SU633429A1 - Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser - Google Patents

Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser

Info

Publication number
SU633429A1
SU633429A1 SU772464131A SU2464131A SU633429A1 SU 633429 A1 SU633429 A1 SU 633429A1 SU 772464131 A SU772464131 A SU 772464131A SU 2464131 A SU2464131 A SU 2464131A SU 633429 A1 SU633429 A1 SU 633429A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
active element
temperature
plasma
electrons
laser
Prior art date
Application number
SU772464131A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
В.Е. Привалов
Я.А. Фофанов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1742
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1742 filed Critical Предприятие П/Я А-1742
Priority to SU772464131A priority Critical patent/SU633429A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU633429A1 publication Critical patent/SU633429A1/en

Links

Landscapes

  • Lasers (AREA)

Description

3 пер ату ры электронов в активных элементах с диаметром капилл ра 1 мм. Зонд вносит возмущение в плазму, что может существенно исказить результат измерений. Введение зонда вызывает значительные дифракционные потери, что делает невозможным применение данного способа дл  измерений температуры электронов в тонких капилл рах работающих лазеров и, кроме того, такой способ требует сравнительно длительных измерений дл  сн ти  вольт-амперной характеристшси зонда. Цель изобретени  - упрощение способа сокра щени  времени измерений, исключени  дифракi2U ,e,.,U.,,.,)-{l jThere are 3 electron electrons in active elements with a capillary diameter of 1 mm. The probe introduces perturbation into the plasma, which can substantially distort the measurement result. The introduction of the probe causes significant diffraction losses, which makes it impossible to use this method for measuring the temperature of electrons in thin capillaries of working lasers and, moreover, this method requires relatively long measurements to measure the current-voltage characteristics of the probe. The purpose of the invention is to simplify the method of reducing the time of measurement, elimination of diffraction, 2U, e,., U. ,,.,) - {l j

3oboH l pfl-#pf(if)j3oboH l pfl- # pf (if) j

где:Where:

UQ - установившеес  значение напр жени  на активном элементе;UQ is the steady-state value of the voltage on the active element;

во - зар д электрона;in - the electron charge;

Ср - емкость разр да;Cp is the discharge capacity;

1 - частота реактивных колебаний в начальной стадии;1 - the frequency of reactive oscillations in the initial stage;

Эд - установившеес  значение тока через активный элемент;Ed is the steady-state current through the active element;

bo - подвижность ионов при слабых пол х при Р S 1 мм рт.ст;bo is the ion mobility at low fields x at P S 1 mm Hg;

Uj - потенциал Ионизации;Uj - Ionization potential;

/) - дифференциальное сопротивление активного элемента;/) - differential resistance of the active element;

R - балластное сопротивление;R - ballast resistance;

k - посто нна  Больцманаk - constant Boltzmann

На чертеже изображена блок-схема устройства , при помощи которого реализуетс  предлагаемый способ.The drawing shows a block diagram of a device by which the proposed method is implemented.

Анод активного элемента 1, в плазме которого определ етс  температура электронов, соедин етс  через балластное сопротивление 2 с источником 3 питани . Катод активного элемента I соедин етс  с источником 3 питани  через катодное сопротивление 4 и миллиамперметр 5. ЧастоtoMep 6, измер ющий частоту реактивных колебаний , соедииен с катодным сопротивлением 4. Вольтметр 7 соединен с электродами активного элемента 1.The anode of the active element 1, in whose plasma the temperature of the electrons is determined, is connected through the ballast resistance 2 to the power source 3. The cathode of active element I is connected to power supply 3 via cathode resistance 4 and milliammeter 5. OftentoMep 6 measuring the frequency of jet oscillations connected to cathode resistance 4. Voltmeter 7 is connected to electrodes of active element 1.

Предлагаемый способ осуществл етс  следующим образом.The proposed method is carried out as follows.

Мен   параметры цепи источник 3 питани  - активный элемент 1 возбуждают реактивные колебани  в начальной стадии и измер ют их частоту , установившеес  значение напр жени  на активном элементе 1, емкость разр да, установившеес  значение тока через активный элемент 1 и дифференциальное сопротивление активного элемента 1.The circuit parameters of the power supply source 3 - active element 1 excite reactive oscillations in the initial stage and measure their frequency, the steady-state voltage value on the active element 1, the discharge capacitance, the steady-state current through the active element 1 and the differential resistance of the active element 1.

3-. .-i,i Д„3-. .-i, i Д „

л л l l

Знание этих величин позвол ет вычисдить температуру электронов в активном элементе. Использу  выражение дл  частоты начальной стадии реактивных колебаний можно получить соотношение , св зывающее температуру электронов в плазме активного элемента с частотой реактивных колебаний.Knowledge of these quantities makes it possible to calculate the temperature of the electrons in the active element. Using the expression for the frequency of the initial stage of reactive oscillations, one can obtain a relation connecting the electron temperature in the plasma of the active element with the frequency of reactive oscillations.

Дл  реализации предлагаемого способа не требуетс  каких-либо конструктивных измененийFor the implementation of the proposed method does not require any structural changes.

