SU439303A1 - Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектра - Google Patents
Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектраInfo
- Publication number
- SU439303A1 SU439303A1 SU1804714A SU1804714A SU439303A1 SU 439303 A1 SU439303 A1 SU 439303A1 SU 1804714 A SU1804714 A SU 1804714A SU 1804714 A SU1804714 A SU 1804714A SU 439303 A1 SU439303 A1 SU 439303A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ion
- mass spectrometer
- ions
- electrode
- mass
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к области массспектрометрии с электростатической разверткой масс-спектра.
Известно, что масс-спектрометры с электростатической разверткой масс-спектра и с посто нными магнитами обладают дискриминаци ми ионов по массам. Дискриминаци по массам приводит к изменению чувствительности масс-спектрометра в процессе развертки масс-спектра.
Одной из самых существенных причин дискриминации по массам в масс-спектрометре вл етс изменение условий прохождени пучка ионов в источнике ионов при изменении ускор ющего напр жени в процессе электростатической развертки масс-спектра.
Так, в источнике ионов типа Нира с электронной бомбардировкой ионов в ходе развертки масс-спектра потенциалы электродов мен ютс одновременно с изменением ускор ющего ионы напр жени , что необходимо дл сохранени условий формировани пучка ионов в источнике независимо от величины ускор ющего ионы напр жени . Изменение потенциалов электродов источника ионов приводит прежде всего к изменению в услови х выт гивани из ионизационной камеры ионов, образованных при электронной бомбардировке , что ведет к изменению интенсивности выход щего из источника пучка ионов в процессе развертки и, как следствие, к дискриминации ионов по массам в масс-слектрометре .
Повышение минимального выт гивающего 5 напр жени до величин, при которых выт гиваетс максимально возможное количество ионов, Приведет к сильному увеличению ускор ющего ионы напр жени , что увеличивает габариты анализатора и посто нного магнита,
0 а также увеличивает приборный разброс ионов по энерги м, и, как следствие, уменьшает разрешающую способность анализатора.
Кроме того, измен ютс услови образовани области ионизаци из-за вли ни большо5 го выт гивающего пол на электронный пучок.
Известен масс-спектрометр, содержащий
источник ионов, приемник ионов, анализатор
с посто нным магнитом, устройства питани
и регистрации, у которого дл уменьшени
0 дискриминаций по массам выт гивающее напр жение в источнике ионов, приложенное между выт гивающим электродом и ионизационной камерой, остаетс посто нным в ходе изменени ускор ющего ионы напр жени .
5 Применение посто нного выт гивающего ионы напр жени приводит к изменению условий формировани пучка ионно-оптической системой источника ионов при изменении ускор ющего напр жени в ходе развертки,
0 что, в свою очередь, приводит к изменению
ширины и плотности пучка ионов, приход щих в область выходной И1ели источника, а следовательно , и к дискриминаци м в масс-спектрометре . Кроме того, така конструкци источника ионов приводит к тому, что потенциал ускор ющего электрода неизбежно вли ет на услови выт гивани ионов из ионизационной камеры.
Цель-уменьщение дискриминации ионов но массам.
Конструкци источника ионов, работающего в не измен ющихс услови х дл всех ионов , обеспечивает равные наиболее эффективные дл данного источника ионов услови образовани , выт гивани , формировани и ускорени ионов, а развертка масс-спектра осуществл етс дополнительным специальным электродом, на который подаетс напр жение сканировани и расположенным в анализаторе за ускор ющим электродом источника ионов.
Така конструкци анализатора приводит к получению пучка ионов из источника одинаковой интенсивности и формы, независимо от массы исследуемого вещества. Полученный таким образом пучок ионов входит в область между ускор ющим электродом источника ионов и сканирующим электродом (электродом , определ ющим необходимую дл фокусировки в анализаторе скорость ионов данной массы). В этой области пучок ионов приобретает необходимую дл данной массы скорость, не измен своей ширины, а следовательно, и интенсивности на выходе из щели сканирующего электрода в анализатор.
Обычно пучок ионов, выход щий из источника ионов, содержит ионы, обладающие некоторыми угловыми разбросами. Указанное обсто тельство приводит к тому, что ионы, вход щие в поле между ускор ющим и сканирующим электродами под углом к оси источника ионов, будут двигатьс по различным траектори м в зависимости от потенциала, приложенного к сканирующему электроду.
