SU708154A1 - Device for standardizing gyrotheodolite - Google Patents
Device for standardizing gyrotheodolite Download PDFInfo
- Publication number
- SU708154A1 SU708154A1 SU772547752A SU2547752A SU708154A1 SU 708154 A1 SU708154 A1 SU 708154A1 SU 772547752 A SU772547752 A SU 772547752A SU 2547752 A SU2547752 A SU 2547752A SU 708154 A1 SU708154 A1 SU 708154A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- analyzer
- radiation
- plane
- rays
- polarization
- Prior art date
Links
Landscapes
- Gyroscopes (AREA)
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДПЯ ЭТАЛОНИРОВАНИЯГИРОТЕОЛОЛИТА(54) DEVICE OF DPJ OF STANDARDING OF MICROTHEOLOLITE
Изобретение относитс к геодезическому приборостроению, в частности, к устройствам дл ориентировани опорных элементов (например, зеркал) в пространстве относительно поверхности Земли или базового хранител направлени при эталонировании гиротеодолитов .The invention relates to geodetic instrumentation, in particular, to devices for orienting support elements (e.g., mirrors) in space relative to the surface of the Earth or the basic direction storage when calibrating gyrotheodolites.
Известны устройства дл эталонировани гиротеодолитов (1, состо щие из обратных отвесов, жезла, несущего на себе опорные элементы (зеркала ) , и датчиков, размещенных на жезле контролирующих положение его концов относительно струн обратных отвесов.Devices are known for calibrating gyrotoodolites (1, consisting of backward plumb, a rod carrying support elements (mirrors), and sensors placed on a rod controlling the position of its ends relative to the strings of reverse plumb lines.
Устройство обладает температурной нестабильностью, так как при изменении температуры происход т деформации самого жезла и узлов крепле ни опорных элементов, вызывающих, в конечном счете, изменение положени опорных элементов относительно хранител направлени , выполненного в виде струи обратных отвесон.The device has a temperature instability, since with a change in temperature, deformations of the rod itself and the fastening elements of the supporting elements occur, ultimately causing a change in the position of the supporting elements relative to the directional holder, made in the form of a jet of inverse plummet.
Наибопее близким к изобретению по техн1Г еской сущности вл етс устройство дл эта.чоннрорани гиротеодолитов , сссто щео .з дЕзух геодезических знаков,например обратных отвесов укрепленных на них диафрагм, формирующих и стабилизирующих в пространсве узкий пучок лазерного излучени , попадающего на анализатор, изготовленный из двулучепреломл ющёго материала , фотоприемника и пол роида перед ним, след щего привода, вход которого подк.гпочен к фотоприемнику, а выходной вал ориентирует анализатор относительно оси лазерного излучени 2 .Most closely related to the invention, by its technical nature, is a device for this arrangement of gyrotheodoliths, ss. the photodetector and the polaroid in front of it, the follower drive, whose input is connected to the photodetector, and the output shaft orients the analyzer relative to the axis of the laser beam. 2.
Устройство обладает температурной нестабильностью. Основным источником температурной нестабильности вл етс анализатор, изготовленный из двулучепреломл ющёго материала. Нестабильность по вл етс вследствие температурного изменени коэффициентов преломлени вдоль осей лвулучепреломл ющего кристалла, вл ющегос материалом анализатора.The device has a temperature instability. The main source of temperature instability is an analyzer made of birefringent material. The instability arises due to the temperature variation of the refractive indices along the axes of the leu-refracting crystal, which is the analyzer material.
В результате изменени коэффициентов преломлени дл обыьновенного и необыкновенного лучей, на которые расщепл етс падающее на анализатор лазерное излучение, происходит изменение разности хола этих лучей в анализаторе, в 11зываюи1 иеремр1 ,оиие интерференционной картины, образующейс на фотоприемнике. В результ те след щий привод поворачивает анализатор до момента, когда устанавливаетс нулева разность хода обыкновенного и необыкновенного лучей в анализаторе. Этот угол поворота и вл етс температурной нестабильностью опорного-элемента (зеркала),расположенного на анализаторе.As a result of a change in the refractive indices for the ordinary and extraordinary rays, into which the laser radiation incident on the analyzer is split, the difference in the intensity of these rays in the analyzer changes in the optical pattern of the photodetector. As a result, the servo drive rotates the analyzer until the moment when the zero path difference between the ordinary and extraordinary rays in the analyzer is established. This angle of rotation is the temperature instability of the reference element (mirror) located on the analyzer.
Целью изобретени вл етс повышение точности ориентировани опорного элемента относительно.хранител направлени , путем исключени температурных вли ний.The aim of the invention is to improve the accuracy of the orientation of the support element relative to the directional guard, by eliminating temperature effects.
