SU79240A1 - Устройство дл исследовани микроструктуры образца при механических испытани х - Google Patents

Устройство дл исследовани микроструктуры образца при механических испытани х

Info

Publication number
SU79240A1
SU79240A1 SU391704A SU391704A SU79240A1 SU 79240 A1 SU79240 A1 SU 79240A1 SU 391704 A SU391704 A SU 391704A SU 391704 A SU391704 A SU 391704A SU 79240 A1 SU79240 A1 SU 79240A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microstructure
examining
mechanical testing
sample
sample during
Prior art date
Application number
SU391704A
Other languages
English (en)
Inventor
В.П. Лебедев
Original Assignee
В.П. Лебедев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.П. Лебедев filed Critical В.П. Лебедев
Priority to SU391704A priority Critical patent/SU79240A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU79240A1 publication Critical patent/SU79240A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

Обычно исследование микроструктуры и процесс механических испытаний образцов производ тс  раздельно .
Предлагаемое устройство дает возможность производить наблюдение за микроструктурой образцов в процессе их механических испытаний при различных внешних уело-; ВИЯХ, т. е. ири различных давлени х и температурах. Шлиф изготовл етс  непосредственно на испытуемом образце. Наблюдение за структурой образца производитс  посред-; ством микроскопа, а регистраци  посредством фотографировани  на кинопленку.
На схематическом чертеже представлен общий вид устройства.
Испытуемый образец } зажимаетс  клиновидными плашками в верхнем и нижнем захватах 2 н 3 устройства, которые закрепл ютс  в захватах разрывной машины.
Образец / с предварительно изготовленным на нем шлифом 4 устанавливаетс  против смотрового окна микроскопа. Затем корпус прибора герметически соедин етс  с крышками верхн,его и нижнего захватов зажимными болтами 6.
15 Сип
По окончании сборки устройства производитс  при помощи регулировочного механизма 8 установка на фокус микроскопа 7.
В случае проведени  во врем  деформировани  образца киносъемки окул р микроскопа присоедин етс  к киносъемочному аппарату 9.
При исследовании микрострукту-, ры образца в различных внешних услови х через штуцер 10 производитс  заполнение внутреннего объема инертным газом, создаетс  давление или вакуум, а при помощи н-агревател  ll или системы охлаждени  создаетс  требуема  темп€|ратура.
Температура контролируетс  термопарой 12, расположенной в непосредственной близости к образцу.
После достижени  требуемых условий включаетс  испытательна  машина и производитс  деформаци  образца.
Предмет изобретени 
Устройство дл  исследовани  микроструктуры образца при меха-, нических испытани х в различных внешних услови х с применением микроскопа и фотографировани  на
225
кинопленку, отличающеес  тем, что, с целью наблюдени  за микроструктурой при механических испытани х образца, оно выполнено Б виде снабженной подогревом и вод ным охлаждением дл  регулировки температурного режима и соединенной с насосом дл  создани 
необходимого давлени  герметичной: камеры,, в боковой стенке которой вмонтировано окно дл  наблюдени  и фотографировани  микроструктуры шлифа, изготовленного на боковой поверхности нагружаемого образца , укрепленного в захватах,, установленных в. днищах камеры.
SU391704A 1940-02-08 1940-02-08 Устройство дл исследовани микроструктуры образца при механических испытани х SU79240A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU391704A SU79240A1 (ru) 1940-02-08 1940-02-08 Устройство дл исследовани микроструктуры образца при механических испытани х

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU391704A SU79240A1 (ru) 1940-02-08 1940-02-08 Устройство дл исследовани микроструктуры образца при механических испытани х

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU79240A1 true SU79240A1 (ru) 1948-11-30

Family

ID=48253345

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU391704A SU79240A1 (ru) 1940-02-08 1940-02-08 Устройство дл исследовани микроструктуры образца при механических испытани х

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU79240A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU79240A1 (ru) Устройство дл исследовани микроструктуры образца при механических испытани х
US3483737A (en) Apparatus for measuring interfacial tension
US3748892A (en) High precision dilatometer
CN113049733A (zh) 可用于测试含能材料动态力学性能的试验装置
US2254006A (en) Apparatus for testing well samples
US4408478A (en) Heatable cell for photoacoustic tests
US3599476A (en) Thermal testing apparatus
US3548646A (en) Tensile test apparatus
SU887890A1 (ru) Криостат дл исследовани эффекта пам ти формы
US3195354A (en) Inclined-piston dead-weight pressure gauge
SU1651147A1 (ru) Устройство к разрывной машине дл испытаний материалов
SU127062A1 (ru) Способ дилатометрического исследовани материалов и объемный дилатометр дл осуществлени способа
US3260118A (en) Inclined-piston dead-weight pressure gauge
CN115015216A (zh) 一种成像设备及成像方法
SU1276974A1 (ru) Устройство дл определени параметров воспламенени и горени материалов
RU2551694C1 (ru) Дилатометр
SU115739A1 (ru) Устройство дл исследовани усталостного разрушени стержневых образцов материалов
SU124184A1 (ru) Способ и устройство дл испытаний конструкционных материалов на длительную прочность и ползучесть в высокотемпературных жидкометаллических теплоносител х
RU143328U1 (ru) Установка для испытания материалов на прочность при криогенных температурах
RU186812U1 (ru) Устройство захвата образцов при испытании на растяжение
Ishkova et al. Evaluation of the maximum size of through pores in MFAS-type membranes found by different methods
PL39822B1 (ru)
SU938088A1 (ru) Установка дл испытани материалов при высоких температурах (ее варианты)
JPH04102046A (ja) 光学的測定装置
SU1068870A1 (ru) Приспособление к микроскопу дл закреплени изучаемого объекта