SU572689A1 - Дифференциальный рефрактометр - Google Patents

Дифференциальный рефрактометр

Info

Publication number
SU572689A1
SU572689A1 SU7502304553A SU2304553A SU572689A1 SU 572689 A1 SU572689 A1 SU 572689A1 SU 7502304553 A SU7502304553 A SU 7502304553A SU 2304553 A SU2304553 A SU 2304553A SU 572689 A1 SU572689 A1 SU 572689A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
wedges
refractometer
measuring system
spectra
differential refractometer
Prior art date
Application number
SU7502304553A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Александрович Степин
Надежда Николаевна Зандина
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU7502304553A priority Critical patent/SU572689A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU572689A1 publication Critical patent/SU572689A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

il
Изобретение относитс  к оптико-механической промышленности и может быть использовано в прииорах дл  измерени  оптических констант дифференциальным методом.
Один из известных дифференциальных рефрактометров содержит щелевой коллиматор, разделитель спектров и систему фоторегистрации 1J.
Недостатком таких рефрактометров  вл етс  длительность процесса измерений.
Наиболее близким техническим решением к заданному изобретению  вл етс  дифференциальный рефрактометр, содержащий щелевой коллиматор, разделитель спектров и зрительную трубу с измерительной системой из клиновых микрометров 2J.
Измерение разности показателей преломлени  материалов испытуемой и эталонной призм производ т путем смещени  спектров одного относительно другого при перемещении подвижной части микрометров. Отсчеты по щкале снимают в момент нониального совмещени  линий в спектрах призм, соотв-етствующих одной и той же длине волны света.
Недостатком этого рефрактометра  вл етс  ТО) что увеличение диапазона измерений при сохранении их точности приводит к увеличению продольных габаритов рефрактометра.
Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона измерений при сохранении их точности и продольных габаритов рефрактометра. Уто достигаетс  тем, что в предлагаемом рефрактометре измерительна  система снабжена механизмом перемещени  в направлеНИИ , перпендикул рном оси зрительной трубы , и выполнена из трех одинаковых микрометров , причем средний микрометр повернут по отношению к крайним на 180.
На фиг. 1 показана принципиальна  схема предлагаемого рефрактометра при двух положени х измерительной системы; на фиг. 2 - при измерении полол ительной разности показателей преломлени  испытуемого образца и эталона; на фиг. 3 -при измерении отридательной разности.
Рефрактометр состоит из коллиматора 1, поворотных экранов 2 дл  разделени  спектров , испытуемого образца 3, эталона 4, объектива 5 зрительной трубы, измерительной системы из щести клиньев 6-11, шкалы 12, окул ра 13 и механизма перемещени  измерительной системы из щести клиньев (на чертежах не показан).
При первом положении измерительной системы клинь  1U и 11 не участвуют в построении изображени , а при втором - в построении изображени  не участвуют клинь  6 и 7. Блок клиньев 7, 9, 11 снабжен механизмом перемещени  вдоль оптической оси зрительной трубы (на чертеже не показан).
При крайнем левом положении блока клиньев 7, 9, 11 смещение половин пол  зрени  одной относительно другой отсутствует (отсчет по шкале 12 равен нулю), при крайнем правом положении смещение половин пол  зрени  максимально возможное дл  данной измерительной системы.
Рефрактометр работает следующим образом .
Коллиматор 1 направл ет параллельный пучок через поворотные экраны 2 на испытуемый образец 3 и эталон 4, выполненные в виде призм. Диспергированный призмами 3 и 4 свет попадает в объектив 5, который в фокальной плоскости окул ра 13 формирует один над другим (благодар  разделению световых пучков поворотными экранами 2) спектры , полученные с помощью призм 3 и 4. Изображение спектральной линии с длиной волны К, полученное с помощью призмы 3, обозначено через )з- а полученное с помощью призмы 4 - через 4. Если при крайнем левом положении подвижного блока клиньев изображени  4 в спектрах наход тс  строго одно под другим, то показатели преломлени  материалов призм 3 и 4 дл  этой длины волпы одинаковы. Если изображение АЗ оказываетс  слева, от Я4, то показатель преломлени  образца 3 больще показател  преломлени  эталона 4. Перемещение клиньев 7, 9 слева направо (см. фиг. 2) вызывает встречное перемещение спектров. После нониального совмещени  спектральных линий лз и К по щкале 12 определ ют искомую разность показателей преломлени  Лз-п. Но если при крайнем левом положении подвижных клиньев 7-3 оказываетс  справа от 4, то перемещение клиньев 7, 9 вправо не сближает спектры, а еще больще их раздвигает, и имеюща с 
разность показателей преломлени  с помощью клипьев 6-9 не может быть определена. В этом случае всю измерительную систему переключают в положение, показанное на фиг. 3.
Направлени  перемещений спектров в этом случае мен ютс  на противоположные, и искома  разность показателей преломлени  теперь может быть определена. Включение в состав измерительной системы
третьего микрометра и установка ее с возможностью перемещени  в направлении, перпендикул рном оптической оси зрительной трубы, позвол ет удвоить диапазон измерений (на одной и той же щкале измер ть положительную и отрицательную разность показателей преломлени  образца и эталона) без потери в точности и без увеличени  продольных габаритов рефрактометра.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство № 236803, кл. G 01N 21/46, 1967.
2.Авторское свидетельство СССР №292104, кл. G 01N 21/46, 1969.
Пу-Пц а
SU7502304553A 1975-12-29 1975-12-29 Дифференциальный рефрактометр SU572689A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7502304553A SU572689A1 (ru) 1975-12-29 1975-12-29 Дифференциальный рефрактометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7502304553A SU572689A1 (ru) 1975-12-29 1975-12-29 Дифференциальный рефрактометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU572689A1 true SU572689A1 (ru) 1977-09-15

