SU711442A2 - Device for determining refraction index gradients - Google Patents

Device for determining refraction index gradients Download PDF

Info

Publication number
SU711442A2
SU711442A2 SU772542384A SU2542384A SU711442A2 SU 711442 A2 SU711442 A2 SU 711442A2 SU 772542384 A SU772542384 A SU 772542384A SU 2542384 A SU2542384 A SU 2542384A SU 711442 A2 SU711442 A2 SU 711442A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
refraction index
index gradients
determining refraction
beams
Prior art date
Application number
SU772542384A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Сергей Васильевич Захарченко
Сергей Михайлович Коломиец
Original Assignee
Институт Экспериментальной Метеорологии
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Экспериментальной Метеорологии filed Critical Институт Экспериментальной Метеорологии
Priority to SU772542384A priority Critical patent/SU711442A2/en
Application granted granted Critical
Publication of SU711442A2 publication Critical patent/SU711442A2/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к оптико-интерференционным устройствам, использу мым дл  исследовани  материалов, прозрачных неоднородностей в аэро- и гидр механике, оптике атмосферы, в оптическом приборостроении и т.д. Из основного авт. св. № 575474 известно устройство дл  измерени  градиентов показател  преломлени , содержащее источник света, двухлучевой интерферометр с числом отражений лучей одинаковой четности, блок регистрации ширины интерференционных полос, выпол ненный в виде диссектора с частотомером , и узел управлени , синхронизирующий работу указанного блока регистрации П. Целью изобретени   вл етс  повьпиение чувствительности. Достигаетс  это тем, что интерферометр выполнен по обратно-круговой схеме с опинпковым оптическим путем дл  обоих лучрй. На чертеже показана блок-схема описываемого устройства. Предлагаемое устройство содержит источник света 1 (ОКГ), двухлучевой интерферометр по обратно-круговой схеме, образованный призмами 2. и 3. В одном из плеч интерферометра установлена кювета с исследуемой средой 4. На выходе интерферометра установлена схрма измерени  ширины интерференционных полос, состо ща  из диссектора 5, частотомера 6 и узла управлени  7. Устройство работает следующим образом . Пучок света от источника 1 попадает в интерферометр по обратно-круговой схеме, образованной призмами 2 и 3. При этом через иссподуем то сролу световые пучки проход т один и тот жо путь (через одни и те же участ си) в противоположных направлени х, и при наличии в этой среде грапнентов показател  прелокшонй  отклон ютс , п{. углы отклонени  световых пучков импют противопопожныо .знаки, в то , какThe invention relates to optical interference devices used to study materials, transparent inhomogeneities in aerial and hydraulic mechanics, atmospheric optics, optical instrumentation, etc. From the main auth. St. No. 575474, a device for measuring refractive index gradients is known, which contains a light source, a two-beam interferometer with the number of reflections of rays of the same parity, a block for detecting the width of interference fringes, made in the form of a dissector with a frequency meter, and a control unit that synchronizes the operation of the indicated recording unit P. is the degree of sensitivity. This is achieved by the fact that the interferometer is made in a reverse-circular pattern with an optical optical path for both beams. The drawing shows a block diagram of the described device. The proposed device contains a light source 1 (AGR), a double-beam interferometer in a reverse-circular pattern formed by prisms 2. and 3. A cuvette with the test medium 4 is installed in one of the arms of the interferometer. At the output of the interferometer, a width measurement of the interference fringes is installed, consisting of dissector 5, frequency meter 6 and control unit 7. The device operates as follows. A beam of light from source 1 enters the interferometer in a reverse-circular pattern formed by prisms 2 and 3. At the same time, the light beams go through the same path (through the same parts of the beam) in opposite directions, and in the presence of graphents of the prelocation index in this medium, n {. the deflection angles of the light beams are impeditiously opposed.

nj.y р.-зспространении flyieft в одном иапрашюнии знаки одинаковы. В резупьтпто на выходе интерферометра изменение угла между интерферирующими пучками, и, следовательно, ширина интерференционных полос будет в два раза больше, чем в прототипе, при прочих равных успоnj.y p.-spread flyieft in one and the same signs are the same. At the output of the interferometer, the change in the angle between the interfering beams, and, therefore, the width of the interference fringes will be twice as large as in the prototype, all other things being equal

ВИЯХ.Viyah.

