SU633429A1 - Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser - Google Patents
Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laserInfo
- Publication number
- SU633429A1 SU633429A1 SU772464131A SU2464131A SU633429A1 SU 633429 A1 SU633429 A1 SU 633429A1 SU 772464131 A SU772464131 A SU 772464131A SU 2464131 A SU2464131 A SU 2464131A SU 633429 A1 SU633429 A1 SU 633429A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- active element
- temperature
- plasma
- electrons
- laser
- Prior art date
Links
Landscapes
- Lasers (AREA)
Description
3 пер ату ры электронов в активных элементах с диаметром капилл ра 1 мм. Зонд вносит возмущение в плазму, что может существенно исказить результат измерений. Введение зонда вызывает значительные дифракционные потери, что делает невозможным применение данного способа дл измерений температуры электронов в тонких капилл рах работающих лазеров и, кроме того, такой способ требует сравнительно длительных измерений дл сн ти вольт-амперной характеристшси зонда. Цель изобретени - упрощение способа сокра щени времени измерений, исключени дифракi2U ,e,.,U.,,.,)-{l jThere are 3 electron electrons in active elements with a capillary diameter of 1 mm. The probe introduces perturbation into the plasma, which can substantially distort the measurement result. The introduction of the probe causes significant diffraction losses, which makes it impossible to use this method for measuring the temperature of electrons in thin capillaries of working lasers and, moreover, this method requires relatively long measurements to measure the current-voltage characteristics of the probe. The purpose of the invention is to simplify the method of reducing the time of measurement, elimination of diffraction, 2U, e,., U. ,,.,) - {l j
3oboH l pfl-#pf(if)j3oboH l pfl- # pf (if) j
где:Where:
UQ - установившеес значение напр жени на активном элементе;UQ is the steady-state value of the voltage on the active element;
во - зар д электрона;in - the electron charge;
Ср - емкость разр да;Cp is the discharge capacity;
1 - частота реактивных колебаний в начальной стадии;1 - the frequency of reactive oscillations in the initial stage;
Эд - установившеес значение тока через активный элемент;Ed is the steady-state current through the active element;
bo - подвижность ионов при слабых пол х при Р S 1 мм рт.ст;bo is the ion mobility at low fields x at P S 1 mm Hg;
Uj - потенциал Ионизации;Uj - Ionization potential;
/) - дифференциальное сопротивление активного элемента;/) - differential resistance of the active element;
R - балластное сопротивление;R - ballast resistance;
k - посто нна Больцманаk - constant Boltzmann
На чертеже изображена блок-схема устройства , при помощи которого реализуетс предлагаемый способ.The drawing shows a block diagram of a device by which the proposed method is implemented.
Анод активного элемента 1, в плазме которого определ етс температура электронов, соедин етс через балластное сопротивление 2 с источником 3 питани . Катод активного элемента I соедин етс с источником 3 питани через катодное сопротивление 4 и миллиамперметр 5. ЧастоtoMep 6, измер ющий частоту реактивных колебаний , соедииен с катодным сопротивлением 4. Вольтметр 7 соединен с электродами активного элемента 1.The anode of the active element 1, in whose plasma the temperature of the electrons is determined, is connected through the ballast resistance 2 to the power source 3. The cathode of active element I is connected to power supply 3 via cathode resistance 4 and milliammeter 5. OftentoMep 6 measuring the frequency of jet oscillations connected to cathode resistance 4. Voltmeter 7 is connected to electrodes of active element 1.
Предлагаемый способ осуществл етс следующим образом.The proposed method is carried out as follows.
Мен параметры цепи источник 3 питани - активный элемент 1 возбуждают реактивные колебани в начальной стадии и измер ют их частоту , установившеес значение напр жени на активном элементе 1, емкость разр да, установившеес значение тока через активный элемент 1 и дифференциальное сопротивление активного элемента 1.The circuit parameters of the power supply source 3 - active element 1 excite reactive oscillations in the initial stage and measure their frequency, the steady-state voltage value on the active element 1, the discharge capacitance, the steady-state current through the active element 1 and the differential resistance of the active element 1.
3-. .-i,i Д„3-. .-i, i Д „
л л l l
Знание этих величин позвол ет вычисдить температуру электронов в активном элементе. Использу выражение дл частоты начальной стадии реактивных колебаний можно получить соотношение , св зывающее температуру электронов в плазме активного элемента с частотой реактивных колебаний.Knowledge of these quantities makes it possible to calculate the temperature of the electrons in the active element. Using the expression for the frequency of the initial stage of reactive oscillations, one can obtain a relation connecting the electron temperature in the plasma of the active element with the frequency of reactive oscillations.