Family

ID=20642344

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7502304553A SU572689A1 (ru) 1975-12-29 1975-12-29 Дифференциальный рефрактометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU572689A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2488096C2 (ru) * 2011-09-01 2013-07-20 Открытое акционерное общество "Центральное конструкторское бюро "Фотон" Рефрактометр дифференциальный портативный

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2488096C2 (ru) * 2011-09-01 2013-07-20 Открытое акционерное общество "Центральное конструкторское бюро "Фотон" Рефрактометр дифференциальный портативный

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3658405A (en) Variable phase-contrast and interference microscope
US1590532A (en) Method and arrangement for the examination and the regulation of optical systems
JP3885334B2 (ja) 微分干渉顕微鏡
US3778171A (en) Sample cell for ultracentrifuge utilizing-multiple-beam interference optics
SU572689A1 (ru) Дифференциальный рефрактометр
US2762254A (en) Electrophoresis apparatus having a prismatic cell
US2703033A (en) Optical arrangement for analysis of refractive index
US4443079A (en) Method and apparatus for detecting focus condition of objective lens
US2764908A (en) Auto collimating comparator
US3495910A (en) Optical system for measuring retardation and apparatus incorporating the same
US2195168A (en) Method and apparatus for measuring spectrograms
US2772597A (en) Precision refractometer
SU817546A1 (ru) Дифференциальный способ измерени пОКАзАТЕл пРЕлОМлЕНи
SU380946A1 (ru) Интерферометр для контроля качества плоской оптической поверхности детали
SU892205A1 (ru) Устройство дл контрол фокусных рассто ний положительных линз
SU292104A1 (ru) Дифференциальный рефрактометр
SU1268983A1 (ru) Устройство дл контрол центрировки оптических систем
SU565235A2 (ru) Дифференциальный рефрактометр
Rao Spectrographic technique for determining refractive indices
SU67224A1 (ru) Способ и прибор дл измерени аберрации и фокусировки по зонам оптических систем коллиматорного типа
SU741045A1 (ru) Устройство дл контрол плоскостности поверхностей
SU911251A1 (ru) Проточный рефрактометр
SU531069A1 (ru) Коинцидентный рефрактометр
SU871015A1 (ru) Устройство дл контрол центрировки оптических систем
SU1644001A1 (ru) Дифференциальный способ измерени оптических констант жидкости