Это достигаетс выполнением анализатора из двух плоскопараллельных пластин, разделенных третьей пластиной , измен ющей направление пол рности лучей на 90, причем главные оси кристаллического материала пЛастин анализатора расположены симметрично относительно третьей пластины.This is achieved by performing an analyzer of two plane-parallel plates separated by a third plate, which changes the polarity of the rays by 90, with the main axes of the crystalline material PLastin of the analyzer arranged symmetrically with respect to the third plate.
На фиг. 1 изображена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - оптическа схема анализатора.FIG. 1 shows a diagram of the proposed device; in fig. 2 is an optical analyzer circuit.
Устройство состоит из источника 1 модулированного когерентного излучени , например лазера с модул тором формирующих диафрагм 2 и 3, установленных на геодезических знаках 4, вл ющихс базовыми хранител ми направлени , анализатора 5, расположенного между диафрагмами и имеющего возможность поворота вгоризонтальной плоскости с помощ: ю сервопривода 6. Выхо фотоприемника 7 св зан с входом сервопривода , перед фотоприемнихом установлен пол роид 8.The device consists of a source 1 of modulated coherent radiation, such as a laser with a modulator of forming diaphragms 2 and 3, mounted on geodetic signs 4, which are the basic directional storage, analyzer 5, located between the diaphragms and having the ability to rotate in a horizontal plane with the help of a servo drive 6. The output of the photodetector 7 is connected with the servo drive input, before the photodetector a polaroid 8 is installed.
Анализатор 5 содержит плоскопараллельныо пластины 9 и 10 из двулучепреломл ющего материала. Размеры этих пластин одинаковы, а главные оптические оси (кристаллов) лежат в одной плоскости, в частном случае горизонтальной . Направление главных осей 11 и 12 таково, что они симметричны относительно плоскости 13, перпендикул рной оптической оси устройства . Между плоскопараллельнымл пласнамл 9 и 10 расположена пластина 14, предназначенна дл поворота пол ризованных пучков лучей на 90. Такой пластиной может служить кварцева пластина, главна (кристаллическа ) ось которой совпадает с оптической осью устройства. На боковую поверхность анализатора нанесено отражающее покрытие 15, которое вл етс опорным элементом при эталонировании гиротеодолитов.The analyzer 5 comprises plane-parallel plates 9 and 10 of birefringent material. The dimensions of these plates are the same, and the main optical axes (of the crystals) lie in the same plane, in the particular case of the horizontal one. The directions of the main axes 11 and 12 are such that they are symmetrical about the plane 13, which is perpendicular to the optical axis of the device. A plate 14 is located between the plane-parallel plates 9 and 10 and is designed to rotate polarized beams of rays by 90. Such a plate can be a quartz plate, the main (crystalline) axis of which coincides with the optical axis of the device. A reflecting coating 15 is applied to the lateral surface of the analyzer, which is the supporting element when calibrating the gyrotheodolites.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Модулированное излучение лазера 1 попадает на диафрагму 2, котора вырезает узкий пучок из всего излучени лазера. За счет малых размеров диафрагмы возникает дифракци , причем дифракционное изображение проекThe modulated laser radiation 1 hits the diaphragm 2, which cuts a narrow beam from the total laser radiation. Due to the small size of the aperture diffraction occurs, and the diffraction image of the project
тируетс через анализатор 5 на диафрагму 3. В случае, когда направление пол ризации лазерного излучени расположено под 45 к горизонтальной плоскости, падающий на анализатор 5 луч .расщепл етс пластиной 9 на обыкновенный и необыкновенный лучи, которые пол ризованы под пр мым углом друг к другу. Так как обыкновенный луч не преломл етс на передней грани пластины 9, а необыкновенный преломл етс , то лучи расход тс и на второй грани пластины 9 приобретают разность хода (разность фаз). Пластина 14 поворачивает плоскости пол ризации обыкновенного и необыкновенного лучей на 90. При этом оказываетс , что луч, который был обыкновенньм в пластине 9, становитс необыкновенным в пластине 10 и наоборот. На фиг. 2 обыкновенные лучи обозначены двойной стрелкой. Так как толщина пластин 9 и 10 одинакова , то разности хода, создаваемые пластинами 9 и 10, одинаковы, но они имеют разные знаки, то есть суммарна разность хода лучей в анализаторе 5 равна нулю. Если происход температурные изменени коэффициенто преломлени обыкновенного и необыкновенного лучей, то разности хода, вносимые каждой из пластин, измен ютс , но суммарна разность хода остаетс равной нулю. Поэтому температурные изменени коэффициентов преломлени обЬ1кновенного и необыкновенного лучей не внос т дополнительной суммарной разности хода,т.е.