SU690565A1 - Storage element for associative store - Google Patents
Storage element for associative storeInfo
- Publication number
- SU690565A1 SU690565A1 SU762408662A SU2408662A SU690565A1 SU 690565 A1 SU690565 A1 SU 690565A1 SU 762408662 A SU762408662 A SU 762408662A SU 2408662 A SU2408662 A SU 2408662A SU 690565 A1 SU690565 A1 SU 690565A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- transistor
- bus
- capacitor
- discharge
- pulse
- Prior art date
Links
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Description
II
Изобретение относитс к области вышслительной техники, а именно к запоминающим устройствам (ЗУ).This invention relates to the field of technology, in particular to memory devices.
Известны запоминающие элементы, в кото .рых поиск информащ1И может осуществл тьс на основе ограниченного количества функции 2-х переменных и требуетс дл реализации ассоциатавного поиска значительное количество транзисторов 1 .Memory elements are known in which information retrieval can be carried out on the basis of a limited number of functions of 2 variables and a significant number of transistors 1 are required to implement an associative search.
Известен также запоминающий элемент, содержащий основной и вспомогательный накопительные конденсаторы, транзистор считывани , адресный транзистор, транзистор записи, запоминающий транзистор и щины: адресную разр дную, считывани и записи, маскировани записи 2.A storage element is also known, which contains a main and auxiliary storage capacitors, a read transistor, an address transistor, a write transistor, a storage transistor and the following: address bit, read and write, write masking 2.
Этот элемент пам ти вл етс наиболее близким техническим рещением к предлагаемому .This memory element is the closest technical solution to the one proposed.
Недостаток известного злемента пам ти состоит в том, что он предназначен только дл работы в составе оперативного ЗУ, выполн функ7&1ю записи, хранени и считывани информации.The disadvantage of the known memory element is that it is intended only for operation as part of the operational memory, and performs the function of recording and storing information.
Целью изобретени вл етс расЩирениё Ъбласти применени Галемента пам ти за t счет осуществлени поиска информации на основе произвольной функции двух переменных .The aim of the invention is to reduce the use of memory memory by t by searching for information based on an arbitrary function of two variables.
Поставленна цель достигаетс тем, что в элемент пам ти введен второй запоминающий транзистор, затвор которого соединен с истоком ajqjecHoro транзистора, сток - с щиной сравнени , исток - с одной и щин опроса, исток первого запоминающего траншстора и друга обкладка первого конденсатора соедагаешл с шиной опроса.The goal is achieved by introducing a second memory transistor into the memory element, the gate of which is connected to the source of the ajqjecHoro transistor, the drain is from the comparison thickness, the source is from one of the polling stations, the source of the first memory tranchestor and the other face of the first capacitor is connected to the interrogation bus .
На чертеже изображена схема элемента паЬ4 ти .Элемент пам ти содержит первый конденсатор - 1; второй ко1Здшсатор - 2; адресный транзистор - 3; разр дную шину - 4; ащзесную шину - 5; транзистор записи - 6; транзистор считывани - 7; первый запоминающий транзистор - 8; тактирующую зону 9; шину сравнени - 10; первую шину опроса - 11; второй запоминающий транзистор - 12; вторую цпшу опроса - 13 и щину записи 14.The drawing shows the circuit element of the first item. The memory element contains the first capacitor - 1; the second one is 2; address transistor - 3; bit bus - 4; Genuine tire - 5; write transistor - 6; readout transistor 7; the first memory transistor - 8; clocking zone 9; comparison bus - 10; the first bus survey - 11; the second memory transistor - 12; the second poll tspshu - 13 and the recording 14.
