SU693178A1 - Refractometric system for analytic ultracentrifuge - Google Patents

Refractometric system for analytic ultracentrifuge

Info

Publication number
SU693178A1
SU693178A1 SU772446257A SU2446257A SU693178A1 SU 693178 A1 SU693178 A1 SU 693178A1 SU 772446257 A SU772446257 A SU 772446257A SU 2446257 A SU2446257 A SU 2446257A SU 693178 A1 SU693178 A1 SU 693178A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
slit
cuvette
ultracentrifuge
diaphragm
light
Prior art date
Application number
SU772446257A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Викторович Чечеткин
Семен Иванович Пушкарев
Original Assignee
Специальное Конструкторское Бюро Биофизической Аппаратуры
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Специальное Конструкторское Бюро Биофизической Аппаратуры filed Critical Специальное Конструкторское Бюро Биофизической Аппаратуры
Priority to SU772446257A priority Critical patent/SU693178A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU693178A1 publication Critical patent/SU693178A1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

(54) РЕФРАКТОМЕТРИЧЕСКАЯ СИСТЕМА дл  АНАЛИТИЧЕСКОЙ УЛЬТРАЦЕНТРИФУГИ(54) REFRACTOMETRIC SYSTEM FOR ANALYTICAL ULTRACENTRIFUGE

Claims (2)

