SU527097A1 - Способ определени параметров пристеночной плазмы - Google Patents
Способ определени параметров пристеночной плазмыInfo
- Publication number
- SU527097A1 SU527097A1 SU7301973587A SU1973587A SU527097A1 SU 527097 A1 SU527097 A1 SU 527097A1 SU 7301973587 A SU7301973587 A SU 7301973587A SU 1973587 A SU1973587 A SU 1973587A SU 527097 A1 SU527097 A1 SU 527097A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plasma
- parameters
- functions
- waveguide
- waves
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ IlAPAAiETPOB ПРИСТЕНОЧНОЙ
ПЛАЗМЫ
Изобретение относитс .к ракетной технике, антенной технике, физике плазмы и может быть использовано дл диагностики рааио4шзических параметров пристеночной плазмы на быстролет ших объектах, на лабораторных установках, уаарных трубах.
Известен способ определени параметров пристеночной плазмы, заключающийс в зонаировании плазмы электромагнитными волнами с одной частотой через апертуру из пр моугольного волновода. Измер ют комплексный коэффициент отражени в измерительном сечении волновода с помошью специального устройства и определ ют по формулам функции распределени параметров плазмы из класса функций, параметризованных двум параметрами.
Однако известный способ имеет невысокую точность, поскольку определение функций распределени производ т в очень узком классе функций.
. Цель изобретени - повышение точности измерений параметров плазмы.
Эта цель достигаетс тем, что в плазме возбуждают электромагнитные волны с одной частотой, но разной модой колебаний и измер ют коэффициенты матрицы рассе ни этих волн, по которым определ ют функции распределени параметров плазмы.
Claims (1)
- Способ определени параметров пристеночной плазмы заключаетс в том, что с помошью волновода увеличенного сечени и излучающей апертуры от СВЧ-генератора подвод т р д мод одной частоты к пристеночному слою плазмы. Отраженные от плазмы моды распростран ютс по волноводу в обратном направлении. В измерительном сечении волновода расположено устройство, которое измер ет коэффициенты матр1щы рассе ни мои, соответствующие определенным функци м распределени парамет ров плазмы. По измереннык коэффициентам расчетным путем определ ют функции распределени параметров плазмы из достаточно щирокого класса ограниченных функций (не задаваемых вообще параметрически и не удовлетвор ющих геометрооптическим услови м ). Указанное достиг-аетс с помощью специального математического аппарата, использующего операторы преобразовани и 3 позвол ющего интерпретировать характерцетики отраженного пол в широком классе функпий. Это важно, поскольку в р де практ ческих задач ограничение типа геометриЧ0СКОЙ оптики вл етс принципиашлым,g Формула изобретени Способ опрецелени параметров пристеночной плазмы, Заключающийс в зондиро52709 7 4 вании плазмы электромагнитными волнами, отличающийс тем, что, с аелью повышени точности измерений, в гшазме возбуждают электромагнитные волны с одной частотой, но разной модой колебаний намер ют коэффициенты матрицы рассе ни этих волн, по которым определ ют функции распределени параметров плазмы.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7301973587A SU527097A1 (ru) | 1973-11-16 | 1973-11-16 | Способ определени параметров пристеночной плазмы |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7301973587A SU527097A1 (ru) | 1973-11-16 | 1973-11-16 | Способ определени параметров пристеночной плазмы |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU527097A1 true SU527097A1 (ru) | 1977-12-25 |
Family
ID=20568634
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU7301973587A SU527097A1 (ru) | 1973-11-16 | 1973-11-16 | Способ определени параметров пристеночной плазмы |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU527097A1 (ru) |
-
1973
- 1973-11-16 SU SU7301973587A patent/SU527097A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Hasar | A generalized formulation for permittivity extraction of low-to-high-loss materials from transmission measurement | |
Wu et al. | Scattering by arbitrarily cross-sectioned layered, lossy dielectric cylinders | |
Roberson et al. | Experimental test of quasilinear theory | |
Kastner et al. | A spectral-iteration technique for analyzing a corrugated-surface twist polarizer for scanning reflector antennas | |
JP2008064653A (ja) | スペクトロメータ | |
US5502394A (en) | Compact, portable device for measuring the reflection coefficient of a structure exposed to microwave radiation | |
SU527097A1 (ru) | Способ определени параметров пристеночной плазмы | |
Drachman et al. | A continuation method for identification of the natural frequencies of an object using a measured response | |
US3271668A (en) | Microwave measurement of surface attrition of a dielectric body | |
US3388327A (en) | System for measurement of microwave delay line length | |
Emhemmed et al. | Analysis of RCS and Evaluation of PO Approximation's Accuracy for Simple Targets | |
RU2701212C1 (ru) | Способ определения коэффициента дополнительного затухания сигналов в канале радиосвязи с летательным аппаратом | |
US10324048B2 (en) | Electromagnetic surface resistivity determination | |
US3302111A (en) | Multimode waveguide harmonic power sampler | |
Zaichenko et al. | Six-Port Refectometer Model with Accounting on Sensors Mutual Impedance | |
Miller et al. | Radar cross section of a long wire | |
Yushchenko et al. | Precision microwave testing of dielectric substrates | |
Corona et al. | A new technique for free-space permittivity measurements of lossy dielectrics | |
Musal et al. | Millimeter radar instrumentation | |
SU1657952A1 (ru) | Эллипсометрический способ измерени рассто ни или плоскостности | |
Appel-Hansen et al. | Echo width of foam supports used in scattering measurements | |
Song et al. | Scattering of TE-polarized EM wave by discontinuity in grounded dielectric layer | |
SU720567A1 (ru) | Способ измерени электронной температуры плазмы,помещенной в магнитное поле | |
SU1109612A1 (ru) | Измеритель электрофизических параметров полупроводниковых материалов | |
Kishk et al. | An asymptotic boundary condition for corrugated surfaces and its application to calculate scattering from circular cylinders with dielectric filled corrugations |