SU807343A1 - Analyzer of distribution functions of pulse signal durations - Google Patents

Analyzer of distribution functions of pulse signal durations Download PDF

Info

Publication number
SU807343A1
SU807343A1 SU782668653A SU2668653A SU807343A1 SU 807343 A1 SU807343 A1 SU 807343A1 SU 782668653 A SU782668653 A SU 782668653A SU 2668653 A SU2668653 A SU 2668653A SU 807343 A1 SU807343 A1 SU 807343A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
block
counter
inputs
Prior art date
Application number
SU782668653A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Николай Лукич Бондаренко
Владимир Иванович Кожевников
Виктор Николаевич Рипный
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8173
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8173 filed Critical Предприятие П/Я В-8173
Priority to SU782668653A priority Critical patent/SU807343A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU807343A1 publication Critical patent/SU807343A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

Изобретение относитс  к технике аппаратурного анализа характеристик случайных процессов, в частности к цифровым анализаторам функций распределени  длительностей импульсных сигналоб , и может быть использовано в аппаратуре статистической обработки сигналов.The invention relates to a technique for analyzing the characteristics of random processes, in particular, to digital analyzers of the distribution functions of the duration of pulsed signallob, and can be used in statistical signal processing equipment.

При дефектоскопии изделий неразрушающими методами, длительность импульсных сигналов на выходе дефектоскопов пропорциональна  прот женности дефектов на контролируемом изделии. .. Так как длина дефекта издели   рл етс  случайной величиной, то и длительность импульсного сигнала, характеризующа  прот женность дефекта,(  вл етс  также случайной величиной. Дл автоматической математической обработки этих сигналов необходимо создать анализатор функции распределени  длительностей импульсных сигналов, способный производить распределение и индикацию результатов.When non-destructive testing of products, the duration of the pulse signals at the output of the flaw detectors is proportional to the length of the defects on the monitored product. .. Since the length of a product defect is a random value, the duration of the pulse signal, which characterizes the length of the defect, is also a random value. To automatically mathematically process these signals, it is necessary to create an analyzer of the distribution function of the duration of the pulse signals that can produce distribution and display results.

Известен статистический анализатор временных интервалов, содержа .щий счетчик интервалов времени и блок управлени , одни из входов которых  вл ютс  входом анализатора} A known statistical time interval analyzer containing a time interval counter and a control unit, one of the inputs of which is the input of the analyzer}

блок определени  математического ожидани  и блок установок, на входы которых подключен выход счетчика, один из выходов блока математического ожидани  подключен ко входам счетчика и блока управлени  генератор импульсов и блок центрировани , причем выходы генератора импульсов подключены ко входам блока определени  математического ожидани  и блока центрировани , на два входа которого подключены выходы блока математического ожидани  и блока управлени  дешифратор, блок пам ти и блок анализа , причем выход блока центрировани  подключен ко входу дешифратора, выход из которого и один из выходов блока управлени  подключены ко входам блока пам ти, два выхода которого подключены ко входс1м блока установок и блока анализа, на второй вход которого подключен выход блока пам ти, а выходы блока анализа соединены со входами генератора импульсов и блока управлени  fij .an expectation unit and a set unit, to the inputs of which the output of the counter is connected, one of the outputs of the expectation unit is connected to the inputs of the counter and control unit of the pulse generator and the centering unit, the outputs of the pulse generator are connected to the inputs of the expectation unit and the centering unit, two inputs of which are connected to the outputs of the expectation unit and the control unit decoder, memory unit and analysis unit, and the output of the centering unit is connected to the input of the decoder, the output of which and one of the outputs of the control unit are connected to the inputs of the memory unit, two outputs of which are connected to the input of the installation unit and the analysis unit, to the second input of which the output of the memory unit is connected, and the outputs of the analysis unit are connected to the inputs pulse generator and control unit fij.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  анализатор функций распределени  временных интервалов, содержгцднйThe closest in technical essence to the proposed is the analyzer of functions of the distribution of time intervals, containing

