SU702238A1 - Method of measuring area of parts of an arbitrary form - Google Patents
Method of measuring area of parts of an arbitrary formInfo
- Publication number
- SU702238A1 SU702238A1 SU772518477A SU2518477A SU702238A1 SU 702238 A1 SU702238 A1 SU 702238A1 SU 772518477 A SU772518477 A SU 772518477A SU 2518477 A SU2518477 A SU 2518477A SU 702238 A1 SU702238 A1 SU 702238A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- parts
- measuring area
- arbitrary form
- area
- capacitor
- Prior art date
Links
Description
1one
Изобрегеште относитс к измеритель ной технике и может быть использовано при фенологических исследовани х; в растениеводстве .Isobregeste refers to the measuring technique and can be used in phenological studies; in crop production.
Известен способ измерени площади плоских фигур произвольной формы, например листьэв растений, заключающийс в том, что нанос т контур этой фигуры на бумагу, вырезают фигуру и по массе копии определ т ее площадь .l ,A known method for measuring the area of flat shapes of arbitrary shape, for example, leaves of plants, consists in cutting out the shape of this shape on paper, cutting out the shape and determining its area .l by the mass of the copy,
Недостатком этого способа вл етс низка производительность и небольша точность.The disadvantage of this method is low productivity and low accuracy.
Наиболее близким к изобретению вл етс способ измерени площади дета-лей произволшой формы, заключающийс в том, что измер емую деталь помещают между обкладками плоскопараллельного конденсатора с заданными параметрами и определ ют величину приращени -емкости , по которой суд т о площади 2.The closest to the invention is a method for measuring the area of parts of an arbitrary shape, namely, that the measured part is placed between the plates of a plane-parallel capacitor with the given parameters and the magnitude of the increment of capacitance is determined by which area 2 is judged.
Недостатком указанного способа вл етс невысока точность измерени .The disadvantage of this method is the low measurement accuracy.
Цель изобретени - повышение точнооти измерени . .The purpose of the invention is to increase the accuracy of measurement. .
Эта цель достигаетс тем, что используют второй конденсатор с параметрами, отличными от Параметров первого, размещают между его обкладками измер емую деталь, определ ют величину изменени емкости БтЬрЬгчГ конденсатора и по полученным данным определ ют площадьThis goal is achieved by using a second capacitor with parameters other than the parameters of the first one, placing the measured part between its plates, determining the magnitude of the change in capacitance Btbccc capacitor, and using the data obtained, determine the area
детали из соотвошенв parts out of conformity
J - .-- ...... (-,J - .-- ...... (-,
. 0 ,0.. 0, 0.
А i.ba вг And i.ba wg
где С - емкость первого конденсатора с. внесенной деталью; Сд - емкость второго конденсатораwhere C is the capacity of the first capacitor. the part introduced; Sd - the capacity of the second capacitor
с внесен|н6й деталью; Сл - емкость первого :кондёнсатораwith the added detail; SL - the capacity of the first: condenser
без внесенной детали; 5„-площади обкладок первого иwithout details made; 5 „- the area of the first plates and
второго конденсаторов. Оба конденсатора подключают поочередно к источнику переменного питани , тогда проход щий в цепи ток будет пропорsecond capacitors. Both capacitors are connected alternately to an alternating power source, then the current passing through the circuit will be proportional to
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772518477A SU702238A1 (en) | 1977-08-16 | 1977-08-16 | Method of measuring area of parts of an arbitrary form |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772518477A SU702238A1 (en) | 1977-08-16 | 1977-08-16 | Method of measuring area of parts of an arbitrary form |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU702238A1 true SU702238A1 (en) | 1979-12-05 |
Family
ID=20722524
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772518477A SU702238A1 (en) | 1977-08-16 | 1977-08-16 | Method of measuring area of parts of an arbitrary form |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU702238A1 (en) |
-
1977
- 1977-08-16 SU SU772518477A patent/SU702238A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI830159L (en) | INSTRUMENT FOER MAETNING AV HEMATOKRITVAERDET HOS BLOD | |
AT340038B (en) | MEASURING ARRANGEMENT FOR DETERMINING BIOLOGICAL MEASUREMENT PARAMETERS | |
BR9004855A (en) | METHOD AND APPARATUS FOR RELIABLE MEASUREMENT OF CARDIAC PERFORMANCE | |
SU702238A1 (en) | Method of measuring area of parts of an arbitrary form | |
FR2410280A1 (en) | LOW CAPACITY MEASUREMENT PROCESS | |
JPS5437582A (en) | Measuring method for capacity of three-terminal semiconductor element | |
SU927018A1 (en) | Method of measuring wire diameter | |
BE853669A (en) | METHOD OF MEASURING THE BILIARY ACID CONTENT IN A SAMPLE | |
JPS5670453A (en) | Method and device for measuring water content of tea leaf | |
SU773511A2 (en) | Apparatus for measuring dielectric resistance | |
SU699442A1 (en) | Method of measuring the coefficient of ac voltage curve shape | |
SU452790A1 (en) | Method for measuring capacitance and active conductivity of lossy capacitors | |
JPS5414242A (en) | Measuring method for toner concentration in developer | |
JPS57106804A (en) | Measuring device for thickness of film | |
SU432936A1 (en) | ||
SU558233A1 (en) | Magnetic induction measurement method | |
SU885943A1 (en) | Method of rejecting memory ferrite plates | |
SU579588A1 (en) | Method of measuring mutual inductance | |
SU667914A1 (en) | Measuring capacitor | |
SU898355A2 (en) | Device for measuring magnetic field strength | |
SU611144A1 (en) | Conductometric sensor | |
JPS5752804A (en) | Multiple span displacement sensor | |
SU1067396A1 (en) | Wood porosity determination method | |
SU832503A1 (en) | Magnetic field intensity sensor | |
SU710007A1 (en) | Method of measuring distribution of charge carriers in semiconductors |