SU702966A1 - Способ бесконтактного измерени концентрации носителей тока в полупроводниках - Google Patents

Способ бесконтактного измерени концентрации носителей тока в полупроводниках Download PDF

Info

Publication number
SU702966A1
SU702966A1 SU782650290A SU2650290A SU702966A1 SU 702966 A1 SU702966 A1 SU 702966A1 SU 782650290 A SU782650290 A SU 782650290A SU 2650290 A SU2650290 A SU 2650290A SU 702966 A1 SU702966 A1 SU 702966A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
compensator
dichroism
radiation
carrier concentration
Prior art date
Application number
SU782650290A
Other languages
English (en)
Inventor
Е.К. Галанов
Г.Н. Потихонов
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU782650290A priority Critical patent/SU702966A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU702966A1 publication Critical patent/SU702966A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ НОСИТЕЛЕЙ ТОКА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ, основанный на пропускании инфракрасного излучени  че- •рез образец, помещенный в магнитноеполе, отличающийс  тем, что, с целью повьшени  точности и расширени  диапазона измерени  концентрации носителей тока, падающее . на образец излучение модулируют по .форме пол ризации от правой циркул ции к левой, прошедшее через образец излучение пропускают через компенсатор, формируют дихроизм компенсатора равным по величине и противоположным по знаку дихроизму образца, а концентрацию носителей определ ют расчетньм путем по значению дихроизма компенсатора.ю1Cсо а>&Од

Description

Изобретение относитс  к полупроводниковой технике. Известен способ бесконтактного из мерени  концентрации носителей тока в полупроводниках, основанный на из мерении отражени  СВЧ-излучени  от полупроводникового образца, прижатого Ic открытому торцу волновода и поMeftteHHoiro в импульсное к агнитное поле, Недостатком этого способа  вл етс  его низка  точность при определении концентрации носителей тока в полупроводниках с ййзкой подвижностью , носителей. V известен также бесконтактный способ измерени  концентрации носителей тока в полупроводниках, основанный на пропускании инфракрасного излучени  через образец, помещенный в магнитное поле. В этом способе измер етс  угол поворота плоскости пол ризации излучени  и по нему вычисл етс  концентраци  носителей тока в полупройодниках . Недостйтком способа  вл етс  низка  точность, обусловленна  низкой точностью измерени  угла поворота плоскости пол ризации излучени  (по р дка 0,1 угл.град.). Кроме того, отмечаетс  узкий диапазон поддающих с  измерению .величин концентрации .носителей тока (в пределах 10 10 см ). Это обусловлено тем, что при низких концентраци х носителей тока магнитооптическое вращение плос кости йол ризацин становитс  нелиней ным вследствие вли ни  переходов зона - зона. Целью изобретени   вл етс  повышение точности и расширение диапазона измерени  концентрации носителей Поставленна  цель достигаетс  тем, что падающее на образец .излучение модулируют по форме пол ризации от правой циркул ции к левой, прошедшее через образец излучение пропускают через компенсатор, формируют дихроизм компенсатора равным по величине и противоположным по знаку дихроизму образца, а концентрацию носителей определ ют расчетным путем по эначе1 ию дихроизма компенсатора. На чертеже показана схема устройства дл  реализации способа. Устройство содержит источник 1 мо нохроматическогр линейно-пол ризо66 ..2 ванного излучени  с длиной волны J -10,6 мкм (лазер на СО), фотоупругий модул тор 2 на основе Ge, посто нный магнит 3 с образцом 4, электромагнит 5 компенсатора с компенсатором 6, фотоприемник 7 излучени , избирательный усилитель 8, фазовьй детектор 9, индикаторное устройство 10, блок 11 питани  электромагнита, генератор 12 и коллимирующую систему 13. Пример. Линейно-пол ризованное излучение А 10,6 мкм пропускают через фотоупругий модул тор по направлению круговой пол ризации с частотой модул ции 20 кГц. Модулированное излучение пропускают через образец , помещенный в магнитное поле кэрст посто нного магнита. Прошедшее через образец излучение становитс  модулированным по интенсивности , его пропускают через компенсатор , изготовленньй из InSb. Измен   ток в цепи электромагнита компенсатора , формируют дихроиЭм компенсатора равным дихроизму образца. Когда дихроизм образца не равен дихроизму компенсатора, на фотоприемник попадает посто нный и модулированный потоки излучени . Переменный электрический сигнал с фотоприемника 7 усиливаетс  усилителем 8, детектируетс  и поступает на индикаторное устройство. По нулевому показанию индикатора суд т о равенстве дихроизма образца и компенсатора. О величиге дихроизма компенсатора суд т по , величине тока в цепи электромагнита компенсатора, который пропорционален концентрации носителей тока в полупроводнике . Концентрацию носителей тока в поупроводнике вычисл ют по формуле l -I 27T(K,-K-)d B-g-dA A r -- r. ri(n() концентраци  носителей тока где N т эффективна  масса носителей тока; п к Е - показатель преломлени  и диэлектрическа  посто нна  образца; d толщина образца} - коэффициенты поглощени  образца дл  право- и левоциркул рнопол ризованного излучени ; е - зар д электрона, В - индзгкци  магнитного пол , g / ( . 3 7029664 частота затухани ;Способ обеспечивает пределы измедлина волны электромагнитно- рени  концентрации Носителей тока го излучени . см .

