SU527097A1 - Способ определени параметров пристеночной плазмы - Google Patents

Способ определени параметров пристеночной плазмы

Info

Publication number
SU527097A1
SU527097A1 SU7301973587A SU1973587A SU527097A1 SU 527097 A1 SU527097 A1 SU 527097A1 SU 7301973587 A SU7301973587 A SU 7301973587A SU 1973587 A SU1973587 A SU 1973587A SU 527097 A1 SU527097 A1 SU 527097A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plasma
parameters
functions
waveguide
waves
Prior art date
Application number
SU7301973587A
Other languages
English (en)
Inventor
В.А. Немировский
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2645
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2645 filed Critical Предприятие П/Я В-2645
Priority to SU7301973587A priority Critical patent/SU527097A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU527097A1 publication Critical patent/SU527097A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ IlAPAAiETPOB ПРИСТЕНОЧНОЙ
ПЛАЗМЫ
Изобретение относитс  .к ракетной технике, антенной технике, физике плазмы и может быть использовано дл  диагностики рааио4шзических параметров пристеночной плазмы на быстролет ших объектах, на лабораторных установках, уаарных трубах.
Известен способ определени  параметров пристеночной плазмы, заключающийс  в зонаировании плазмы электромагнитными волнами с одной частотой через апертуру из пр моугольного волновода. Измер ют комплексный коэффициент отражени  в измерительном сечении волновода с помошью специального устройства и определ ют по формулам функции распределени  параметров плазмы из класса функций, параметризованных двум  параметрами.
Однако известный способ имеет невысокую точность, поскольку определение функций распределени  производ т в очень узком классе функций.
. Цель изобретени  - повышение точности измерений параметров плазмы.
Эта цель достигаетс  тем, что в плазме возбуждают электромагнитные волны с одной частотой, но разной модой колебаний и измер ют коэффициенты матрицы рассе ни  этих волн, по которым определ ют функции распределени  параметров плазмы.

Claims (1)

  1. Способ определени  параметров пристеночной плазмы заключаетс  в том, что с помошью волновода увеличенного сечени  и излучающей апертуры от СВЧ-генератора подвод т р д мод одной частоты к пристеночному слою плазмы. Отраженные от плазмы моды распростран ютс  по волноводу в обратном направлении. В измерительном сечении волновода расположено устройство, которое измер ет коэффициенты матр1щы рассе ни  мои, соответствующие определенным функци м распределени  парамет ров плазмы. По измереннык коэффициентам расчетным путем определ ют функции распределени  параметров плазмы из достаточно щирокого класса ограниченных функций (не задаваемых вообще параметрически и не удовлетвор ющих геометрооптическим услови м ). Указанное достиг-аетс  с помощью специального математического аппарата, использующего операторы преобразовани  и 3 позвол ющего интерпретировать характерцетики отраженного пол  в широком классе функпий. Это важно, поскольку в р де практ ческих задач ограничение типа геометриЧ0СКОЙ оптики  вл етс  принципиашлым,g Формула изобретени  Способ опрецелени  параметров пристеночной плазмы, Заключающийс  в зондиро52709 7 4 вании плазмы электромагнитными волнами, отличающийс  тем, что, с аелью повышени  точности измерений, в гшазме возбуждают электромагнитные волны с одной частотой, но разной модой колебаний намер ют коэффициенты матрицы рассе ни  этих волн, по которым определ ют функции распределени  параметров плазмы.
SU7301973587A 1973-11-16 1973-11-16 Способ определени параметров пристеночной плазмы SU527097A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7301973587A SU527097A1 (ru) 1973-11-16 1973-11-16 Способ определени параметров пристеночной плазмы

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7301973587A SU527097A1 (ru) 1973-11-16 1973-11-16 Способ определени параметров пристеночной плазмы

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU527097A1 true SU527097A1 (ru) 1977-12-25

Family

ID=20568634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7301973587A SU527097A1 (ru) 1973-11-16 1973-11-16 Способ определени параметров пристеночной плазмы

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU527097A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Hasar A generalized formulation for permittivity extraction of low-to-high-loss materials from transmission measurement
Wu et al. Scattering by arbitrarily cross-sectioned layered, lossy dielectric cylinders
Roberson et al. Experimental test of quasilinear theory
Kastner et al. A spectral-iteration technique for analyzing a corrugated-surface twist polarizer for scanning reflector antennas
JP2008064653A (ja) スペクトロメータ
US5502394A (en) Compact, portable device for measuring the reflection coefficient of a structure exposed to microwave radiation
SU527097A1 (ru) Способ определени параметров пристеночной плазмы
Drachman et al. A continuation method for identification of the natural frequencies of an object using a measured response
US3271668A (en) Microwave measurement of surface attrition of a dielectric body
US3388327A (en) System for measurement of microwave delay line length
Emhemmed et al. Analysis of RCS and Evaluation of PO Approximation's Accuracy for Simple Targets
RU2701212C1 (ru) Способ определения коэффициента дополнительного затухания сигналов в канале радиосвязи с летательным аппаратом
US10324048B2 (en) Electromagnetic surface resistivity determination
US3302111A (en) Multimode waveguide harmonic power sampler
Zaichenko et al. Six-Port Refectometer Model with Accounting on Sensors Mutual Impedance
Miller et al. Radar cross section of a long wire
Yushchenko et al. Precision microwave testing of dielectric substrates
Corona et al. A new technique for free-space permittivity measurements of lossy dielectrics
Musal et al. Millimeter radar instrumentation
SU1657952A1 (ru) Эллипсометрический способ измерени рассто ни или плоскостности
Appel-Hansen et al. Echo width of foam supports used in scattering measurements
Song et al. Scattering of TE-polarized EM wave by discontinuity in grounded dielectric layer
SU720567A1 (ru) Способ измерени электронной температуры плазмы,помещенной в магнитное поле
SU1109612A1 (ru) Измеритель электрофизических параметров полупроводниковых материалов
Kishk et al. An asymptotic boundary condition for corrugated surfaces and its application to calculate scattering from circular cylinders with dielectric filled corrugations