SU570126A1 - Способ электронномикроскопического исследовани замороженных образцов - Google Patents

Способ электронномикроскопического исследовани замороженных образцов

Info

Publication number
SU570126A1
SU570126A1 SU7602351794A SU2351794A SU570126A1 SU 570126 A1 SU570126 A1 SU 570126A1 SU 7602351794 A SU7602351794 A SU 7602351794A SU 2351794 A SU2351794 A SU 2351794A SU 570126 A1 SU570126 A1 SU 570126A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
scanning
electron
frozen samples
frozen
Prior art date
Application number
SU7602351794A
Other languages
English (en)
Inventor
Регина Анатольевна Бочко
Владимир Александрович Кузьмин
Original Assignee
Московский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Нефтехимической И Газовой Промышленности Им. И.М.Губкина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Нефтехимической И Газовой Промышленности Им. И.М.Губкина filed Critical Московский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Нефтехимической И Газовой Промышленности Им. И.М.Губкина
Priority to SU7602351794A priority Critical patent/SU570126A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU570126A1 publication Critical patent/SU570126A1/ru

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Изобретение касаетс  электронномшсрос- копи 5еских исследований, в частности исследовани  микроструктуры замороженных образцов .
Известны способы исследовани  образцов g в растровом электронном микроскопе, основанные на сканировании поверхности образца электронным лучом и регистраци  полученных сигналов l. Их сюновньтм недостатком при исследовании замороженных образцов IQ  вл етс  нагрев последних электронным лу чом, а также возможное испарение замороженной влаги в услови х высокого рабочего вакуума.
Наиболее близким к предложенному  вл етс  способ электронномикроскопического иоследовани  замороженных образцов, предусматривак дий предварительное покрттие образца провод щей защитной пленкой путем 20 вакуумного напылени  2.
Основным недостатком этого способа   л етс  частична  сублимаци  замороженного объекта при напылении на его поверкность разогретого вещества.25
Целью изобретени   вл етс  уменьшение сублимации замороженных образцов.
Это достигаетс  тем, что в начальный период сканировани  образца электронным лучом производ т однократную подачу на поверхность образца углеводородсодержаш&г .о газе
Замороженный образец помещают в элек тронный микроскоп и одновременно с включением электронного пучка на поверхность образца производ т однократную подачу угл&водородсодержашего газа. При этом влек-; тронный пучок взаимодействует с молекул ми газа, и в результате происходит их распад , а углерод в виде тонкой пленки осаждаетс  на образце. Подача газа может осуществл тьс  различными способами, например, по трубкам; или размещением р дом с обршэцом капсулы с углеводородным веществом, .нмеклцим высокое давление паров. Капсула Должна иметь крышку, котора  открываетс  на короткое врем . Толщина пленки зависит от количества подаваемого газа и врекшни воздействи  электронным пучком. После
3

Claims (1)

  1. образовани  пленки нужной толщины подачу чающийс  тем, что, с целью уменьгаза прекрашают и исследуют образен.шени  сублимации замороженных образцов, Формула изобретени  5 подачу на поверхность образца углеводоропСпособ элактронномикроскопического ис- Источники информации, прин тые во вни
    следовани  замороженных образцов с помо- мание при экспертизе:
    шью растрового электронного микроскопа,1. Хокс П., Электронна  оптика и эле
    включающий покрытие образца защитной тронна  ктакроскс ти , М,, Мир, 1974, кой, сканирование его электронным лучом и с, 217. регистраиию полученных сигналов, о т л и-2i3E02 News 12, № 2,26,1974.
    579126
    в начальный период сканировани  образца электронным лучом производ т однократную
    содержащего газа.
SU7602351794A 1976-04-21 1976-04-21 Способ электронномикроскопического исследовани замороженных образцов SU570126A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7602351794A SU570126A1 (ru) 1976-04-21 1976-04-21 Способ электронномикроскопического исследовани замороженных образцов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7602351794A SU570126A1 (ru) 1976-04-21 1976-04-21 Способ электронномикроскопического исследовани замороженных образцов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU570126A1 true SU570126A1 (ru) 1977-08-25

Family

ID=20658425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7602351794A SU570126A1 (ru) 1976-04-21 1976-04-21 Способ электронномикроскопического исследовани замороженных образцов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU570126A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Barna et al. A comparative study of the structure of evaporated and glow discharge silicon
DE3273325D1 (en) Method for the selective analysis of traces of individual components in gases and liquids
DE69017031D1 (de) Vorrichtung und probenhalter zur oberflächenerweiterten ramanspektroskopie und ein vorgang zur herstellung des probenhalters.
Superfine et al. Surface vibrational spectroscopy of molecular adsorbates on metals and semiconductors by infrared-visible sum-frequency generation
EP0282836A3 (en) Process and apparatus for depositing of high ohmic resistance layers by cathodic sputtering
ES8604346A1 (es) Un dispositivo para secar un solido humedecido con un disolvente o una mezcla de disolventes
Dauphin et al. Persistent organic components in heated coral aragonitic skeletons–implications for palaeoenvironmental reconstructions
SU570126A1 (ru) Способ электронномикроскопического исследовани замороженных образцов
Cibert et al. Determination of the intracellular localization of a polyoxotungstate (HPA-23) by raman laser and X fluorescence spectroscopies
Agarwal et al. X-ray diffraction data on evaporated organic films of fatty acids
Mohamed et al. A scientific approach for evaluating extremely caked paper manuscript kept in Al-Azhar Library in Cairo
Bourdon et al. Characterization of diamond-like films prepared by laser ablation of graphite
Ito et al. Formic acid decomposition on evaporated nickel and copper surfaces by infrared reflectance spectroscopy
DE19780628D2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von stabilen endohedralen Fullerenen der Struktur ZaC¶x¶ mit x >= 60
GB1493133A (en) Preparation of specimens to be examined by electron microscopy techniques
Ressler An improved technique for the near infrared study of water binding by proteins: Illustration with gelatin
Hui et al. Electron diffraction studies of human erythrocyte membrane and its lipid extracts. Effects of hydration, temperature and hydrolysis
Robertson The nature and limitations of electron microscopic methods in biology
Skertchly 36—INVESTIGATIONS ON CRYSTALLOGRAPHIC CHANGES OCCURRING IN WOOL KERATIN DURING CHEMICAL MODIFICATION, WITH PARTICULAR REFERENCE TO FINISHING PROCESSES
GB1286883A (en) Improvements in and relating to the preparation of samples or specimens for investigation by electron microscopy
Carbucicchio et al. Proton beam enhanced adhesion of iron films
Nakamura et al. Detection of SiO2-Ions from SiO2-Si Interface by Means of SIMS
Kifetew et al. Material damage due to electron beam during testing in the environmental scanning electron microscope (ESEM)
Sakata et al. Acetic acid adsorbed on copper oxide studied by double modulation Fourier transform infrared reflection absorption spectroscopy
SU566169A1 (ru) Способ препарировани углеродистых реплик дл электронномикроскопических исследований