SU602896A1 - Способ количественной оценки закономерностей распределени узлов решетки геологических структур - Google Patents
Способ количественной оценки закономерностей распределени узлов решетки геологических структурInfo
- Publication number
- SU602896A1 SU602896A1 SU752188741A SU2188741A SU602896A1 SU 602896 A1 SU602896 A1 SU 602896A1 SU 752188741 A SU752188741 A SU 752188741A SU 2188741 A SU2188741 A SU 2188741A SU 602896 A1 SU602896 A1 SU 602896A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- quantitative evaluation
- geological structure
- nodes
- distribution law
- structure lattice
- Prior art date
Links
Landscapes
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
(54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОЙ ОЦЕНКИ
ЗАКОНОМЕРНОСТЕЙ РАСПРЕ/;ЕЛЕНИЯ УЗЛОВ РЕШЕТКИ ГЕОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР
2
не и толщине случайно пересекающихс или примыкающих друг к другу линий. Угол фильтрации по направлению определ етс диапазоном углового распределени линий, принадлежащих одной и той же системе, или же прин той точностью нанесени на изображение элементов решетки. В частности, при излучении трещинных рещеток выдел ют по круговым диаграммам распределени элементов по направлению системы с точностью до 5°. Угол фильтрации ограничивает вид выдел емых узлов: не выдел ютс узлы, образованные пересечением линий, сход щихс под углом мёньщим , чем угол фильтрации. Полученные в результате фильтрации позитивные изображени элементов решетки, принадлежащие одной системе по ориентировке, преобразуют в негативное изображение. Пропуска свет через различные сочетани совмещенных друг с другом негативов, фиксируют точки пересечени прозрачных линий: это могут быть узлы от пересечени двух и более линий различных по ориентировке систем. Таким образом, одновременно производитс и классификаци узлов рещетки в зависимости от их сложности и ориентации линий. При этом фиксируютс и узлы от примыкающих линий, так как при пространственной фильтрации Б результате эффекта дифракции происходит некоторое удлинение штриха по сравнению с его длиной на исходной карте, в результате чего лннии, примыкающие друг к другу на исходной карте, пересекаютс на совмещенных негативах. Полученные позитивные изображени узлов от сочетани определенных элементов рещетки используют дл получени суммарной картины узлов исследуемой решетки, фиксируемой в негативной форме. Производ т количественную оценку
плотности распределени узлов решетки по отдельным или суммарному изображению узлов решетки, по способу фотооптического осред1ени и эквидеиситометрии. Производ т количественную оценку пространственной частоты узлов решетки дл отдельных или суммарных изображений по их оптическому пространственному спектру.
Claims (2)
1.Миркнн Г. р. и др. Отчет по теме № 204-9/219, «Разработка методики оптической аналоговой обработки картографических геолого-геофизических материалов. Всесоюзный геологический фонд ВНИГРИ, 1974.
2.Авторское свидетельство СССР № 365562, кл. G 01 С 11/00, 11.05.70.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU752188741A SU602896A1 (ru) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Способ количественной оценки закономерностей распределени узлов решетки геологических структур |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU752188741A SU602896A1 (ru) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Способ количественной оценки закономерностей распределени узлов решетки геологических структур |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU602896A1 true SU602896A1 (ru) | 1978-04-15 |
Family
ID=20637055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU752188741A SU602896A1 (ru) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Способ количественной оценки закономерностей распределени узлов решетки геологических структур |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU602896A1 (ru) |
-
1975
- 1975-11-11 SU SU752188741A patent/SU602896A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Zernike | How I discovered phase contrast | |
| DE2146154C2 (de) | Vielkanal-Lichtefiektgenerator | |
| DE2102027A1 (de) | Verfahren zum optischen Abgleich | |
| DE102013105570A1 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Brechkraft eines transparenten Objekts sowie entsprechende Vorrichtung | |
| GB1183915A (en) | Position Indicating Instrument | |
| DE1187024B (de) | Suchgeraet fuer Objekte, die eine elektromagnetische Strahlung aussenden | |
| SU602896A1 (ru) | Способ количественной оценки закономерностей распределени узлов решетки геологических структур | |
| Plionis | Large-scale optical dipole anisotropy | |
| Porter et al. | H-closed extensions I | |
| Schneider et al. | Incoherent optical matrix multiplication | |
| Stecher | The moiré phenomenon | |
| DE3630739C1 (en) | Method for data pick-up by means of detector arrays and devices for carrying out the methods | |
| Meyer-Arendt et al. | Light-Optical Analogs of X-Ray Diffraction Patterns | |
| Tolansky | LXIV. New contributions to interferometry. Part I.—New non-localized interference fringes | |
| GB714710A (en) | Photographic halftone screens | |
| DE919686C (de) | Verfahren zur Modifikation der Schwaerzungskurve bei photographischem Material sowieEinrichtung zum Ausueben des Verfahrens | |
| Keller | Results of polarization observations of the outer corona from a jet aircraft | |
| Wilson et al. | High resolution spectroscopy of the disk chromosphere: II. Time sequence observations of Ca ii H and K emissions | |
| Bragg | The Diffraction of X Rays: Thirty-fourth Silvanus Thompson Memorial Lecture | |
| DE3445373A1 (de) | Vorrichtung zur richtungsbildung beim empfang von wellenenergie | |
| Slabaugh et al. | Single crystal diffractometry: An analogy and an experiment | |
| DE2016028A1 (de) | Optische Vorrichtung zum Ausrichten eines in einer beliebigen Entfernung von der Vorrichtung liegenden Gegenstandes | |
| SU314448A1 (ru) | Способ контрол облучени фотоэмульсионных блоков | |
| DE2027411A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Behandlung von Informationen | |
| Elliott et al. | Note on a reflecting optical diffraction spectrometer |