SU532005A1 - Устройство дл визуального контрол дефектов - Google Patents

Устройство дл визуального контрол дефектов

Info

Publication number
SU532005A1
SU532005A1 SU2016284A SU2016284A SU532005A1 SU 532005 A1 SU532005 A1 SU 532005A1 SU 2016284 A SU2016284 A SU 2016284A SU 2016284 A SU2016284 A SU 2016284A SU 532005 A1 SU532005 A1 SU 532005A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
lens
defects
visual inspection
optical
dark
Prior art date
Application number
SU2016284A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Серафимович Парняков
Петр Васильевич Майраков
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6495
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6495 filed Critical Предприятие П/Я Р-6495
Priority to SU2016284A priority Critical patent/SU532005A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU532005A1 publication Critical patent/SU532005A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

помощью устройства светлые зоны А пол  зрени  соответствуют прозрачным участкам шаблона 6, темна  зона Б - непрозрачному участку шаблона (см. фиг. 2). Одновременно световой поток, прошедший через полупрозрачное зеркало 8, формирователем 9 концентрируетс  в плоскость предмета. Таким образом создаетс  освещение по методу темного пол . Изображение объекта, создаваемое с номоп1ью объектива 1 и а.хроматической липзы 2, рассматриваетс  через окул р 3. На поверхность объекта, расположенную перпендикул рно оптической оеи объектива, падают лучи через объектив 1 (освещение по методу светлого пол ) и под углом относительно оси объектива от формировател  9 (освещение по метОхТ,у темного пол ). На участках объектива зоны .6  ркость элементов структуры изобрал ени  объекта определ етс  суммарной интенсивностью световых лучей от обеих систем освеп,ени  (по методу светлого и темного полей). В зоне Б, соответствующей прозрачной полоске шаблона,  ркость будет определ тьс  интенсивностью светового потока, освещающего объект по методу темного пол .
При смещении зоны Б (или перемещении наблюдаемого объекта от кра  до кра  пол  зрени  оптического прибора) производ т последовательный обзор всей исследуемой поверхности объекта и получают информацию об объекте при освещении его как по методу светлого, так и по методу темного полей,
Дл  поочередного включени  освещени  по методу светлого и темного пол  полупрозрачное зеркало 8, установленное под углом 45° к оптической оси прибора, выполнено с возможностью введени  или выведени  из оптического хода лучей.
При сканировании зон с различным характером освеи1ени  оператор исследует поверхность объекта при различном освещении, что повышает качество контрол  де4)ектов, увсличи ает производительность и улучшает услови  визуального контрол .
Ф о р м у л а и 3 обре т с )i и  
Устройство дл  ви:лального контрол  дефектов , содержащее объектив, ахроматическую линзу, осветитель, состо щий из источника света, конденсорных линз и полупрозрачного зеркала, установленного под углом 45° между объективом и ахроматической линзой , отличающеес  тем, что, с целью повышени  качества контрол  и увеличени  производительности устройства, оно снабжено шаблоно.м, имеющим прозрачный и непрозрачный участки, установленным с возможностью перемещени  относительно оптической оси осветител  в нлоскости осветител , сопр женной с предметной плоскостью, и оптическим формирователем, установленным на оси осветител  за полупрозрачным зеркалом дл  направлени  светового потока на объект под углом, большим апертурного угла объекта , а полупрозрачное зеркало выполнено
поворотным - выводимым из оптического ХО
да лучей.
Источники информации, принйтЫе во 1знймание при экспертизе:
1. Коломийцев Ю. В. «Оптические приборы дл  измерени  линейных и угловых величин в машиностроении, М., 1964 г., стр, 183-184 (прототип).
SU2016284A 1974-04-02 1974-04-02 Устройство дл визуального контрол дефектов SU532005A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2016284A SU532005A1 (ru) 1974-04-02 1974-04-02 Устройство дл визуального контрол дефектов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2016284A SU532005A1 (ru) 1974-04-02 1974-04-02 Устройство дл визуального контрол дефектов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU532005A1 true SU532005A1 (ru) 1976-10-15

Family

ID=20582052

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2016284A SU532005A1 (ru) 1974-04-02 1974-04-02 Устройство дл визуального контрол дефектов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU532005A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3320671A (en) Luminous reticle for a sighting telescope
CN113686879A (zh) 光学薄膜缺陷视觉检测系统及方法
ES2075937T3 (es) Sonda de video de visualizacion e iluminacion.
ATE89671T1 (de) Kombinierte hellfeld-dunkelfeldauflichtbeleuchtungseinrichtung.
DE69531805D1 (de) Inspektion einer Kontaktlinse mit einer Beleuchtung mit Doppelfokus
GB2116702A (en) Edge position measuring apparatus
ES466311A1 (es) Procedimiento y dispositivo para la deteccion optica de de- fectos en los objetos transparentes, especialmente de vi- drio.
GB1266971A (ru)
KR920001191A (ko) 유리 광학재질의 측정방법과 장치
ATE249038T1 (de) Vorrichtung zum erkennen von diffus streuenden verunreinigungen in transparenten behältern
JPS6438617A (en) Measuring apparatus of light distribution
SU532005A1 (ru) Устройство дл визуального контрол дефектов
ATE52887T1 (de) Optoelektronischer abtastkopf.
DE3572399D1 (en) Illumination device for the optical measurement of microbiological objects, especially by image analysis
US4643550A (en) Photographing indication device for microscopes
JP3318347B2 (ja) 観察、撮像装置などの照明装置
US4384768A (en) Method and apparatus for manipulating the contrast of sine wave gratings and other visual patterns
EP0022506A1 (en) Optical measuring apparatus
US4054387A (en) Measuring with microscope
US2929295A (en) Night visibility meter
KR880000804A (ko) 평행 광조명용의 광학계
JPS6355513A (ja) 光学装置
JPH07151919A (ja) 画像処理型測定機の照明装置
US3431048A (en) Projection system having secondary image carrier
SU509854A1 (ru) Эпидиапроектор