(54) ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО(54) OPTICAL ELECTRONIC MEASURING DEVICE
Изобретение относитс к контроль но-измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам, предназначенньам дл контрол углов поворота (скручивани ) объекта отно сительно заданной оси. Известно устройство дл измерени угла поворота контролируемого объекта в плоскости, перпендикул рной оптической, оси устройства, содержащее отражатель, установленный на контролируемом объекте, и двухканальную автоколлимационную .фотоэлектрическую след щую систему с анализатором, выполненным в виде двух призм-ножей по, обе стороны диафрагмы осветител 1. Недостатком устройства вл етс конструктивна сложность из-за наличи двух автоколлимационных фотоэлектрических след щих систем. Наиболее близким к предлагаемому вл етс оптико-электронное измерительное устройство, содержащее и точник излучени , последовательно установленные по ходу излучени ди афрагму, объектив и -отражатель, вы шолненные в виде пр моугольной при и скрепл емые с контролируемым объ том, анализатор, выполненный в виде призмы-ножа, расположенного в фокалькой плоскости объектива, и блок обработки, включающий два дифференциально соединенных фотоприемника 2. Цель изобретени - упрощение конструкции устройства. Поставленна цель достигаетс тем, что отражатель выполнен с пира1 идальностью , а анализатор смещен относительно оптической оси на величину пирамидальности отражател . На чертеже представлена принципиальна схема устройства. Устройство содержит источник 1 излучени , последовательно установленные по ходу излучени диафрагму 2, объектив,3, отражатель 4, выполненный в виде пр моугольной призмы, анализатор 5, выполненный в виде призмы-ножа, расположенный в фокальной плоскости объектива .3, и блок обработки, включающий два дифференциально соединенных фотоприемника 6 и 7, причем анализатор 5 смещен относительно диафрагмы 2. на величину пропорциональную пирамидальности. Устройство работает следующим образом. Излучение, падающее на диафрагму 2, формируетс объективом 3 в паралThe invention relates to the control of measuring equipment, namely, optical-electronic devices, designed to control the angles of rotation (twist) of an object relative to a given axis. A device is known for measuring the angle of rotation of a test object in a plane perpendicular to the optical axis of the device, comprising a reflector mounted on the test object, and a two-channel autocollimation photoelectric tracking system with an analyzer made in the form of two prism blades on both sides of the illuminator aperture. 1. The drawback of the device is a constructive complexity due to the presence of two autocollimation photoelectric tracking systems. The closest to the present invention is an optoelectronic measuring device containing both a radiation source, a diaphragm, a lens and a reflector sequentially installed along the radiation path, executed in the form of a rectangular with and fastened with a controlled volume, an analyzer made in the form of prism-knife, located in the focal plane of the lens, and the processing unit, which includes two differentially connected photodetector 2. The purpose of the invention is to simplify the design of the device. The goal is achieved by the fact that the reflector is made with a pyramid and the analyzer is shifted relative to the optical axis by the amount of the reflector pyramid. The drawing shows a schematic diagram of the device. The device contains radiation source 1, diaphragm 2, lens, 3, reflector 4, made in the form of a rectangular prism, analyzer 5, made in the form of a knife prism, located in the focal plane of the lens .3, and the processing unit, including two differentially connected photodetectors 6 and 7, and the analyzer 5 is offset relative to the diaphragm 2. by an amount proportional to the pyramidality. The device works as follows. The radiation incident on the diaphragm 2 is formed by the lens 3 in parallel