не внос т погрешности в положение интерференционной картины,котора , образуетс после пол роида 8 в плоскости фотоприемника 7.through the analyzer 5 to the diaphragm 3. In the case when the direction of polarization of the laser radiation is located 45 to the horizontal plane, the beam incident on the analyzer 5 is split by the plate 9 into the ordinary and extraordinary rays that are polarized at a right angle to each other . Since the ordinary beam is not refracted on the front face of the plate 9, but the extraordinary refracted, the rays diverge and on the second face of the plate 9 acquire a path difference (phase difference). The plate 14 rotates the polarization planes of the ordinary and extraordinary rays by 90. In this case, the beam that was ordinary in plate 9 becomes unusual in plate 10 and vice versa. FIG. 2 ordinary rays are marked with a double arrow. Since the thickness of the plates 9 and 10 is the same, the path differences created by the plates 9 and 10 are the same, but they have different signs, that is, the total path difference of the rays in the analyzer 5 is zero. If temperature changes occur in the refractive index of the ordinary and extraordinary rays, the path differences introduced by each of the plates change, but the total path difference remains equal to zero. Therefore, temperature changes in the refractive indices of the oblique and extraordinary rays do not introduce an additional total path difference, i.e., they do not introduce errors into the position of the interference pattern, which is formed after polaroid 8 in the plane of the photodetector 7.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772547752A SU708154A1 (en) | 1977-11-28 | 1977-11-28 | Device for standardizing gyrotheodolite |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772547752A SU708154A1 (en) | 1977-11-28 | 1977-11-28 | Device for standardizing gyrotheodolite |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU708154A1 true SU708154A1 (en) | 1980-01-05 |
Family
ID=20734873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772547752A SU708154A1 (en) | 1977-11-28 | 1977-11-28 | Device for standardizing gyrotheodolite |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU708154A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2696807C1 (en) * | 2019-01-10 | 2019-08-06 | Иван Владимирович Чернов | Method for determining a coefficient of reducing a priori estimation of accuracy of determining azimuth with gyrotheodolite |
RU2772736C1 (en) * | 2021-02-19 | 2022-05-25 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого" МО РФ | Apparatus for determining single-altitude high-accuracy geodetic reference directions in field conditions |
-
1977
- 1977-11-28 SU SU772547752A patent/SU708154A1/en active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2696807C1 (en) * | 2019-01-10 | 2019-08-06 | Иван Владимирович Чернов | Method for determining a coefficient of reducing a priori estimation of accuracy of determining azimuth with gyrotheodolite |
RU2772736C1 (en) * | 2021-02-19 | 2022-05-25 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого" МО РФ | Apparatus for determining single-altitude high-accuracy geodetic reference directions in field conditions |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4963022A (en) | Method and apparatus for generating a straight reference line | |
US3871771A (en) | Optical apparatus for determining deviations from a predetermined form of a surface | |
WO2021083043A1 (en) | Exposure light beam phase measurement method in laser interference photolithography, and photolithography system | |
Kennedy | A refinement of the Michelson-Morley experiment | |
JPS58501597A (en) | optical device | |
JPH0466295B2 (en) | ||
US3584959A (en) | Shaft position encoders | |
US4289403A (en) | Optical phase modulation instruments | |
EP0210273A1 (en) | Stabilized ring laser bias system | |
GB2167554A (en) | Optically sensing device | |
WO2021083045A1 (en) | Phase measurement device for laser interference photolithography system, and method for using same | |
US3692385A (en) | Rotation sensitive retarder system | |
Bouyer | The centenary of Sagnac effect and its applications: From electromagnetic to matter waves | |
TW440737B (en) | Method and apparatus for measuring cell gap of vertical alignment liquid crystal panel | |
SU708154A1 (en) | Device for standardizing gyrotheodolite | |
US3554653A (en) | Autocollimator | |
CN1207532C (en) | Detector of optical wave plate | |
US3438712A (en) | Magneto-optical displacement sensing device | |
JPS63241305A (en) | Fringe scanning method | |
GB1303261A (en) | ||
JP2759115B2 (en) | Measurement device for third-order nonlinear optical characteristics | |
SU994915A2 (en) | Device for determining incline angle | |
Okun et al. | Holographic prism on photo-thermo-refractive glass for metrological applications | |
Lang | Optical deflector with high and variable sensitivity | |
RU2382332C2 (en) | Gyroscope on stabilised solid-state laser without dead band |