..- Изобретение относитс  к измерительной технике и может найти применение дл  измерени  градиента рефракции в кювете аналитической ультрацентрифуги. Известна рефрактометрическа  система дл  аналитической ультрацентрифуги, содержаща  источник света, коллиматор, кювету, ротор ультрацэнтрифуги, диафрагму , фотоприемник 1. ; в известной система в процессе вращени  ротора отклонение светового пучка, вызвйн- ное градиентом рефракции в кювете, преобразуетс  с помощью диафрагмы в амплитуду вьЬсодного сигнала фотоприемпика. Поскольку на амплитуду выкодного сигнала в значительной степени вли ет неравномерность светового потока вдоль секто ра кюветы, вариации интенсивности истЬч ника и пропускани  оптической системы, эта система обладает большими погрешност ми измерени  градиента рефракции. Наиболее близкой по технической сущности к данному изобретению,  вл етс  рефрактометрическа  система дл  анали-ГИ ческой ультрацентрифуги, содержаща  последовательно расположенные источник света, коллиматор с объективом и щелью, кювету дл  анализируемого вещества с щелевой маской, расположенную во вращающемс  роторе ультрацентрйфуги, диафрагму , объектив, сканирующее устройство и фотоприемник 2J. В этом системе используетС: преобразование отклонени светового пучка в длительность светового ймпуЛьса с последующим ее измерением. Поэтому погрешность из-за неравномерности светового потока вдоль сектора кюветы, вариацит интенсивности источника с№та и пропускани  оптической системы уменьшены, но не исключены. Кроме того, известна  рефрактометрическа  система позвол ет работать только с односекторными кюветами . Целью насто щего изобретени   вл етс  повышение точности измерени  градиента рефракцииИ расширение функ-Нйона ьных возможностей системы. Эта цель достигаетс  тем, что в фокальную плоскость коллиматорного объектива введена неподвижна  щелева  диафрагма , перпендикул рна  коллиматорной; щели. На чертеже изображена схема рефрактометрической системы дл  аналитической ультрадентрифуги.,. Рефрактометрическа  система состоит из источника света 1, щели 2, нижнего коллиматорного объектива 3, кюветы 4 дл  анализируемого вещества со щелевой маской 5, расположенной во вращающемс роторе ультрацентрифуги верхнего коллиматорного объектива б, цилиндрического объектчва 1, диафрагмы 8, состо щей из неподвижной 9 и подвижной 10 щелей, сферического 11 и цилиндрического 12 объективов сканирующей щели 13, привоДИМОЙ в движение сканирующим ме.ханиз- мом 14, и фотоэлектронного умножител  15. Система работает следующим образом Выход щий из щели 2 от источника 1 световой поток формируетс  нижним коллиматорным объективом 3 в параллель . нь1й световой подток. Щелева  маска 5 вырезает из этого потока узкий пучок пар1аллельных лучей верхним коллиматорным объективом 6 и цилиндрическим объективом 7, в плоскости диафрагмы 8 создаетс  световое п тно, перемешающее с -при вращении ротора. Световое представл ет собой пр моугольник, размеры стЪрон которого определ кЭтс  шири ной щели 2 и цтелевой маски 5. Объективы 6, 11, 12 создают изображение кЮветы 4 в плоскости сканирующей щели 13. .Фотоэлектронный умножитель 15 пре образует падающие на него в процессе вращени  ротора световые импульсы в электрические. Рефрактометрическа  система дл  аналитической ультрацентрифуги позвол ет повысить точность измерени  градиента рефракции в кювете аналитической ультрацентрифуги , что в целом повышает точность выполн емых научных исследований , в частности, при разделении биологических веществ. Повышение точности измерений .и расширение функциональных возмохшостей системы позвол ет подн ть производительность труда при- проведении научных исследований, уменьшить износ дорогосто щего оборудовани . Формула изобретени  Рефрактометрическа  система дл  аналитической ультрацентрифуги, содержаща  последовательно расположенные источник света, коллиматор с объективом и щелью кювету дл  анализируемого вещества с щелевой маской, расположенную во вращающемс  роторе упьтрацентрифуги, диафрагму , объектив, сканирующее устройство , фотоприемник, отличающа с   тем, что, с целью повышени  точности измерени  градиента рефракции и расширени  функциональных возможностей системы, в фокальную плоскость коллиматорного объектива введена неподвижна  щелева  диафрагма, перпендикул рна  коллиматорной щепи. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Reisner А .Н. Modification of the Phobelectric Scanner of the Analyiical UltrocentHfug« tov Schlieren Analysis. Analyiical iochemistry, 41, 1-15, 1971. . ..- The invention relates to a measurement technique and can be used to measure the refraction gradient in a cell of an analytical ultracentrifuge. A refractometric system for an analytical ultracentrifuge is known, comprising a light source, a collimator, a cuvette, an ultracentrifuge rotor, a diaphragm, a photodetector 1.; In a known system, during rotation of the rotor, the deflection of the light beam, caused by the gradient of refraction in the cuvette, is converted by means of a diaphragm into the amplitude of the B-signal of the photo-primary. Since the amplitude of the output signal is largely influenced by the unevenness of the light flux along the sector of the cuvette, variations in the intensity of the power source and transmission of the optical system, this system has large errors in measuring the refraction gradient. The closest to the technical essence of the present invention is a refractometric system for an analytical-GI ultracentrifuge, comprising a sequential light source, a collimator with an objective and a slit, a analyte cuvette with a slit mask, an ultracentric pulse, a diaphragm, and an analyte cuvette scanner and photodetector 2J. This system uses the C: conversion of the deflection of the light beam into the duration of the light pulse with its subsequent measurement. Therefore, the error due to the irregularity of the light flux along the cuvette sector, the variation of the intensity of the source C and the transmission of the optical system are reduced, but not excluded. In addition, the known refractometric system allows working only with single-sector cuvettes. The purpose of the present invention is to improve the accuracy of measurement of the refraction gradient and to expand the functional capabilities of the system. This goal is achieved by the fact that a fixed slit diaphragm perpendicular to the collimator is inserted into the focal plane of the collimator lens; slots. The drawing shows a diagram of a refractometric system for an analytical ultra-drift. The refractometric system consists of a light source 1, a slit 2, a lower collimator lens 3, a cuvette 4 for an analyte with a slit mask 5 located in the rotating ultracentrifuge rotor of the upper collimator lens b, a cylindrical object 1, a diaphragm 8 consisting of a fixed 9 and a movable 10 slits, a spherical 11 and a cylindrical 12 objective of the scanning slit 13, driven by the scanning engine, 14, and a photomultiplier 15. The system works as follows: Out of the slit 2 from Source 1 light flux is formed by the lower collimator lens 3 in parallel. ny1y light inflow. The slit mask 5 cuts out a narrow beam of parallel rays from this stream by the upper collimator lens 6 and the cylindrical lens 7; a light spot is created in the plane of the diaphragm 8 that mixes with the rotation of the rotor. The light is a rectangle, the dimensions of which are determined by the width of the slit 2 and the pixel mask 5. The lenses 6, 11, 12 create an image of the cell 4 in the plane of the scanning slit 13. The photoelectric multiplier 15 transforms on it during rotation of the rotor light pulses into electrical. A refractometric system for an analytical ultracentrifuge allows one to increase the accuracy of the measurement of the refraction gradient in the cuvette of the analytical ultracentrifuge, which generally improves the accuracy of scientific research, in particular, in the separation of biological substances. Improving the accuracy of measurements. And expanding the functional capabilities of the system allows you to increase productivity in scientific research, reduce wear on expensive equipment. The Refractometric system for an analytical ultracentrifuge containing a sequential light source, a collimator with a lens and a slit for an analyte with a slit mask located in a rotating rotor, an ultracentrifuge, a diaphragm, a lens, a scanning device, a photodiode, different from that increasing the accuracy of measuring the refractive gradient and expanding the functionality of the system, the focal plane of the collimator lens is izhna slit diaphragm, is perpendicular to the collimator schepi. Sources of information taken into account during the examination 1. Reisner A.N. Modification of the Scanner of the Analytical UltrocentHfug "tov Schlieren Analysis. Analyiical iochemistry, 41, 1-15, 1971.. 2. Авторское свидетельство СССР п.о за вке № 1864891/25, кл. G 01 J 1/04, 1972 (прототип).2. USSR author's certificate pp. For application number 1864891/25, cl. G 01 J 1/04, 1972 (prototype).
SU772446257A 1977-01-24 1977-01-24 Refractometric system for analytic ultracentrifuge SU693178A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772446257A SU693178A1 (en) 1977-01-24 1977-01-24 Refractometric system for analytic ultracentrifuge