Таким образом, в данной конструкции исключаютс такие существенные области дискриминации, как область выт гивани ионов из «ионизационной камеры (где из-за малых начальных скоростей ионов вли ние изменени условий прохождени пучка сказываетс очень резко) и область формировани пучка ионов ионно-оптической системой источника ионов. Воздействие же пол между
ускор ющим и сканирующим электродом на траектории ионов ослаблено тем, что ионы имеют большую энергию и малые угловые разбросы.
5 На чертеже представлена схема устройства, содержащего ионизационную камеру 1, выт гивающий электрод 2, фокусирующий электрод 3, ускор ющий электрод 4, область ионизации анализируемого вещества электронным
0 пучком 5, камеру анализатора 6, посто нный магнит 7, коллектор ионов 8, сканирующий электрод 9.
Анализируемое масс-спектрометром вещество в виде газа или пара, попадающее в
5 ионизационную камеру 1 источника ионов, ионизируетс электронным пучком 5. Образованные ионы выт гивают с помощью выт гивающего электрода 2 и формируют в узкий пучок на уровне щели ускор ющего электрода 4 с помощью фокусирующей линзы, составленной из трех электродов - выт гивающего 2, фокусирующего 3 и ускор ющего 4. Сфокусированный пучок пропускают через щель ускор ющего электрода в поле между ускор ющим и сканирующим электродом 9, а затем через щель сканирующего электрода в камеру анализатора 6, где в поле посто нного магнита 7 происходит разделение ионов по отношению массы к зар ду и фокусировка их
0 по направлению. Затем ионы соответствующей массы, скорость которых обеспечивает их попадание на коллектор ионов 8, регистрируют соответствующими системами регистрации. В процессе развертки масс-спектра на коллектор попадают ионы разных масс, что обеспечиваетс изменением напр жени , приложенного между сканирующим электродом и ионизационной камерой.
Предмет изобретени
Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектра, состо щий из источника ионов, приемника ионов, анализатора с
посто нным магнитом, устройств питани и регистрации, отличающийс тем, что, с целью уменьшени дискриминации ионов по массам, он снабжен дополнительным электродом , расположенным в анализаторе за ускор ющим электродом источника ионов и соединенным электрически с источником напр жени развертки. I icmnuHUK ионоб приемник uOHoS
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1804714A SU439303A1 (ru) | 1972-07-04 | 1972-07-04 | Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектра |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1804714A SU439303A1 (ru) | 1972-07-04 | 1972-07-04 | Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектра |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU439303A1 true SU439303A1 (ru) | 1974-08-15 |
Family
ID=20520203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1804714A SU439303A1 (ru) | 1972-07-04 | 1972-07-04 | Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектра |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU439303A1 (ru) |
-
1972
- 1972-07-04 SU SU1804714A patent/SU439303A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6080985A (en) | Ion source and accelerator for improved dynamic range and mass selection in a time of flight mass spectrometer | |
US5202561A (en) | Device and method for analyzing ions of high mass | |
US8563923B2 (en) | Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometer | |
US7211792B2 (en) | Mass spectrometer | |
US4778993A (en) | Time-of-flight mass spectrometry | |
US20080272289A1 (en) | Linear tof geometry for high sensitivity at high mass | |
JPH07500448A (ja) | 分解能と伝達効率との間の性能配分を可能とする開口を備えた飛行時間型質量分析計 | |
US5661298A (en) | Mass spectrometer | |
JP2567736B2 (ja) | イオン散乱分析装置 | |
US5164592A (en) | Method and apparatus for mass spectrometric analysis | |
US4912327A (en) | Pulsed microfocused ion beams | |
KR20230011409A (ko) | 고성능 하전 입자 검출을 위한 장치 및 방법 | |
US5898173A (en) | High resolution ion detection for linear time-of-flight mass spectrometers | |
JPS6229049A (ja) | 質量分析計 | |
JP5504969B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US5105082A (en) | Laser ionization sputtered neutral mass spectrometer | |
US6674069B1 (en) | In-line reflecting time-of-flight mass spectrometer for molecular structural analysis using collision induced dissociation | |
WO1997048120A1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
CN103531432B (zh) | 一种脉冲式离子源、质谱仪及产生离子的方法 | |
US20230360901A1 (en) | Charge detection for ion accumulation control | |
JP3695111B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
US7388193B2 (en) | Time-of-flight spectrometer with orthogonal pulsed ion detection | |
SU439303A1 (ru) | Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектра | |
CA2443825A1 (en) | Mass spectrometer | |
JPH05174783A (ja) | 質量分析装置 |