SU550600A1 - Device for monitoring voltage drop on thyristors - Google Patents
Device for monitoring voltage drop on thyristorsInfo
- Publication number
- SU550600A1 SU550600A1 SU1992609A SU1992609A SU550600A1 SU 550600 A1 SU550600 A1 SU 550600A1 SU 1992609 A SU1992609 A SU 1992609A SU 1992609 A SU1992609 A SU 1992609A SU 550600 A1 SU550600 A1 SU 550600A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- thyristors
- voltage drop
- monitoring voltage
- current
- parameters
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
1one
Насто щее изобретение относитс к области контрол параметров изделий электронной техники, в частности к измерению иараметров управл емых полупроводниковых диодов.The present invention relates to the field of monitoring the parameters of electronic products, in particular, to the measurement of parameters of controlled semiconductor diodes.
Известно устройство дл испытани полупроводниковых вентилей, содержащее накопительную емкость, индуктивность, коммутирующий тиристор, блок управлени , диоды и регистрирующие приборы 1.A device for testing semiconductor valves is known, comprising a storage capacitor, inductance, switching thyristor, control unit, diodes and recording devices 1.
Данное устройство имеет, сложную конструкцию и по этой причине низкую надежность .This device has a complex structure and for this reason low reliability.
Известно устройство дл контрол параметров полупроводниковых элементов, содержащее генератор импульсов пр мого тока, генератор импульсов управлени , схему сравнени . Вход схемы сравнени подключен к контролируемому прибору, а выход соединен через генератор импульсов управлени с переключателем , соединенным с накопительной емкостью и регистрирующим устройством 2.A device for monitoring the parameters of semiconductor elements is known, comprising a direct current pulse generator, a control pulse generator, and a comparison circuit. The input of the comparison circuit is connected to the controlled device, and the output is connected via a control pulse generator with a switch connected to the storage tank and a recording device 2.
Однако известное устройство при контроле на нем тиристоров не может обеспечить высокой точности измерений.However, the known device when monitoring thyristors on it cannot provide high accuracy of measurements.
Целью насто щего изобретени вл етс повышение точности измерений.The purpose of the present invention is to improve the measurement accuracy.
Дл достижени поставленной цели вход схемы сравнени соединен с резистором в силовой цепи испытуемого тиристора, а ее выход - с элементом задержки, который подключен к регистрирующему блоку. Схема описываемого устройства приведенаTo achieve this goal, the input of the comparison circuit is connected to a resistor in the power circuit of the test thyristor, and its output is connected to a delay element that is connected to the recording unit. The scheme of the described device is given.
на чертеже. Оно содержит генератор импульсов пр мого тока 1 и включенные последовательно с ним испытуемый прибор 2 и резистор (шунт) 3. Параллельно испытуемому прибору 2 через переключатель 4 подключена накопительна емкость 5, параллельно которой также через контакты переключател 4, подключено регистрирующее устройство 6. Резистор (шуит) в силовой цени испытуемого прибора подсоединен ко входу схемы сравнени 7, котора соединена с коммутирующим элементом 8 (например, с обмоткой герконового реле) и со входом схемы задержки 9. Выход схемы задержки подключен ко входу запуска регистрирующего устройства 6 (например, цифрового вольтметра).in the drawing. It contains a generator of direct current pulses 1 and the test device 2 connected in series with it and a resistor (shunt) 3. Parallel to the device under test 2, storage capacitor 5 is connected through switch 4, in parallel with which also a recording device 6 is connected through the contacts of switch 4 shuit) in the power value of the device under test is connected to the input of the comparison circuit 7, which is connected to the switching element 8 (for example, with a winding reed switch) and to the input of the delay circuit 9. The output of the delay circuit chen to start recording the input device 6 (e.g., a digital voltmeter).