блок питани , через который осуществл етс  питание всех остальных блоков анализатора, дешифраторы, опорный генератор, соединенный с управл ющим входс и блока квантовани  по уровню и времени, подключенного информационным входом к входу анализатора , а выходе - к счетчику измерени  длительности интервалов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих элементов И, подключенных к выходам блока усреднени  интервалов соответственно, входы первого и второго дешифраторов подключены к выходам счетчика измерени  длительности интервалов-. , выходы первого дешифратора сбедииены со вторыми входами элементов И, а выходы второго деиифратора подключены к соответствующим входам минимальных значений блока усреднителей интервалов 2 .a power supply unit through which all other analyzer units are powered, decoders, a reference oscillator connected to the control input and a quantization unit based on the level and time connected by the information input to the analyzer input, and the output to the interval measurement counter, the outputs of which are connected with the first inputs of the corresponding And elements connected to the outputs of the interval averaging block, respectively, the inputs of the first and second decoders are connected to the outputs of the durability measurement counter these intervals-. , the outputs of the first decoder sdledieny with the second inputs of the elements And, and the outputs of the second diopter are connected to the corresponding inputs of the minimum values of the block of averagers of intervals 2.

Недостатком известных анализаторов  вл етс  их аппаратурна  сложность, а также они не отображают на цифровом табло функций распределени  импульс ных длительностей, что не позвол ет применить их дл  анализа функций распределени  длительностей импульсных дефектоскопов.A disadvantage of the known analyzers is their hardware complexity, and they also do not display pulse duration functions on the digital scoreboard, which makes it impossible to use them for analyzing the distribution functions of the duration of pulse flaw detectors.

Цель изобретени  - упрощение анализатора и расширение его функциональных возможностей в направлении получени  распределени  длительностей импульсных сигналов.The purpose of the invention is to simplify the analyzer and expand its functionality in the direction of obtaining the distribution of the durations of the pulse signals.

Поставлеина  цель достигаетс  тем, что анализатор функций распределени  длительностей импульсных сигналов, содержащий источник посто нного напр жени , генератор тактовых импульсов группа выходов которого подключена к первой группе входов блока элементов И, содержит блок счетчиков числа событий, НЕ, Д-триггер, элементы И-НЕ и дифференцирующий блок, выход которого соединен с нулевым входом счетчика длительностей импульсных сигналов, а,вход соединен с эходом первого элемента НЕ и выходом первого элемента И-НЕ, первый вход которого соединен со счетным вхрдсм счетчика длительностей импульсных сИдГналов и выходом второго элемента И-НЕ, первый вход которого соединен с вторым входом первого элемента И- НЕ, выходом генератора тактовых импульсов и входсм второго элемента НЕ, выход которого подключен к сче ному входу Д-триггера, единичный вход которого  вл етс  входе анализатора , вход О соединен с выходим низкого потенциала источника посто нного напр жени ) а выход Д-триггера подключен к второму входу-второго элемента И-НЕ,/ при этом выход первого элемеита НЕ подключен к второй группе входов.блока элементов И, выходы которого через дешифратор соединены соответственно с входом блока счетчиков числа событий.The goal is achieved by the fact that the analyzer of the distribution functions of the duration of the pulse signals, containing a constant voltage source, the clock pulse group of the outputs of which are connected to the first group of inputs of the AND block, contains a block of counters of the number of events, NOT, D-flip-flop, and AND- NOT and the differentiating unit, the output of which is connected to the zero input of the pulse duration counter, but the input is connected to the output of the first element NOT and the output of the first NAND element, the first input of which is soy inn with a counting inrm of the pulse counter pulse duration and the output of the second NAND element, the first input of which is connected to the second input of the first NAND element, the output of the clock generator and the input cm of the second element NOT, the output of which is connected to the D-flip-flop input, the single input of which is the input of the analyzer, the input O is connected to the output of the low potential of the constant voltage source) and the output of the D-flip-flop is connected to the second input of the second AND-NO element, and the output of the first element is NOT connected to the second group of inputs and blocks of elements And, the outputs of which through a decoder are connected respectively to the input of the block of counters of the number of events.

На чертеже приведена блок-схема предлагаемого устройства.The drawing shows a block diagram of the proposed device.

