SU684335A1 - Система дл калибровки спектров - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к спектраль- |ному приборостроению, а именно, к системам , позвол ющим эталонировать и сравнивать спектры, и может быть испол зовано в спектральных приборах. Известны устройства, позвол ющие измер ть длины волн спектров. Они не пазвои ют, однако, записывать одновременно , использу  при этом одни и те же участки элементов спектрального прибора без уменьшени  отношени  сигнал/шу Наиболее близким по технической сущ ности  вл етс  система дл  калибровки спектров, содержаща  плоскую дифрак- цноннук .решетку-юветоделитель с симме ричным профилем штрихов и два плоских зеркала pj. Известна  система не позвол ет осуществл ть калибровку спектров с высокой степенью точности, поскольку запись исследуемого и эталонного спектров про изводитс  последовательно. Целью изобретени   вл етс  повышение точности калибровки спектров. Дл  этого система дл  калибровки спектров дополнительно снабжена разделителем , центр которого совмещен с оптической осью системы и образует два разделительных оптических каршла, причем разделитель выполнен в виде двух 45 призм, соединенных между собой с помощью оптического контакта, или из трёх зеркал, два из которых развернуты под углом 45 к оптической оси системы и их общее ребро перпе}щикул рно ей, а третье зеркало наютонено под углом 45 к плоскости, перпендикул рной оптической оси, причем точка пересечени  всех трех зеркал совмещена с оптической осью системы. На фиг. 1 приведена схема иитерфе ренционного спектрометра; на фиг. 2 схема разделител , выполненного в виде двух 45 -X призм; на фиг. 3 - cxeNia разделител , выполненного из трех зеркал .

Система дл  калибровки спектров содержит исследуемый источник света 1, разделитель 2, линзы 3, дифракционную решетку-светоделитель 4, зеркала 5 и 6 спектрометра, фотоприемник 7, самописец 8, эталонный источник 9 сплошного спектра (лампочка накаливани ), интерферометр Фабри-Перо 10, фотопри- емник И,

Система работает следующим образом От исследуемого источника света 1 радиаци  проходит над гран ми разделител  2 вдоль .оптической оси и линзами 3, проецируетс  на дифракционную решетку-светоделитель 4. Разложенное излучение направл етс  на зеркала 5 и 6, которые , в свою очередь, направл ют это излучение обратно на дифракционную решетку 4, где происходит интерференци . Далее излучение попадает на одну из . граней разделител  и отражаетс  от нее под углом 9О на фотоприемник 7. Сигнал от фотоприемника передаетс  на самописец 8.

Одновременно излучение от эталонного источника 9 и эталон Фабри-Перс 10 попадает на другую грань разделител  и далее на дифракционную решетку 4,

Таким образом, эталонное излучение так же, как и исследуемое, проходит через .интерференционную часть прибора, затем отражаетс  третьей гранью разделител  и направл етс  на фотоприемник 11 Сигнал от фотоприемника 11 также подаетс  на самописец 8.

Жестка  конструкци  в виде призм примен етс  при посто нных углах между калибровочными источниками исследуемыми . Система зеркал испол1 зуетс  в случае переменных углов между калибровочным и исследуемым источниками. Обща  грань зеркал, образованна  при касании их друг относительно друга, и размер, которой ограничиваетс  технологическими фасками, должны быть минимальными .

Использование в интерферометре опи-санного разделител  дает возможность одновременной записи исследуемого спектра и спектра эталонного источника практически без потерь в шуме,

Оба излучени  проход т близко друг к другу и к оптической оси прибора, что дает возможность исключить ошибки сканировани .

Claims (2)

1.Шишловский А. А. Прикладна  физическа  оптика. -М., ГИФМЛ, 1961,

с. 419.

2.Авторское свидетельство СССР № 172084, 6 01 J 3/18. 1965.