Дл реализации предлагаемого способа не требуетс каких-либо конструктивных измененийFor the implementation of the proposed method does not require any structural changes.
в активном элементе. С помощью предлагаемого способа можно измер ть температуру электронов практически в любом активном элементе работающего Не-Ne лазера, так как при этом не внос тс дифракционные потери и возмущени in the active element. Using the proposed method, it is possible to measure the electron temperature in almost any active element of a working He-Ne laser, since this does not introduce diffraction losses or disturbances.
в плазму. Емкость разр да и дифференциальное сопротивление активного элемента могут быть определены заранее дл каждого активного элемента .into the plasma. The discharge capacitance and the differential resistance of the active element can be determined in advance for each active element.
Врем , необходимое дл измерений, определ етс временем счета частотомера и временем измерени установившегос значени напр жени на активном элементе. При использовании, например , частотомера типа 43-34 А и высокоомного вольтметра врем измерений может составл тьThe time required for the measurement is determined by the counting time of the frequency meter and the measuring time of the steady-state voltage value on the active element. When using, for example, a frequency meter of type 43-34 A and a high-resistance voltmeter, the measurement time may be
не более нескольких секунд. Это позвол ет проводить измерени в тех случа х, когда по услови м эксперимента температура электронов мен етс с течением времени, например, при изменении режима работы лазера.no more than a few seconds. This allows measurements to be carried out in cases where, according to experimental conditions, the electron temperature changes over time, for example, when the laser mode changes.
Таким образом, предлагаемый способ позвоц ет упростить способ измерени температуры электронов в плазме активного элемента Не-Ne лазера, сократить врем измерений, исключить дифракционные потери и расширить диапазонThus, the proposed method allows to simplify the method of measuring the electron temperature in the plasma of the active element of an He-Ne laser, shorten the measurement time, eliminate diffraction losses, and extend the range
исследуемых приборов.investigated devices.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772464131A SU633429A1 (en) | 1977-03-21 | 1977-03-21 | Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772464131A SU633429A1 (en) | 1977-03-21 | 1977-03-21 | Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU633429A1 true SU633429A1 (en) | 1979-06-25 |
Family
ID=20700096
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772464131A SU633429A1 (en) | 1977-03-21 | 1977-03-21 | Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU633429A1 (en) |
-
1977
- 1977-03-21 SU SU772464131A patent/SU633429A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Ambridge et al. | An automatic carrier concentration profile plotter using an electrochemical technique | |
Hundley et al. | Nanosecond fluorimeter | |
Ricard et al. | Direct observation of vibrational relaxation of dye molecules in solution | |
Busoni et al. | A comparison between potentiostatic circuits with grounded work or auxiliary electrode | |
SU633429A1 (en) | Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser | |
Chen | Double‐Probe Method for Unstable Plasmas | |
Shelton et al. | Vibrational hyperpolarizabilities and the Kerr effect in CH4, CF4, and SF6 | |
Rawcliffe | An Electronic Method of Measuring Molecular Lifetimes | |
SU560189A1 (en) | Device for measuring the impedance frequency characteristics of electrodes of an electrochemical generator | |
RU2133999C1 (en) | Voltage measurement technique for planar semiconductor regions of metal-insulator- semiconductor structures | |
Petit‐Clerc et al. | New feedback Kelvin probe | |
Spoor et al. | An accurate determination of the radial distribution of gain at 633 nm in small bore helium-neon discharges | |
Moron | Differential, three-electrode measurement of electrolytic conductivity | |
SU1404981A1 (en) | Electric potential meter | |
RU2101720C1 (en) | Method and device for measuring voltage drop across semiconductor in misim structure | |
Hartshorn et al. | A condenser for the testing of liquid dielectrics | |
Haydon et al. | Time-resolved studies of the electrical breakdown of a gas at radio frequencies | |
SU998969A1 (en) | Analog electromeasuring instrument | |
US2519807A (en) | Ionization pressure gauge | |
RU2231858C1 (en) | Procedure determining forecast service life of ring helium-neon laser | |
SU399773A1 (en) | NON-CONTACT METER | |
SU654987A1 (en) | Method of determining internal current leakage in chemical current source | |
SU1511722A1 (en) | Apparatus for measuring voltage of sustaining discharge in gas-discharge devices | |
Rammelt et al. | The Influence of Geometry in a Two Electrode Arrangement and the Results of the Impedance Measurement by Corrosion Tests | |
RU2212078C2 (en) | Procedure determining tension of flat zones of semiconductor in metal-dielectric-semiconductor structures |