SU508670A1

SU508670A1 - Method for determining surface finish

Info

Publication number: SU508670A1
Application number: SU1832266A
Authority: SU
Inventors: Вениамин Васильевич Яковлев; Светлана Егоровна Ярцева
Original assignee: Ташкентский Электротехнический Инсти-Тут Связи
Priority date: 1972-09-29
Filing date: 1972-09-29
Publication date: 1976-03-30

Description

1one

Изобретение относитс .к области .контрольно-измерительной техники.The invention relates to the field of testing equipment.

Известны способы определени чистоты обработки поверхности, заключающиес в том, что направл ют световой поток На контролнруемую поверхность -и регистрируют световой поток, отраженный от нее. Однако они не учитывают составл ющую света, поглощенную на контролируемой поверхности, котора различна дл различных материалов, что вводит неконтролируемую ошибку в результаты измерени .Methods are known for determining the cleanliness of a surface treatment, which consists in directing the luminous flux onto the counterfixed surface, and the luminous flux reflected from it is recorded. However, they do not take into account the component of light absorbed on the test surface, which is different for different materials, which introduces an uncontrollable error in the measurement results.

Цель изобретени - повышение точности измерени .The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy.

Дл этого 1при испытани х контролируемую ловерхность поворачивают вокруг оси, пернендИ|Кул рной плоскости падени светового потока , регистрируют угол наклона, при котором отраженный от нее световой поток будет максимальным, затем регистрируют углы наклона , при которых отраженный световой поток будет составл ть заданную часть, на.пример , половину от максимального, и но алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых определ ют чистоту обработки поверхности.For this purpose, when testing a controlled surface is rotated around an axis, the perpendicular | Coular plane of incidence of the light flux, the angle of inclination at which the light reflected from it is maximum is recorded, then the angles of inclination are recorded at which the reflected light flux will constitute the given part For example, half of the maximum, and but the algebraic difference of these angles with the help of calibration curves, determine the purity of the surface finish.

На чертеже показано устройство, реализующее описываемый способ.The drawing shows a device that implements the described method.

Устройство содержит источник 1 света, коллиматор 2 н приемное устройство, состо щее The device contains a source of light 1, a collimator 2 n receiving device, consisting

из оптической системы 3, фотоэлемента 4 и мнкроамнерметра. 5.from the optical system 3, the photocell 4 and the micrometer meter. five.

Процесс определени чистоты обработки поверхности по данному способу заключаетс в следующем.The process for determining the surface finish of this method is as follows.

На контролируемую поверхность 6 направл ют световой поток. Поворачива образец, наход т такое его положение, при котором показание микроамперлчетра 5 максимально, снимают это показание. Наклон ют образец в одну сторону, пока показание микроамперметра 5 не станет вдвое меньше максимального , отсчитывают угол наклона, соответствующий этому положению образца. Наклон ют образец в другую сторону и отсчитывают угол наклона, при котором показание мнкроамперметра вновь будет вдвое меньше максимального . По алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых определ ют чистоту обработки поверхности исследуемого образца.Luminous flux is directed to the controlled surface 6. By rotating the sample, its position is found at which the reading of the microammeter 5 is as high as possible, this reading is taken. The sample is tilted in one direction, until the reading of the microammeter 5 is half the maximum, the angle of inclination corresponding to this position of the sample is counted. The sample is tilted to the other side and the angle of inclination is calculated, at which the micro-ampere meter reading will again be half the maximum. By the algebraic difference of these angles, the purity of the surface finish of the sample is determined using calibration curves.

Форм у л а изобретени Formula inventions

Способ определени чистоты обработки поверхности , заключающийс ;в том, что направл ют световой поток на контролируемую поверхность и регистрируют световой поток, отраженный от нее, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерени , поворачивают контролируемую поверхностьA method for determining the cleanliness of a surface treatment, comprising: directing the luminous flux to a controlled surface and recording the luminous flux reflected from it, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy, the controlled surface is rotated

ЭОКруг оси, перпендикул рной плоскости падени светового потока, регистрируют угол наклона, при котором отраженный от нее световой ноток будет максимальным, затем регистрируют углы Наклона, при которых отраженный световой поток будет составл ть заданную часть, например лоловину от максимального , и но алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых определ ют чистоту обработки новерхности.The EO circle around the axis perpendicular to the plane of incidence of the light flux, record the angle of inclination at which the light reflection reflected from it will be maximum, then record the angles of inclination at which the reflected light flux will be a given part, for example, half of the maximum and algebraic difference the angles use the calibration curves to determine the purity of the surface treatment.