Элемент пам тл работает следующим образом . В режиме поиска 1 в первом такте на адресную шину 5 подаетс импульсный сигнал , открывающий адресный транзистор 3, а на разр дную шину 4 сигнал логической 1, представленный потенциалом, который зар жает втброй конденсатор 2, св занный с затвором второго запоминающего транзистора 12, через открытый сигналом по адресной шине 5 адресный транзистор 3 до уров|н логической единицы. Одновременно производитс зар д паразитной емкости 1апйаы сраднени 10 анешними источниками до уровн логической 1 при наличии импульса на шине 13, блокирующему сквозной ток через транзистор 12 в процессе зар да . Во втором такте на тактирзпющую нгану 9 подаетс , открываюидай транзистор считывани 7, а на первую шину опроса 11 подаетс нулевой потенциал. В случае хранени 1 второй конденсатор 2 ргир жаетс через открытые транзисторы считывани 7 и пер ый запоминающий транзистор 8 до уровн логического О, импульс с ишны 13 енимаетс , а зар д на шине сравнши 10 сохран етс , так как второй запоминающий транзистор 12 оказываетсй закрытым , что соответствует сигналу совпадени при поиске 1. В случае хршенн О второй конденсатор 2 и вход транзистора 12 сохран ют: потенциал логической 1 что обеспечивает разр д паразитной емкости поош сравнени 10 до уровн HoriPtecKoro О через открытый второй запоминающий транзистор 12 после сн ти импульса с шины 13 и соответствует сигналу несовпадени при поис1 е 1.The memory element works as follows. In search mode 1, a pulse signal is sent to the address bus 5, opening the address transistor 3, and to the discharge bus 4 a signal of logical 1, represented by the potential, which charges the capacitor 2 connected to the gate of the second memory transistor 12 via opened by a signal on the address bus 5, the address transistor 3 to the level of | n logical units. At the same time, the parasitic capacitance of the capacitor is supplied by 10 aneshe sources to logic level 1 in the presence of a pulse on the bus 13 blocking the through current through the transistor 12 during the charging process. In the second clock cycle, the tactical nganu 9 is applied, the opening of the read transistor 7 is opened, and a zero potential is applied to the first interrogation bus 11. In the case of storing 1, the second capacitor 2 is driven through the open reading transistors 7 and the first storage transistor 8 to the level of logic O, the pulse with the threshold 13 is consumed, and the charge on the bus is compared to 10, since the second storage transistor 12 turns out to be closed, which corresponds to the coincidence signal in search 1. In the case of hrs O, the second capacitor 2 and the input of transistor 12 are saved: the potential is logical 1 which ensures the discharge of the parasitic capacitance by comparing 10 to the level of HoriPtecKoro O through the open second memory the transistor 12 after removing the pulse from the bus 13 and corresponds to the mismatch signal when searching 1 e 1.
В режиме поиска О в первом такте иа разр дную шину 4 подаетс сигнал логического О, представленного нулевым потенциалом , который разр жает второй конденсатор 2 до уровн логического О через .адресный транзистор 3 на затвор которого подаетс импульсный сигнал, открьгеающий адресный затвор 3.In the search mode O, in the first cycle and the discharge bus 4, a logical O signal is represented, represented by a zero potential, which discharges the second capacitor 2 to the logic level O through the address transistor 3 to the gate of which a pulse signal is sent, which opens the address gate 3.
Во втором такте на тактирующую тину 9 подаетс импульс, открывающий транзистор считывани 7, а на первую шину опроса 11 импульс, опрашивающий состо ние первого конденсатора 1.In the second cycle, clock pulse 9 is given a pulse, which opens the read transistor 7, and a pulse interrogating the state of the first capacitor 1 is sent to the first interrogation bus 11.
Если первый ко1вденсатор 1 хранит логическую I, то есть зар жен; транзистор считывани 7 открыт к на входе второго запоминающего транзистора 12 устанавливаетс сигнал логической 1, так как второй конденсатор 2 зар жаетс через транзистор считывани 7 и первый запоминающий транзисIf the first capacitor 1 stores a logical I, that is, is charged; readout transistor 7 is open to the input of the second storage transistor 12, a signal of logical 1 is established, since the second capacitor 2 is charged through the readout transistor 7 and the first storage transistor
тор 8 импульсов опроса, и шина сравнени 10 разр жаетс до уровн логического О через открытый второй запоминающий транзистор 12 после окончани импульса на второй шине опроса 13, что соответствует сигналу несовпадени при поиске О.the interrogation pulse torus 8, and the comparison bus 10 is discharged to a logic level O through the open second memory transistor 12 after the end of the pulse on the second interrogation bus 13, which corresponds to a mismatch signal when searching for O.
В случае маскировани при поиске в первом такте подаетс потенциал О на разр дную ишну 4. и производитс разр д второго конденсатора 2 через адресный транзистор 3, открытый импульсом на адресной щине 5,а также предварительный зар д шины сравнени 10, во втором уакте импульс onpdca на первую ишну опроса 11 не подаетс , что и обеспечивает сохранение сигнала О на входе транзистора 12, а также потенциала логической 1 шины сравнени 10, соответствующего совпадени при поиске О и 1. Таким образом, режим маскировани при поиске отличаетс от режима поиска О блокирбванием импульса опроса по первой шине опроса 11 во втором такте.In the case of masking, when searching in the first cycle, the potential O is applied to the discharge threshold 4. The second capacitor 2 is discharged through the address transistor 3, opened by an impulse on the address bar 5, as well as the precharge of the compare 10 bus, onpdca pulse 2 The first scan interval 11 is not applied, which ensures the preservation of the signal O at the input of transistor 12, as well as the potential of logical 1 bus of comparison 10, the corresponding match when searching for O and 1. Thus, the masked mode during the search is different from the search mode a About blocking the interrogation pulse on the first interrogation bus 11 in the second cycle.
