SU766047A1 - Способ измерени электронной температуры плазмы - Google Patents
Способ измерени электронной температуры плазмы Download PDFInfo
- Publication number
- SU766047A1 SU766047A1 SU792734410A SU2734410A SU766047A1 SU 766047 A1 SU766047 A1 SU 766047A1 SU 792734410 A SU792734410 A SU 792734410A SU 2734410 A SU2734410 A SU 2734410A SU 766047 A1 SU766047 A1 SU 766047A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- probe
- plasma
- voltage
- electron temperature
- conductivity
- Prior art date
Links
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
Description
Изобретение Относитс к способам исспедовани ппаамы, в частности, к способам определени ее термодннам чесхвх параметров. Известен способ определени электро ной температуры плазмы путем расчетно графической обработки вольт-амперной характеристики эпектростаТ1 чёск6го зонда 13.. Его недостаток состоит в сложности как аппаратурного°обеспечени , так и процедуры выделени искомой величины.. Известен способ измерени элект|х нной температуры плазмы путем подачи на погруженный в плазму электрический зонд относительно корпуса anliapaTa перамен т о напр жени частоты, много меньшей плазменной частоты эпектронсе регистрации плаваюпхих потенциалов зонда при двух амплитудах переменного напр жени С23 . Данный способ, наиболее близкий к изобретению, прин т за прототип. Его недостатком вл етс сложность аппаратуры, включающей усилитель посто нного тока с высоким входным сопротивлением и стабильными параметрйми. Пепью изобретени вл етс упргадение аппаратуры измерени ., Поставленна цепь достигаетс тем, что в способе измерени электронной температур плазмы путем подачи на погруженный в ппазму электрический зонд относительно корпуса аппарата переменного напр жени частоты, много меньшей плазменной частоты электронов, при посто нном статическом потенциале зонда измер ют два значени активной прс аод мости промежутка зонд-корпус при двух различных амплитудах напр жени не выше уровн с-татическбЬо потенциала зонда, а электронную температуру определ ют по формуле c, v-,
где TQ - эпектронна температура, е - зар д электрона; - посто нна Еюльцмана
иС|, п- амплитуды переменного напр Ct , жени и соответствующие им
активные проводимости, а также тем, что актшзную проводимость определ ют измерением проводимости потерь параллельного резонансного колебательного контура, включенного между зондом и корпусом, а амплитуду напр жени зонда задают величиной св зи контура с питающим генератором.
Схема устройства дл осуществлени данного изобретени представлена на чер теже. Оно состоит из электрического зонда 1, закрепленного на стенке корпуса 2 с помощью изол тора 3, колебателного контура, состо шего из индуктз-шности 4 и переменной емкости 5, питающе го генератора 6 и регртстратора 7.
Работает .данное устройство следующи образом. После включени аппаратуры подают напр жение на контур генератором 6, подстраивают емкость 5 в резонанс и по прибору 7 контролируют напр жение на контуре, амплитуда которого не должна превосходить уровн ппавагощего потен1шала зонда. Фиксиру : добротность контура 4-5, определ ют проводимость промежутка зонд-корпус. Мен св зь, генератора 6 с контуром вновь наход т проводимость. } ормула дл определени электронной температуры следует из общей зависимости проводимости от этого параметра при условии , что амплитуда переменного напр жени не превосходит уровн плавающего потенциала, который нетрудно оценить снизу в начальных стади х проведени измерений.
Claims (2)
1. Способ измерени электронной температуры плазмы путем подачи на
погруженный в плазму эпоктрический зонд отпосиа-ельно корггуса аппарата переменного напр жени частоты, много меньшей плазменной частоты электронов, отличающийс тем, что, с Целью упрощени измерительной аппаратуры , измер ют при посто нном статическом потенциале зонда два значени активной проводимости промежутка зондкорпус при двух различных амплитудах напр жени , не выше уровн статического потенциала зонда, а электронную температуру определ ют по формуле:
.