в активном элементе. С помощью предлагаемого способа можно измер ть температуру электронов практически в любом активном элементе работающего Не-Ne лазера, так как при этом не внос тс  дифракционные потери и возмущени in the active element. Using the proposed method, it is possible to measure the electron temperature in almost any active element of a working He-Ne laser, since this does not introduce diffraction losses or disturbances.

в плазму. Емкость разр да и дифференциальное сопротивление активного элемента могут быть определены заранее дл  каждого активного элемента .into the plasma. The discharge capacitance and the differential resistance of the active element can be determined in advance for each active element.

Врем , необходимое дл  измерений, определ етс  временем счета частотомера и временем измерени  установившегос  значени  напр жени  на активном элементе. При использовании, например , частотомера типа 43-34 А и высокоомного вольтметра врем  измерений может составл тьThe time required for the measurement is determined by the counting time of the frequency meter and the measuring time of the steady-state voltage value on the active element. When using, for example, a frequency meter of type 43-34 A and a high-resistance voltmeter, the measurement time may be

не более нескольких секунд. Это позвол ет проводить измерени  в тех случа х, когда по услови м эксперимента температура электронов мен етс  с течением времени, например, при изменении режима работы лазера.no more than a few seconds. This allows measurements to be carried out in cases where, according to experimental conditions, the electron temperature changes over time, for example, when the laser mode changes.

Таким образом, предлагаемый способ позвоц ет упростить способ измерени  температуры электронов в плазме активного элемента Не-Ne лазера, сократить врем  измерений, исключить дифракционные потери и расширить диапазонThus, the proposed method allows to simplify the method of measuring the electron temperature in the plasma of the active element of an He-Ne laser, shorten the measurement time, eliminate diffraction losses, and extend the range

исследуемых приборов.investigated devices.

Claims (1)

Формула изобретени  Способ определени  температуры электронов в плазме активного элемента He-Ne лазера, от личающийс  тем, что, с целью упрощени  споционных потерь и расширение диапазона исследуемых приборов. Это достигаетс  тем, что путем подбора пара.метров цепи источник питани  - активный эле: мент возбуждают реактивные колебани  в начальной стадии, измер ют частоту реактивных колебаний , установившеес  значение напр жени  на активном элементе, емкость разр да, установившеес  значение тока через активный элемент, дифференвдальное сопротивление активного элемента и определ ют температуру по формуле:DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A method for determining the temperature of electrons in a plasma of an active element of a He-Ne laser, which is different in that, in order to simplify the loss of space and to expand the range of devices under study. This is achieved by selecting the power source - active element circuit meters. The pump excites reactive oscillations in the initial stage, measures the frequency of reactive oscillations, the steady-state voltage value on the active element, the discharge capacity, the steady-state current through the active element, the differential resistance of the active element and determine the temperature by the formula:
SU772464131A 1977-03-21 1977-03-21 Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser SU633429A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772464131A SU633429A1 (en) 1977-03-21 1977-03-21 Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772464131A SU633429A1 (en) 1977-03-21 1977-03-21 Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU633429A1 true SU633429A1 (en) 1979-06-25

Family

ID=20700096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772464131A SU633429A1 (en) 1977-03-21 1977-03-21 Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU633429A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Ambridge et al. An automatic carrier concentration profile plotter using an electrochemical technique
Hundley et al. Nanosecond fluorimeter
Ricard et al. Direct observation of vibrational relaxation of dye molecules in solution
Busoni et al. A comparison between potentiostatic circuits with grounded work or auxiliary electrode
SU633429A1 (en) Method of determining the temperature of electrons in plasma of active element of he-ne laser
Chen Double‐Probe Method for Unstable Plasmas
Shelton et al. Vibrational hyperpolarizabilities and the Kerr effect in CH4, CF4, and SF6
Rawcliffe An Electronic Method of Measuring Molecular Lifetimes
SU560189A1 (en) Device for measuring the impedance frequency characteristics of electrodes of an electrochemical generator
RU2133999C1 (en) Voltage measurement technique for planar semiconductor regions of metal-insulator- semiconductor structures
Petit‐Clerc et al. New feedback Kelvin probe
Spoor et al. An accurate determination of the radial distribution of gain at 633 nm in small bore helium-neon discharges
Moron Differential, three-electrode measurement of electrolytic conductivity
SU1404981A1 (en) Electric potential meter
RU2101720C1 (en) Method and device for measuring voltage drop across semiconductor in misim structure
Hartshorn et al. A condenser for the testing of liquid dielectrics
Haydon et al. Time-resolved studies of the electrical breakdown of a gas at radio frequencies
SU998969A1 (en) Analog electromeasuring instrument
US2519807A (en) Ionization pressure gauge
RU2231858C1 (en) Procedure determining forecast service life of ring helium-neon laser
SU399773A1 (en) NON-CONTACT METER
SU654987A1 (en) Method of determining internal current leakage in chemical current source
SU1511722A1 (en) Apparatus for measuring voltage of sustaining discharge in gas-discharge devices
Rammelt et al. The Influence of Geometry in a Two Electrode Arrangement and the Results of the Impedance Measurement by Corrosion Tests
RU2212078C2 (en) Procedure determining tension of flat zones of semiconductor in metal-dielectric-semiconductor structures