Claims (1)

  1. СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ НОСИТЕЛЕЙ ТОКА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ, основанный на пропускании инфракрасного излучения через образец, помещенный в магнитное поле, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения диапазона измерения концентрации носителей тока, падающее . на образец излучение модулируют по форме поляризации от правой циркуляции к левой, прошедшее через образец излучение пропускают через компенсатор, формируют дихроизм компенсатора равным по величине и противоположным по знаку дихроизму образца, а концентрацию носителей определяют расчетным путем по значению дихроизма компенсатора.
    >
SU782650290A 1978-07-27 1978-07-27 Способ бесконтактного измерени концентрации носителей тока в полупроводниках SU702966A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782650290A SU702966A1 (ru) 1978-07-27 1978-07-27 Способ бесконтактного измерени концентрации носителей тока в полупроводниках

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782650290A SU702966A1 (ru) 1978-07-27 1978-07-27 Способ бесконтактного измерени концентрации носителей тока в полупроводниках

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU702966A1 true SU702966A1 (ru) 1986-07-30

Family

ID=20779500

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782650290A SU702966A1 (ru) 1978-07-27 1978-07-27 Способ бесконтактного измерени концентрации носителей тока в полупроводниках

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU702966A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4529875A (en) Fiber-optical measuring apparatus
CN101427142B (zh) 采用极化测定检测方法的光纤电流传感器
CN104132798B (zh) 一种y波导集成光学相位调制器调制系数测量装置和方法
US6122415A (en) In-line electro-optic voltage sensor
US4933629A (en) Method and apparatus for optically measuring electric and magnetic quantities having an optical sensing head exhibiting the Pockel's and Faraday effects
CN104132799B (zh) 一种钛扩散LiNbO3相位调制器双折射调制系数测量装置和方法
US5227715A (en) Apparatus for measuring electromagnetic field intensity using dual polarized light beams
SU702966A1 (ru) Способ бесконтактного измерени концентрации носителей тока в полупроводниках
KR920700394A (ko) 물리적인 크기의 원거리 측정용 광전자장치
EP0345759A2 (en) A magnetic field measurement apparatus
KR850007483A (ko) 위상 해독 광학섬유 간섭계
Li et al. Optical voltage sensor using a pulse-controlled electrooptic quarter waveplate
US5022754A (en) Determining the wavelength of optical radiation
Doriath et al. A sensitive and compact magnetometer using Faraday effect in YIG waveguide
SU1264084A1 (ru) Способ измерени электрического тока
JPS59151071A (ja) 磁界測定用光センサ
SU1019343A1 (ru) Оптоэлектронное измерительное устройство
JPS5899761A (ja) 光による電界,磁界測定器
SU1691796A1 (ru) Способ неразрушающего контрол намагниченности насыщени магнитных пленок
RU2080586C1 (ru) Способ определения спектральных характеристик исследуемых объектов
SU1130808A1 (ru) Магнитооптический тесламетр (его варианты)
Ye et al. Fiber optic lightning current sensor
SU1569535A1 (ru) Фазовое светодальнометрическое устройство дл бесконтактного контрол формы поверхности
WO1996000905A1 (en) Optical sensors
SU699402A1 (ru) Магнитооптический трасформатор тока