SU440614A1 - Устройство дл измерени глубины проникновени электрического пол емкостного датчика - Google Patents

Устройство дл измерени глубины проникновени электрического пол емкостного датчика

Info

Publication number
SU440614A1
SU440614A1 SU1789905A SU1789905A SU440614A1 SU 440614 A1 SU440614 A1 SU 440614A1 SU 1789905 A SU1789905 A SU 1789905A SU 1789905 A SU1789905 A SU 1789905A SU 440614 A1 SU440614 A1 SU 440614A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrodes
electric field
penetration depth
additional
measuring
Prior art date
Application number
SU1789905A
Other languages
English (en)
Inventor
Имант Густович Матис
Харалд Эдгарович Слава
Original Assignee
Институт Механики Полимеров Ан Латвийской Сср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Механики Полимеров Ан Латвийской Сср filed Critical Институт Механики Полимеров Ан Латвийской Сср
Priority to SU1789905A priority Critical patent/SU440614A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU440614A1 publication Critical patent/SU440614A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

1
Изобретение касаетс  электроизмерительной техники и предназначено дл  неразрушающего контрол  диэлектрических материалов путем измерени  комплексного сопротивлени  измерительного конденсатора при разных глубинах проникновени  электрического пол  в исследуемый материал.
Известно устройство дл  изменени  глубины проникновени  электрического пол  - конденсатор , содержащий основные и дополнительные электроды и двухпозиционный переключатель , одни контакты которого соединены с электродами на минимальную глубину проникновени  электрического пол  в исследуемый материал, а другие на максимальную.
В результате переключени  переключател  мен етс  геометри  измерительного конденсатора и, следовательно, зависимость емкости конденсатора от диэлектрических и геометрических параметров контролируемой детали. По полученным двум значени м определ ют диэлектрические характеристики материала с исключением вли ни  неконтролируемых факторов , например с исключением вли ни  воздушного зазора между электродами и поверхностью контролируемой детали.
Однако известное устройство характеризуетс  тем, что при переключении электродов мен етс  расположение зазора между электродами по отнощению к контролируемой поверхности . Следовательно, мен етс  условие воздушного зазора между электродами и контролируемой поверхностью, в случае нерегул рных неровностей последней, в результате
чего снижаетс  точность измерени . При переключении электродов можно получить только два дискретных значени  глубины проникновени  пол  в исследуемый материал, следовательно , известный способ быть использован только дл  двухпараметрового контрол .
Цель предлагаемого устройства - повысить точность имерени  и обеспечить плавность изменени  глубины проникновени  электрического пол .
Это достигаетс  тем, что устройство снабжено дополнительным источником питани  с регулируемыми параметрами выходного напр жени , например амплитуды и фазы, выход которого подсоединен, по меньшей мере, к одному дополнительному и низкопотенциальным электродам. Изменением параметров выходного напр жени  дополнительного источпика можно добиватьс  плавного изменени  глубины проникновени  электрического пол  на необходимую величину.
Па фиг. 1 приведена блок-схема предлагаемого устройства; на фиг. 2а и 26--картина
электрического пол  дл  двух значений фазы питающего напр жении дополнительного нсточника . Устройство состонт из основных электродов . :г-т.высокопотенциального 1 п низкопотенциальных 2 и 3, дополнительных электродов 4 и 5, которые приложены к исследуемому материалу 6. Основные электроды 1, 2 и 3 подключены к источнику 7 питани , дополнительные электроды 4 и 5 - к источнику 8 питани  с регул тором 9 амплитуды и фазы 10 питающего напр жени . Устройство работает следующим образом. При работе в режиме периодических колебаний более целесообразно требуемую глубину проникновени  электрического пол  установить путем изменени  фазы напр жени  дополнительного источника питани . Дл  но снени  работы устройства в этом режиме на фиг. 2 приведены соответствующие картины пол . На фиг. 2а показана картина пол  при фазе 0° между основным электродом 1 и дополнительными 4 и 5. Основному высокопотенциальному электроду 1 сообщен потенциал +Vi, низкопотенциальным электродам 2 и 3 - потенциал-V, (см. фиг. 2а). Дополнительным электродам 4 и 5 сообщен потенциал +V2, совпадающий по фазе с потенциалом + Vi. Образуетс  электрическое поле, картина которого показана на фиг. 2а с условной глубиной проникновени  пол ,равной Z. Во втором случае (см. фиг. 26) при помощи фазовращател  10 дополнительного источника питани  8 измен ют фазу напр жени  дополнительных электродов 4 и 5. В качестве примера на фиг. 26 приведена картина пол , когда фаза изменена на 180°, т. е. потенциал донолнительных электродов 4 и в противофазе с потенциалом -|-Vi основного электрода 1. Таким образом, во втором случае существенно мен етс  картина электрического пол  и условна  глубина проникновени  электрического пол  в этом случае принимает значение Z2, которое меньше по сравнению с глубиной нроникновени  Zi в первом случае. Дл  получени  более, чем двух значений глубины пропикновени  пол  весь диапазон изменени  фазы питаюн1,его напр жени  дополнительных электродов от О до 180° может быть разделен на несколько частей. Основные электроды 1, 2 и 3 гальванически не св заны с дополнительными электродами 4 и 5, а параметры конденсатора с целью дальнейшего подсчета диэлектрических параметров исследуемого материала измер ютс  только между основными электродами 1, 2 и 3. Поэтому при различных измерени х полностью соблюдаютс  идентичные услови  контролируемой среды и зазора между электродами и поверхностью контролируемой среды. При работе в пепериодическом режиме, нацример при исследовании характеристик зар да или разр да конденсатора, приложенного к исследуемому материалу, необходимое изменение глубины нроникновени  пол  более целесообразно производить путем установки амплитуды напр жени  регул тором 9 дополнительного источника питани  8. Предмет изобретени  Устройство дл  изменени  глубины проникновепи  электрического пол  емкостного датчика , содержащее основные высокопотенциальпые и низкопотенциальные электроды, подключенные к источпику питани , и дополнительные электроды, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерени  и обеспечени  плавности изменени  глубины пропикновени  электрического пол , оно снабжено дополнительным источником питани  с регулируемыми параметрами выходного напр жени , выход которого подсоединен, по меньшей мере, к одному дополнительному и низконотенциальному электродам.
SU1789905A 1972-05-26 1972-05-26 Устройство дл измерени глубины проникновени электрического пол емкостного датчика SU440614A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1789905A SU440614A1 (ru) 1972-05-26 1972-05-26 Устройство дл измерени глубины проникновени электрического пол емкостного датчика