Устройство содержит Д-триггер 1, имеющий три входа 2-4 и один выход. Его вход 2 установки единицы .(единичный вход)  вл етс  входом анализатора , Д-вход .3 соединен с низким потецциалом источника питани , счетный вход 4 подключен к выходу первого элемента НЕ 5, на вход которого и на первые входы двухвходовых элементов И-НЕ б и 7 подсоединен выхОд от генератора 8 тактовых импульсов. Выход первого элемента И-НЕ 6 соединен со счетным входом счетчика 9 и со вторым входом второго элементааИ-НЕ 7, выход которого подключен ко входам дифференцирующего блока 10 и второго элемента НЕ 11, выход которого подключен н первым входам блока двухвходовых элементов И 12. Выход дифференцирующего блока 10 соединен со входом установки нул  (с нулевым входом) счетчика 9, выходы которого соединены со вторыми входами блока двухвходовых элементов И 12, выходы которых подключены ко входам д цифратора 13, выходы которого соединены со счетньаш входами блока 14 счетчиков числа собаткЛ.The device contains a D-flip-flop 1, having three inputs 2-4 and one output. Its unit setting input 2. (Single input) is the analyzer input, the D input .3 is connected to a low power source, the counting input 4 is connected to the output of the first element NO 5, to the input of which is also the first inputs of two input elements AND NONE b and 7 is connected to the output from the generator 8 clock pulses. The output of the first element AND-NOT 6 is connected to the counting input of the counter 9 and with the second input of the second element NE-7, the output of which is connected to the inputs of the differentiating unit 10 and the second element NOT 11, the output of which is connected to the first inputs of the block of two-input elements AND 12. Output differentiating unit 10 is connected to the installation input zero (with zero input) of the counter 9, the outputs of which are connected to the second inputs of the block of two input elements And 12, the outputs of which are connected to inputs d of the digitizer 13, the outputs of which are connected to the counting inputs block number counter 14 sobatkL.

Работа анализатора происходит в следук цей последовательности.The operation of the analyzer occurs in the following sequence.

Claims (2)