Таким образом, на затворе транзистора 12 в процессе поиска устанавливаетс значение результата сравнени хранимой в запоминающем злементе информации с внешней информ цией, поступающей в ассоциативное запоминающее устройство (АЗУ) дл операции поиска . В случае совпадени всех разр дов какого-либо слова АЗУ с внешним словом на затворщс запоминающих транзисторов 12 всех злементов пам ти, образующих слово, устанавливаетс уровень логического О как резуль тат сравнени в каждом отдельном разр де. Шина сравнени 10 зтих слов, образованна объеданением стоков транзисторов 12, после |сн ти 1шпульса предварительного зар да с |щины 13, остаетс зар женной (в состо нии логической 1), так как транзисторы 12. окажутс закрытыми. На шнне сравнета 10 нулевой потенциал будет устанавливатьс только в случае несовпадени информации хот бы одной чейки данного слова АЗУ с соответствующим разрадом входного слова, что и требуетс дл функционировани АЗУ.Thus, on the gate of the transistor 12, in the search process, the value of the result of the comparison of the information stored in the memory cell with the external information supplied to the associative memory (CAM) for the search operation is established. In the event that all the bits of a word in the CAM coincide with the external word on the gates of the storage transistors 12 of all the memory elements forming the word, a logical level O is set as a result of the comparison in each individual bit. A comparison bus of 10 words, formed by combining the drain of transistors 12, after removing 1 pre-pulse from pre-charge 13, remains charged (in the logical 1 state), since transistors 12 will turn out to be closed. On the comparison string 10, the zero potential will be set only if the information of at least one cell of a given AMU word does not coincide with the corresponding input word length, which is required for the functioning of the ABC.
Работа злемента в режиме считывани информации происходит следующим образом.The operation of the element in reading information is as follows.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762408662A SU690565A1 (en) | 1976-09-27 | 1976-09-27 | Storage element for associative store |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762408662A SU690565A1 (en) | 1976-09-27 | 1976-09-27 | Storage element for associative store |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU690565A1 true SU690565A1 (en) | 1979-10-05 |
Family
ID=20678544
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762408662A SU690565A1 (en) | 1976-09-27 | 1976-09-27 | Storage element for associative store |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU690565A1 (en) |
-
1976
- 1976-09-27 SU SU762408662A patent/SU690565A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6256216B1 (en) | Cam array with minimum cell size | |
TWI618063B (en) | Ternary content addressable memory | |
CA1229917A (en) | Glitch lockout circuit for memory array | |
EP0187822B1 (en) | Content addressable semiconductor memory arrays | |
EP0905709B1 (en) | Single ended match sense amplifier | |
USRE43359E1 (en) | System and method for low power searching in content addressable memories using sampling search words to save power in compare lines | |
GB1495063A (en) | Charge transfer sensing circuits | |
US3909631A (en) | Pre-charge voltage generating system | |
US5907861A (en) | Destructive read protection using address blocking technique | |
CN100505097C (en) | Content addressable memory and its operation method | |
US7400520B2 (en) | Low-power CAM | |
KR100525230B1 (en) | Semiconductor memory | |
US5428564A (en) | Six transistor dynamic content addressable memory circuit | |
SU690565A1 (en) | Storage element for associative store | |
US3528065A (en) | Double-rail random access memory circuit for integrated circuit devices | |
JPH05298892A (en) | Associative storage memory | |
SU723680A1 (en) | Storage semiconductor cell | |
CN112071348B (en) | Apparatus, system and method for determining extremum values | |
SU731474A1 (en) | Associative storage | |
SU533988A1 (en) | Memory cell on mdp transistors | |
SU693437A1 (en) | Storage cell | |
SU805412A1 (en) | Associative storage element | |
SU788175A1 (en) | Storage element | |
SU1274001A1 (en) | Memory register with internal regeneration | |
SU1501163A1 (en) | Associative storage |