SU767617A1 - Способ измерени глубины отпечатка при микроидентировании - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к способам определени  физико-механических свойств в поверхностных сло х различных твердых тел и предназначено 5 дл  микромеханических испытаний, например на микротвердость.

Известен способ измерени  глубины отпечатка при микроиндентировании, заключающийс  в том, что в испытывав- 10 мый образец непрерывно вдавливают алмазную пирамиду и записывают диаграмму вдавливани  Ы

Однако в этом способе при измерении глубины отпечатка не учитывают j величину упругой податливости системы образец-прибор.

Цель изобретени  - повышение точ- . ности измерений.

Указанна  цель достигаетс  тем, 20 что повторно вдавливают сферический индентор, по его перемещению определ ют величину упругой податливости системы образец-прибор с учетом их упругого сближени  по Герцу,, и по 25 разности перемещени  алмазной пирамиды и величины упругой податлибости системы образец-прибор определ ют истинную глубину отпечатка индентора .30

Способ осуществл етс  следующим образом.

На приборе с непрерьшным вдавливанием индентора записывают диаграмму вдавливани  алмазной пирамиды Виккерса в поверхность испытуемого образца . По этой диаграмме определ ют величину перемещени  h пирамиды при данной нагрузке. Затем записывают диаграмму вдавливани  сферы. Диаметр сферы подбираетс  таким, чтобы вдавливание происходило без образовани  остаточного отпечатка, т. е. чтобы процесс вдавливани  был чисто упругим . При выполнении этого услови  на диаграмме вдавливани  сферы линии нагруЛени  и разгрузки должны совпадать , если этого не происходит, то следует вз ть сферу большего диаметра. По дйс1гра1 ме вдавливани  сферы определ ют перемещение h. сферы при данной нагрузке и по ней с учетом величины упругого сближени  о; сферы с плоскостью образца (подсчитанной по формуле Герца,при той же нагрузке) определ ют упругую податливость системы образец-прибор hQoa. сф, - f

ТЙс Шй1Ш ШуВ11 на от печаткапирамиды равна разности перемещений пирамиды и сферы

hp h - cf,

где hj - истинна  глубина внедрени  пирамиды пол нагрузкой; h - перемещение пирамиды по диаграмме вдавливани ;

сф. перемещение сферы по диаграмме вдавливани ;

сГ упругое сблих(ение сферы с плоскостью образца (по формуле Герца

4Vf(v

где Р - нагрузка на сферу;

ijjju,, Е,Е, - коэффициенты Пуанссона и модули упругости ис;: ;;-:г . . пытуемого материала и материала сферы соот ,v. ,.,.,: ветственно,.

R - радиус вдавливаемой сферы).

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ измерени  глубины отпечатка при микроиндентированйи, заключак ций , с  в том, что в испытываемый образец - непрерывно вдавливают алмазную пира МИДУ и записывают диаграмму вдавливани , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерений, повторно вдавливают сферический индентор, по его перемещению определ ют величину упругой податливости системы образец-прибор с учетом их упругого сближени  по Герцу, и по разности перемещени  алмазной пирамиды и величины упругой 5 -податливости системы образец-прибор определ ют истинную глубину отпечатка индентора.

   Источники информации, 0 прин тые во внимание при экспертизе

   1, Геллер Ю/ А. и др. Материаловедение . М., Металлурги , 1975, с. 179 (прототип).