SU419719A1 - INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS - Google Patents

INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS

Info

Publication number
SU419719A1
SU419719A1 SU1819014A SU1819014A SU419719A1 SU 419719 A1 SU419719 A1 SU 419719A1 SU 1819014 A SU1819014 A SU 1819014A SU 1819014 A SU1819014 A SU 1819014A SU 419719 A1 SU419719 A1 SU 419719A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
erenia
radiation
interference method
linear dimensions
sample optical
Prior art date
Application number
SU1819014A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
изобретен
Original Assignee
А. И. Крицын
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by А. И. Крицын filed Critical А. И. Крицын
Priority to SU1819014A priority Critical patent/SU419719A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU419719A1 publication Critical patent/SU419719A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к нзмеритель(оГ1 техннке н может найтн применение в оптикомеханической промышленности дл  измереии  высоты образцовых деталей, имеющих вид конуса, усеченного конуса, нирамгаы или нрнзмы с углом при вершине 90°.The invention relates to a measuring instrument (OG1 tehnnke N may find application in the optomechanical industry for measuring the height of exemplary parts having the shape of a cone, a truncated cone, nirams or lines with an apex angle of 90 °.

Известен интерференционный способ пзл;ерепи  линейных размеров образцовых опгпческнх деталей, например длины нлоскопараллельных концевых мер, на интерферометре с источником белого света, заключающийс  в сравнении измер емой детали с исходиой, при котором разность длины определ етс  непосредственно но величине смещенп  полос нулевого пор дка, наблюдаемых на измерительных поверхност х сравниваемых деталей. При этом измер ема  разность определ етс  в длинах световых воли. Погрешность измерени  пор дка ±0,1 мкм. Однако непосредственно использовать способ дл  измерени  высоты конусов и призм из прозрачного материала с угло.м при вершине 90° не представл етс  возможным вследствие отсутстви  второй измерительной плоскости у конической детали.The interference method is known; the linear displacement of exemplary optical parts, for example, the length of the nloscopic parallel terminal measures, on an interferometer with a white light source, consists in comparing the measured part with the origin, in which the difference in length is determined directly by the magnitude of the zero order bands observed on measuring surfaces of compared parts. In this case, the measured difference is determined in the lengths of the light will. The measurement error is on the order of ± 0.1 µm. However, directly using the method for measuring the height of cones and prisms from a transparent material with an angle of 90 ° at the apex is not possible due to the absence of a second measuring plane on the conical part.

С целью возможности измерени  высоты конусов и призм из прозрачного материала с углом при вершине 90° ло предлагаемому способу используют в качестве и-сходпои детали аттестованную плосконараллельную пластину , изготовленную из того же материала, что н измер ема  деталь, а рассто ние между ее плоскими поверхност ми равно удвоелпойвысоте конуса или нризмы.In order to measure the height of the cones and prisms from a transparent material with an apex angle of 90 ° to the proposed method, an accredited flat-parallel plate made of the same material as the measured part is used as the part and the distance between its flat surfaces mi equals twice the height of the cone or nrizma.

5 На фиг. 1 изображеиа схема дл  изме;)ени  высоты конусов и призм из прозрачного материала с углом при вершине 90° на дкухлучевом «нтерферО:метре; на . 2 - в.ид пол  зрени  интерферометра при измеренил,5 In FIG. Figure 1 is a diagram for changing the height of cones and prisms from transparent material with an apex angle of 90 ° at the duster InterferO: meter; on . 2 - v.id interferometer field of view when measured,

0 В рабочую ветвь интерферометра устанавливают измер емый конус / с предварительно притертой к иижнему основанию зеркала 2. В эталонную ветвь интерферометра к зеркалу 5 притирают аттестованную цлоскоиараллель5 ную пластину 4 с размером удвоенной высоты конуса н 1зготовлеииую из того же материала .0 The measured cone / is inserted into the working branch of the interferometer / with mirror 2 previously ground to the base of the interferometer. A certified closure aaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaut the doubled height of the cone and 1 made from the same material are rubbed into the reference branch of the interferometer.

Лучи белого света, идущие от источника (иа схеме не ноказаи), падают на поверхность светоделптельной пластины 5, где раздел ютс  на два пучка.White light rays coming from the source (not a nakazai scheme) fall on the surface of the light-splitting plate 5, where they are divided into two beams.

Предлагаемый способ осуществл ют следующим образом. Один пучок света отражаетс  от пластиныThe proposed method is carried out as follows. One beam of light is reflected from the plate.

5 5 и надает но нормали на прозрачную аттестованную нластииу 4. Одна часть этого пучка отражаетс  от вер.хней поверхности пластины , друга  часть проходит пластину и отражаетс  от зеркала 3, затем обе части пучка5 5 and butts normal to the transparent certified section 4. One part of this beam is reflected from the top of the plate surface, the other part passes the plate and is reflected from mirror 3, then both parts of the beam

0 идут в обратном направлении, проход т пла0 go in the opposite direction, pass t pla

SU1819014A 1972-08-10 1972-08-10 INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS SU419719A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1819014A SU419719A1 (en) 1972-08-10 1972-08-10 INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1819014A SU419719A1 (en) 1972-08-10 1972-08-10 INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU419719A1 true SU419719A1 (en) 1974-03-15

Family

ID=20524417

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1819014A SU419719A1 (en) 1972-08-10 1972-08-10 INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU419719A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4131365A (en) Method and apparatus for determining object position and dimension using a diffraction wave
US4813782A (en) Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head
JPS63195513A (en) Optical noncontact position measuring instrument
US4504147A (en) Angular alignment sensor
US3680963A (en) Apparatus for measuring changes in the optical refractive index of fluids
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
US4009965A (en) Method and apparatus for determining object dimension and other characteristics using diffraction waves
JPS62197711A (en) Optically image forming type non-contacting position measuring apparatus
US3738754A (en) Optical contacting systems for positioning and metrology systems
US5011287A (en) Interferometer object position measuring system and device
SU419719A1 (en) INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS
US3554653A (en) Autocollimator
JPS63193003A (en) Apparatus for measuring depth of recessed part and thickness of film
US3043182A (en) Interferometer for testing large surfaces
KR100332035B1 (en) distance measuring apparatus and method using double pass of homodyne laser
SU1696854A1 (en) Device for object displacement measurement
RU2032166C1 (en) Method of determination of refractive index of wedge-shaped articles
SU1397718A1 (en) Interferometer for measuring linear quantities and index of refraction
SU382917A1 (en) COMPARATOR FOR LINEAR DIMENSION MEASUREMENT
JPS6199806A (en) Measuring instrument for depth of groove
ATE98368T1 (en) SYMMETRICAL TWO-ARM DEVICE FOR MEASURING LENGTHS WITH AN INTERFEROMETER.
SU823846A2 (en) Two-beam interferometer for measuring linear displasements
SU1744452A1 (en) Interferometer for inspection of reflecting surface planeness
SU654855A1 (en) Method of determining reflecting element inclination angle
JP2523334B2 (en) Optical displacement meter