SU750289A1 - Анализатор распределени ркости - Google Patents

Description

.(5) АНАЛИЗАТОР РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЯРКОСТИ

Изобретение относитс  к области оптического приборостроени  и может быть использовано в исследовани х оптико-электронных приборов различного назначени , в частности дл  задач ориентации навигации. Известно устройство дл  измерени  распределени   ркости, которое содер жит р д чувствительных к свету элементов-фоторезисторов l . Однако пр размерах чувствительных элементов приемников 0,03x0,09 мм и анализиру емого пол  2 потребуетс  число эле ментов приемника не менее Ю, что усложн ет устройство ,требук1Ш1её соответствующего объема машинной обработ информации, и потребует больших мате риальных затрат. Известно устройство,  вл ющеес  наиболее близким к предлагаемому, г предназначенное дл  измерени   ркости на участках разных размеров с использованием пространственного сканировани , содержащее фотометрический микроскоп, ФЭУ, двухкоординат ный механизм, блок регулировки чувст вительности ФЭЗ, набор окул ров с различной апертурой 2 . Однако в целом р де случаев дль анализа распределени   ркости прот женных объектов допускаетс  применение анализаторов с линейным разрешением не лучше 30 мкм. Поэтому использование дл  этих целейустройства , прин того в качестве прототипа, снабженного двухкоординатным механизмом , перемещающим микроскоп с апертуриой диафрагмой и приемником излучени  в двух взаимно перпендикул рных направлени х,  вл етс  неоправданно сложным и дорогосто щим. Целью насто щего изопретенн   вл етс  упрощение конструкции анализатора распределени   ркости. Указанна  цель достигаетс  тем, что в анализаторе распределени   ркости , содержащем координатный механизм , проекционную систему, неподвижную полевую диафрагму,приемник излучени  и систему регистрации сигналов, установлена сканирующа  диафрагма и светомодул тор, в сканирующейдиафрагме выполнены две взаимно ортогональные щели, длина каждой из которых равна удвоенной длине стороны квадратного отверсти  полевой неподвижной диафрагмы, сориентированной так, что стороны ее отверсти  параллельны щел м сканирующей диафрагмы , котора  снабжена шаговым приводом с шагом, равным половине ширины щели, и установлена с возможностью перемещени  перпендикул рно к диагонали квадратного отверсти  полевой неподвижной диафрагмы, совпадающай с биссектрисой угла между щел ми.

На фиг. 1 представлена блок-схема анализатора распределени   ркости. На фиг. 2 представлено взаимное расположение щелей сканирующей диафрагмы и полевой неподвижной диафрагмы .

Анализатор распределени   ркости содержит полевую неподвижную диафрагму 1, сканирующую диафрагму 2, светомодул тор 3, конденсатор 4, приемник излучени  5, усилитель-микровольтметр 6, осциллограф 7, шаговый привод 8, привод 9 модул тора, генератор 10 управлени  шаговым приводом .

Световой поток проходит через исследуемый объектив 11, перед фокальной плоскостью которого установлена неподвижна  полева  диафрагма 1 с квадратным отверстием. За ней в фокальной плоскости помещена сканирующа  диафрагма 2 с двум  щел ми, перемещаема  с помощью шагового привода 8. Модул тор 3 приводитс  во вращение приводом 9. Модулированный световой поток через проекционную систему-конденсатор 4 идет на приемник излучени  5. Сигнал переменного напр жени  с нагрузки, велчина которого пропорциональна проход щему через одну из щелей 2 потоку , поступает на стандартный селективный усилитель-микровольтметр б, например Вб-4, и далее на шлейфный осциллограф 7 дл  записи уровн  сигналов во времени на ленте. Туда же завод тс  импульсы напр жени  от генератора 10 управлени  шаговьам приводом , которые св зывают величину сигнала с движением щелей сканирующей диафрагмы в выбранной систем координат. В процессе сканирующего движени  в поле зрени  исследуемого объектива, ограниченное квадратным отверстием полевой диафрагмы входит одна из щелей сканирующей диафрагмы, перемещающа с  параллельно верхней ближайшей кромке диафрагмы (фиг.2). После ее выхода из пол  в пределы квадратного отверсти  войдет втора  щель сканирунвдей диафрагмы , но под углом 90 к первой щели, котора  будет перемещатьс  в поле параллельно нижней ближайшей кромке квадратного отверсти  (фиг.2 Такое движение щелей обеспечивает последовательный во времени анализ пространственного распределени   ркости .

Таким образом, в силу простоты устройства, автоматизации измерение анализатор позвол ет, использу  лишь однокоординатный шаговый механизм, за короткое врем  исследователь проJ странственное распределение  ркости в. фокальной плоскости исследуемого объектива при засветке входного зрачка (в том числе и при наличии светозащитной бленды) излучением от прот женного объекта. Дл  удобства использовани  результатов измерений анализатор совместно с объективом предварительно калибруетс  по эталону  ркости с целью получени  зависимости, величины выходного сигнала от  ркости.

С целью повышени  точности измерений сканирование осуществл етс  по нескольким направлени м, что достигаетс  разворотом исследуемого объектива вместе с анализатором вокруг

оси оптической системы на фиксированные углы.

Claims (2)

1.Анализатор распределени   ркости, содержащий координатный механизм , проекционную систему, неподвижную полевую диафрагму, приемник излучени  и систему регистрации сигналов , отличающийс  тем,

rj что, с целью упрощени  конструкции анализатора и сокращени  времени анализа , в нем установлены сканирующа  диафрагма и светомодул тор, в сканирующей диафрагма выполнены две

взаимно ортогональные щели. Длина каждой из которых равна удвоенной длине стороны квадратного отверсти  полевой диафрагмы, ориентированной так, что стороны ее отверсти  параллельны щел м сканирующей диафрагмы,

0 котора  снабжена шаговым приводом с шагом, не превышающим половины ширины щелей в направлении с{санировани , и установлена с возможностью перемещени  препендикул рно к диагонали квадратного отверсти  полевой диафрагмы, параллельной биссектрисе угла между щел ми.

2.Анализатор по п.1, о т л ичающийс  тем, что, с целью

Q автоматизации измерений, система регистрации содержит селективный микровольтметр, вход которого под ключен к выходу приемника, а выход соединен с одним из гальванометров шлейфного осциллографа, другой гальванометр осциллографа соединен с выходом генератора управл ющих импульсов , который соединен также со входом шагового привода.

Источники информации,

0 прин тые во внимание при экспертизе

1. Патент Японии № 47-51269, кл. G 01 I .

Фотометрическа  микроскопна  система фирмы Гамма Сайентифик,

5 1976, т.47, № 4, с.528, т.п.58.