Устройство дл контрол падени напр жени на тиристорах работает следующим образом . Генератор мипульсов 1 формирует импульс тока, проход щий через испытуемый прибор 2 и резистор 3. При этом амплитуда формируемого импульса тока выбираетс больше той, при которой необходимо произвести измерение. Иакопительиа емкость 5 зар жаетс через замкнутые контакты переключател 4 и напр жение на ней в любой момент времени равно падению напр жени на испытуемом приборе 2. По мере увеличени тока через испытуемый прибор 2 и резистор 3 напр жение на последнем также растет п в момент , когда ток в силовой цени достигнет заданной величины, схема сравнени 7 вырабатывает сигнал, поступающий на переключатель 4, который переключает накопительиую емкость от исиытуемого прибора к регпстрирующему устройству. Ток в силовой цепи может нарастать дальше, однако напр жение на накопительной емкости будет равно напр жению на испытуемом приборе в момент прохождени через него тока заданной величииы. Со второго выхода схемы сравнеии сигнал поступает на схему задержки, котора задерживает сигнал зануска регнстрирующего блока на врем , необходимое дл окончани переходного процесса коммутации в устройстве 6. The device for controlling the voltage drop on the thyristors works as follows. The generator of mipulses 1 generates a current pulse passing through the device under test 2 and a resistor 3. At the same time, the amplitude of the generated current pulse is chosen greater than that at which it is necessary to make a measurement. Storage capacitor 5 is charged through the closed contacts of switch 4 and the voltage on it at any time is equal to the voltage drop on the test device 2. As the current through the test device 2 and resistor 3 increases, the voltage on the latter also increases at the moment when the current in the power value reaches a predetermined value, the comparison circuit 7 generates a signal arriving at the switch 4, which switches the storage capacitance from the device under test to the reg-expr device. The current in the power circuit may increase further, however, the voltage on the storage capacitor will be equal to the voltage on the device under test when the current of a given magnitude passes through it. From the second output of the comparison circuit, the signal arrives at the delay circuit, which delays the signal of the registering block to the signal for the time required to complete the switching transient in device 6.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1992609A SU550600A1 (en) | 1974-02-04 | 1974-02-04 | Device for monitoring voltage drop on thyristors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1992609A SU550600A1 (en) | 1974-02-04 | 1974-02-04 | Device for monitoring voltage drop on thyristors |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU550600A1 true SU550600A1 (en) | 1977-03-15 |
Family
ID=20574658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1992609A SU550600A1 (en) | 1974-02-04 | 1974-02-04 | Device for monitoring voltage drop on thyristors |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU550600A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107861042A (en) * | 2017-10-25 | 2018-03-30 | 北京国联万众半导体科技有限公司 | A kind of method of testing for Wide Bandgap Semiconductor Power Devices |
-
1974
- 1974-02-04 SU SU1992609A patent/SU550600A1/en active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107861042A (en) * | 2017-10-25 | 2018-03-30 | 北京国联万众半导体科技有限公司 | A kind of method of testing for Wide Bandgap Semiconductor Power Devices |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SU550600A1 (en) | Device for monitoring voltage drop on thyristors | |
| US3474333A (en) | Apparatus for determining distance-to-fault in electrical systems | |
| US3405352A (en) | Square wave switching circuit having sharp turn-on and turn-off characteristics | |
| SU438945A1 (en) | Device for measuring the peak current of a tunnel diode | |
| SU401940A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR DEVICES | |
| SU483632A1 (en) | Device for measuring forward and reverse currents of power valves | |
| SU429384A1 (en) | DEVICE FOR CLASSIFICATION OF SEMI-CONDUCTOR DEVICES VALUE DI / dt | |
| US3818248A (en) | Serially connected semiconductor switching devices selectively connected for predetermined voltage blocking and rapid switching | |
| US3808465A (en) | Signal source | |
| SU871287A1 (en) | Device for rendering conducting two anti-parallel thyristors | |
| SU364978A1 (en) | DEVICE FOR MONITORING RELIABILITY | |
| SU711504A1 (en) | Arrangement for determining thyristor overload capacity | |
| SU1160338A1 (en) | Device for holding and recording values of electric quantities | |
| SU493009A1 (en) | Stand for setting up and testing of time parameters of electromagnetic relays | |
| SU473968A1 (en) | A device for forming a regenerating voltage | |
| SU151506A1 (en) | Device for time or frequency selection of electric voltage pulses | |
| SU1262431A1 (en) | Device for measuring shift current | |
| SU383149A1 (en) | HIGH-SPEED RELAY BODY FOR PROTECTION OF ELECTRICAL TRANSMISSION LINES | |
| SU532063A1 (en) | Device training and testing pulsed kenotronov | |
| SU438950A1 (en) | Device for testing semiconductor valves | |
| SU502374A1 (en) | Device for measuring the currents of operation and release of electromagnetic relays | |
| SU815642A1 (en) | Method of measuring forward current in parallel connected thyristors | |
| SU495617A1 (en) | Converter parameters of passive non-resonant two-terminal | |
| SU883758A1 (en) | Transient reguperating voltage determination method | |
| SU500510A1 (en) | Pulse Residual Voltage Meter |