно меньшей высоты и зеркальной поверхностью служат их торцовые поверхности.

На чертеже схематически изобран ен образец дл дилатометрического испытани материалов.

Исследуемый образец выполнен в виде пустотелого цилиндра У (высотой 10-15 мм и диаметро.м 10-15 мм); в полость исследуемого образца вставлен эталонный образец 2 (диаметром 3-4 мм). Нагрев образца производ т в печи 3 с электрическим обогревом. Дл измерени температуры примен ют термопару, рабочий конец которой помещаетс в отверстие 4 исследуемого образца.

Перед испытанием верхние торцы исследуемого и эталонного образцов микрощлифованием довод т до такого состо ни , чтобы они лежали

в одной плоскости и образовывали зеркальную поверхность, включенную в измерительную ветвь интерферометра.

Дл определени коэффициента линейного расширени собранный образец помещают в печь и нагревают до определенной темцературы; о величине относительного изменени длины образца суд т по смещению интерференционных полос, лежащих на торцовых поверхност х эталонного и исследуемого образцов.

Предмет изобретени

Образец дл дилатометрического испытани материалов путем сравнени линейного расщирени исследуемого образца с линейным расширением эталонного образца посредством микроинтерферометра, отличающийс тем, что он выполнен в виде пустотелого цилиндра из исследуемого материала и вставленного в полюсть этого цилиндра эталонного образца, верхние торцы которых наход тс на одном уровне и образуют зеркальную поверхность, включенную в измерительную ветвь интерферометра.