SU834472A1

SU834472A1 - Способ измерени толщины сло КРАТНОгО ОСлАблЕНи РЕНТгЕНОВСКОгОизлучЕНи

Info

Publication number: SU834472A1
Application number: SU792819571A
Authority: SU
Inventors: Надежда Григорьевна Мишкинис
Original assignee: Центральный Научно-Исследовательскийинститут Травмотологии И Ортопедии Им.H.H.Приорова
Priority date: 1979-09-07
Filing date: 1979-09-07
Publication date: 1981-05-30

Description

Изобретение относится к рентгено· технике и может применяться.при наладке рентгенодйагностическйх аппатратов, а также для исследования поглощающих свойств различных материалов по отношению к рентгеновскому излучению.

• Известно, что поглощающие свойства материалов характеризуют величиной слоя половинного поглощения, т.е. Той толщиной материала, при которой интенсивность падающего на материал пучка ослабляется за фильтром, в два раза при заданной длине волны рентгеновского излучения fl] .

Наиболее близким техническим решением является способ измерения толщины слоя кратного ослабления рентгеновского излучения, заключающийся в том, что производят экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином из исследуемого материала, и по почернению пленки на различных участках определяют слой кратного ослабления С2].

Измерение слоя половинного ослабления производят путем фотометрирования участков под -измерительным клином и сравнении полученных результатов с результатом фотометрирования открытого участка пленки. Однако точность измерения невысока из-за двойной ошибки фотометриро5 вания, фигурирующей при данном спосо-г бе измерений (фактически производятся независимее измерения и половинное значение измерения неоткрытом участ. ке пленки сопоставляется со шкалой фотометрирования под клином). Кроме, того, этот способ требует наличия специального оборудования (фотометра) которое имеется далеко не всегда.

Цель изобретения - упрощение сред15 ств реализации способа.

Поставленная цель достигается тем, что в способе измерения толщины слоя кратного ослабления, заключающемся в том, что производят экспонирование 20 рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, и по почернению пленки на различных участках определяют слой кратного ослабления, производят дополнительное экспони^о25· вание рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, остальная часть которой экранирована от излучения, например, с помощью свинцовой пластинки, причем отношение 30 времен первой, и дополнительной экспо3 зиции выбирают равным 1 (п-1), где п - требуемая кратность ослабления, а толщину слоя кратного ослабления определяют по одинаковой плотности почернения участков пленки под клином и открыто экспонированного в течение одной из экспозиций участка пленки.

Способ реализуется следующим образом.

На рентгеновскую фотопленку накладывают измерительный клин. Оставшуюся часть пленки закрывают свинцовой пластиной. Производят экспонирование пленки в течение определенного периода времени. Затем свинцовую пластину убирают и производят повторное экспонирование той же пленки в течение, другого'заданного периода времени. Затем пленку проявляют и получают на ней неравномерно засвеченный участок под клином и равномерно засвеченный участок под свинцовой пластиной (если рассматривать съемку при первой экспозиции), который во время второй экспозиции был открыт. При работе в области пропорциональности почернения и при постоянной интенсивности первичного пучка почернение под каким-либо выбранным участком клина будет равно

D; =. к 3)0(1/ + Л_г), где 3) - интенсивность прошедшего через данный участок клина пучка;

% и t_- времена первой и второй ^Λ экспозиции, а почернение другого участка будет равно

D_o » к · З_о · tj, где 3₀ - интенсивность первичного рентгеновского пучка.

При этом на пленке будут участки с равным почернением, в результате чего 3) /З_й = Ч (t_f + Ц ) для указанных участков, и, зная времена экспозиций и толщину клина на участке с равными почернениями, можно сразу определить кратность ослабления и толщину соответствующего слоя. В частном случае, при равенстве первой и второй экспозиции, таким образом получают слой половинного поглощения. Для получения толщины слоя заданной кратности ослабления / /t₂ выбирают равным 1 (п-1), где п - заданная кратность ослабления.

Преимущество такого метода заклю? чается в том, что можно произвести непосредственное визуальное сравнение двух соседних участков почернения на одной пленке, не используя фотометрического оборудования.

Ю Предлагаемый способ может, использоваться при регулировании напряжения рентгеновского излучателя по величине слоя половинного поглощения,быстро и просто определять параметры фильт15 ров для получения требуемого ослабления излучения, исследовать защитные свойства материалов от проникающего излучения.

Claims

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ1Щ1НЫ СЛОЯ КРАТНОГО ОСЛАБЛЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ зиции выбирают равным 1 (п-1), где п - требуема кратность ослаблени , а толщину сло кратного ослаблени определ ют по одинаковой плотности почернени участков пленки под клином и открыто экспонированного в те чение одной из экспозиций участка пленки. Способ реализуетс следующим образом. На рентгеновскую фо,опленку накл дывают измерительный . Оставшую с часть пленки закрывают свинцовой пластиной. Производ т экспонировани пленки в течение определенного пери ода времени. Затем свинцовую пласти убирают и производ т повторное эксп нирование той же пленки в течение, другого заданного периода времени. Затем пленку про вл ют и получают на ней неравномерно засвеченный участок под клином и равномерно зас веченный участок под свинцовой пластиной (если рассматривать съемк при первой экспозиции), во врем второй экспозиции бвш открыт . При работе в области пропорци ональности почернени и при посто н ной интенсивности первичного пучка почернение под каким-либо выбранным участком клина будет равно . D; k 3;0(t + tj), где 3j - интенсивность прешедшего через данный участок клина пучка t и tn- времена первой и второй экспозиции, а почернение другого участка будет равн DO k 4i где Зо - интенсивность первичного рентгеновского пучка. При этом на пленке .будут участки с равным почернением, в результате чего Л; /:а t. (t + t ) дл указанных участков, и, зна времена экспозиций и толщину клина на участ ке с равными почернени ми, можно сразу определить кратность ослаблени и толщину соответствующего сло В частном случае, при равенстве первой и второй экспозиции, таким образом получают слой половинного поглощени . Дл получени толщины сло заданной кратности ослаблени tj /t выбирают равным 1 (п-1), где п - заданна кратность ослаблени . Преимущество такого метода заключаетс в том, что можно произвести непосредственное визуальное сравнение двух соседних участков почернени на одной пленке, не использу фотометрического оборудовани . Предлагаемый способ может, использоватьс при регулировании напр жени рентгеновского излучател по величине сло половинного поглощени ,быстро и просто определ ть параметры фильтров дл получени требуемого ослаблени излучени , исследовать защитные свойства материалов от проникающего излучени . Формула изобретени СШособ измерени толщины сло кратного ослаблени рентгеновского излучени , заключающийс в том, что производ т экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, и по почернению пленки на различных участках определ ют толщину сло кратного ослаблени , о т л и ч а ю щ и и с тем, что, с целью упрощени средств реализации производ т дополнительное.экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, остальна часть которой экранирована от излучени , например, с помощью свинцовой пластины, причем отношение времен первой и дополнительной экспозиции выбирают равным 1 (п-1), где п требуема кратность ослаблени , а толщину сло кратного ослаблени определ ют по одинаковой плотности почернени участков пленки под клином и открыто экспонированного в течение одной из экспозиций участка пленки. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Шмелев В.К. Рентгеновские аппараты. М./ Энерги , 1973, с. 27.
2.Дмоховский В.В. Основы рентгенотехники . М., Медгиз, I960, с. 251252 (прототип).