SU495950A1 - Ultrasound defectoscope for automatic control - Google Patents

Ultrasound defectoscope for automatic control Download PDF

Info

Publication number
SU495950A1
SU495950A1 SU731962137A SU1962137A SU495950A1 SU 495950 A1 SU495950 A1 SU 495950A1 SU 731962137 A SU731962137 A SU 731962137A SU 1962137 A SU1962137 A SU 1962137A SU 495950 A1 SU495950 A1 SU 495950A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
recorder
gate
voltage
output
time
Prior art date
Application number
SU731962137A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
В.И. Рык
М.Д. Медвинский
О.Н. Жуков
Original Assignee
Центральный Научно-Исследовательский Институт Технологии Машиностроения "Цниитмаш"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Центральный Научно-Исследовательский Институт Технологии Машиностроения "Цниитмаш" filed Critical Центральный Научно-Исследовательский Институт Технологии Машиностроения "Цниитмаш"
Priority to SU731962137A priority Critical patent/SU495950A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU495950A1 publication Critical patent/SU495950A1/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

тора 6 прин тых отраженных сигналов. Пьезопреобразователь 3 возбуждает импульсы ультразвуковых колебаний в контролируемом объекте. Отраженные от дефекта импульсы ультразвуковых колебаний после соответствуюидей трансформации пьезоиреобразователем усиливаютс  усилителем 4 и поступают на временной селектор 6. Линейно нарастающее напр лчеиие с генератора 5 поступает на один из входов блока 7 преобразовани  временных интервалов в напр жение, на другой вход которого подаютс  импульсы с выхода временного селектора 6. Выдел ющийс  на выходе блока преобразовани  П-импульс, амплитуда которого пропорциональна глубине залегани  дефекта, подаетс  на вход блока 9 пам ти. При этом конденсатор 10 мгновенно зар жаетс  до величины, соответствующей амплитуде входного П-имиульса . Одновременно скачком возрастает и потенциал затвора нолевого транзистора 11, вследствие чего в цепи истока начинает протекать ток. Транзистор эмиттерного повторител  12 отпираетс , и на его эмиттерной нагрузке по вл етс  посто нное напр жение , величина которого практически равна разности потенциалов электродов конденсатора 10. Поскольку последний был зар жен П-импульсом, амплитуда которого пропорциональна времени прохождени  отраженного от дефекта сигнала, выходное напр жение схемы, снимаемое с эмиттерного повторител  12, отображает в определенном масштабе глубину залегани  дефекта . Вследствие того, что конденсатор зар жаетс  лишь через большое входное сопротивление нолевого транзистора 11, напр жение на конденсаторе остаетс  практически неизменным в течение длительного времени. Так, например, при применении полевого транзистора типа КП301Б и конденсатора емкостью 0,22 мкФtorus 6 received echoes. The piezoelectric transducer 3 excites pulses of ultrasonic vibrations in a controlled object. The ultrasonic vibration pulses reflected from the defect after the corresponding transformation by the piezo generator are amplified by the amplifier 4 and fed to the time selector 6. The linearly increasing power from the generator 5 goes to one of the inputs of the time interval conversion unit 7 to the voltage, to the other input of which time pulses are output selector 6. The P-pulse emitted at the output of the conversion unit, whose amplitude is proportional to the depth of the defect, is fed to the input of the memory block 9. At the same time, the capacitor 10 is instantaneously charged to a value corresponding to the amplitude of the input P-imulse. At the same time, the potential of the gate of the field-effect transistor 11 increases abruptly, as a result of which a current begins to flow in the source circuit. The emitter follower transistor 12 is unlocked, and a constant voltage appears on its emitter load, the value of which is almost equal to the potential difference of the electrodes of the capacitor 10. Since the latter was charged with a P-pulse, whose amplitude is proportional to the transit time of the reflected signal, the output voltage The scheme taken from the emitter follower 12 reflects the depth of the defect on a certain scale. Due to the fact that the capacitor is charged only through the large input resistance of the field-effect transistor 11, the voltage on the capacitor remains almost unchanged for a long time. For example, when using a field-effect transistor KP301B type and a capacitor with a capacity of 0.22 μF

спад напр жени  на эмиттерном повторителе за 20 с составл ет 5%.the voltage drop across the emitter follower over 20 seconds is 5%.

