Claims (3)
во времени входной сигтал, поступающий на испытуемый прибор, и выходной сигнал, снимаемый с выхода этого прибора 2. Наиболее близким к изобретению техническим решением вл етс устройство дл контрол динамических параметров интегральных микросхем, содержащее генератор импульсов , коммутационную матрицу, первый. двухканальный стробоскопический преобразователь , блок сдвига, первый блок формировани уровней отсчета, первую схему срав .нени , блок измерени иитервалов времени, блок управлени , причем выход тест-импульсов генератора импульсов соединен со входом первого канала первого двухканального стробоскопического преобразовател и с первым входом коммутационной матрицы, первый выход и второй вход шторой соединены соответственно со входом и вьиодом контролируемой микросхемы, второй выход коммутационной матрицы соединен со входом второго канала первого двухканального стробоскопического преобразовател , выход импульсов синхронизации генератора импульсов через блок сдвига соединен с управл ющим входом первого двухканального стробоскопического преобразовател , выход котоpopQ соединен с первым входом первой схемы сравнени и через первый блок формировани уровней отсчета - со вторым входом первой схемы сравнени , выход кото .рой соединён с первым входом блока измерении интервалов времени, выход блока измерени интервалов времени соединен со входом блока управлени 3}. Однако известные устройства характеризуютс низкой производительност.ю контрол параметров, прнчина которой заключаетс в том, что динамические параметры измер ютс и контролирукугс последовательно. Целью изобретени вл етс повышение производительности контрол динамических параметров микросхем. В описываемом устройстве это, достигаетс тем, что в него введеньь второй Двухканальный стробрскопич ски|1 преобразователь, втора схема ° сравнени , второй блок формировани уровней отсчета и блок задержки, причем выхо ды проходного сигнала первого, и второго кана.пов первого двухканалького стробоскопического преобразовател соединены сортветственно со входами первого и второго каналов второго Двух канального стробоскопического преобразовател , выход блока сдвига через блок задержки соединен с управл ющим входом второго двухканального стробоскопического преобразовател , выход которого соединен с первым входом второй схемьГ сравнени и через второй блок формировани уровней отсчета - со вторым входом второй схемы сравнени , выход второй схемы сравнени соединен со вторым ВХО.ЦОМ блока измерени интервалов времени . На чертеже показана схема описываемого устройства. ©ио содержит генератор импульсов 1, выхрд 2 которого дл тест-импульса 2 присоединен ко входу 3 первого канала двухканального стробоскопического преобразовател 4 и к коммутационной матрице 5, соединенной с контролируемой микросхемой 6 и со входом 7 второго канала двухканального стробоскопического преобразовател 4, выход 8 дл проходного сигнала которого рисоединен ко входу первого канала двухканального стробоскопического преобразовател 9, выход 10 дл проходного сигнала преобразовател 4 присоединен ко В1ходу второго канала двухканального преобразовател 9, выход 11 сигнала-синхронизации генератора 1 присоединен к блоку сдвига 12, выход которого подключен к двухканальному стррбоскопическому преобразователю 4 и к блоку задержки 13, присоединенному к двухканальному стробоскопическому преобразователю 9. Выход стробоскопического преобразовател 4 присоединен к блоку формировани уровней отсчета 14 и к схеме сравнени 15, а выход стробоскопического преобразовател 9 присоединен к блоку формировани уровней отсчета 16 и к схеме сравнени 17, вторые входы схем сравнени 15 и 17 присоединены к блокам формировани уровней отсчета 14 и 16, а выход - к блоку измерени интервалов времени 18, присоединенному к блоку управлени 19. Генератор 1 формирует тест-импульсы, которые поступают на коммутационную матрицу 5 и на вход 3 первого канала двухканального стробоскопического преобразовател 4. Коммутационна матрица 5 пронзводит автоматически по заданной программе переключени , обеспечива на выходах контролируемой микросхемы 6 требуемый режим испытани . Эта матрица состоит из высокочастотных переключателей (реле). Их количество завибит от типа микросхем, п граммы и режимов испытаний. Таким образом, тест-импульсы поступают через контакты группы реле на один из выходов контролируемой микросхемы. С выхода микросхемы сигнал через другие контакты реле этой же- матрицы поступает на вход 7 второго канала двухканального стробоскопического преобразовател 4. На вход первого канала сигнал поступает с выхода 2 дл тест-импульса генератора I. Второй двухканальный стробоскопический преобразователь 9 включен последовательно с. первь1м, т. е. выход дл проходного сигнала первог6 кйнала первого преобразовател 4 присоединен ко входу первого канала преобразовател 9. Аналогично соединены и вторые каналы. Двухканальный стробоскопический преобразователь 4 преобразует часть сигнала. соответствующего одному из фронтов исследуемого сигнала, двухканальный стробоскопический преобразователь 9 - часть, соответствующую другому фронту, Сигнал синхронизации с выхода II генератора 