Генератор 8 тактовых импульсов вырабатывает последовательность положительных н «1уль сов, .частота которых пропорциональна скорости технологического процесса производства изделий . Если на произв зди шх.издели х дефекты отсутствуют, то на вход 2 установки едннн1Ш триггера 1 не поступает низкий потенциал ,и при каждом тактовсш импульсе ма его шдходе оста .етс  низкий потенциал, так как его ,вход 3 посто нно подключен к низкому потенциалу источника питани . На выходе элемента И-НЕ б ввиду несовпадени  входных положительных импульсов , устанавливаетс  положительный потенциал и при каждом тактовом импульсе на выходе элемента И-НЕ 7 по вл етс  отрицательный импульс, задний фронт которого через дифференцирукиций .блок 10 производит установку счетчика 9 в нулевое состо ние. Отрицательный импульс с выхода элемента И-НЕ 7 инвертируетс  элементом НЕ 11 и поступает на першле входы блока элементов И 12. Так как в это врем  иа выходе .счетчика 9 нулева  информаци , элементы блока 12 не открываютс , и на выходах дешифратора 1з не по вл етс  сигнал. Счетчики блока 14 числа событий продолжают находитьс  в исходных состо ни х. Пр по влении на входе 2 триггера 1 иизкого потеициала, свидетельствующего о наличии дефекта на контролируемом изделии, на выходе триггера устанавливаетс  высокий потенциал, который поступает на один из входов элемента И-НЕ б, и при по влении каждого положительного тактового импульса на втором входе, по вл етс  отрицательный сигнал на выходе этого элемента. Каждый тактовый импульс при этом считываетс  счетчиком 9, фиксирующим прот женность дефектной зоны контролируемого издели . Отрицательный сигнал на выходе элемента. И-НЕ 7 по вл тьс  не может, так как при каждом тактовом импульсе отрицательный импульс с выхода элемента И-НЕ 6 блокирует один из входов элемента И-НЕ 7. Как только информаци  о наличии дефекта на контролируемом изделии исчезнет, заДним фронтом очередного тактового импульса через элемент 5 триггер 1 переводитс  в нулевое состо ние, а последуюмим тактовым импульсом произойдет перезапись накопленной ,счетчиком 9 информации в виде единичного.событи  на один из счетчиков блока 14. числа событий. Таким образом, на цифровом поле блока счетчика 14 устанавливаетс , и индицируетс  полученное значение распределе ни  длительностей импульсных сигналов соответствующих различным прот женнос т м дефектов на контролируемом изделии . Предлагав1«ий анализатор по сравнению с известным упрои н, благодар  применению вместо блока усреднени  интервалов, блока квантовани  по уров ню и времени и одного дешифратора следующих элементов: двух элементов НЕ, двух элементов И-НЕ, Д-триггера и блока счетчиков числа событий. Таким образом, предлагаемый ана лизатор обеспечивает возможность целенаправленного воздействи  на технологический процесс с целью устранени  причин дефектообразовани  за счет.статистической .обработки информаи кИ ) поступающей .от дефектоскопическо аппаратуры. Формула изобретени  Анализатор функций распределени  длительностей импульсных сигналов, содержащий источник посто нного напр жени , генератор тактовых импульсов , дешифратор, блок элементов И, счетчик длительностей импульсных сигналов, группа выходов которого подключена к первой группе входов блока элементов И,, отличающийс   тем, что, с целью упроцени  анализатора , он содержит блок счефчиков числа событий, элемент НЕ Д-тр ггер, элементы И-НБ м дифференцируюцМЙ блок, выход которого соединен о нулваш4 входом счетчика длительностей импульсных сигналов, а вход соединен с вхопом первого элеиеита НЕ м к хс ом первого элемента И-ЯБг тэдж й вхсд которого соединен со счвт1мм- входом счетчика длительностей тту ьсных сигналов и выхсщом второго элемента И-НЕ, первый вкол KOTOfofo соединен с .вторым входом первого элемента И-НЕ, выходом генератс а тактовшк импульсов и входом втсчх го элемента УЙК таищ которого подключен к счетному входу Д-триггера, единнчтлй вход  вл етс  входом .аиалнзатсфа, вход Д соединен с выходом низкого потенциала источника поото нного напр жени , а выход Д-трнггера подключен к второму входу элемента И-НЕ, при этом выход первого элемента НЕ подключен к второй группе входов блока элементов И, выходы через д онфратор соединены соответственно с входами бло ка счетчиков числа событнй.. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР 516046, КЛ.Ч 06 Р 15/36, 1976. The generator 8 clock pulses generates a sequence of positive n "pulses, the frequency of which is proportional to the speed of the technological process of production of products. If there are no defects in production of shh.products, then low potential does not arrive at input 2 of installation one of trigger 1, and at each clock pulse at its maximum a low potential remains, since its input 3 is constantly connected to a low potential power source. At the output of the NANDB element, due to the mismatch of the input positive pulses, a positive potential is established, and at each clock pulse, a negative impulse appears at the output of the NAND 7 element, the trailing edge of which through differentiations. The block 10 sets the counter 9 to the zero state. . The negative impulse from the output of the NAND 7 element is inverted by the NOT 11 element and arrives at the forward inputs of the AND 12 block. Since at this time the output of the counter 9 has zero information, the elements of the block 12 do not open, and at the outputs of the decoder 1 3 signal. The counters of block 14, the number of events, continue to be in their initial states. The occurrence of inlet 2 of the trigger 1 of the low potential, indicating the presence of a defect on the monitored product, sets a high potential at the output of the trigger, which is applied to one of the inputs of the AND-NOT element, and when each positive clock pulse appears at the second input, a negative signal appears at the output of this element. Each clock pulse is then read by a counter 9, which fixes the extent of the defective area of the monitored product. Negative signal at the output element. AND-NOT 7 cannot appear, since with each clock pulse a negative pulse from the output of the element AND-NOT 6 blocks one of the inputs of the element AND-NOT 7. As soon as the information about the presence of a defect on the controlled product disappears, the back of the next clock the pulse through the element 5, the trigger 1 is transferred to the zero state, and the subsequent clock pulse will overwrite the accumulated, counter 9 information in the form of a single event on one of the counters of the block 14. the number of events. Thus, the digital field of the counter block 14 is set, and the obtained value of the distribution of the durations of the pulse signals corresponding to different lengths of defects on the monitored product is displayed. The proposed analyzer compared to the known simpler, by using instead of averaging intervals, a quantization unit over level and time and one decoder of the following elements: two NOT elements, two NAND, D-flip-flops and an event counters block. Thus, the proposed analyzer makes it possible to purposefully influence the technological process in order to eliminate the causes of defect formation due to the statistical processing of information received from the defectoscopic equipment. Claims Analyzer of functions of distribution of durations of pulse signals, containing a source of constant voltage, clock generator, decoder, block of elements And, counter of durations of pulse signals, the group of outputs of which is connected to the first group of inputs of the block of elements And, characterized in that the goal is to evaluate the analyzer, it contains a block of counters of the number of events, the element is NOT D-rgr, the elements of the I-NB and the differentiated MU block, the output of which is connected to the null-4 input by the impulse duration counter pulses, and the input is connected to the input of the first element NE of the first element of the I-YaBg, which is connected to the sch1t1mm input of the duration counter of the main signals and the output of the second element AND-NOT, the first input of the KOTOfofo is connected to the second input of the first NAND element, the output of the pulse generator and the input of the UIC element of which the trap is connected to the D-flip-flop counting input, the single input is the AAL input, the D input is connected to the low potential source of the DC voltage source, and the output Dt The ngger is connected to the second input of the NAND element, while the output of the first element is NOT connected to the second group of inputs of the AND block, the outputs are connected to the inputs of the block of the event number counters respectively. Sources of information taken into account during the examination 1 .Avtor's certificate of the USSR 516046, KL.CH 06 R 15/36, 1976. 2.Авторское свидетельство СССР 486632, кл. q 06 Р 15/36, 1975 (прототнп).2. Authors certificate of the USSR 486632, cl. q 06 P 15/36, 1975 (prototnp).
SU782668653A 1978-09-29 1978-09-29 Analyzer of distribution functions of pulse signal durations SU807343A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782668653A SU807343A1 (en) 1978-09-29 1978-09-29 Analyzer of distribution functions of pulse signal durations

