SU695307A1 - Moessbauer spectrometer with laser interferometer for absolute measuring of rate of relative motion - Google Patents
Moessbauer spectrometer with laser interferometer for absolute measuring of rate of relative motion Download PDFInfo
- Publication number
- SU695307A1 SU695307A1 SU772503199A SU2503199A SU695307A1 SU 695307 A1 SU695307 A1 SU 695307A1 SU 772503199 A SU772503199 A SU 772503199A SU 2503199 A SU2503199 A SU 2503199A SU 695307 A1 SU695307 A1 SU 695307A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- spectrometer
- laser interferometer
- gamma
- mirrors
- moessbauer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
свет-очувствлтельных элемеетюв, (раанесвнных на рассто ние, меньшее, чем рассто ние между интерференциокрыми полосам;и. Блок регистрации интерферендион.ных полос выполнен по .схеме С-трилгер1а, входы R к С KOTOipoTo соединены с разделительными выходами оветочув-стВИтельных элементов . Система зеркал выполнена в виде двух пр моугольных TipexinpaiHHbix тризм, составленных так, что гипотенузна грань одной щризмы соприкасаетс с катетной гранью другой. На гипотенузной грани нанесено 50%-ное отражающее покрытие, а на с,меж,ных катетных гран х гаризм - 100%-ное отражающее покрытие.light-sensing elements, which are smaller than the distance between interference bands; and. The registration unit of interference bands is made according to the C-trilger1 circuit, the R to C inputs of KOTOipoTo are connected to the separation outputs of the connecting elements. The system of mirrors is made in the form of two rectangular TipexinpaiHHbix trisisms, arranged in such a way that the hypotenuse of one side of the shrimp is in contact with the side of the other side of the other. % reflective coating.
На фиг. 1 лриведбна схема меосбауэровского спектрометра; на фиг. 2 - схема системы зеркал в ввде :п|ризмы.FIG. 1 Lrivedbna scheme of the Meosbauer spectrometer; in fig. 2 is a diagram of a system of mirrors in vvde: p |
Ст1-ектрамет1р (фиг. 1) состоит из электродаснамического привода (вибратора) 1, на котором укреплено подиижное зеркало 2, гене|ратора низкочастотного сигнала 3, блока обратной св зи 4, блока пам ти 5 с адресным и арифметическим регистрами, программного уст1ройст1ва 6, ,гелий-неО(НО вого лазера 7, интерференционной иризмы 8, фокуоирующей линзы 9, фото1П1р1Ие1мника 10, блока регистрации интерференционных полос И, источников резОНаюсного гам(М1а-излучени 12, поглотител 13, блока детектировани гамма-квантов 14, усилител -ддаК|р;ими;натора гамма-квантов 15. Фотаприемниж вьшолиен в виде двух фотоэлементов с пр моугольными чувствительны1М;н О|бласТЯ1МИ .St1-ektramet1p (Fig. 1) consists of an electrospray drive (vibrator) 1, on which a pin mirror 2 is fixed, a generator of a low-frequency signal 3, a feedback unit 4, a memory block 5 with address and arithmetic registers, a software device 6 ,, helium-nonO (BUT new laser 7, interference iris 8, focusing lens 9, photo1P1p1Ie1mnik 10, block for detecting interference fringes And, sources of resonant ga | p; them; gamma quanta 1 5. Photoconnection is in the form of two photocells with rectangular sensitivities1M; n About |
Предлагаемое устройство ра ботает следующим oi6pa3QM.The proposed device works as follows oi6pa3QM.
Источник резонансного излучени 12 щриводитс в движение электродинамическим , .цриводом 1 относительно поко щегос поглотктелЯ 13, блок детектировани 14 регистрирует поток гамма-квантов за поглотителем , усилитель-дкскриминатор 15 выбирает нуЖ1Ные гамма-кванты и передает образующиес в нем электрические импульсы в блок пам ти 5(А). Закон перемещени .всточиика задает генератор ниэкочастотнаго сигнала 3, а блок об|ратной св зи 4 позвол ет обработать заданное щижьуше. г высокой точностью. 1Мон10Х|роматический хогерентный пучОк света, исгоуокаемый лазером 7, отроход через пр.иэму интерферометра , диагонали которой вл ютс полупрозрачным зеркалом (см. фи1г. 2), делитс на два луча. Оди1Н луч, орра;жа сь от лра1Ш щризмы, падает на фотаприемник 10, другой, поворачи1ва 1сь в тризме а 90°, отр-ажа&тс зеркалом 2, укршленным на приводе 1. Оба луча, фокуаиру 1сь линзой 9, (при совмещении, О1бразуют в плоокюсти фотоприем ика интарфе|ренци1онную картину в виде чередующиес , темных и Светлых пойос , возникающую за счет оптической разз 01сти хода в. двух клечах внтерферометра. Если подвижное зеркало ойновременно сThe source of resonant radiation 12 is driven by an electrodynamic, 1 driver relative to the rest of the absorber 13, the detecting unit 14 registers the flow of gamma quanta after the absorber, the amplifier-detector 15 selects the gamma-quanta and transmits the electrical pulses generated in the memory 5 to 5 (BUT). The motion law of the workshop sets the generator of the pre-frequency signal 3, and the feedback unit 4 permits the processing of the set point. g high precision. 1Mon10X | romatic coherent beam of light, which is detected by the laser 7, the outflow through the interferometer, the diagonals of which are a translucent mirror (see Fig. 2), is divided into two beams. An odi1N beam, orra; from the lag of the brain, falls on a photo receptacle 10, another, turning 1x in a threefold trisma 90 °, replacing it with mirror 2, ukrshlennym on the drive 1. Both beams, focus on the lens 9, (when combining , O1 represents a photoreceiver in the interior of the interfer- entiated picture in the form of alternating, dark and Light poyos, arising due to the optical progress of the two-way interferometer arm.
