SU578609A1 - Способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделий - Google Patents
Способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделийInfo
- Publication number
- SU578609A1 SU578609A1 SU7201751270A SU1751270A SU578609A1 SU 578609 A1 SU578609 A1 SU 578609A1 SU 7201751270 A SU7201751270 A SU 7201751270A SU 1751270 A SU1751270 A SU 1751270A SU 578609 A1 SU578609 A1 SU 578609A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- product
- magnetic field
- point
- movement
- measuring
- Prior art date
Links
Description
I
Изобретение относитс к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано дл неразрушающего контрол и измерени параметров движущихс с высокой скоростью электропровод щих изделий, на пример стальной полосы.
Известен способ измереии параметров электропровод щих изделий, заключающийс в том, что с двух сторон издели размещают катущки экранного преобразовател и регистрируют сдвиг фаз напр жени на катушках, обусловленный затуханием электромагнитного пол в металле.
Недостатком такого способа вл етс низка надежность при высоких скорост х движени изделий.
Известен также способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделий, заключающийс в том, что изделие помещают в магнитное поле, размещают у поверхности издели чувствительный элемент, например феррозондовый преобразователь, и по его сигналу суд т о величине магнитного пол вихревых токов, возникающих в изделии, по которой определ ют контролируемые параметры .
Недостатком этого способа вл етс низка надежность измерени параметров и невозможность измерени скорости движени издели .
Целью изобретени вл етс повыщение надежности измерени параметров движущихс изделий, а также измерение скорости движени издели .
Дл этого по предлагаемому способу используют посто нное магнитное поле с конфигурацией , обеспечивающей топографию одной из составл ющих магнитного пол вихревых токов с выраженным максимумом
вдоль движени издели , определ ют вблизи поверхности издели точку, в которой эта составл юща достигает уровн 0,7 от максимальной величины в сторону движени издели , Н размещают в зоне этой точки чувствительный элемент, по величине сигнала которого суд т о толщине издели , определ ют вторую точку вблизи поверхности издели , в которой друга составл юща магнитного пол вихревых токов измен ет свой знак,
помещают в зоне этой точки второй чувствительный элемент, измер ют одновременно обе составл ющие магнитного пол вихревых токов и по величине суммарного сигнала суд т о скорости издели .
На фиг. 1 показана принпипиальна схема осуществленп предлагаемого способа; на фиг. 2 - распределение вдоль направлени движени издели нормальной к поверхности издели составл ющей А и тангенциальной
составл ющей Б напр женности магнитного
пол вихревых токов; на фиг. 3 представлена зависимость В в точке XQ нормальной составл ющей пол от толпдппы издели , зависимость Г нормальной составл юндей от скорости движени , а также зависимость Д таигендиальной составл ющей в точке и зависимость Е суммарного сигнала от скорости движени издели .
Способ осупдествл етс следующим образом .
При движении издели 1 вдоль оси X в магнитном поле линейного проводника 2 с током в изделии образуютс вихревые токи, возбуждаемые движением. Тоиографи магнитного пол вихревых токов зависит от их расиределени в толще издели , которое, в свою очередь, определ етс конфигурацией намагничивающего пол . Дл нол линейного проводника с током распределение вихревых токов в тонком листе при малой скорости движени таково, что нормальна к листу составл юща магнитного пол вихревых токов (см. фиг. 2) имеет выраженный максимум в точке (система координат св зана с намагиичивающим линейным проводником), и в этой же точке тангенциальна составл юща магнитного пол вихревых токов измен ет свой знак. С ростом толщины движущегос издели топографи магнитного пол вихревых токов измен етс так, что максимум нормальной составл ющей его растет по величине и смещаетс в сторону движени издели . При этом в различных точках X закономерность изменени нормальной составл ющей различиа и имеет посто нную крутизну (см. фиг. 3) в зоне точки Хо, котора соответствует уровню 0,7 от максимума на кривой распределени нормальной составл ющей и в которой размещают первый чувствительный элемент 3. Зависимость в этой точке, показанна на фиг. 3, получена при движении листа со скоростью 25 м/сек.