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782668653A SU807343A1 (en) 1978-09-29 1978-09-29 Analyzer of distribution functions of pulse signal durations

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU807343A1 true SU807343A1 (en) 1981-02-23

Family

ID=20787113

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782668653A SU807343A1 (en) 1978-09-29 1978-09-29 Analyzer of distribution functions of pulse signal durations

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU807343A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3203244B1 (en) Trigger on final occurrence
EP1306998A3 (en) Method and apparatus for performing eye diagram measurements
SU807343A1 (en) Analyzer of distribution functions of pulse signal durations
CN104316775B (en) Pulse signal cycle and dutycycle method for continuous measuring
US8255188B2 (en) Fast low frequency jitter rejection methodology
SU849478A1 (en) Pulse discriminator
SU838554A1 (en) Digital indicator unit to flaw detector
SU1439676A1 (en) Device for inspecting magnetic disks
SU748290A1 (en) Device for measuring statistical characteristics of switching-over elements
Ekstedt et al. The jittermeter: a variability calculator for use in single fiber electromyography
SU1469443A1 (en) Apparatus for acoustic testing of articles
SU647642A1 (en) Time interval digital meter
SU892410A1 (en) Digital meter of time-frequency parameters of electric signals
SU661398A1 (en) Phase shift meter
SU982010A1 (en) Device for checking identity of random stationary relay processes
US3173089A (en) System for pulse amplitude measurement
SU963082A1 (en) Information displaying device
SU599268A1 (en) Meter of random pulse train peak values
SU1760467A1 (en) Device for checking current pulses of microwave instruments
SU529431A1 (en) S / N ratio meter
RU6922U1 (en) DEVICE FOR ACCOUNT OF TIME INTERVALS
SU1666963A1 (en) Signal spectrum analyzer
SU498626A1 (en) Correlometer
SU516046A1 (en) Statistical time interval analyzer
SU1334157A1 (en) Adaptive statistical analyzer