SU800699A1 - Устройство дл измерени температуры - Google Patents

Устройство дл измерени температуры Download PDF

Info

Publication number
SU800699A1
SU800699A1 SU782689027A SU2689027A SU800699A1 SU 800699 A1 SU800699 A1 SU 800699A1 SU 782689027 A SU782689027 A SU 782689027A SU 2689027 A SU2689027 A SU 2689027A SU 800699 A1 SU800699 A1 SU 800699A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
arsenide
temperature measurement
halide
length
temperature
Prior art date
Application number
SU782689027A
Other languages
English (en)
Inventor
Хабибулла Ибрагимович Амирханов
Радиф Исхакович Баширов
Шапиуллах Гаджиосманович Сулейманов
Original Assignee
Институт Физики Дагестанского Филиалаан Cccp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Дагестанского Филиалаан Cccp filed Critical Институт Физики Дагестанского Филиалаан Cccp
Priority to SU782689027A priority Critical patent/SU800699A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU800699A1 publication Critical patent/SU800699A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

Изобретение относитс  к температурным измерени м. Изрестно устройство дл  измерени  темпеуатуры, содержащее полупроводниковый диод, включенный в обратном направлении, источник посто нного то ка и измерительный прибор l. Недостатками этого устройства  вл ютс  низка  чувствительность, невозможность получени  частотного выходного сигнала без дополнительных преобразователей. Наиболее близким к предлагаемому по технической .сущности  вл етс  уст ройство дл  измерени  температуры, содержащее чувствительный элемент из арсенида гали  с област ми различной проводимости, подключенный через наг рузочный резистор к источнику тока. Чувствительный элемент устройства вы полнен в виде пластинчатого кристалла из арсенида гали  с р -р-п+ переходом , содержит в базе высокоомный перекомпенсированный слой и имеет 5 - образную вольтамперную характери тику при пр мом смещении 2 . Недостатками известного устройств  вл ютс  низка  точность измерен1   температуры, невозможность получени  выходного частотного сигнала без дополнительных преобразователей, узкий диапазон измер емых температур. Цель изобретени  - повышение точности измерени  температуры и получение выходного частотного сигнала, а также расширение диапазона рабочих температур. Поставленна  цель достигаетс  тем, что чувствительный элемент выполнен в виде р -р-п структуры из высокоомного арсенида гали  электронного типа, причем длина п - области не менее чем в 2-3 раза превышает длину диффузионного смещени  неосновных ноqитeлeй . На чертеже изображена схема устройства дл  измерени  температуры. Устройство содержит чувствительный элемент 1, состо щий из низкоомного сло  2 п+-типа проводимости, высокоомного сло  3 п-типа проводиморти, низкоомного сло  4 -типа проводимости , контакты 5, нагрузочное сопротивление 6, источник 7 посто нного тока и частотомер 8. Чувствительный элемент 1 изготовлен из пластинки высокоомного арсенида гали  п-типа проводимости с удельным сопротивлением / Ю Ом-см и легирован примес ми , которые дают глубокие энергегические уровни, например, хромом. На одной поверхности пластинки диффузией донорной примеси создан слой 2, п -типа проводимости, а на противоположной поверхности диффузией акцепторнфй примеси создан слой 4 р -типа, на р и п части пластинки нанесены омические контакты 5. К омическим контактам присоединены выводы, к которым подключен источник 7 питани  И нагрузочное сопротивление б.
Устройство работает следующим образом ,
Вольтамиерна  характеристика структуры при смещении ее в пр мом направлении имеет участок с отрицательным сопротивлением, вызванный модул цией проводимости п-сло . На этом участке генерируютс  колебани  тока. На участке отрицательного сопротивлени  структура имеет индуктивный характер реактивности . Индуктивность ее обусловлена запаздыванием по фазе тока относительно напр жени . Эта индуктивность совместно с емкостью монтс1жа устройства образует колебательный контур, вследствии чего в цепи структуры возмикажт гармонические колебани , частота которых зависит от температуры окружающей средал. Форма колебаний синусоидальна  или близка к синусоидальной . Частота генерируемых колебаний измер етс  частотомером 8. При увеличении температуры частота колебаний возрастает. Например, дл  структуры размерами 3 х 3 х 0,03-0,08 мм, с толщиной п-сло  0,03-0,08 мм, с 8 тощадью перехода- мм , при изменении температуры от 30 до частота увеличиваетс  от 8 до 200кГц. Максимальна  чувствительность устройства 1,5 кГц/грг1Д. Интервал измер емых температур от -50 до +150 С. Верхн   граница измер емых температур {+150°С) определ етс  температурой плавлени  металлического сплава, используемого дл  создани  р -п-перехода , а нижн   граница определ етс  тем, что при низких температурах возникают другие физические  влени , кочорые затушевывают зффект генерации колебаний. Рабочие тока 10 -10 А, напр жение источника тока 5-50 В.
Толщина п-сло  должна превышать длину диффузионного смещени  неосновных носителей не менее чем в 2-3 раза , только при зтом условии происходит сильна  модул ци  проводимости G п-сло , котора  необходима дл  образовани  участка с отрицательным сопротивле нием.
Предлагаемое устройство дл  измерени  температуры  вл етс  достаточно простым, имеет высокую точность измерени , обеспечивает непосредственное преобразование температуры в частотный сигнал и может найти применение в различных отрасл х промышленности , где точность измерени  температуры должна сочетатьс  с ннзкой стоимостью устройства, простотой его схемы и высокой надежностью.

