SU711442A2 - Device for determining refraction index gradients - Google Patents
Device for determining refraction index gradients Download PDFInfo
- Publication number
- SU711442A2 SU711442A2 SU772542384A SU2542384A SU711442A2 SU 711442 A2 SU711442 A2 SU 711442A2 SU 772542384 A SU772542384 A SU 772542384A SU 2542384 A SU2542384 A SU 2542384A SU 711442 A2 SU711442 A2 SU 711442A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interferometer
- refraction index
- index gradients
- determining refraction
- beams
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к оптико-интерференционным устройствам, использу мым дл исследовани материалов, прозрачных неоднородностей в аэро- и гидр механике, оптике атмосферы, в оптическом приборостроении и т.д. Из основного авт. св. № 575474 известно устройство дл измерени градиентов показател преломлени , содержащее источник света, двухлучевой интерферометр с числом отражений лучей одинаковой четности, блок регистрации ширины интерференционных полос, выпол ненный в виде диссектора с частотомером , и узел управлени , синхронизирующий работу указанного блока регистрации П. Целью изобретени вл етс повьпиение чувствительности. Достигаетс это тем, что интерферометр выполнен по обратно-круговой схеме с опинпковым оптическим путем дл обоих лучрй. На чертеже показана блок-схема описываемого устройства. Предлагаемое устройство содержит источник света 1 (ОКГ), двухлучевой интерферометр по обратно-круговой схеме, образованный призмами 2. и 3. В одном из плеч интерферометра установлена кювета с исследуемой средой 4. На выходе интерферометра установлена схрма измерени ширины интерференционных полос, состо ща из диссектора 5, частотомера 6 и узла управлени 7. Устройство работает следующим образом . Пучок света от источника 1 попадает в интерферометр по обратно-круговой схеме, образованной призмами 2 и 3. При этом через иссподуем то сролу световые пучки проход т один и тот жо путь (через одни и те же участ си) в противоположных направлени х, и при наличии в этой среде грапнентов показател прелокшонй отклон ютс , п{. углы отклонени световых пучков импют противопопожныо .знаки, в то , какThe invention relates to optical interference devices used to study materials, transparent inhomogeneities in aerial and hydraulic mechanics, atmospheric optics, optical instrumentation, etc. From the main auth. St. No. 575474, a device for measuring refractive index gradients is known, which contains a light source, a two-beam interferometer with the number of reflections of rays of the same parity, a block for detecting the width of interference fringes, made in the form of a dissector with a frequency meter, and a control unit that synchronizes the operation of the indicated recording unit P. is the degree of sensitivity. This is achieved by the fact that the interferometer is made in a reverse-circular pattern with an optical optical path for both beams. The drawing shows a block diagram of the described device. The proposed device contains a light source 1 (AGR), a double-beam interferometer in a reverse-circular pattern formed by prisms 2. and 3. A cuvette with the test medium 4 is installed in one of the arms of the interferometer. At the output of the interferometer, a width measurement of the interference fringes is installed, consisting of dissector 5, frequency meter 6 and control unit 7. The device operates as follows. A beam of light from source 1 enters the interferometer in a reverse-circular pattern formed by prisms 2 and 3. At the same time, the light beams go through the same path (through the same parts of the beam) in opposite directions, and in the presence of graphents of the prelocation index in this medium, n {. the deflection angles of the light beams are impeditiously opposed.
nj.y р.-зспространении flyieft в одном иапрашюнии знаки одинаковы. В резупьтпто на выходе интерферометра изменение угла между интерферирующими пучками, и, следовательно, ширина интерференционных полос будет в два раза больше, чем в прототипе, при прочих равных успоnj.y p.-spread flyieft in one and the same signs are the same. At the output of the interferometer, the change in the angle between the interfering beams, and, therefore, the width of the interference fringes will be twice as large as in the prototype, all other things being equal
ВИЯХ.Viyah.
