SU433250A1 - Вакуумнаяустановка для покрытийнанесения - Google Patents

Вакуумнаяустановка для покрытийнанесения

Info

Publication number
SU433250A1
SU433250A1 SU1768766A SU1768766A SU433250A1 SU 433250 A1 SU433250 A1 SU 433250A1 SU 1768766 A SU1768766 A SU 1768766A SU 1768766 A SU1768766 A SU 1768766A SU 433250 A1 SU433250 A1 SU 433250A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
coating
thickness
vacuum
optics
vacuum installation
Prior art date
Application number
SU1768766A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Л. Б. Кацнельсон
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Л. Б. Кацнельсон filed Critical Л. Б. Кацнельсон
Priority to SU1768766A priority Critical patent/SU433250A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU433250A1 publication Critical patent/SU433250A1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

Изобретение отноои.тс  к аппаратуре дл  .изготовлени  иакрытпй, наноснмых путем терм;ического испарени  веществ в ва кууме, и может найти TiipHMCHeHne три создании одпоп Многослойных 0|ПТ|И цес.ких покрытий, например , лазерных зеркал, спектроделителей и т. п.
Известны вакуумные установки дл  lianeсени  пОКрытмй, содержащие вак умную камеру с испарител ми и держателем образцов, на .которые нанос тс  покрыти , п систему контрол  толщины наноспмых слоев с источнпком излучени , формирующей оптикой, фотодриемннком -и регИСтратором.
Целью изобретени   вл етс  повыщение надежности и точности контрол  толщины наноОИ .м.ого покрыти .
Это достигаетс  тем, что перед фотопрпемни1ком размещен непрозрачный axipan с отверстием , не превыщающим размера изображенп  источника излучени , установленный с возможностью перемещени  по двум взаимноперпендпкул рньгм направлени м в плоскости ортогональной оси форм1фующей оптики.
Иа чертеже представлена прлнципиальна  схема 1Л|рсдлагаемой установки.
Установка содержит ггспарители /, держатель 2 образцов 3, на которые с испарителей напыл ютс  вещества, образующие покрытие, и сИСтемы контрол  толщин паноспмых слоев . Система cocTOiiT из источ.цика света - ламны 4 накаливани , элемента фо;рмирующей оптики 5, ;1роектирующей :излучепие источника через окно 6 на образец 3, элемента формирующей оптики 7, котора  после .ождеи .ИЯ света через окно 8 создает изображение нити на.кала лам.пы 4 в п.тоскоети экрана 9 с отверстием. Экран выполнен подвнжным в плоскости , :1ерпенд:1лул р-ной осп формирующей .оптики. За экра.ном по ходу луча 1рас 1оложен светофильтр W п фото::|рпемн1 к // - cjioioумножптель , в аноднхчо ue:ib кото;}ого включеп отсчетпый 1реги:тратор 12.
В ва.куу.мной камере 13 с испарителей /, иредстаБл ющ;1х собой ва.нночки ил.и спирал.и, на образцы 3 путем термического испарени  .нанос т в требуемой последовательности вещестВа , образуюпше слои, вход щие в покрытие . Образцы 3 уста;1авлпваютс  с 1юмоп1ью Олрав в держателе 2. Дл  обсспечен ч  равномер 1ой толщины пленок на o6pa:uiax держатель обычно врапитетс  вокруг ос.и камеры. Кроме того, иногда образцы в оправах Bpauuiютс  вокруг своего центра. В проце.ссе пзготавленп  покрыти  п)оизводитс  фотоэлектрический контроль пле:нок, составл ющих покрытие . Система контрол  регистрпр -ег .ину свето:ВОГО потока, про.пшдщего через образец или отражеизого пм. Использу  известную зависимость пропускан   (отражени ) от
толщины сло , по показани м регистратора однозначно суд т о толщине .напыл ем,ой ллевки.
Световой поток, измер емый системой контрол , создаетс  ламной 4 накаливани . Излучение .источника через Оптическое окно 6 в основанни ва:куумной ка;мары проецируетс  «а образец 3 с цадос;п1ымн сло ми. Прошедший образец нотока, .величина которого тгролорциональна коэффициенту тропускали   .изготавливаемого покрыти , через окно 8 в кол паже камеры 13 попадает на элемент формируюш:ей оптики 7, который соз1дает .изображение нити накала лам.пы 4 в плоскости лод)вижного экрана 9 с отверстием .диаметром 1-2 мм. Увеличе .ние оптической схемы системы контрол  пор дка . С ломощью пары винтов М и другой пары .винтов добиваютс  перемещением 9 совмещени  отверсти  С .изображением «итп накала. Экран в таком положении фиксируетс  с помощью обоих пар винтов.
За экранам по ходу луча расположен светофильтр 10, выдел ющий световой поток с
ДЛ.ИНОЙ волны, при которой производитс  КОНтроль . Монохроматическое излучение вызывает 3 фотоприемнике // и фототак, величина которого пропорцио.нальна коэффициенту пропускани  образца с кант.рол,Ируемым (покрытием . Фотото.к измер етс  .регистратором J2, показани  которого характеризуют толщину очередного наиосимого сло .
Предмет и з .о б р е т е н .и . 
Вакуумна  установка дл  нанесени  но .крытий, содержаща  ва.куум.ную камеру с исдар1ител м;и и держателем образ.цов, на которые нанос тс  по:крыти , и систему контрол  толщины наносимых слоев с источником излучени , формирующей Опти.кой, фотошриемпиком и регистратором, отличающа с  тем, что, с .целью повышенп  надежности и точ .ности Контрол  толщины наносимого покрыти , перед фотОПрпемником размещен непро .зрачйый экран с отверстие.м, не превышающим размера изобрал ениЯ источника излучени , установленный с возможностью пе|ре.мещени  по двум взал.мно иерпеидижул рным направлени м в плоскости ортогональной оси форми .рующей оптики.
SU1768766A 1972-04-05 1972-04-05 Вакуумнаяустановка для покрытийнанесения SU433250A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1768766A SU433250A1 (ru) 1972-04-05 1972-04-05 Вакуумнаяустановка для покрытийнанесения

