SU578629A2

SU578629A2 - Method of measuring dielectric properties

Info

Publication number: SU578629A2
Application number: SU7001483375A
Authority: SU
Inventors: Имант Густович Матис
Original assignee: Институт Механики Полимеров Ан Латвийской Сср
Priority date: 1970-10-05
Filing date: 1970-10-05
Publication date: 1977-10-30

Description

1one

Изобретение относитс к области электроизмерительной техники и предназначено дл неразрушающего контрол диэлектрических материалов.The invention relates to the field of electrical measuring equipment and is intended for non-destructive testing of dielectric materials.

По основному авт. св. ЛЬ 216807 известен способ измерени диэлектрических свойств, заключающийс в том, что измер ют комплексное сопротивление измерительного конденсатора при разных глубинах проникновени электрического пол в исследуемый материал и по нему суд т о диэлектрических свойствах материала 1.According to the main author. St. L. 216807, a method for measuring the dielectric properties is known, which consists in measuring the impedance of a measuring capacitor at different depths of penetration of an electric field into a material under study and judging from it the dielectric properties of material 1.

Однако в известном способе дл получени разной глубины проникновени электрического пол в исследуемый материал используют отдельные измерительные конденсаторы. Известный способ не обеспечивает необходимой точности измерений ввиду того, что использование отдельных измерительных конденсаторов приводит к изменению условий измерени - расположени контролируемого участка, воздушного зазора и т. д.However, in a known method, separate measuring capacitors are used to obtain different depths of penetration of the electric field into the material under study. The known method does not provide the necessary accuracy of measurements due to the fact that the use of individual measuring capacitors leads to a change in the measurement conditions — the location of the monitored section, the air gap, etc.

Цель изобретени - повыщение точности измерени .The purpose of the invention is to increase the measurement accuracy.

Это достигаетс за счет того, что глубину проникновени электрического пол измен ют путем заполнени пространства между обкладками конденсатора и исследуемым диэлектриком эталонным диэлектриком, а в качестве эталонного диэлектрика используют жидкость.This is achieved due to the fact that the depth of penetration of the electric field is changed by filling the space between the plates of the capacitor and the reference dielectric under investigation by a dielectric, and a liquid is used as a reference dielectric.

Па чертеже приведены зависимость 1 нормированной величины емкости конденсатора от величины зазора h между электродами и контролируемой поверхностью (диэлектрическа проницаемость 8 10) при наличии воздушного пространства между ними (диэлектрическа проницаемость ) и зависимость 2 нормированной величины емкости конденсатора от величины зазора h при заполнении пространства между ними эталонным диэлектриком с проницаемостьюThe drawing shows the dependence of 1 normalized capacitor value on the gap h between the electrodes and the surface to be controlled (dielectric constant 8 10) in the presence of air space between them (dielectric constant) and dependence 2 of the normalized capacitor capacitance on the gap h when filling the space between them reference dielectric with permeability

82 5.82 5.

Под нормированной величиной емкости понимаетс :The normalized capacity value is understood to be:

Cj - С; h Cj - C; h

С С;Л 0-С;й о,С С; Л 0-С; й о,

где С,- - емкость конденсатора при данномwhere C, - is the capacitor capacity at a given

значении /г;value / g;

C/h - емкость конденсатора при /г сч:, т. е. при отсутствии контролирземого материала;C / h is the capacitance of the capacitor at / g cf: that is, in the absence of controllable material;

- емкость конденсатора с исследуемым материалом без зазора меладу ним и электродами. - the capacitance of the capacitor with the test material without a gap meladu and electrodes.

Способ осуществл ют следующим образом. Пространство между электродами и контролируемым материалом заполн ют эталонThe method is carried out as follows. The space between the electrodes and the controlled material is filled with the standard