Схема измерени ширины интерференционных полос, состо ша из диссектора 5, частотомера 6 и усша управлени 7 измер ет ширину полос, по которой легко вычислить искомые градиенты показател преломлени .The scheme for measuring the width of interference fringes, consisting of a dissector 5, a frequency meter 6, and a control us 7, measures the width of the bands, from which it is easy to calculate the desired gradients of the refractive index.
Таким образом, данное устройство позвол ет в два раза повысить чувствительность , поскольку оба интерферирую7114424Thus, this device allows a twofold increase in sensitivity, since both interfere 7114424
ши.х луча отклон ютс в исследуемой среде в противоположных направлени х.the shi.x rays deviate in the test medium in opposite directions.
5 Формул5 Formulas
зобретениacquisitions
Устройство дл измерени градиенто показател преломлени по авт. свид. № 575474, отличающеес тем, что, с целью повышени чувствительности , интерферометр выполнен по обратно-круговой схеме с одинаковым оптическим путем дл обоих лучей.A device for measuring the gradient index of refraction on the author. swith No. 575474, characterized in that, in order to increase the sensitivity, the interferometer is made in a reverse-circular pattern with the same optical path for both beams.
Источники информации, прин тые во внимание при экспертизеSources of information taken into account in the examination
1. Авторское свидетельство СССР № 575474, кл. G 01 В 9/02, 1976 (прототип).1. USSR author's certificate No. 575474, cl. G 01 B 9/02, 1976 (prototype).
чh
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772542384A SU711442A2 (en) | 1977-11-09 | 1977-11-09 | Device for determining refraction index gradients |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772542384A SU711442A2 (en) | 1977-11-09 | 1977-11-09 | Device for determining refraction index gradients |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU575474A Addition SU120494A1 (en) | 1955-10-28 | 1955-10-28 | The method of obtaining linoleum and linkrusta |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU711442A2 true SU711442A2 (en) | 1980-01-25 |
Family
ID=20732510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772542384A SU711442A2 (en) | 1977-11-09 | 1977-11-09 | Device for determining refraction index gradients |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU711442A2 (en) |
-
1977
- 1977-11-09 SU SU772542384A patent/SU711442A2/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4784490A (en) | High thermal stability plane mirror interferometer | |
US3680963A (en) | Apparatus for measuring changes in the optical refractive index of fluids | |
De Nicola et al. | Reflective grating interferometer for measuring the refractive index of transparent materials | |
RU155509U1 (en) | LASER-INTERFERENCE HYDROPHONE WITH THERMOSTABILIZATION SYSTEM | |
SU1152533A3 (en) | Scanning interferometer (versions) | |
CN104792269A (en) | Calculation method for optical fiber end face height insensitive to linear phase-shift errors | |
SU711442A2 (en) | Device for determining refraction index gradients | |
US4171915A (en) | Laser interferometer probe | |
US3232165A (en) | Interferometer having plural slit source | |
RU2554596C1 (en) | Ballistic gravity meter | |
US2846919A (en) | Interferometer | |
US7161684B2 (en) | Apparatus for optical system coherence testing | |
RU2814064C1 (en) | Transparent sea water gauge | |
RU2769885C1 (en) | Device for deformation measuring | |
SU987379A1 (en) | Intereferometer for investigating transparent non-uniformitie | |
SU1397718A1 (en) | Interferometer for measuring linear quantities and index of refraction | |
SU712654A1 (en) | Interferometer | |
GB1564781A (en) | Distance measuring devices | |
SU823846A2 (en) | Two-beam interferometer for measuring linear displasements | |
SU645021A1 (en) | Optical micrometer of nonius matching | |
SU120350A1 (en) | The method of calibration of ultrasonic probes | |
SU1464046A1 (en) | Device for measuring amplitude of angular oscillations | |
Theocaris | Diffused light interferometry for measurement of isopachics | |
SU958922A1 (en) | Device for measuring non-uniformity of double refraction in crystals | |
SU765648A1 (en) | Contact-free interferometer |