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772446257A SU693178A1 (en) 1977-01-24 1977-01-24 Refractometric system for analytic ultracentrifuge

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU693178A1 true SU693178A1 (en) 1979-10-28

Family

ID=20693119

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772446257A SU693178A1 (en) 1977-01-24 1977-01-24 Refractometric system for analytic ultracentrifuge

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU693178A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1981002635A1 (en) * 1980-03-10 1981-09-17 Magyar Optikai Muevek Unified schlieren-interference apparatus,especially for ultracentrifuges

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1981002635A1 (en) * 1980-03-10 1981-09-17 Magyar Optikai Muevek Unified schlieren-interference apparatus,especially for ultracentrifuges

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0980021A (en) Multicapillary electrophoretic apparatus
DK90392D0 (en) DEVICE FOR INFRARED SPECTROPHOTOMETRIC ANALYSIS
SU693178A1 (en) Refractometric system for analytic ultracentrifuge
CN113804671A (en) High-sensitivity Raman spectrum detection system
WO2023135367A1 (en) An apparatus and a method for fluorescence imaging
CN104316629A (en) Liquid phase multi-channel detector device
SU1370456A1 (en) Method of fixing position of object outlines
SU717634A1 (en) Refractometric optical system
CN216082493U (en) High-sensitivity Raman spectrum detection system
SU593122A1 (en) Method of measuring refractive index of substance
SU619889A1 (en) Measuring device
RU83138U1 (en) Sperm Fertility Analyzer
SU1312453A1 (en) Device for analyzing solutions
SU714170A1 (en) Method of photometering objects located in optically active medium including contrast impurities
SU757898A1 (en) Method and device for testing optical systems
SU330667A1 (en) DEVICE FOR ASSESSMENT OF REGISTERED PHYSICAL VALUES
SU591047A1 (en) Aerosol spectrometer
SU913183A1 (en) Refraction index non-uniformity determination method
SU494602A1 (en) Photoelectric microscope
SU521504A1 (en) Turbidometer-transparent number
SU703759A1 (en) Method of determining the curvature of the interface of media
RU1805347C (en) Photometer-fluorimeter-nephelometer
SU1467464A1 (en) Method of determining refraction factor
SU699403A1 (en) Pulsed reflectometer
SU922632A1 (en) Device for micro-object scanning