1 поступает на блок сдвига 12, который включает в себ генератор быстрого пилообразного напр жени , генератор медленного ступенчатого напр жени и схему сравнени . В последней происходит срав-. нение быстрого пилообразного напр жени медленным ступенчатым и формируютс сигналы, сдвинутые рдин относительно другого на врем Ate- шаг считывани . Сигнал с, выхода блока сдвига поступает на стробоскопический . лреобразователь 4 дл возбуждени строб-генератора этого преобразова ел и через блок задержки 13 - на преобразователь 9. Таким образом, сигналы синхронизации преобразователей 4 и 9 сдвинуты один относительно другого на заданное врем . Это и обеспечивает одновременное лреобразование двум преобразовател ми 4 и 9 двух частей сигнала. Преобразованные во времени сигналы с выхода двухканального стробоскопического преобразовател 4 поступают на блок формировани уровней отсчета 14 и на схему сравнени 15. Блок формировани уровней отсчета 14 содержит два емкостных узла пам ти дл запоминани верхнего и нижнего уровней сигналов и делителей напр жени Опорные напр жени с этих делителей поступают на схему сравнени 15. Количество делителей дл входного сигнала - один {0,5 амплитуды сигнала), дл выходного - три (0,5; 0,1 и 0,9 амплитуды сигнала). Схема сравнени 15 содержит четыре дискриминатора - один ка каждый уровень отсчета. При задании уровней отсчета по посто нному напр жению эти уровни . подаютс на вход соответствующих двухканальных стробоскопических преобразователей, запоминаютс блоком формировани уровней отсчета 14, после их преобразовани , и затем подаютс на схему сравнени 15. С выходов четырех дискриминаторов сигналы поступают на блок измерени интервалов времени 18. С выходов первого и второго каналов двухканального стробоскопического преобразовател 9 сигналы поступают на блок формировани уровней отсчета 16 и схему сравнени 17. Эти блоки аналогичны соответствующим блоку 14 и схеме 15. Блок измерени интервалов времени одновременно производит контроль сразу четырех динамических параметров интегральных схем. Он содержит четьгре счетчика числа импульсов, на которые сигналы разрешени счета и конца счета поступают с дискриминаторов. Зафиксированна в счетчиках информаци о длительности измер емого интервала считываетс поочередно в схему цифрового сравнени , котора в соответствии с заданными уставками производит разбраковку интегральных схем по параметрам. Блок управлени 19 обеспечивает автоматизацию нзмереии параметров испытуемой микросхемы. Изобретение позвол ет одновременно контролировать четыре динамических параметра интегральной микросхемы, при этом производительность контрол повышаетс в четыре раза. Формула изобретени Устройство дл контрол динамических параметров интегральных микросхем, содержащее генератор имгтульсов, коммутационную матрицу, первый двухканальный стробоскопический преобразователь, блок сдвига, первый блок формировани уровней отсчета , первую схему сравнени , блок измерени интервалов времени, блок управлени ,.причем выход тест-импульсов генератора импульсов соединен с входом первого канала первого двухканального стробоскопического преобразовател и с первым входом коммутационной матрицы, первый выход и второй вход которой соединены соответственно со входом и выходом контролируемой микросхемы , второй выход коммутационной матрицы соединен со входом второго канала первого двухканального стробоскопического преобразовател , выход импульсов синхронизации генератора импульсов через блок сдвига соединен с управл ющим входом первого двухканального стробоскопического преобразовател , выход которого соединен с первым входом первой схемы сравнени и через первый блок формировани уровней отсчета соединен со вторым входом первой схемы сравнени , выход которой соединен с первым входом блока измерени интервалов времени, выход блока измерени интервалов времени соединен со входом блока управлени , отличающеес тем, что, с целью повышени производительности, в устройство введены второй двухканальный стробоскопический преобразователь, втора схема сравнени , второй блок формировани уровней отсчета и блок задержки, причем выходы проходного сигнала первого и второго каналов первого двухканального стробоскопического преобразовател соединены соответственно со входами первого и второго каналов второго двухканального стробоскопическогО преобразовател , выход блока сдвига задержки соединен с управл ющим входом второго двухканального стробоскопического преобразовател , выход которого соединен с первым входом второй схемы сравнени и через второй блок формировани уровней отсчета - со вторым входом второй схемы сравнени , выход второй схемы сравнени соединен со вторым входом блока измерени интервалов времени. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.«Электронна промышленность, 1973, № 4, c.