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1789905A SU440614A1 (ru) 1972-05-26 1972-05-26 Устройство дл измерени глубины проникновени электрического пол емкостного датчика

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU440614A1 true SU440614A1 (ru) 1974-08-25

Family

ID=20515791

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1789905A SU440614A1 (ru) 1972-05-26 1972-05-26 Устройство дл измерени глубины проникновени электрического пол емкостного датчика

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU440614A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5671633A (en) * 1996-02-12 1997-09-30 Wagner Electronic Products, Inc. Plate array for moisture sensor with reduced sensitivity to loading effects

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5671633A (en) * 1996-02-12 1997-09-30 Wagner Electronic Products, Inc. Plate array for moisture sensor with reduced sensitivity to loading effects

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU440614A1 (ru) Устройство дл измерени глубины проникновени электрического пол емкостного датчика
GB1388257A (en) Measuring liquid levels by electrical means
SU815472A1 (ru) Динамическое устройство дл измерени МАлыХ пЕРЕМЕщЕНий
Dembinski et al. Calibration and comparison of partial-discharge and radio-interference measuring circuits
JPS6469901A (en) Interval measuring apparatus
SU817597A1 (ru) Устройство дл измерени зазорови ВибРАций
SU428239A1 (ru) Способ измерения неэлектрических параметров
SU720578A1 (ru) Устройство дл измерени параметров пьезоэлектрических материалов методом резонанса-антирезонанса
SU1307395A1 (ru) Способ измерени поверхностной плотности зар да диэлектрика
SU1232936A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени рассто ний
RU1823927C (ru) Устройство дл измерени работы выхода электрона
SU1083104A1 (ru) Способ измерени удельной электрической проводимости неферромагнитных объектов
SU536423A1 (ru) Емкостный датчик влажности сыпучих материалов
RU2231804C1 (ru) Способ измерения параметров остаточного заряжения плоских диэлектриков
SU1002821A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени рассто ний
SU399773A1 (ru) Бесконтактный кондуктометр
SU987492A1 (ru) Способ определени влажности материала
SU1471152A1 (ru) Способ определени плотности зар да в диэлектриках
SU560189A1 (ru) Устройство дл измерени импедансных частотных характеристик электродов электрохимического генератора
SU1531031A1 (ru) Способ измерени поверхностной плотности зар да электрета
White A tripping circuit for a multi-stage surge generator
SU145784A1 (ru) Электронный влагомер
SU853513A1 (ru) Способ определени диэлектрическихСВОйСТВ МАТЕРиАлА
RU2260811C1 (ru) Способ определения поверхностной плотности заряда плоских диэлектриков
SU1573436A1 (ru) Способ измерени потенциала поверхности электрета