SU419719A1 - INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS - Google Patents
INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILSInfo
- Publication number
- SU419719A1 SU419719A1 SU1819014A SU1819014A SU419719A1 SU 419719 A1 SU419719 A1 SU 419719A1 SU 1819014 A SU1819014 A SU 1819014A SU 1819014 A SU1819014 A SU 1819014A SU 419719 A1 SU419719 A1 SU 419719A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- erenia
- radiation
- interference method
- linear dimensions
- sample optical
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к нзмеритель(оГ1 техннке н может найтн применение в оптикомеханической промышленности дл измереии высоты образцовых деталей, имеющих вид конуса, усеченного конуса, нирамгаы или нрнзмы с углом при вершине 90°.The invention relates to a measuring instrument (OG1 tehnnke N may find application in the optomechanical industry for measuring the height of exemplary parts having the shape of a cone, a truncated cone, nirams or lines with an apex angle of 90 °.
Известен интерференционный способ пзл;ерепи линейных размеров образцовых опгпческнх деталей, например длины нлоскопараллельных концевых мер, на интерферометре с источником белого света, заключающийс в сравнении измер емой детали с исходиой, при котором разность длины определ етс непосредственно но величине смещенп полос нулевого пор дка, наблюдаемых на измерительных поверхност х сравниваемых деталей. При этом измер ема разность определ етс в длинах световых воли. Погрешность измерени пор дка ±0,1 мкм. Однако непосредственно использовать способ дл измерени высоты конусов и призм из прозрачного материала с угло.м при вершине 90° не представл етс возможным вследствие отсутстви второй измерительной плоскости у конической детали.The interference method is known; the linear displacement of exemplary optical parts, for example, the length of the nloscopic parallel terminal measures, on an interferometer with a white light source, consists in comparing the measured part with the origin, in which the difference in length is determined directly by the magnitude of the zero order bands observed on measuring surfaces of compared parts. In this case, the measured difference is determined in the lengths of the light will. The measurement error is on the order of ± 0.1 µm. However, directly using the method for measuring the height of cones and prisms from a transparent material with an angle of 90 ° at the apex is not possible due to the absence of a second measuring plane on the conical part.
С целью возможности измерени высоты конусов и призм из прозрачного материала с углом при вершине 90° ло предлагаемому способу используют в качестве и-сходпои детали аттестованную плосконараллельную пластину , изготовленную из того же материала, что н измер ема деталь, а рассто ние между ее плоскими поверхност ми равно удвоелпойвысоте конуса или нризмы.In order to measure the height of the cones and prisms from a transparent material with an apex angle of 90 ° to the proposed method, an accredited flat-parallel plate made of the same material as the measured part is used as the part and the distance between its flat surfaces mi equals twice the height of the cone or nrizma.
5 На фиг. 1 изображеиа схема дл изме;)ени высоты конусов и призм из прозрачного материала с углом при вершине 90° на дкухлучевом «нтерферО:метре; на . 2 - в.ид пол зрени интерферометра при измеренил,5 In FIG. Figure 1 is a diagram for changing the height of cones and prisms from transparent material with an apex angle of 90 ° at the duster InterferO: meter; on . 2 - v.id interferometer field of view when measured,
0 В рабочую ветвь интерферометра устанавливают измер емый конус / с предварительно притертой к иижнему основанию зеркала 2. В эталонную ветвь интерферометра к зеркалу 5 притирают аттестованную цлоскоиараллель5 ную пластину 4 с размером удвоенной высоты конуса н 1зготовлеииую из того же материала .0 The measured cone / is inserted into the working branch of the interferometer / with mirror 2 previously ground to the base of the interferometer. A certified closure aaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaaut the doubled height of the cone and 1 made from the same material are rubbed into the reference branch of the interferometer.
Лучи белого света, идущие от источника (иа схеме не ноказаи), падают на поверхность светоделптельной пластины 5, где раздел ютс на два пучка.White light rays coming from the source (not a nakazai scheme) fall on the surface of the light-splitting plate 5, where they are divided into two beams.
Предлагаемый способ осуществл ют следующим образом. Один пучок света отражаетс от пластиныThe proposed method is carried out as follows. One beam of light is reflected from the plate.
5 5 и надает но нормали на прозрачную аттестованную нластииу 4. Одна часть этого пучка отражаетс от вер.хней поверхности пластины , друга часть проходит пластину и отражаетс от зеркала 3, затем обе части пучка5 5 and butts normal to the transparent certified section 4. One part of this beam is reflected from the top of the plate surface, the other part passes the plate and is reflected from mirror 3, then both parts of the beam
0 идут в обратном направлении, проход т пла0 go in the opposite direction, pass t pla
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1819014A SU419719A1 (en) | 1972-08-10 | 1972-08-10 | INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1819014A SU419719A1 (en) | 1972-08-10 | 1972-08-10 | INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU419719A1 true SU419719A1 (en) | 1974-03-15 |
Family
ID=20524417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1819014A SU419719A1 (en) | 1972-08-10 | 1972-08-10 | INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU419719A1 (en) |
-
1972
- 1972-08-10 SU SU1819014A patent/SU419719A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4131365A (en) | Method and apparatus for determining object position and dimension using a diffraction wave | |
US4813782A (en) | Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head | |
JPS63195513A (en) | Optical noncontact position measuring instrument | |
US4504147A (en) | Angular alignment sensor | |
US3680963A (en) | Apparatus for measuring changes in the optical refractive index of fluids | |
US4436424A (en) | Interferometer using transverse deviation of test beam | |
US4009965A (en) | Method and apparatus for determining object dimension and other characteristics using diffraction waves | |
JPS62197711A (en) | Optically image forming type non-contacting position measuring apparatus | |
US3738754A (en) | Optical contacting systems for positioning and metrology systems | |
US5011287A (en) | Interferometer object position measuring system and device | |
SU419719A1 (en) | INTERFERENCE METHOD OF RADIATION / ERENIA OF LINEAR DIMENSIONS OF SAMPLE OPTICAL DETAILS | |
US3554653A (en) | Autocollimator | |
JPS63193003A (en) | Apparatus for measuring depth of recessed part and thickness of film | |
US3043182A (en) | Interferometer for testing large surfaces | |
KR100332035B1 (en) | distance measuring apparatus and method using double pass of homodyne laser | |
SU1696854A1 (en) | Device for object displacement measurement | |
RU2032166C1 (en) | Method of determination of refractive index of wedge-shaped articles | |
SU1397718A1 (en) | Interferometer for measuring linear quantities and index of refraction | |
SU382917A1 (en) | COMPARATOR FOR LINEAR DIMENSION MEASUREMENT | |
JPS6199806A (en) | Measuring instrument for depth of groove | |
ATE98368T1 (en) | SYMMETRICAL TWO-ARM DEVICE FOR MEASURING LENGTHS WITH AN INTERFEROMETER. | |
SU823846A2 (en) | Two-beam interferometer for measuring linear displasements | |
SU1744452A1 (en) | Interferometer for inspection of reflecting surface planeness | |
SU654855A1 (en) | Method of determining reflecting element inclination angle | |
JP2523334B2 (en) | Optical displacement meter |