Claims (2)

  1. Формула изобретени 
    Устройство дл  измерени  температуры , содержащее чувствительный злемент из арсенида гали  с област ми различной проводимости, подключенный через нагрузочный резистор к источнику тока, отличающеес  .тем, что, с целью повьЕпени  точности измерени  температуры н получени  выходного частотного сигнгша, чувствительный элемент выполнен в виде р-n-n структуры из высокоомного арсенида гали  электронного типа, причем длина п-области не менее чем в 2-3 раза превышает длину диффузионного смещени  неосновных носителей.
    Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе
    1,Авторское свидетельство СССР № 233251, кл, G 01 К 7/22, 1967,
  2. 2.Авторское свидетельство СССР W 476462, кл. G 01 К 7/22, 25.09.74 (прототип).
    5
SU782689027A 1978-10-30 1978-10-30 Устройство дл измерени температуры SU800699A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782689027A SU800699A1 (ru) 1978-10-30 1978-10-30 Устройство дл измерени температуры

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782689027A SU800699A1 (ru) 1978-10-30 1978-10-30 Устройство дл измерени температуры

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU800699A1 true SU800699A1 (ru) 1981-01-30

Family

ID=20795412

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782689027A SU800699A1 (ru) 1978-10-30 1978-10-30 Устройство дл измерени температуры

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU800699A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3440883A (en) Electronic semiconductor thermometer
RU167464U1 (ru) Интегральный чувствительный элемент преобразователя давления с датчиком температуры
US3566690A (en) Thermal delay semiconductor thermometer
SU800699A1 (ru) Устройство дл измерени температуры
US4830514A (en) Temperature measuring arrangement
Neugroschel Minority-carrier diffusion coefficients and mobilities in silicon
US3142987A (en) Semiconductor thermometer
EP0001160A2 (en) Planar PNPN semiconductor device of circular geometry and magnetic field sensor using such a device
US3466448A (en) Double injection photodetector having n+-p-p+
Lucovsky et al. Lateral effects in high-speed photodiodes
RU2790304C1 (ru) Пролетный диод с переменной инжекцией для генерации и детектирования терагерцового излучения
RU121960U1 (ru) Координатно-чувствительный фотоприемник с комбинированным фотоэффектом
SU1307357A1 (ru) Устройство дл измерени посто нного тока в цепи с полупроводниковым диодом
KR890007612Y1 (ko) 반도체 소자의 캐패시턴스 측정회로
SU1198390A2 (ru) Датчик температуры
Vikulin et al. Frequency-output sensors-transducers based on unijunction transistors
RU1452410C (ru) Магниточувствительный прибор
SU459693A2 (ru) Полупроводниковый преобразователь механических величин
US3374433A (en) Microwave power detector utilizing diffusion of hot carriers in a semiconductor
Mandal et al. GaAs/Ge and silicon solar cell capacitance measurement using triangular wave method
SU1196699A1 (ru) Устройство дл измерени температуры перехода транзистора
SU640142A1 (ru) Устройство дл измерени температуры
Misiakos et al. Lifetime and diffusivity determination from frequency-domain transient analysis
SU979923A1 (ru) Преобразователь механического давлени в электрический сигнал
SU476462A1 (ru) Датчик температуры