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1768766A SU433250A1 (ru) 1972-04-05 1972-04-05 Вакуумнаяустановка для покрытийнанесения

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU433250A1 true SU433250A1 (ru) 1974-06-25

Family

ID=20509410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1768766A SU433250A1 (ru) 1972-04-05 1972-04-05 Вакуумнаяустановка для покрытийнанесения

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU433250A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Henke et al. Two‐channel, elliptical analyzer spectrograph for absolute, time‐resolving time‐integrating spectrometry of pulsed x‐ray sources in the 100–10 000‐eV region
US6377346B1 (en) Sample imaging device
CN110095416B (zh) 一种金属熔池激光吸收率分布在线测量系统和方法
Wood et al. Resonance radiation of sodium vapor excited by one of the D lines
SU433250A1 (ru) Вакуумнаяустановка для покрытийнанесения
KR102644770B1 (ko) 레이저 지속 플라즈마 조명 소스에 대한 회전 램프
Beckers et al. High resolution spectroscopy of the disk chromosphere: I. Observing procedures
US3260180A (en) Spectral dispersion attachment for cameras
JP2019144069A (ja) 検査装置及び検査方法
Stafford et al. Time-gated resonance schlieren studies of analyte distribution in a graphite furnace atomiser
Masalov First experiments on measuring light pressure i (pyotr nikolaevich lebedev)
Hunt et al. A simplified method of calculating absorbed intensity in photometric experiments
Turner Radiation from a strong shock front in krypton
Bright et al. The Resolving Power and Intensity Relationships of the Fabry Perot Interferometer with Silvered Reflecting Surfaces
SU714169A1 (ru) Устройство дл коммутации световых потоков
RU2025657C1 (ru) Устройство для контроля толщины пленок многослойного оптического покрытия в процессе его нанесения осаждением в вакуумной камере
JPH0267559A (ja) 干渉露光装置
SU1346946A1 (ru) Устройство дл контрол толщины пленки в процессе нанесени ее на крупногабаритную оптическую деталь
Schoening et al. A prototype projection sensitometer.
JP2006337303A (ja) 真空室の湿度測定装置
SU717682A1 (ru) Способ освещени и фотографировани следов зар женных частиц в трековых камерах
SU1179744A1 (ru) Интерференционно-теневое устройство
SU1195327A1 (ru) Зеркальный фотоаппарат
SU1191870A1 (ru) Устройство дл высокоскоростной фоторегистрации
JP2007508571A (ja) 大きな被写界深度を用いる光学デバイスの検査システムおよび方法