-lU-N. in time, the input signal arriving at the device under test and the output signal taken from the output of this device 2. The closest technical solution to the invention is a device for monitoring the dynamic parameters of integrated circuits containing a pulse generator, a switching matrix, the first one. a two-channel stroboscopic converter, a shift unit, a first unit for forming reference levels, a first comparison circuit, a unit for measuring time intervals, a control unit, the output of test pulses of a pulse generator connected to the input of the first channel of the first two-channel stroboscopic converter and the first input of the switching matrix, The first output and the second input are connected by a curtain respectively to the input and output of the controlled chip, the second output of the switching matrix is connected to the input of the second About the channel of the first two-channel stroboscopic converter; the output of the synchronization pulses of the pulse generator is connected to the control input of the first two-channel stroboscopic converter, the output of which is connected to the first input of the first comparison circuit and to the second input of the first comparison circuit, the output which is connected to the first input of the time interval measurement block, the output of the time interval measurement block is connected to the input of the control block and 3}. However, the known devices are characterized by low performance of parameter monitoring, the principle of which is that the dynamic parameters are measured and controlled sequentially. The aim of the invention is to improve the performance of monitoring the dynamic parameters of the microcircuits. In the described device, this is achieved by introducing a second two-channel strobe converter | 1 converter, a second comparison circuit, a second unit for forming reference levels and a delay unit, with the output signals of the first and second channels passing through the first two-channel stroboscopic converter connected to the inputs of the first and second channels of the second Two-channel stroboscopic converter, the output of the shift unit is connected to the control input of the second two-channel through the delay unit cial stroboscopic converter, whose output is connected to a first input of the second comparator skhemG and through the second block forming the reference layers - the second input of the second comparison circuit, the output of the second comparator circuit is connected to a second block VHO.TSOM measurement time intervals. The drawing shows a diagram of the described device. © io contains a pulse generator 1, the output 2 of which for test pulse 2 is connected to the input 3 of the first channel of the two-channel stroboscopic converter 4 and to the switching matrix 5 connected to the controlled chip 6 and to the input 7 of the second channel of the two-channel stroboscopic converter 4, output 8 dl the pass signal of which is connected to the input of the first channel of the two-channel stroboscopic converter 9, the output 10 for the pass signal of the converter 4 is connected to the B input of the second channel of the two-channel A converter 9, the output 11 of the synchronization signal of the generator 1 is connected to a shift unit 12, the output of which is connected to a two-channel strboscopic converter 4 and to a delay unit 13 connected to a two-channel stroboscopic converter 9. The output of the stroboscopic converter 4 is connected to the unit for forming reference levels 14 and to the comparison circuit 15, and the output of the stroboscopic converter 9 is connected to the unit for forming reference levels 16 and to the comparison circuit 17, the second inputs of the comparison circuits 15 and 17 These are connected to the formation units of the reference levels 14 and 16, and the output is connected to the measuring unit of time intervals 18 connected to the control unit 19. The generator 1 generates test pulses that go to the switching matrix 5 and to the input 3 of the first channel of the two-channel stroboscopic converter 4. The switching matrix 5 conducts automatically according to a predetermined switching program, providing the required test mode at the outputs of the controlled chip 6. This matrix consists of high-frequency switches (relays). Their number depends on the type of microcircuits, paragrams and test modes. Thus, the test pulses come through the contacts of the relay group to one of the outputs of the controlled chip. From the chip output, the signal through other contacts of the same matrix relay is fed to input 7 of the second channel of the two-channel stroboscopic converter 4. To the input of the first channel, the signal comes from output 2 for the test pulse of generator I. The second two-channel stroboscopic converter 9 is connected in series with. first1m, i.e., the output for the pass-through signal of the first 6 channel of the first converter 4 is connected to the input of the first channel of the converter 9. The second channels are similarly connected. Two-channel stroboscopic converter 4 converts a part of the signal. corresponding to one of the fronts of the signal under investigation, a two-channel stroboscopic converter 9 is the part corresponding to the other front. The synchronization signal from output II of generator 1 is fed to a shift unit 12, which includes a fast sawtooth generator, a