По окончании цикла записи результатов контрол  с одного из выходов регистратора 8 поступает отпирающий импульс на вход нормально запертого электронного ключа 13, выполненного на полупроводниковом триоде. Последний мгновенно открываетс , а конденсатор разр жаетс . ПослеAt the end of the cycle of recording the results of the control from one of the outputs of the recorder 8, a trigger pulse is applied to the input of the normally locked electronic key 13, performed on a semiconductor triode. The last instantly opens, and the capacitor discharges. After

прекращени  действи  отпирающего импульса с выхода регистратора 8 ключ 13 вновь запираетс , и вс  схема возвращаетс  в исходное состо ние.the termination of the unlocking pulse from the output of the recorder 8, the key 13 is locked again, and the whole circuit returns to the initial state.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Ультразвуковой дефектоскоп дл  автоматизированного контрол , например, сварных соединений, содержащий синхронизатор , генератор зондирующих импульсов, Пьезопреобразователь, усилитель, геиератор пилообразного напр жени , временной селектор прин тых отраженных сигналов, блок преобразовани  временных интервалов в напр жение и регистратор дл  записи данных, характеризующих амплитуду отраженных сигналов и глубину залегани  дефектов, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности регистрацииUltrasonic flaw detector for automated control, for example, welded joints, containing a synchronizer, probe pulse generator, Piezo transducer, amplifier, sawtooth voltage geyrator, time selector of received echoes, time interval to voltage transducer, and a recorder for recording data characterizing the amplitude of reflected signals and depth of defects, characterized in that, in order to improve the accuracy of recording результатов контрол , ои снабжен электронным ключом, выполненным на полупроводниковом триоде, и блоком пам ти, состо щим из полевого транзистора с изолированным затвором и конденсатора, соединенного одним из электродов с выходом блока преобразовани  временных интервалов в нанр жение, а другим - с затвором нолевого транзистора, исток которого через эмиттерный повторитель подключен кcontrol results, it is equipped with an electronic switch made on a semiconductor triode, and a memory unit consisting of an FET with an insulated gate and a capacitor connected by one of the electrodes to the output of the time-to-voltage conversion unit, and the other with a gate of the zero-transistor The source of which through the emitter follower is connected to входу регистратора, и выход регистратора подключен к базе триода электронного ключа, а коллектор его - к затвору нолевою транзистора.the recorder's input, and the recorder's output is connected to the base of the electronic key triode, and its collector is connected to the gate of a zero transistor.
SU731962137A 1973-10-09 1973-10-09 Ultrasound defectoscope for automatic control SU495950A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU731962137A SU495950A1 (en) 1973-10-09 1973-10-09 Ultrasound defectoscope for automatic control

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU731962137A SU495950A1 (en) 1973-10-09 1973-10-09 Ultrasound defectoscope for automatic control

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU495950A1 true SU495950A1 (en) 1981-12-23

Family

ID=20565336

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU731962137A SU495950A1 (en) 1973-10-09 1973-10-09 Ultrasound defectoscope for automatic control

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU495950A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2398701A (en) Supersonic inspection device
US3423992A (en) Ultrasonic apparatus for measuring thickness or distances
SU495950A1 (en) Ultrasound defectoscope for automatic control
US4037459A (en) Densitometer
US3522580A (en) Apparatus and method for measuring speed of sound in liquid
US3509752A (en) Ultrasonic thickness measuring apparatus
US3287962A (en) Ultrasonic inspection apparatus
SU495949A1 (en) Ultrasound defectoscope
SU402734A1 (en) DEVICE FOR MEASURING THE SPEED OF ULTRASOUND VIBRATIONS IN SAMPLES
SU487020A1 (en) Ultrasonic pulse echo thickness gauge
SU845084A1 (en) Device for measuring ultrasound velocity in media
SU1413438A1 (en) Meter of ultrasound velocity in fluctuating media
SU441537A1 (en) Echo sounder reading device
SU593118A1 (en) Acoustic viscosimeter
SU1223136A1 (en) Apparatus for determining instant of acoustic emission signal maximum
SU423377A1 (en) Instrument for measuring the speed of ultrasound in solid and liquid media
SU1133544A1 (en) Device for ultrasonic material quality control
SU627317A1 (en) Magnetic-acoustic thickness meter
SU240273A1 (en)
JPS6245502B2 (en)
SU845083A1 (en) Ultrasonic flaw detector
SU441456A1 (en) Device for measuring the speed of ultrasound
SU404176A1 (en) MAGNETOSTRICTION DELAY LINE12
SU832458A1 (en) Ultrasonic flaw detector
SU628438A2 (en) Device for measuring ultrasound velocity in materials