Аналогична зависимость нормальной составл ющей в точке XQ наблюдаетс и от скорости движени издели . Однако здесь довольно быстро нро вл етс нелинейность зависимости , поэтому дл расщирени дианазона линейности можно использовать зависимость от скорости и тангенциальной составл ющей магнитного пол вихревых токов. Дл
этого второй чувствительный элемент 4, сигнал которого суммируетс с первым, необходимо расположить в такой точке X, чтобы суммарный сигнал имел максимальный диапазон линейной зависимости от скорости. Этой точкой вл етс точка изменени знака тангенциальной составл ющей 0, зависимость пол в которой показана на фиг. 3 (крива Д). Па фиг. 3 (крива Е) показано также в единицах нол изменение суммарного сигнала, линейность измерени которого сохран етс до скорости почти 25 м/с.
Таким образом, предложенный способ позвол ет производить контроль параметров движущихс металлических объектов при высоких скорост х движени .
Claims (2)
1. Способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделий, заключающийс в том, что изделие помещают в магнитное поле, размещают у поверхности издели чувствительный элемент, например феррозондовый преобразователь, и по его сигналу суд т о величине магнитного пол вихревых токов, возникающих в изделии, отличающийс тем, что, с целью повышени надежности измерени параметров движущихс изделий, используют посто нное магнитное поле с конфигурацией, обеспечивающей топографию одной из составл ющих магнитного пол вихревых токов с выраженным максимумом вдоль движени издели , определ ют вблизи поверхности издели точку, в которой эта составл юща достигает уровн 0,7 от максимальной величины в сторону движени издели , и размещают в зоне этой точки чувствительный элемент, по величине сигнала которого суд т о толщине издели .
2. Способ по п. I, отличающийс тем, что, с целью измерени также и скорости движени издели , определ ют вторую точку вблизи поверхности издели , в которой друга составл юща магнитного пол вихревых токов измен ет свой знак, помещают в зоне этой точки второй чувствительный элемент, измер ют одновременно обе составл ющие магнитного пол вихревых токов и по величине суммарного сигнала суд т о скорости движени издели .
о 0,S J if 2 0 8 fZ rs- lf,ft/ce/f fpue.3
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7201751270A SU578609A1 (ru) | 1972-02-22 | 1972-02-22 | Способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделий |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7201751270A SU578609A1 (ru) | 1972-02-22 | 1972-02-22 | Способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделий |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU578609A1 true SU578609A1 (ru) | 1977-10-30 |
Family
ID=20504145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU7201751270A SU578609A1 (ru) | 1972-02-22 | 1972-02-22 | Способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделий |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU578609A1 (ru) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5453689A (en) * | 1991-12-06 | 1995-09-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Magnetometer having periodic winding structure and material property estimator |
US5793206A (en) * | 1995-08-25 | 1998-08-11 | Jentek Sensors, Inc. | Meandering winding test circuit |
US6144206A (en) * | 1997-01-06 | 2000-11-07 | Jentek Sensors, Inc. | Magnetometer with waveform shaping |
US6188218B1 (en) | 1997-10-29 | 2001-02-13 | Jentek Sensors, Inc. | Absolute property measurement with air calibration |
US6377039B1 (en) | 1997-11-14 | 2002-04-23 | Jentek Sensors, Incorporated | Method for characterizing coating and substrates |
US6420867B1 (en) | 1997-03-13 | 2002-07-16 | Jentek Sensors, Inc. | Method of detecting widespread fatigue and cracks in a metal structure |
US6486673B1 (en) | 1997-01-06 | 2002-11-26 | Jentek Sensors, Inc. | Segmented field dielectrometer |
US6781387B2 (en) | 1997-01-06 | 2004-08-24 | Jentek Sensors, Inc. | Inspection method using penetrant and dielectrometer |
-
1972
- 1972-02-22 SU SU7201751270A patent/SU578609A1/ru active