источником резонаисного излучени приходит в движение, то инте;рференционнЫе полосы, де рамеща сь по (фотопр емнику, на его сигналы, частота следовани которых IB любой момент времени соответствует скорости перемещени источника таММа-резона сного излучени .the source of resonance radiation is set in motion, then the interference bands, moving along (photoelectric transducer, on its signals, the frequency of which IB always corresponds to the speed of movement of the source of resonant radiation, IB.
Схема регистращии полос 11 вьшолнена таким образом, что И1мпульсы, соответствующие интерференционным полосам, поступают в блок пам ти лищь в том случае, если полоса проходит через оба светочувствительных элемента. Эти импульсы с помощью адресного и арифметического региCTipOB , накаплвдаютс в блоке пам ти 5(Б). Таивм Образом, спектрометр одновременно со сн тием гамма,-резонанснаго спектра позвол ет снимать калиброванный спектр, вл ющийс истинной функциейThe registration pattern of the strips 11 is performed in such a way that the I1 pulses corresponding to the interference fringes enter the memory unit if the strip passes through both photosensitive elements. These pulses, using address and arithmetic registctipipob, are accumulated in memory block 5 (B). In principle, the spectrometer simultaneously with the removal of the gamma, -resonant spectrum allows one to take a calibrated spectrum, which is a true function
Пе,ремещени .Pe, displacement.
Схема выполнени 1системы в виде единого блока-призмы показана на фиг. 2. В этой призме на плоскост х ВГДЕ и ВЖЗГ нанесены 100%-иы1е отражающиеA flowchart of the 1 system in the form of a single prism block is shown in FIG. 2. In this prism, on the VGDE and VZHZG planes, 100% or 1% reflecting
покрыти , а на плоскости ВГИК - 50%ные . Такое выполнение улучшает помехозащитность устройства от вс кого рода вибраций .coverings, and on the VGIK plane - 50%. This embodiment improves the noise immunity of the device from all sorts of vibrations.
Конструкци предложенного опектрометра о;беспечивает линейную зависимость градуиррва .нной характе|ристик|И от скоростиThe design of the proposed spectrometer is about; it ensures the linear dependence of the gradual characteristic of the | And the speed
пе|ремещен,и даже лри очень малых 3 начеии х скорости относительного перемещени .moved | and even very small 3 times x speeds of relative displacement.
Предлагаемый спектрометр поз вол етThe proposed spectrometer is
проводить исследовани на резонансных переходах, напри мер, таких как Ge, , лишн поглО|Щени KOTOipbix лежит вблизи cKQpocTHoro вул , с использованием метода абсолютной градуировки скоростнойto carry out studies on resonant transitions, for example, such as Ge, superfluously absorb | KOTOipbix Scheni lies near cKQpocTHoro vol, using the method of absolute calibration of
..
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772503199A SU695307A1 (en) | 1977-07-01 | 1977-07-01 | Moessbauer spectrometer with laser interferometer for absolute measuring of rate of relative motion |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772503199A SU695307A1 (en) | 1977-07-01 | 1977-07-01 | Moessbauer spectrometer with laser interferometer for absolute measuring of rate of relative motion |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU695307A1 true SU695307A1 (en) | 1981-12-15 |
Family
ID=20716183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772503199A SU695307A1 (en) | 1977-07-01 | 1977-07-01 | Moessbauer spectrometer with laser interferometer for absolute measuring of rate of relative motion |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU695307A1 (en) |
-
1977
- 1977-07-01 SU SU772503199A patent/SU695307A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3896304A (en) | Automatic focus adjustment means | |
US4441019A (en) | Wavefront sensor with astigmatic optics | |
US3921080A (en) | Analog data processor | |
SU695307A1 (en) | Moessbauer spectrometer with laser interferometer for absolute measuring of rate of relative motion | |
US4505588A (en) | Fiber stellar interferometer | |
SU1370456A1 (en) | Method of fixing position of object outlines | |
RU2092787C1 (en) | Method determining short distances to diffusion-reflecting objects and gear for its realization | |
JPS60200108A (en) | Optical type thickness measuring method and apparatus thereof | |
SU1716360A1 (en) | Device for measuring spectral transmittance of objective | |
JPS57179629A (en) | Apparatus for measuring focused spot diameter | |
US4183641A (en) | Focus detecting device | |
SU1732147A1 (en) | Device for measuring diameter of elongated objects | |
SU629444A1 (en) | Arrangement for measuring displacement of monitored surface | |
SU373676A1 (en) | VSWNI tt \ 111 ^ [: t - '^' g1Sh | |
SU361391A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF THE DIAMETER OF THE PRODUCT DURING ITS MANUFACTURE | |
SU1578456A1 (en) | Device for multiple reflections in double-reflecting interferometer | |
GB1408459A (en) | Apparatus for producing a beam of light moving parallel to itself | |
SU1421992A1 (en) | Device for measuring focal distances | |
SU1670410A1 (en) | Device for measuring distance to reflecting surface | |
SU1138642A1 (en) | Interference device for remote measuring of small displacements | |
SU849237A1 (en) | Photoelectric correlator | |
SU1668922A1 (en) | Determining transmission coefficient of objective | |
SU419721A1 (en) | OPTICAL SYSTEM OF PHOTOELECTRIC ANGLOMERS OF FOLLOWING DEVELOPMENT | |
SU1320663A1 (en) | Device for measuring distance to reflecting surface | |
RU2042966C1 (en) | Method of phasing multiaperture system |