SU505971A1 - Устройство дл измерени параметров транзисторов - Google Patents
Устройство дл измерени параметров транзисторовInfo
- Publication number
- SU505971A1 SU505971A1 SU2013092A SU2013092A SU505971A1 SU 505971 A1 SU505971 A1 SU 505971A1 SU 2013092 A SU2013092 A SU 2013092A SU 2013092 A SU2013092 A SU 2013092A SU 505971 A1 SU505971 A1 SU 505971A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measuring transistor
- transistor parameters
- circuit
- base
- measurement
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
Изобретение относитс -к контрольно-измерительной технике, предназначенной дл контрол параметров (измерени и классификации ) полупроводниковых бипол рных транзисторов .
Известные устройства дл измерени посто нной времени цепи обратной св зи на высокой частоте т в/в Ск-в и емкостей переходов транзисторов, например емкости перехода коллектор- база Ск-б, содержат генераторы ВЧ-сигнала, вольтметр, контактное устройство и источник -питани посто нным током. iB этих устройствах дл перехода от измерений Твв С,(б к измере1НИЯ1М Ск-б и обратно примен етс ключ, который заземл ет базу испытуемого транзистора при измерении TB/B Ск-б или подключает базу к токосъемному сопротивлению при измерении
Ск-б
Недостатками известных устройств вл ютс мала точность и низка производительность измерений.
Предложенное устройство позвол ет устранить указанные недостатки благодар тому, что между клеммой контактного устройства дл подключени базы транзистора и землей включен последовательный резонансный LCконтур , а параллельно конденсатору этого контура подключен вольтметр. Это обеспечивает автоматические измерени высокочастотных параметров без каких-л збо переключений цепей контактного устройства.
Структурна схема устройства приведена на чертеже.
Устройство содержит генераторы / и, 2 ВЧ-сигпала, подключенные к коллекторной С и эмиттерпой Е клеммам контактного устройства 3 соответственно. К эмиттерной клем1ме также подключен вольтметр 4. К базовой клемме В контактного устройства 2 подключен последовательный LC-контур, состо щий из индуктивности 5 и конденсатора в. Второй вывод контура заземлен. Паразитна индуктивность 7 электрического вывода базовой клеммы включена последовательно LC-контуру . Параллельно конденсатору 6 включен вольтметр 8. Индуктивность 5 выполнена переменной (подстроечной).
Рассмотрим работу устройства дл случа ,
когда частота измерени тве Ск-5 и частота измерени Ск-б Сд равны. В других случа х принцип проведени И3(мерений сохран етс , а под частотой измерени понимают частоту
измерени Твв Ск-б .
При подготовке устройства к работе последовательный LC-контур настраиваетс так, чтобы на частоте измерений резонировали суммарна индуктивность 5 и 7 и емкость конденсатора 6. Контроль настройки осуще
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU2013092A SU505971A1 (ru) | 1974-04-08 | 1974-04-08 | Устройство дл измерени параметров транзисторов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU2013092A SU505971A1 (ru) | 1974-04-08 | 1974-04-08 | Устройство дл измерени параметров транзисторов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU505971A1 true SU505971A1 (ru) | 1976-03-05 |
Family
ID=20581063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU2013092A SU505971A1 (ru) | 1974-04-08 | 1974-04-08 | Устройство дл измерени параметров транзисторов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU505971A1 (ru) |
-
1974
- 1974-04-08 SU SU2013092A patent/SU505971A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3670243A (en) | Physical displacement measuring system utilizing impedance changing the frequency of an oscillatory circuit | |
| SU505971A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров транзисторов | |
| Ziegler et al. | Wide bandwidth current sensors and the influence on the switching loss characterization | |
| US2929988A (en) | Q-meter circuit | |
| SU1211668A1 (ru) | Способ определени параметров полупроводниковых элементов | |
| SU558231A1 (ru) | Измеритель модул коэффициента передачи тока транзисторов в импульсном режиме | |
| SU1173346A1 (ru) | Преобразователь емкость-напр жение | |
| SU617753A1 (ru) | Устройство дл проверки печатных плат | |
| SU490049A1 (ru) | Устройство дл контрол граничной частоты передачи тока транзистора | |
| SU391504A1 (ru) | Устройство для измерения малых магнитных и электрических полей | |
| SU669299A1 (ru) | Устройство дл автоматического сн ти характеристик полупроводниковых приборов | |
| US3513390A (en) | Method of microwave rectification and mixing using piezoelectric media | |
| SU613268A1 (ru) | Устройство дл разбраковки варикапов по добротности | |
| SU132326A1 (ru) | Устройство дл измерени индуктивностей и емкостей | |
| SU450107A1 (ru) | Детекторна секци | |
| SU266931A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИ ТУННЕЛЬНЫХДИОДОВ | |
| SU495617A1 (ru) | Преобразователь параметров пассивных нерезонансных двухполюсников | |
| SU490026A1 (ru) | Устройство дл измерени частотных погрешностей резистивных делителей напр жени | |
| SU964555A1 (ru) | Камера дл измерени параметров полупроводниковых приборов | |
| RU94028416A (ru) | Способ определения комплексного сопротивления двухполюсника в диапазоне частот | |
| SU533893A1 (ru) | Способ измерени частоты пролета электронов в диоде ганна | |
| JPS6382378A (ja) | 混成集積回路特性測定装置 | |
| US3360725A (en) | Semiconductor microwave power detector employing the bulk thermoelectric effect | |
| SU1125560A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров транзисторов ВЧ и СВЧ-диапазонов | |
| SU113867A1 (ru) | Устройство дл измерени емкости электрической сети |