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6252398B1 (en) | 1991-12-06 | 2001-06-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometers |
US5453689A (en) * | 1991-12-06 | 1995-09-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Magnetometer having periodic winding structure and material property estimator |
US5629621A (en) * | 1991-12-06 | 1997-05-13 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometers |
US5990677A (en) * | 1991-12-06 | 1999-11-23 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometer |
US6433542B2 (en) | 1991-12-06 | 2002-08-13 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and method for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometers |
US5793206A (en) * | 1995-08-25 | 1998-08-11 | Jentek Sensors, Inc. | Meandering winding test circuit |
US5966011A (en) * | 1995-08-25 | 1999-10-12 | Jentek Sensors, Inc. | Apparatus for measuring bulk materials and surface conditions for flat and curved parts |
US6198279B1 (en) | 1995-08-25 | 2001-03-06 | Jentek Sensors, Inc. | Test material analysis using offset scanning meandering windings |
US6351120B2 (en) | 1995-08-25 | 2002-02-26 | Jentek Sensors, Inc. | Test circuit on flexible membrane with adhesive |
US6486673B1 (en) | 1997-01-06 | 2002-11-26 | Jentek Sensors, Inc. | Segmented field dielectrometer |
US6144206A (en) * | 1997-01-06 | 2000-11-07 | Jentek Sensors, Inc. | Magnetometer with waveform shaping |
US6781387B2 (en) | 1997-01-06 | 2004-08-24 | Jentek Sensors, Inc. | Inspection method using penetrant and dielectrometer |
US6420867B1 (en) | 1997-03-13 | 2002-07-16 | Jentek Sensors, Inc. | Method of detecting widespread fatigue and cracks in a metal structure |
US6188218B1 (en) | 1997-10-29 | 2001-02-13 | Jentek Sensors, Inc. | Absolute property measurement with air calibration |
USRE39206E1 (en) * | 1997-10-29 | 2006-07-25 | Jentek Sensors, Inc. | Absolute property measurement with air calibration |
US6377039B1 (en) | 1997-11-14 | 2002-04-23 | Jentek Sensors, Incorporated | Method for characterizing coating and substrates |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU578609A1 (ru) | Способ измерени параметров движущихс электропровод щих изделий | |
US3502968A (en) | Eddy current inductive flatness measurement device | |
CN1318149A (zh) | 电磁连续铸造中测量熔融金属高度的装置和方法 | |
DE338966T1 (de) | Wegmess-sensor. | |
US6307380B1 (en) | Distance measuring apparatus | |
CA1157258A (en) | Length measuring system | |
JPS5548602A (en) | Steel rope surface unevenness detection measuring method via magnetism-sensitive element | |
US3576489A (en) | Phase detection and comparison apparatus for determining the phase derivative with respect to frequency of an eddy current test signal | |
SU1101725A1 (ru) | Устройство дл контрол движущихс ферромагнитных изделий | |
SU845077A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол элЕКТРОпРОВОдНыХ издЕлий | |
SU549766A1 (ru) | Устройство дл обнаружени металлических предметов | |
SU1081444A1 (ru) | Способ измерени импульсных механических напр жений | |
SU1525641A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол качества анизотропной холоднокатаной электротехнической стали | |
SU996929A1 (ru) | Способ электромагнитного контрол электропровод щих изделий | |
SU777404A1 (ru) | Способ измерени толщины слоев многослойных изделий | |
SU632946A1 (ru) | Способ вихретоковой дефектометрии | |
SU615407A1 (ru) | Измеритель перемещений | |
SU1620929A1 (ru) | Устройство дл контрол прот женных металлических изделий | |
JPS55122161A (en) | Device for measuring velocity of wind | |
SU785732A1 (ru) | Способ вихретоковой дефектоскопии | |
SU649997A1 (ru) | Вихретоковое устройство дл неразрущающего контрол изделий | |
RU2110784C1 (ru) | Способ контроля скорости коррозии металлических объектов | |
SU1019229A1 (ru) | Датчик локальной толщины жидкостной пленки | |
SU1298628A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол изделий | |
SU868371A1 (ru) | Способ контрол глубины упрочненного сло ферромагнитных изделий |