slow step voltage generator, and a comparison circuit. In the latter there is a comparison. A fast sawtooth voltage is slowly stepped and signals are generated that are shifted from each other by an Ate time step. The signal c, the output of the shift block is fed to the stroboscopic. Transducer 4 for driving the strobe generator of this transducer and, via delay unit 13, to transducer 9. Thus, the synchronization signals of transducers 4 and 9 are shifted relative to each other for a specified time. This ensures simultaneous conversion by two converters 4 and 9 of two parts of the signal. The time-converted signals from the output of the two-channel stroboscopic converter 4 are fed to the reference level generation unit 14 and the comparison circuit 15. The reference level generation unit 14 contains two capacitive memory nodes for storing the upper and lower levels of signals and voltage dividers Reference voltages from these dividers arrive at comparison circuit 15. The number of dividers for the input signal is one {0.5 signal amplitude), for the output one - three (0.5; 0.1 and 0.9 signal amplitude). The comparison circuit 15 contains four discriminators - one ka each level of reference. When setting reference levels by constant voltage, these levels. are fed to the input of the corresponding dual-channel stroboscopic transducers, are remembered by the unit for forming reference levels 14, after they are converted, and then fed to the comparison circuit 15. From the outputs of four discriminators, signals are sent to the measuring unit for time intervals 18. From the outputs of the first and second channels of the two-channel stroboscopic converter 9 the signals arrive at the block forming the reference levels 16 and the comparison circuit 17. These blocks are similar to the corresponding block 14 and the circuit 15. The measurement unit is the interval At the same time, it simultaneously monitors four dynamic parameters of integrated circuits. It contains across the counter the number of pulses to which the signals for resolving the count and the end of the count come from the discriminator. The information on the duration of the measured interval recorded in the counters is read alternately into a digital comparison circuit, which, in accordance with the given settings, deconstructs the integrated circuits by parameters. The control unit 19 provides automation of the measurement of the parameters of the test chip. The invention permits the simultaneous control of four dynamic parameters of an integrated circuit, with the performance of the control being increased four times. An apparatus for monitoring dynamic parameters of integrated circuits comprising an imgtulse generator, a switching matrix, a first two-channel stroboscopic converter, a shift unit, a first unit for forming reference levels, a first comparison circuit, a time interval measuring unit, a control unit, and an output test-generator pulse the pulses are connected to the input of the first channel of the first two-channel stroboscopic converter and to the first input of the switching matrix, the first output d and the second input of which is connected respectively to the input and output of the controlled chip, the second output of the switching matrix is connected to the input of the second channel of the first two-channel stroboscopic converter, the output of the pulse generator synchronization pulses is connected to the control input of the first two-channel stroboscopic converter, the output of which is connected to the first input of the first comparison circuit and through the first block of formation of reference levels is connected to the second input of the first with Comparisons, the output of which is connected to the first input of the time interval measuring unit, the output of the time interval measuring unit is connected to the input of the control unit, characterized in that, in order to improve performance, a second two-channel strobe converter is inserted into the device, the second comparison circuit, the second forming unit the reference levels and the delay unit, the outputs of the pass signal of the first and second channels of the first two-channel stroboscopic converter are connected respectively to About the inputs of the first and second channels of the second two-channel stroboscopic converter, the output of the delay shift unit is connected to the control input of the second two-channel stroboscopic converter, the output of which is connected to the first input of the second comparison circuit and through the second input of the second comparison circuit, output The second comparison circuit is connected to the second input of the time interval measurement unit. Sources of information taken into account in the examination 1. "Electronic industry, 1973, No. 4, c.-lU-N.
2.Авторское свидетельство СССР № 234524, кл. G 01 R 31/26, 1967. 2. USSR author's certificate number 234524, cl. G 01 R 31/26, 1967.
3.«Электронна промышленность, 1971, № 3, с. 19.3. "Electronic industry, 1971, No. 3, p. nineteen.
647695647695