Схема измерени  ширины интерференционных полос, состо ша  из диссектора 5, частотомера 6 и усша управлени  7 измер ет ширину полос, по которой легко вычислить искомые градиенты показател  преломлени .The scheme for measuring the width of interference fringes, consisting of a dissector 5, a frequency meter 6, and a control us 7, measures the width of the bands, from which it is easy to calculate the desired gradients of the refractive index.

Таким образом, данное устройство позвол ет в два раза повысить чувствительность , поскольку оба интерферирую7114424Thus, this device allows a twofold increase in sensitivity, since both interfere 7114424

ши.х луча отклон ютс  в исследуемой среде в противоположных направлени х.the shi.x rays deviate in the test medium in opposite directions.

5 Формул5 Formulas

зобретениacquisitions

Устройство дл  измерени  градиенто показател  преломлени  по авт. свид. № 575474, отличающеес  тем, что, с целью повышени  чувствительности , интерферометр выполнен по обратно-круговой схеме с одинаковым оптическим путем дл  обоих лучей.A device for measuring the gradient index of refraction on the author. swith No. 575474, characterized in that, in order to increase the sensitivity, the interferometer is made in a reverse-circular pattern with the same optical path for both beams.

Источники информации, прин тые во внимание при экспертизеSources of information taken into account in the examination

1. Авторское свидетельство СССР № 575474, кл. G 01 В 9/02, 1976 (прототип).1. USSR author's certificate No. 575474, cl. G 01 B 9/02, 1976 (prototype).

чh

Claims (2)

5 Формула изобретения5 claims Устройство для измерения градиентоЕ показателя преломления по авт. свид. № 575474, отличающеесяA device for measuring the gradient refractive index according to ed. testimonial. No. 575474, characterized 10 тем, что, с цепью повышения чувствительности, интерферометр выполнен по обратно-круговой схеме с одинаковым оптическим путем для обоих лучей.10 by the fact that, with the sensitivity enhancement circuit, the interferometer is made in the reverse circular pattern with the same optical path for both beams.
SU772542384A 1977-11-09 1977-11-09 Device for determining refraction index gradients SU711442A2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772542384A SU711442A2 (en) 1977-11-09 1977-11-09 Device for determining refraction index gradients

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772542384A SU711442A2 (en) 1977-11-09 1977-11-09 Device for determining refraction index gradients

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU575474A Addition SU120494A1 (en) 1955-10-28 1955-10-28 The method of obtaining linoleum and linkrusta

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU711442A2 true SU711442A2 (en) 1980-01-25

Family

ID=20732510

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772542384A SU711442A2 (en) 1977-11-09 1977-11-09 Device for determining refraction index gradients

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU711442A2 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4784490A (en) High thermal stability plane mirror interferometer
US3680963A (en) Apparatus for measuring changes in the optical refractive index of fluids
De Nicola et al. Reflective grating interferometer for measuring the refractive index of transparent materials
RU155509U1 (en) LASER-INTERFERENCE HYDROPHONE WITH THERMOSTABILIZATION SYSTEM
SU1152533A3 (en) Scanning interferometer (versions)
CN104792269A (en) Calculation method for optical fiber end face height insensitive to linear phase-shift errors
SU711442A2 (en) Device for determining refraction index gradients
US4171915A (en) Laser interferometer probe
US3232165A (en) Interferometer having plural slit source
RU2554596C1 (en) Ballistic gravity meter
US2846919A (en) Interferometer
US7161684B2 (en) Apparatus for optical system coherence testing
RU2814064C1 (en) Transparent sea water gauge
RU2769885C1 (en) Device for deformation measuring
SU987379A1 (en) Intereferometer for investigating transparent non-uniformitie
SU1397718A1 (en) Interferometer for measuring linear quantities and index of refraction
SU712654A1 (en) Interferometer
GB1564781A (en) Distance measuring devices
SU823846A2 (en) Two-beam interferometer for measuring linear displasements
SU645021A1 (en) Optical micrometer of nonius matching
SU120350A1 (en) The method of calibration of ultrasonic probes
SU1464046A1 (en) Device for measuring amplitude of angular oscillations
Theocaris Diffused light interferometry for measurement of isopachics
SU958922A1 (en) Device for measuring non-uniformity of double refraction in crystals
SU765648A1 (en) Contact-free interferometer