и-:
Zk .
где Tg
-электронна температура,
е
-зар д электрона;
к
-посто нна Больамана ,2. амплитуды переменного напр жени и соответствующие им активные проводимости.
2. Способ по п. 1, о т л и ч а ющ и и с тем, что активную проводимость определ ют измерением проводимости потерь параллельного резонансног колебательного контура, включенного между зондом и корпусом, а амплитуду напр жени зонда задают величиной св зи контура с питающим генератором.
Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе
1,Патент США № 4006404 кл. 324-33, 1977.
2.Афонин В. В., Гдалевич Г. Л. .Измерени электронной температуры в
ионосфере методом высокочастотного зонда,-Космические исследовани , 1973 т, 11, № 3, с. 254 (прототиц).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792734410A SU766047A1 (ru) | 1979-03-05 | 1979-03-05 | Способ измерени электронной температуры плазмы |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792734410A SU766047A1 (ru) | 1979-03-05 | 1979-03-05 | Способ измерени электронной температуры плазмы |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU766047A1 true SU766047A1 (ru) | 1980-09-23 |
Family
ID=20814270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792734410A SU766047A1 (ru) | 1979-03-05 | 1979-03-05 | Способ измерени электронной температуры плазмы |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU766047A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2502063C1 (ru) * | 2012-07-23 | 2013-12-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" | Способ измерения электронной температуры термоядерной плазмы |
-
1979
- 1979-03-05 SU SU792734410A patent/SU766047A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2502063C1 (ru) * | 2012-07-23 | 2013-12-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" | Способ измерения электронной температуры термоядерной плазмы |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Lamb | Measurements of the dielectric properties of ice | |
SU766047A1 (ru) | Способ измерени электронной температуры плазмы | |
JPS60190873A (ja) | 電磁式導電率計 | |
RU2420749C1 (ru) | Устройство для бесконтактного измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов | |
EP3292559B1 (en) | Method, measurement probe and measurement system for determining plasma characteristics | |
KR100594673B1 (ko) | 플라즈마 영역내의 전자 에너지 분포 측정 방법 및 그측정 장치 | |
Jeon et al. | Multichannel rf-compensated Langmuir probe array driven by a single bias supply | |
JP2767429B2 (ja) | 高周波プラズマ電子温度測定方法 | |
van der Pol | VI. The production and measurement of short continuous electromagnetic waves | |
SU868662A1 (ru) | Способ измерени магнитной проницаемости жидких ферромагнитных материалов | |
US3355661A (en) | Apparatus for measuring the conductivity of electrolyte | |
SU714309A1 (ru) | Устройство дл измерени электропроводности поверхностных вод | |
RU2499234C1 (ru) | Способ контроля добротности пьезорезонаторов и устройство для его осуществления | |
SU1001241A1 (ru) | Способ измерени критических магнитных полей в сверхпроводниках | |
SU1265653A1 (ru) | Способ измерени степени электризуемости объектов | |
SU885872A1 (ru) | Способ измерени удельной электрической проводимости немагнитных металлов | |
SU760893A1 (ru) | Способ измерения электронной температуры ионосферной плазмы | |
KR20040106107A (ko) | 비접촉 방식의 시트저항 측정기 | |
SU676915A1 (ru) | Устройство дл измерени электропроводности поверхностных вод | |
SU368297A1 (ru) | Способ измерения максимального значения энергии магнитного поля катушек индуктивности | |
SU798630A1 (ru) | Устройство дл измерени тангенсауглА пОТЕРь КОНдЕНСАТОРОВ | |
SU1033851A1 (ru) | Способ измерени удельной электрической проводимости немагнитных объектов и устройство дл его реализации | |
SU1619008A1 (ru) | Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе | |
SU1531031A1 (ru) | Способ измерени поверхностной плотности зар да электрета | |
SU121252A1 (ru) | Виброметр |